JPH0227228A - 熱画像作成装置およびその製造方法 - Google Patents
熱画像作成装置およびその製造方法Info
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- JPH0227228A JPH0227228A JP1137596A JP13759689A JPH0227228A JP H0227228 A JPH0227228 A JP H0227228A JP 1137596 A JP1137596 A JP 1137596A JP 13759689 A JP13759689 A JP 13759689A JP H0227228 A JPH0227228 A JP H0227228A
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- JP
- Japan
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- pyroelectric
- layer
- region
- dielectric layer
- forming
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/34—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using capacitors, e.g. pyroelectric capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N15/00—Thermoelectric devices without a junction of dissimilar materials; Thermomagnetic devices, e.g. using the Nernst-Ettingshausen effect
- H10N15/10—Thermoelectric devices using thermal change of the dielectric constant, e.g. working above and below the Curie point
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- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は熱画像作成装置に関し、特に赤外線に応答する
パイロ電気性検知要素のパイロ電気性アレイを具備した
熱画像作成装置に関する。
パイロ電気性検知要素のパイロ電気性アレイを具備した
熱画像作成装置に関する。
既存の熱画像作成装置の性能を制限する主な要因は隣接
検知要素間および各検知要素と支持および呼びかけ構造
との間の熱伝導である。
検知要素間および各検知要素と支持および呼びかけ構造
との間の熱伝導である。
英国特許出願第2163596A号には、一方の主表面
上に共通電極を、そして他方の主表面上に信号電極構造
を担持したチタン酸ジルコン酸鉛(LZT)の強誘電体
スラブよりなる熱画像作成装置が開示されている。その
信号電極構造は電気的導体によって回路基板の電極に接
続されている。隣接導体間の横方向の熱伝導は、熱的絶
縁材よりなる各ピラーの穴に各導体を入れ込むことによ
って軽減される。それらのピラーは強誘電体スラブを支
持する。
上に共通電極を、そして他方の主表面上に信号電極構造
を担持したチタン酸ジルコン酸鉛(LZT)の強誘電体
スラブよりなる熱画像作成装置が開示されている。その
信号電極構造は電気的導体によって回路基板の電極に接
続されている。隣接導体間の横方向の熱伝導は、熱的絶
縁材よりなる各ピラーの穴に各導体を入れ込むことによ
って軽減される。それらのピラーは強誘電体スラブを支
持する。
しかし、このような装置には、それを作成するためにセ
ラミックを作成し、そしてそれに続いてLZTスラブを
機械加工しなければならず、そのあめの工程は、LZT
が脆弱であるために、本質的に遅くかつ困難なプロセス
であるという難点がある。
ラミックを作成し、そしてそれに続いてLZTスラブを
機械加工しなければならず、そのあめの工程は、LZT
が脆弱であるために、本質的に遅くかつ困難なプロセス
であるという難点がある。
さらに、隣接パイロ電気性検知要素間に相当な熱的クロ
ストークが生じる。
ストークが生じる。
本発明のひとつの目的は検知要素からの熱伝送が少ない
構造を有する熱画像作成装置を提供することである。
構造を有する熱画像作成装置を提供することである。
本発明の他の目的はパイロ電気性物質の薄膜を用いて検
知要素間の熱伝導を小さくすることである。
知要素間の熱伝導を小さくすることである。
本発明の他の目的は簡単に作成しうる形式の熱画像作成
装置を提供することである。
装置を提供することである。
本発明の第1の態様によれば、熱的に絶縁性の誘電体層
と、この誘電体層によって担持され、それぞれパイロ電
気性物質の領域とその領域の互に逆方向を向いた面上に
担持された第1および第2の電極を具備した個別パイロ
電気性検知要素のアレイと、前記検知要素と信号処理手
段との間で電気信号を転送するための手段を具備した熱
画像作成装置が提供される。
と、この誘電体層によって担持され、それぞれパイロ電
気性物質の領域とその領域の互に逆方向を向いた面上に
担持された第1および第2の電極を具備した個別パイロ
電気性検知要素のアレイと、前記検知要素と信号処理手
段との間で電気信号を転送するための手段を具備した熱
画像作成装置が提供される。
この装置におけるパイロ電気性物質は木質的にパイロ電
気性である物質か、あるいは(例えば強誘電体物質に適
当な極性をつけることにより)パイロ電気特性が誘起さ
れる物質よりなりうる。
気性である物質か、あるいは(例えば強誘電体物質に適
当な極性をつけることにより)パイロ電気特性が誘起さ
れる物質よりなりうる。
パイロ電気性物質の領域は薄膜の形態をなしているのが
好ましい。
好ましい。
パイロ電気性物質の領域は誘電体層とは識別されうる。
このような場合には、誘電体層はポリミド、酸化ケイ素
またはオキシニトリド膜あるいはそれらの組合せである
。
またはオキシニトリド膜あるいはそれらの組合せである
。
あるいはそれに代えて、誘電体層はパイロ電気性物質で
作成されてもよく、その場合には、前記パイロ電気性物
質の領域がそれぞれ誘電体層の一部分を形成し、アレイ
の要素は第1および第2の電極の位置によって画成され
る。
作成されてもよく、その場合には、前記パイロ電気性物
質の領域がそれぞれ誘電体層の一部分を形成し、アレイ
の要素は第1および第2の電極の位置によって画成され
る。
従って、誘電体層に付着されなければならない個別のパ
イロ電気性領域の必要性が除去される。
イロ電気性領域の必要性が除去される。
本発明による熱画像作成装置に使用するのに適したパイ
ロ電気性物質としては、フッ化ポリビニリデン(PVD
F)のようなパイロ電気性重合体、あるいはフッ化ビニ
リデン/トリフルオロエチレンP(VDF/TrFE)
のようなそれの共重合体がある。他の適当なパイロ電気
性物質としては、種々の強誘電体液晶重合体や、例えば
スパッタリングあるいは金属有機化学蒸気沈積(MOC
VD)によって作成された薄膜セラミックスがある。こ
のようなセラミック材料の例としては、ジルコン酸チタ
ン酸鉛ランタン(PLZT)、ジルコン酸チタン酸鉛(
PZT)、チタン酸鉛(PbTiOs)およびチタン酸
バリウム(BaTi03)がある。
ロ電気性物質としては、フッ化ポリビニリデン(PVD
F)のようなパイロ電気性重合体、あるいはフッ化ビニ
リデン/トリフルオロエチレンP(VDF/TrFE)
のようなそれの共重合体がある。他の適当なパイロ電気
性物質としては、種々の強誘電体液晶重合体や、例えば
スパッタリングあるいは金属有機化学蒸気沈積(MOC
VD)によって作成された薄膜セラミックスがある。こ
のようなセラミック材料の例としては、ジルコン酸チタ
ン酸鉛ランタン(PLZT)、ジルコン酸チタン酸鉛(
PZT)、チタン酸鉛(PbTiOs)およびチタン酸
バリウム(BaTi03)がある。
パイロ電気性物質が有機物質である場合には、上記の領
域は厚さが5ミクロン以下であることが好ましい。パイ
ロ電気性物質が無機物質である場合には、上記の領域は
厚さが15ミクロン以下であることが好ましい。
域は厚さが5ミクロン以下であることが好ましい。パイ
ロ電気性物質が無機物質である場合には、上記の領域は
厚さが15ミクロン以下であることが好ましい。
本発明の第2の態様によれば、支持層を形成し、この支
持層上に第1の導電性層を形成し、薄膜沈積技術により
前記第1の導電性層上にパイロ電気性層を形成し、前記
パイロ電気性層上に第2の導電性層を形成し、前記第1
および第2の導電性層とパイロ電気性層から個別のパイ
ロ電気性検知要素を画定し、そして各検知要素から信号
処理手段への電気的接続を形成することよりなる熱画像
作成装置を作成する方法が提供される。
持層上に第1の導電性層を形成し、薄膜沈積技術により
前記第1の導電性層上にパイロ電気性層を形成し、前記
パイロ電気性層上に第2の導電性層を形成し、前記第1
および第2の導電性層とパイロ電気性層から個別のパイ
ロ電気性検知要素を画定し、そして各検知要素から信号
処理手段への電気的接続を形成することよりなる熱画像
作成装置を作成する方法が提供される。
支持層は基板上に形成された誘電体層でありうるが、そ
の場合には、この方法は誘電体層に対する支持構造を形
成するために基板の一部分をエツチング除去する工程を
含む。あるいはそれに代えて、支持層は基板であっても
よく、その場合には、この方法はその基板の少なくとも
一部分をエツチング除去する工程を含む。
の場合には、この方法は誘電体層に対する支持構造を形
成するために基板の一部分をエツチング除去する工程を
含む。あるいはそれに代えて、支持層は基板であっても
よく、その場合には、この方法はその基板の少なくとも
一部分をエツチング除去する工程を含む。
このような薄膜沈積を用いることによって、熱画像作成
装置を作成する技術がより簡単でかつより安価になされ
、そして脆弱なセラミックを機械加工する必要がなくな
るので、より高い歩留りが実現されることが判るであろ
う。
装置を作成する技術がより簡単でかつより安価になされ
、そして脆弱なセラミックを機械加工する必要がなくな
るので、より高い歩留りが実現されることが判るであろ
う。
さらに、本発明による装置では、各検知要素の熱的質量
が減少され、これによりヒステレシス効果が軽減される
。検知要素間の熱的クロストークも軽減される。
が減少され、これによりヒステレシス効果が軽減される
。検知要素間の熱的クロストークも軽減される。
本発明による熱画像作成装置の一例についてその装置を
作成する方法とともに図面を参照して説明しよう。
作成する方法とともに図面を参照して説明しよう。
第1図に示された実施例では、ケイ素リングまたはフレ
ーム1がひとつの面上に連続金電極3を有するポリミド
膜2を支持している。その金電極上には不連続のパイロ
電気性要素4が形成され、またこのパイロ電気性要素4
上にはそれぞれの金電極が形成されでいる。導電性であ
るが熱的には絶縁性のピラー6が、パイロ電気性要素4
がらの出力を処理するようになされた集積回路7に対す
る入力に形成されている。絶縁ピラーは要素4上の全表
面にも付着されている。
ーム1がひとつの面上に連続金電極3を有するポリミド
膜2を支持している。その金電極上には不連続のパイロ
電気性要素4が形成され、またこのパイロ電気性要素4
上にはそれぞれの金電極が形成されでいる。導電性であ
るが熱的には絶縁性のピラー6が、パイロ電気性要素4
がらの出力を処理するようになされた集積回路7に対す
る入力に形成されている。絶縁ピラーは要素4上の全表
面にも付着されている。
第2図および第3図に示された本発明による熱画像形成
装置は次の工程を含む。
装置は次の工程を含む。
1、ケイ素ウェハー21に二酸化ケイ素22a122b
が被覆され(例えば熱酸化によって)、そしてウェハ〜
の背面側だけにまたは両側に膜を形成されるべき部分の
二酸化ケイ素がエツチング除去され。
が被覆され(例えば熱酸化によって)、そしてウェハ〜
の背面側だけにまたは両側に膜を形成されるべき部分の
二酸化ケイ素がエツチング除去され。
2、ウェハーにしよもうの厚さだけポリミド先駆体がス
ピンコードされ(spin−coatecl)、そして
それをクロスリンク(硬化)させ、それによりポリミド
の薄膜23(例えば600nmの厚さの)を形成するた
めに熱処理される。
ピンコードされ(spin−coatecl)、そして
それをクロスリンク(硬化)させ、それによりポリミド
の薄膜23(例えば600nmの厚さの)を形成するた
めに熱処理される。
3.金の薄い層24が熱蒸着によっであるいはスパッタ
リングによってポリミド」二に沈積される。
リングによってポリミド」二に沈積される。
この層は、横方向の熱伝導を軽減するが電気的導伝は維
持するパターンを形成するようにエツチングされうる。
持するパターンを形成するようにエツチングされうる。
4、薄膜状の、すなわち厚さ20ミクロンまでのパイロ
電気性層25が、その特定の物質に適した方法によって
金層上に沈積される。適当な方法の例としては、ポリマ
ー系の物質に対してはスピンコーティング、セラミック
系の物質に対してはスパッタリングまたはMOCVD、
あるいはラングミュア・プロジェット(Langmui
r Blodgett)膜に対しては公知のり、B、浸
漬技術によるラングミュア・プロジェット単層沈積であ
る。パイロ電気性層がスピンコーティングされたポリマ
ーである場合には、その層は通常厚さが1ミクロンであ
り、かつ例えばコロナ・ポーリング(Corona p
oling)のような標準的な技術によってパイロ電気
性となされるであろう。
電気性層25が、その特定の物質に適した方法によって
金層上に沈積される。適当な方法の例としては、ポリマ
ー系の物質に対してはスピンコーティング、セラミック
系の物質に対してはスパッタリングまたはMOCVD、
あるいはラングミュア・プロジェット(Langmui
r Blodgett)膜に対しては公知のり、B、浸
漬技術によるラングミュア・プロジェット単層沈積であ
る。パイロ電気性層がスピンコーティングされたポリマ
ーである場合には、その層は通常厚さが1ミクロンであ
り、かつ例えばコロナ・ポーリング(Corona p
oling)のような標準的な技術によってパイロ電気
性となされるであろう。
5、金の第2の層26(例えば30nmの厚さの)がパ
イロ電気性層の頂部にそれを被覆するために沈積される
(第2図参照)。この層の厚みは要件に従って選択され
かつ形成されうる。すなわち、ソルダ・バンプ・ボンデ
ィング(solder−bumpbonding)を用
いると厚い膜(例えば1ミクロン)を必要とし、薄い層
(30nm)はそれより熱質量が小さく、ノンソルダー
・バンプ技術 (non−solder bump technolo
gy) (例えば熱圧縮ボンディングまたは導電性接着
剤インク)とともに用いられる場合にはより迅速な熱的
レスポンスを与える。頂部の金層とその下のパイロ電気
性層はそれぞれ金電極28を有する離散したパイロ電気
性要素27を形成するためにエツチング除去される。
イロ電気性層の頂部にそれを被覆するために沈積される
(第2図参照)。この層の厚みは要件に従って選択され
かつ形成されうる。すなわち、ソルダ・バンプ・ボンデ
ィング(solder−bumpbonding)を用
いると厚い膜(例えば1ミクロン)を必要とし、薄い層
(30nm)はそれより熱質量が小さく、ノンソルダー
・バンプ技術 (non−solder bump technolo
gy) (例えば熱圧縮ボンディングまたは導電性接着
剤インク)とともに用いられる場合にはより迅速な熱的
レスポンスを与える。頂部の金層とその下のパイロ電気
性層はそれぞれ金電極28を有する離散したパイロ電気
性要素27を形成するためにエツチング除去される。
このエツチングは物質に適したプラズマ技術またはウェ
ット技術あるいはそれらの組合せによって行なわれうる
。
ット技術あるいはそれらの組合せによって行なわれうる
。
7、ケイ素ウェハーはパイロ電気性メサのアレイを支持
したポリミド(またはポリミド/SiO□)だけを残す
ように異方性エツチングを用いてバックエッチされる(
第3図参照)。
したポリミド(またはポリミド/SiO□)だけを残す
ように異方性エツチングを用いてバックエッチされる(
第3図参照)。
8、全体の装置が基板上で反転され、その基板」二には
熱的絶縁性ピラーの相補性マトリックスが形成されてお
り、それらのピラーはそれぞれチャージ測定回路に接続
されている。個々の要素はそれぞれ、熱伝導を軽減する
ような態様でパターン化されうるひとつの共通の供用さ
れる電気的接続を除いて、隣接するものから熱的および
電気的に隔離されたひとつのピクセルを形成する。
熱的絶縁性ピラーの相補性マトリックスが形成されてお
り、それらのピラーはそれぞれチャージ測定回路に接続
されている。個々の要素はそれぞれ、熱伝導を軽減する
ような態様でパターン化されうるひとつの共通の供用さ
れる電気的接続を除いて、隣接するものから熱的および
電気的に隔離されたひとつのピクセルを形成する。
検知器アレイに赤外線吸収層を有することが有利である
。吸収層はパイロ電気性層25の沈積前に金層24を部
分的に酸化させることにより、またはパイロ電気性層に
適当な赤外線吸収性染料をドープすることにより、ある
いはブラックゴールドまたはブラックプラチナ(部分的
に酸化された金またはプラチナ)の層をパイロ電気性要
素27から遠隔の表面31上のポリミド膜23上に沈積
させることによって得ることができる。
。吸収層はパイロ電気性層25の沈積前に金層24を部
分的に酸化させることにより、またはパイロ電気性層に
適当な赤外線吸収性染料をドープすることにより、ある
いはブラックゴールドまたはブラックプラチナ(部分的
に酸化された金またはプラチナ)の層をパイロ電気性要
素27から遠隔の表面31上のポリミド膜23上に沈積
させることによって得ることができる。
あるいは、ビー・エイ・シルバーブ(P、A。
Silberg)による[三層膜の赤外線吸収J (
J、 opt。
J、 opt。
Soc、 Am、、 47.575(1957)) l
:開示されているような金属・誘電体・金属サンドイッ
チ構造を与えるようにピクセルが形成されうる。その場
合、主たる要件は、反射性の下方金属電極(すなわち金
属膜)と、377オームまたはその程度のシート抵抗率
を有する上方金属電極(例えばNiCr薄膜)を具備し
、ピクセルが入射赤外線に干渉効果を誘起するような寸
法となされていることである。
:開示されているような金属・誘電体・金属サンドイッ
チ構造を与えるようにピクセルが形成されうる。その場
合、主たる要件は、反射性の下方金属電極(すなわち金
属膜)と、377オームまたはその程度のシート抵抗率
を有する上方金属電極(例えばNiCr薄膜)を具備し
、ピクセルが入射赤外線に干渉効果を誘起するような寸
法となされていることである。
導電性で熱的絶縁性のピラー29は側部に導電性トラッ
クを担持したポリマー・ピラー、あるいは例えばそのト
ラックに対する長く薄く狭い導電体のような熱的絶縁領
域よりなりうる。これらのピラーはパイロ電気性要素2
9の表面上に金電極を付着させるために上面に低融点半
田を被覆されうる。
クを担持したポリマー・ピラー、あるいは例えばそのト
ラックに対する長く薄く狭い導電体のような熱的絶縁領
域よりなりうる。これらのピラーはパイロ電気性要素2
9の表面上に金電極を付着させるために上面に低融点半
田を被覆されうる。
支持部材を形成するためにポリミド膜を用いる代りに、
ケイ素基板21上に二酸化ケイ素(5102)、窒化ケ
イ素(sisN4)あるいはケイ素オキシニトライド膜
が形成されうる。一連の処理工程は前述と同様に行なわ
れる。あるいは、複合のポリミド・二酸化、窒化または
オキシニトリド・ケイ素膜を用いてもよい。
ケイ素基板21上に二酸化ケイ素(5102)、窒化ケ
イ素(sisN4)あるいはケイ素オキシニトライド膜
が形成されうる。一連の処理工程は前述と同様に行なわ
れる。あるいは、複合のポリミド・二酸化、窒化または
オキシニトリド・ケイ素膜を用いてもよい。
例示のために上述した特定の装置では、パイロ電気性メ
サのアレイがポリミド部材上に支持されたが、その支持
部材自体がP (VDF/TrFE)のようなパイロ電
気性物質で作成されている場合には他の構成が用いられ
得ることが理解されるであろう。
サのアレイがポリミド部材上に支持されたが、その支持
部材自体がP (VDF/TrFE)のようなパイロ電
気性物質で作成されている場合には他の構成が用いられ
得ることが理解されるであろう。
このような装置では、基板1は一般にパイロ電気性物質
を直接被覆されるであろうが、その基板はパイロ電気性
物質を残すように続いてエツチング除去される。パイロ
電気性検知要素アレイのための相互に接続された電極2
4を構成している導電性層がパイロ電気性層の露呈面上
に形成され、パイロ電気性層の他の表面上には相互に接
続された電極と離散した電極のパターンが形成され、離
散したパイロ電気性検知要素のアレイを形成する。
を直接被覆されるであろうが、その基板はパイロ電気性
物質を残すように続いてエツチング除去される。パイロ
電気性検知要素アレイのための相互に接続された電極2
4を構成している導電性層がパイロ電気性層の露呈面上
に形成され、パイロ電気性層の他の表面上には相互に接
続された電極と離散した電極のパターンが形成され、離
散したパイロ電気性検知要素のアレイを形成する。
第1図は熱画像作成装置の概略断面図、第2図および第
3図は第1図に示された熱画像作成装置を作成する方法
におけるふたつの段階を示す図である。 図面において、1は基板、2はポリミド膜、3は金電極
、4はパイロ電気性要素、6はビラ=7は集積回路、2
1はケイ素つエノへ−122a、22bは二酸化ケイ素
、23はポリミド層、24は金層、25はパイロ電気性
層をそれぞれ示す。
3図は第1図に示された熱画像作成装置を作成する方法
におけるふたつの段階を示す図である。 図面において、1は基板、2はポリミド膜、3は金電極
、4はパイロ電気性要素、6はビラ=7は集積回路、2
1はケイ素つエノへ−122a、22bは二酸化ケイ素
、23はポリミド層、24は金層、25はパイロ電気性
層をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、熱的に絶縁性の誘電体層と、この誘電体層によって
担持され、それぞれパイロ電気性物質の領域とその領域
の互に逆方向を向いた面上に担持された第1および第2
の電極を具備した個別パイロ電気性検知要素のアレイと
、前記検知要素と信号処理手段との間で電気信号を転送
するための手段を具備した熱画像作成装置。 2、前記領域が薄膜である請求項1の装置。 3、前記領域が有機物質で作成され、かつ厚みが5ミク
ロン以下である請求項2の装置。4、前記領域がパイロ
電気性ポリマーで形成されている請求項1〜3の装置。 5、前記ポリマーがフッ化ポリビニリデンである請求項
4の装置。 6、前記領域が薄膜沈積技術で生成された無機物質で形
成され、厚みが15ミクロン以下である請求項12の装
置。 7、パイロ電気性物質の各領域が誘電体領域から識別し
うる請求項1〜6の装置。 8、誘電体層がそれの縁端部で支持されている請求項7
の装置。 9、誘電体層がポリミド、酸化ケイ素またはオキシニト
リド膜またはそれらの組合せよりなる請求項7または請
求項8の装置。 10、誘電体層がパイロ電気性物質で形成され、前記パ
イロ電気性物質の領域が誘電体層の一部分を形成し、前
記アレイの要素は第1および第2の電極の位置によって
画定される請求項1〜6の装置。 11、前記電気信号を転送する手段がそれぞれ検知要素
と信号処理手段との間に電気的通路を与える作用をする
複数のピラーよりなり、各ピラーは前記層を支持する作
用をする請求項1〜10の装置。 12、前記第1および第2の電極のうちのひとつが前記
アレイのすべての検知要素を電気的に接続する連続電極
の一部分を形成する請求項1〜11の装置。 13、各検知要素がそれによって吸収される赤外線の量
を増加するように作用する赤外線吸収体を具備している
請求項1〜12の装置。 14、前記吸収体が前記誘電体層上に担持された赤外線
吸収層である請求項13の装置。15、各検知要素が入
射赤外線に干渉効果を生じて赤外線の吸収を増大させる
ように構成されかつそのような寸法となされている請求
項13の装置。 16、支持層を形成し、この支持層上に第1の導電性層
を形成し、薄膜沈積技術により前記第1の導電性層上に
パイロ電気性層を形成し、前記パイロ電気性層上に第2
の導電性層を形成し、前記第1および第2の導電性層と
パイロ電気性層から個別のパイロ電気性検知要素を画定
し、そして各検知要素から信号処理手段への電気的接続
を形成することよりなる熱画像作成装置を作成する方法
。 17、前記パイロ電気性層がパイロ電気性ポリマーで形
成され、かつ前記沈積技術がスピンコーティング方法で
ある請求項16の方法。 18、前記パイロ電気性層がセラミック材料で形成され
、前記沈積技術がスパッタリングである請求項16の方
法。 19、前記パイロ電気性層がセラミック材料で作成され
、そして沈積技術が金属・有機セラミック材料で形成さ
れ、沈積技術は金属・有機化学蒸気沈積である請求項1
6の方法。20、前記パイロ電気性層がラングミュア・
プロジェット膜で作成された請求項16の方法。 21、前記支持層はケイ素基板上に誘電体層が形成され
、誘電体層に対する支持構造を形成するために基板の部
分をエッチング除去する工程を含む請求項16〜20に
よる方法。22、支持層が基板であり、基板の少なくと
もエッチング除去することを含む第6項〜20の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8812954.9 | 1988-06-01 | ||
| GB888812954A GB8812954D0 (en) | 1988-06-01 | 1988-06-01 | Thermal imaging |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0227228A true JPH0227228A (ja) | 1990-01-30 |
Family
ID=10637880
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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- 1989-06-01 JP JP1137596A patent/JPH0227228A/ja active Pending
Also Published As
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