JPH02270300A - サイクロトロンのビーム調整のためのターンパターンの評価方法および装置 - Google Patents

サイクロトロンのビーム調整のためのターンパターンの評価方法および装置

Info

Publication number
JPH02270300A
JPH02270300A JP1090098A JP9009889A JPH02270300A JP H02270300 A JPH02270300 A JP H02270300A JP 1090098 A JP1090098 A JP 1090098A JP 9009889 A JP9009889 A JP 9009889A JP H02270300 A JPH02270300 A JP H02270300A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
model
turn
evaluation
comprehensive evaluation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1090098A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2716794B2 (ja
Inventor
Tetsuya Okamura
哲也 岡村
Toru Murakami
村上 亨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries Ltd filed Critical Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority to JP1090098A priority Critical patent/JP2716794B2/ja
Publication of JPH02270300A publication Critical patent/JPH02270300A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2716794B2 publication Critical patent/JP2716794B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Particle Accelerators (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はサイクロトロンの調整方法および装置に関し、
特にサイクロトロン内のイオンビームのターンパターン
を調整する方法および装置に関する。
[従来の技術] サイクロトロン装置においては、イオンビームが渦巻状
の軌跡を描き、デフレクタで取り出される。このサイク
ロトロンのビーム調整においては、ビーム電流を最大に
するように調整パラメータを設定する。
ビーム電流プローブをサイクロトロン内部の中央部まで
挿入し、半径方向に走査し、ビーム電流を測定すること
によってイオンビームのターンパターンを計測し、この
ターンパターンをそのままペン書きオシロやCRTデイ
スプレィ上に表示する。
従来、ターンパターンの良否の評価は、オペレータが自
らの経験に照らして行っていた。
[発明が解決しようとする課題] このように従来のサイクロトロンにおいては、イオンビ
ームのターンパターンを計測し、全ての調整パラメータ
を試行錯誤的に調整していたため、その作業は熟練者に
しかできなかった。
本発明の目的は、イオンビームのターンパターンを測定
した際、ターンパターンの良否の評価を自動的に行うこ
とのできるサイクロトロンのビーム調整方法および装置
を提供することである。
ターンパターンの良否の評価を表示することによって、
熟練度の低いオペレータにとっても調整作業を容易にす
る。
ターンパターンの良否の評価を自動的に行うことにより
、サイクロトロンの操作性の向上を図る。
[課題を解決するための手段] サイクロトロンの種々のターンパターンを計測し、それ
ぞれに対して熟練者の経験的総合評価を与え、一方ター
ンパターンについて平均ターン間隔、半径方向振動の周
期、半径方向振動の大きさ、ターン消失半径、振動成分
のノード数、包絡線面積等の特徴量を抽出し、これらの
特徴量に基づいたファジィ積分モデルを作り、熟練者の
経験的総合評価と合致するようにファジィ積分モデルの
パラメータを決定し、新たに測定したターンパターンを
同定したファジィ積分モデルにより評価し、その評価値
を表示する。
[作用コ“ ファジィ積分モデルを用い、ファジィ積分モデルによる
評価を熟練者の経験的総合評価と一致させるようにパラ
メータを決定することにより、新たなターンパターンを
入力した時、熟練者の経験的総合評価に近いファジィ積
分モデルによる評価を与えることができる。
経験の浅い操作者がサイクロトロンを調整するに当って
、調整の指標が与えられるのでサイクロトロンのビーム
調整が容易になる。
[実施例] 第1図(A)〜(C)に本発明の実施例によるサイクロ
トロン装置のビーム調整装置を示す、第1図(A)は全
体のブロック図である。
一対のデイ−11(一方のデイ−のみを図示する)によ
って加速された磁場中のイオンビームが渦巻き状にビー
ム軌道12を描き、サイクロトロンを構成する。サイク
ロトロンの中央部までビーム電流10−ブ13が挿入さ
れ、ビームを流を検出する。
ビーム電流プローブ13はモータ15によりギヤ16を
介して、図中水平方向に走査される。モータ15の運動
は、位!検出用エンコーダ17によって位置信号21と
して検出され、図中下方に示すターンパターン評価装置
30のビーム電流入力部19へ供給される。
また、ビーム電流10−ブ13によって検出されたビー
ム電流はビーム電流アンプ20によって増幅され、ビー
ム電流信号22として信号入力部19に供給される。
以上述べた、ビーム電流10−ブ13、ギヤ16、モー
タ15、位置検出用エンコーダ17、ビーム電流アンプ
20はターンパターン計測装置25を構成する。
図中、下方に示すターンパターン評価装置30内には、
信号入力部19、ターンパターンの特徴量抽出部26、
ターンパターンのモデル評価算出部(ファジィ積分ユニ
ット)28、ターンパターン出力部31、評価値出力部
33、評価モデル同定ユニット35、並びに必要な情報
を記憶し、必要とする部分に情報を供給するメモリ37
が配!されている。
ターンパターン出力部31およびモデル評価値出力部3
3からの信号が表示装置40に供給される。
第1図(B)はビーム電流10−プ部分の動作を説明す
るための該略図である。ビーム電流プローブ13はディ
ファレンシャルヘッド13aとインテグラルヘッド13
bを含む、ディファレンシャルヘッド13aがインテグ
ラルヘッド13bよりも約0.5nl程前方に突出し、
入射するイオンビームを受けてビーム電流を発生させる
半径方向にビーム電流プローブを走査し、渦巻き状のイ
オンビーム軌道を検出することによ、す、第3図(B)
下部に示すようなビーム電流を検出する。
第1図(C)は表示装置40上に表示される情報の1例
を示す、デイスプレィ上の下部に横軸を半径方向距離と
し、縦軸をビーム電流すなわちイオンビーム強度とした
グラフが表示される。
このターンパターンの上にモデル総合評価のバーグラフ
が表示されている。ここで総合評価は、Oから1までの
実数で与えられている。Oを悪、1を良の状態とした図
の場合は、0.4の評価が与えられており、未だ改善の
余地が多い事を示している。
第2図に第1図(A)のターンパターン評価装置30で
行われるアルゴリズムを示す。
第1図(A)に示したターンパターン計測装置25によ
って、ステップ41で示すターンパターンの計測が行わ
れる。この計測したターンパターンは第1図(A)に示
す表示装置40に表示され、熟練オペレータによる評価
が与えられる(ステップ42)。
種々のターンパターンを計測し、それぞれについて熟練
オペレータによる評価を与える。この経験的総合評価は
、たとえば1に規格化した値djによって与えられる。
また、各ターンパターンからその特徴量を抽出する(ス
テップ43)。
第3図にターンパターンの表示例をより詳細に示す、第
3図において横軸が半径方向の距離を示し、縦軸はビー
ム電流強度を示す、特徴量としては、たとえば隣接する
ビーム電流ピーク間の距離であるターン間隔、半径方向
の振動の周期、半径方向の振動の大きさ等が考えられる
さらに、これらを平均化した平均ターン間隔、所望の半
径方向振動の平均周期、所定の半径方向振動の平均的大
きさ等を求めてもよい、各特徴量は規格化されて、0〜
1の実数値として与えられる。
第2図に戻って、この規格化した特徴量によって部分的
評価h(xi)が与えられる(ステップ44)。
これらの各特徴量を総合評価に結び付けるファジィ積分
モデルを準備する。このファジィ積分モデルによって、
各特徴量を入力した時のモデル総合評価を与える(ステ
ップ45)。
このモデル総合評価と熟練オペレータによる経験的総合
評価とを比較し、その偏差が最少になるようにファジィ
積分モデルのパラメータを決定する(ステップ46)。
このようにしてファジィ積分モデルが同定される。
ファジィ積分モデルを同定した後、新たにサイクロトロ
ンを走査し、ターンパターンを得な場合は、以下のよう
にしてモデル総合評価Wを与える。
測定されたターンパターンから選定したターンパターン
の特徴量を抽出する(ステップ43)。
抽出した特徴量を規格化し、部分評価を与える(ステッ
プ44)。
各部分評価をまとめ、ファジィ積分モデルによりモデル
総合評価Wを与える(ステップ45)。
この総合評価を表示装!に表示する。
ファジィ積分による評価値の算出のアルゴリズムを以下
に説明する。
今ターンパターンの特徴量の集合Kを考える。
K=(St、S2.531 Sl :平均ターン間隔 S2二半径方向振動の周期 S3二半径方向振動の大きさ また各特徴量の個別の評価値h (Si )  (1=
1〜3)を以下のように与える。関数りは以下のように
Kの要素の値を実数0〜1に対応させる。
h:に→[0,1] h (Si ) :特徴量S1についての評価値に上の
ファジィ積分eを以下のように考え、ターンパターンの
総合評価とする。
積分のパラメータであるファジィ測度gλは、g’=g
((Si l)、05g I≦1に゛はKの任意の部分
集合 h(Si)を大きさの順に並べ、 h (Sl )≧(S2’)≧h (S3°)とすれば
、eは次式で得られる。
K  =(S  ’)、K2=(S  ’、S2°)K
  =(S  ’、S2°、S3°)但し、Δは最小演
算、■は最大演算を示す。
ファジィ積分によるターンパターンの評価モデルは以下
のような手順で行う。
今N個のターンパターンのサンプル(集合G)を得たと
し、熟練オペレータの経験的評価値dj明細書の浄書(
内容に変更なし) (j=1〜N)が与えられているとする。
各ターンパターンサンプルについて特徴量を抽出し、そ
れぞれの特徴量の個別の評価値hj(Si )  (i
 =1〜3)j=(1〜N)が以下のように表わされる
とする。
hj:に→[O11] hj  (Si )はサンプルjの特徴量Slについて
の個別の評価値とする。
前述の手順と同様に、各サンプルについての総合評価値
eJを考える。
次にejを以下のように規格化する。
以上よりdewとなるように次式の評価関数値σができ
るだけ小さくなるようにファジィ測度giとλを決定す
る。
[発明の効果] 以上説明した様に本発明によれば、試行銘誤的に行って
いたサイクロトロンのビーム調整においてターンパター
ンの良否に関する総合評価が自動的に与えられ、調整の
指針が与えられる。
未熟練者がサイクロトロンを操作しても適切に調整をす
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)〜(C)は本発明の実施例を表わし、第1
図(A)は全体を示すブロック図、第1図(B)はビー
ム電流10−ブの拡大図およびビーム電流の波形図、第
1図(C)は表示装置の表示例を示す線図、 第2図は、ファジィ積分モデルを同定する手順およびタ
ーンパターンのモデル総合評価をを与える手順を示すブ
ロック図、 第3図はターンパターンの波形を示す拡大図である。 図において、 11      デイ− 12イオンビームの軌跡 13     ビーム電流プローブ 15     グローブ駆動用モータ 16     ギヤ 17     位置検出用エンコーダ 19     信号入力部 20     ビーム電流増幅器 21     位置信号 22     ビーム電流信号 25     ターンパターン計測装置26     
特徴量抽出部 28     ターンパターンのモデル評価算出部 31     ターンパターン出力部 33     モデル評価値出力部 35     評価モデル同定部 37     メモリ 40     表示装置 復代理人 弁理士 高橋 敬四部 (A)全#図 サイクロトロンのビーム調整装置 第1rll<その1) (B)ビーム電流プローブ (C)表示装置40の表示例 サイクロトロンのビーム調整装置 第1 図(その2) 手続補正書く方式) 平成  元年 8月24日

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、サイクロトロンの種々のターンパターンを計測
    し、それぞれに対して経験的総合評価を表わす電気的信
    号を与える工程と、 各ターンパターンから特徴量を抽出し規格化した電気的
    な特徴量信号を発生させる工程と、特徴量信号に基き、
    ファジィ積分モデルにより各ターンパターンに対してモ
    デル総合評価の信号を電気的に算出する工程と、 前記経験的総合評価の信号と前記モデル総合評価の信号
    の偏差が最小になるようにモデルパラメータを算出する
    工程と、 測定したターンパターンから特徴量を抽出し、規格化し
    た電気的特徴量信号を発生させ、同定したパラメータを
    有するファジィ積分モデルによりモデル総合評価の信号
    を電気的に算出し、表示装置上にモデル総合評価を表示
    する工程とを含むサイクロトロンのビーム調整方法。
  2. (2)、サイクロトロンのビームパターンを計測し、ビ
    ーム強度を表わす信号を発生する手段と、計測した結果
    を表わす信号を記憶し、表示する手段と、 計測結果を表わす信号から特徴量を抽出し、規格化した
    特徴量信号を発生する手段と、 経験的総合評価を操作者入力し、電気的な経験的総合評
    価信号を発生し、記憶する手段と、前記特徴量とパラメ
    ータを含むファジィ積分モデルを記憶する手段と、 前記特徴量信号に基づきファジィ積分モデルに従つてモ
    デル総合評価信号を算出する手段と、前記経験的総合評
    価信号と前記モデル総合評価信号との偏差が極小になる
    ようにパラメータを定める手段と、 モデル総合評価信号に基づき、表示装置に総合評価を表
    示する手段と を含むサイクロトロンのビーム調整装置。
JP1090098A 1989-04-10 1989-04-10 サイクロトロンのビーム調整のためのターンパターンの評価方法および装置 Expired - Lifetime JP2716794B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1090098A JP2716794B2 (ja) 1989-04-10 1989-04-10 サイクロトロンのビーム調整のためのターンパターンの評価方法および装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1090098A JP2716794B2 (ja) 1989-04-10 1989-04-10 サイクロトロンのビーム調整のためのターンパターンの評価方法および装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02270300A true JPH02270300A (ja) 1990-11-05
JP2716794B2 JP2716794B2 (ja) 1998-02-18

Family

ID=13989047

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1090098A Expired - Lifetime JP2716794B2 (ja) 1989-04-10 1989-04-10 サイクロトロンのビーム調整のためのターンパターンの評価方法および装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2716794B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012134146A (ja) * 2010-12-23 2012-07-12 General Electric Co <Ge> 電気機械的モータを有する粒子加速器並びにその動作及び製造方法
WO2016092622A1 (ja) * 2014-12-08 2016-06-16 株式会社日立製作所 加速器及び粒子線照射装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5863108U (ja) * 1981-10-24 1983-04-27 ダイハツ工業株式会社 リヤヒ−タダクト構造
JPS60159936U (ja) * 1984-03-31 1985-10-24 ダイハツ工業株式会社 冷暖房装置のダクト接続構造

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5863108U (ja) * 1981-10-24 1983-04-27 ダイハツ工業株式会社 リヤヒ−タダクト構造
JPS60159936U (ja) * 1984-03-31 1985-10-24 ダイハツ工業株式会社 冷暖房装置のダクト接続構造

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012134146A (ja) * 2010-12-23 2012-07-12 General Electric Co <Ge> 電気機械的モータを有する粒子加速器並びにその動作及び製造方法
WO2016092622A1 (ja) * 2014-12-08 2016-06-16 株式会社日立製作所 加速器及び粒子線照射装置
JPWO2016092622A1 (ja) * 2014-12-08 2017-06-29 株式会社日立製作所 加速器及び粒子線照射装置
US10306745B2 (en) 2014-12-08 2019-05-28 Hitachi, Ltd. Accelerator and particle beam irradiation system

Also Published As

Publication number Publication date
JP2716794B2 (ja) 1998-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1913762B1 (en) Method of visualizing a color deviation
JP4372352B2 (ja) 高速自動スペクトルフィッティング法
ATE24619T1 (de) Verfahren und einrichtung zur eichung eines muenzpruefers.
JPH02270300A (ja) サイクロトロンのビーム調整のためのターンパターンの評価方法および装置
DE3809971A1 (de) Vorrichtung zum messen von magnetisierungskennwerten einer magnetischen duennschicht
JP3489294B2 (ja) イオンビーム中のイオン種割合測定装置
US20060055945A1 (en) Color-mapped data display
CN104573391B (zh) 一种基于线性回归的牙齿选色推测方法
JP3200476B2 (ja) 質量分析装置
JPH0723879B2 (ja) 気体抽出式試料分析装置における試料加熱炉
CN112556843A (zh) 用于校准测量设备的方法和设备
JP7487383B1 (ja) 電子銃による照射電流量の推定方法、推定装置、試料の厚さの算出方法、および析出物の数密度の算出方法
CN116592770B (zh) 一种卷烟燃烧锥最大长度的检测方法
JPH07129680A (ja) 生産ラインにおけるタクト関連情報作成装置
Pissenberger et al. Automatic cleanness determination of production samples with OES/PDA
JPH0334249A (ja) 電子線マイクロアナライザー
CN116930302A (zh) 一种四(三氟膦)镍中镍稳定同位素丰度质谱分析方法
EP1167980A2 (en) Sweep signal synchronization testing
JPS61270645A (ja) 誘導結合プラズマ発光分析装置
CN118641491A (zh) 一种翡翠智能鉴别方法及系统
CN120254236A (zh) 一种呼气分析仪的质量检验系统
CN117481405A (zh) 一种电子烟的电路控制方法
KR100402396B1 (ko) 공간자계 측정 방법 및 이를 수행하기 위한 시스템
Shin et al. Rapid determination of cleanliness for steel by optical emission spectrometer
Burgess Accurate element identification is the core requirement for a microanalysis system