JPH0227511A - 薄膜磁気ヘッドの研削加工方法 - Google Patents

薄膜磁気ヘッドの研削加工方法

Info

Publication number
JPH0227511A
JPH0227511A JP17775988A JP17775988A JPH0227511A JP H0227511 A JPH0227511 A JP H0227511A JP 17775988 A JP17775988 A JP 17775988A JP 17775988 A JP17775988 A JP 17775988A JP H0227511 A JPH0227511 A JP H0227511A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
grinding
film magnetic
thin film
magnetic head
rough
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP17775988A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuaki Egawa
江川 一秋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP17775988A priority Critical patent/JPH0227511A/ja
Publication of JPH0227511A publication Critical patent/JPH0227511A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Magnetic Heads (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、インダクタンス型又は磁気抵抗効用型の薄膜
磁気ヘッドにおし」るチー・ブ摺勅面を研削加工するた
めの研削油]一方法に関するものである。
〔従来の技術〕
薄膜磁気ヘッドの構造を第4図に益づい”(:説明する
。
この薄膜磁気ヘッド1の薄膜磁気−、ラド素子は、基板
2上に形成さ;tt、 z’いる。ここでは、マルf・
チャンネルの薄膜磁気ヘッド1を示すので、基板2には
複数の薄膜磁気へ・ラド素子が並べて形成されている。
磁気抵抗効果型の薄膜磁気ヘッド素−rの場合には、基
板21−の前方端に再生ギャップを構成する磁気抵抗効
果素子の磁性層が形成され、この磁性層の両端から基板
2の後方端付近まご導体パターンが引き出されている。
インダクタンス型の薄膜磁気ヘッド素子の場合には、基
板2 、、l:の上下層に一対の磁性体膜が形成される
と共に、この一対の磁性体に挟まれた薄い非磁性体層に
よって構成される記録ギャップが基板2の前方@に配置
され、また、2この一対の磁性体に鎖交する導体コイル
の導体パターンが基板2の後方端付近に引き出されてい
る。
この基板2上には、保護板3が接着されている。保護板
3は、基板2上の薄膜磁気ヘッド索子を保護するために
後方端部のみを残して覆ったものである。なお、基板2
上の後方端部に露出した薄膜磁気ヘッド素子の導体パタ
ーンにおける導体端子パターンは、図示しないF P 
C[flexible printed circui
t]を介して記録再生回路に接続される。
そして、この基板2及び保護板3の前方端面ば、磁気テ
ープ摺動のために円筒の側面状に研削加工され、テープ
摺動面4を形成している。なお、このテープ摺動面4は
、研削加工の後に、最終仕上げ加工としてテープ研磨が
行われる。
ここで、このテープ摺動面4の研削加工方法を第5図に
基づいて説明する。
基板2上に保護板3が接着されると、まずダイヤモンド
ブレード等により、加工シロAを残して前面が切断され
る。なお、量産性向上のために、基板2上に複数個の薄
膜磁気ヘッド分の薄膜磁気ヘッド素子を並べて形成する
場合には、これを短冊状に切断した後に保護板3を接着
して、この状態とする場合もある。
そして、この基板2と保護板3の前面を半径Rの円弧B
−B線まで研削加工を行い、テープ摺動面4を完成する
。ただし、この場合、基板2及び保護板3のエツジ部で
の加工シロCが大きくなる。また、基板2は、通常フェ
ライト等の硬脆材料からなるので、粒度の細かい砥石で
切り込み量を大きくすると、チッピングを生じるおそれ
がある。そこで、テープ摺動面4を研削加工する際には
、粗研削と仕上げ研削とに分離して加工を行い、加工時
間を短縮するようにしている。
また、薄膜磁気ヘッド1では、テープ摺動面4を研削加
工する際に、ギャップ深さを1−程度又はそれ以下の高
い精度に保つ必要がある。しかし、ダイヤモンドブレー
ド等で切断した基板2等の前面及び後面は、高い精度が
望めないために、この研削加工の際の基準面とはなり得
ない。そこで、基板2上には、薄膜磁気ヘッド素子以外
にモニタパターンを形成し、これに基づいてテープ摺動
面4の削り込み量を定めるようにしている。
このモニタパターンを第6図及び第7図に基づいて説明
する。なお、この第6図及び第7図では、磁気抵抗効果
型の薄膜磁気ヘッドについて示しているが、インダクタ
ンス型の薄膜磁気ヘッドの場合も事情は同じである。
第6図に示すように、基板2上には、多数の薄膜磁気ヘ
ッド素子5・・・が並べて形成されている。
なお、ここでは、前述のように、量産性向上のために、
1個の基板2上に複数個の薄膜磁気ヘッド分の薄膜磁気
ヘッド素子5・・・を形成している。この薄膜磁気ヘッ
ド素子5は、磁性層5aと導体パターン5b・5bとで
構成されている。磁性層5aは、基板2の前方端部に蒸
着された磁気抵抗効果素子であり、これによって再生ギ
ャップが構成される。導体パターン5b・5bは、この
磁性層5aの両端を基板2上の後方端部まで引き出すた
めに蒸着された導体膜であり、この後方端部では、FP
Cに接続するための導体端子パターン5C・5Cを形成
している。
この基板2上における導体端子パターン5C・・・の並
びの両側には、一対のモニタパターン6・6が形成され
ている。モニタパターン6は、抵抗層6a・6bと導体
パターン6C・・・とで構成されている。抵抗層6a・
6bは、研削前の基板2の前方端部に蒸着された抵抗素
子であり、より前方側が粗研削用の第1抵抗層6aとな
り、後方側が仕上げ研削用の第2抵抗層6bとなる。た
だし、この抵抗層6a・6bは、1のパターンに纏めて
、粗研削用と仕上げ研削用とで兼用することもできる。
導体パターン6C・・・は、両紙抗層6a・6bの共通
する一端とそれぞれの抵抗層6a・6bの他端を基板2
上の後方端部まで引き出すために蒸着された3本の導体
膜であり、この後方端部では、FPCに接続するための
導体端子パターン6d・・・を形成している。
上記のようにモニタパターン6・6を形成した基板2は
、保護板3を接着後にテープ摺動面4の研削加工が行わ
れる。・二の研削加工では、例えば粗研削の場合、基板
2上のモニタパターン6・6におりる第1抵抗層6a・
6aが前方側から徐)7に削り取られて行くことになる
。そこで、両(ff11部の第1抵抗層6a・6aの抵
抗値を導体端子パターン6d・・・に接続し7たFPC
を介してインプロセスで測定すれば、チー・ブ摺動面4
の削り込み量を調整して、各薄膜磁気へラド素子5のギ
ャップ深さを正確に制御することができる。このことは
、仕21−げ研削の場合の第2抵抗層6N)・6bにつ
いても同様である。
また、7第7図に示すように、研削加工の隙に、研削装
置に装着した基板2が角度θだU釧めになっていたとす
ると、研削による削り込み量が両側部で相違することに
なる。すると、各抵抗層6a(6b)の残り幅W5 ・
WLが異なるので、これらの抵抗値にも差が生じる。そ
こで、この抵抗値の差から演算により角度θを求め、基
板2の装着角度を修正すれば、テープ摺動面4の削り込
み量を左右均一にし、全ての薄膜磁気へ、ラド素子5・
・・のギャップ深ざを高い精度ご等[7く制御する、:
とができる。なお22両〔ニタパターン6・6は5、こ
の角度修正が正確に行われるよ・)に、その間隔距El
をできるだけ長くする必要があり、このため前記のよう
に基板21−の両側部に形成されている。
上記薄膜磁気−・ツ(゛の研削加工工程において、従来
は、粗研削と仕トげ研削とを別個の機械0行っていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、上記のよ・うに粗研削と仕上げ研削とを別個
の機械で行5.y=、、粗研削用の研削装置&’:薄膜
磁気へラド1を装着して粗研削を行った後(託、仕上げ
研削用の研削装置に装着(7直して仕十げ′61f削を
行わなければならない。
従って、従来の薄膜磁気・\ラドの研削力u−[方法で
は、下記のような問題点が生じていた。
薄膜磁気ヘッドの製造ライン上に粗研削用と仕上げ研削
用の2台の研削装置を配置j7なければならず、製造設
備コストが高くなる。
また、7薄IiI磁気−・ラドを各研削装置に2度装着
しなければならないことに加えて、それぞれの装着後に
前記モニタパターン6・6を用いた角度修正作業を行う
必要があるので、この手間のために加工時間が長くなる
。
さらに、この角度修正作業ば、テープ摺乃面4を実際に
研削することにより可能となるので、各研削装置の前工
程ばで、それぞれこの角度修正作業のための加工シロを
残す必要がある。ところが、仕上げ研削では、加工時間
を短縮するために、この加工シロを通常数JM−・・数
」−一とするので、装着した薄膜磁気ヘッドの最初の傾
きが大きかった場合には1、モニタパターン6・6によ
る角度修正が終わらないうちに加工シロがなくなり、薄
膜磁気ヘッドがギャップ深さ不良となって歩留まりを低
下させることになる。
〔課題を解決するだめの手段〕
本発明に係る薄膜磁気ヘッドの研削加工方法は、上記課
題を解決するために、モニタパターンを形成した薄膜磁
気ヘッドを研削装置に装着して、このモニタパターンの
削り込み量をインプロセスで測定しながら薄膜磁気−・
・ラドの前向をギャップ深ざ方向に研削するごとrより
テープ摺動面の研削を行う研削加工方法において1.薄
膜磁気ヘッドを研削装置に装着し5、この研削装置に設
置された粗研削用の研削工具を用いて、装着された薄膜
磁気ヘッドの前面を粗研削した後に、同じ研削装置に設
置された仕上げ研削用の研削工具を用いて、7装着され
た薄膜磁気ヘッドの前面を仕ト、げ研削することを特徴
としている。
〔作 用〕
薄膜磁気ヘッドは、インダクタンス型ヌは磁気抵抗効果
型のいずれであってもよい。
この薄膜磁気ヘッドは、まず研削装置に装着される。こ
の際、測定尺により、薄膜磁気ヘッドの前面の傾きを修
正する。ただし、この修正は、完全に行われたとしても
、ダイヤモンドブレード等によって切断した精度の低い
面を基準とするものなので、このまま研削を行ったので
は、ギャップ深さを精密に制御することはできない。
このようにして装着された薄膜磁気ヘッドは、この研削
装置に設置された粗研削用の研削工具を用いて粗研削が
行われる。そして、テープ摺動面に仕上げ研削用の加工
シロを残した状態まで削り込むと、この粗研削が完了す
る。この粗研削は、切り込み量を多くとることができる
ので、基板等のエツジのように加工シロが大きい部分も
短時間で研削することができる。また、この粗研削の際
には、モニタパターンの削り込み量をインプロセスで測
定し、これに基づいて薄膜磁気ヘッドの傾きを修正する
。そして、この修正によって、ギャップ深さを精密に制
御することができる。
粗研削が完了すると、同じ研削装置に設置された仕上げ
研削用の研削工具を用いて仕上げ研削が行われる。ただ
し、この仕上げ研削の際には、薄膜磁気ヘッドの傾きが
既に修正されているので、新たな研削装置に装着した場
合のように、初めから修正作業を遺り直す必要はない。
また、このため、粗研削の際に残す加工シロも小さくす
ることができるので、仕上げ研削の加工時間を短縮する
ことができる。さらに、この仕上げ研削の際にモニタパ
ターンによる傾きの修正を行う必要が生じたとしても、
その修正量は極めて僅かなものとなるので、仕上げ研削
用の加工シロを研削する間に修正を完全に終えることが
できる。
この仕上げ研削が完了すると、テープ研磨等の最終工程
を経て薄膜磁気ヘッドが完成する。
〔実施例〕
本発明の一実施例を第1図乃至第3図に基づいて説明す
れば、以下の通りである。
まず、薄膜磁気ヘッド1を研削加工するための研削装置
11の構成を第2図に基づいて説明する。
薄膜磁気ヘッド1は、この研削装置11の主軸台12と
心押し台13との間に装着される。この主軸台12は、
薄膜磁気ヘッド1を支持し回転揺動させるものであり、
主軸センタ12aが突設されると共にこの偏心位置にケ
レ回し12bが設けられている。心押し台13には、こ
の主軸センタ12aと向かい合わせに突設された心押し
センタ13aが設けられている。これら主軸台12及び
心押し台13は、その下方に配置された旋回テーブル1
4のアリ溝部14a上に設置固定されている。
旋回テーブル14は、さらにその下方に配置されたスラ
イドテーブル15上で矢印り方向に回転自在となるよう
に設置されている。また、この旋回テーブル14の一端
部側方には、旋回テーブル駆動装置16が配置されてい
る。旋回テーブル駆動装置16は、サーボモータ16a
とこのサーボモータ16aの回転を往復運動に変換する
リニアアクチュエータ16bとで構成され、リニアアク
チュエータ16bの作用端が旋回テーブル14の一端部
を押圧できるようになっている。従っ覧、この旋回テー
ブル駆動装置16のサーボモータ16aが一方に回転す
ると、リニアアクチュエータ16bの作用端が一端部を
押圧して旋回テーブル14を一方に微小角度だけ回転さ
せることができる。また、この旋回テーブル14の一端
部と旋回テーブル駆動装置16との間には、引っ張りコ
イルばね16cが張設され、旋回テーブル14を旋回テ
ーブル駆動袋?1flS側に引き戻すように付勢してい
る。従って、サーボモータ16aが反対方向に回転した
場合には、リニアアクチエエータ16bの作用端が引き
戻されるので、引っ張りコイルばね16cの張力により
旋回テーブル14を反対方向に微小角度だけ回転させる
ことができる。
スライドテーブル15は、図示しない基台上で矢印E方
向に往復移動可能となるように設置されている。そして
、このスライドテーブル15の往復移動は、サーボモー
タ15aによって駆動されるようになっている。
この研削装置11には、2台の砥石台17・18が設置
されている。一方の第1砥石台17には、粗研削用の砥
石17aが装着され、モータ17bによって高速回転す
るようになっている。他方の第2砥石台18には、仕上
げ研削用の砥石18aが装着され、モータ18bによっ
て高速回転するようになっている。これらの砥石台17
・18は、前記主軸台12と心押し台13との間に装着
された薄膜磁気ヘッド1を挟んで向かい合わせに配置さ
れ、それぞれ薄膜磁気ヘッド1に対して矢印F−G方向
に接近・離反を制御できるよ・うになっている。
1;記研削装置11による薄膜磁気−ヘッド1の研削加
J一方法を説明する。
薄膜磁気−・ラド1は2、第3図に示すように、ワーク
ホルダ21に位置決めされてクランプされている。そし
て、このワークホルダ21は、研削治具22に位置決め
固定されている。研削治具22は、両端面にセンタ穴2
2a・22bが穿設されると共に、一方の端部には、前
記主軸台12の回転を伝えるためのテレ溝22cが設け
られている。また、このようにして位置決め固定された
薄膜磁気ヘッド1には、FPC23が接続されているF
PC23は、図示しない外部の抵抗測定回路とこの薄膜
磁気ヘッド1とを接続するだめのものであり、屈曲性に
優れたポリイミド樹脂フィルム等を基体としているので
、後に説明する薄膜磁気ヘッド1の研削加工時の動作に
対しても十分に耐えることができる。このFPC23は
、先に第6図に基づいて説明したように、薄膜磁気ヘッ
ド1のモニタパターン6における導体端子バタ・−ン6
d・・・にワイヤボンディング等で接続され、抵抗測定
回路によって抵抗層6a・6bの抵抗値を・インプロセ
スで測定できるようしている。
このようにしてワークホルダ21を介して薄11y!磁
気へラド1を位置決め固定I7た研削治具221;!。
、両センタ穴22a・22bに主軸台12の主軸センタ
12aと心押し台13の心押しセンタ13aを嵌入させ
ることにより、研削装置11に装着される。また、この
際、主軸台12のケレ回[712bが研削治R22のテ
レ溝22eに嵌まり込むようにする。
装着された薄膜磁気−・ラド1は、まず電気フィクロメ
ータやダイヤルゲー・ジ等を用いて傾きを修正される。
薄膜磁気ヘッド1の傾きは、電気′フィクロメータ等を
薄膜磁気ヘッドlの前面に当接、トせて、サーボモータ
15 aによりスライドテーブル15をスライド移動さ
せることにより測定することができる。そして、傾きの
修正は、旋回テ・−・プル駆動装置16により旋回テー
ブル14を微小角度回転させることにより行う。ただし
、この段階での修正は、薄膜磁気ヘッド1の前面を基準
としているので、完全なものとはなり得ない。
薄膜磁気−・ラド1の傾きが修正されると、粗研削加工
が行われる。この際、薄膜磁気ヘッドlは、第2図に示
すように、前面が砥石LTa側を向くようにされ、また
、ケレ回し12bによって第3図の矢印H方向に繰り返
し揺動される。粗研削加工は、この状態で第1砥石台1
7の粗研削用の砥石17aを第1図に示す位置まで前進
させることにより行う。この際、砥石17aをそのまま
切り込んで行くプランジカット研削により加工を行うこ
とができるが、さらにスライドテーブル15の往復移動
を付加してトラバース研削によることも可能である。こ
の粗研削加工は、切り込み量を多くとることができるの
で、加工シロが大きい場合にも短時間で加工を完了する
ことができる。
また、この粗研削の際には、薄膜磁気へ2ツド1の前面
の切り込み量をインプロセスで測定する。
これは、前述のように、薄膜磁気ヘッド1の第6図にお
けるモニタバタ・−ン6・6の抵抗値をFPC23を介
した抵抗測定回路で測定することにより行う。この抵抗
値の測定は、粗研削の切り込み量を制御する他に、薄膜
磁気ヘッド1の微妙な傾きを検出することもできる。即
ち、薄膜磁気ヘッド1の両側部に形成し):=モニタパ
タ・−ン6・6の抵抗値の差を求めれば2.これに基づ
いて薄膜磁気−・ラド1の傾き角度θを算出することが
できる。
従って、この角度θに基づき、旋回テーブル駆動装置1
6によって旋回テーブル14を微小角度だけ回転させる
と5、薄膜磁気−・ラド1の傾きを精密に修正すること
ができる。なお、旋回テーブル駆動装置16におけるリ
ニアアクチュエータ16bの送りは、引っ張りコイルば
ね16eにより常に付勢されているので、バックラッシ
ュ等の機械系ノヒステリシスによる影響を受けることが
ない。
ただし、この研削装置11は、旋回テーブル14の回転
中心から旋回テ・−プル駆動装置1Gまでの距離が薄)
摸磁気ヘッドlの長さに比べて1分に長いので、サーボ
モータ16aによるリニアアク3・ュエータ16bの送
り精度は、あまり高いものが要求されることはない。ま
た、装着した薄膜磁気ヘッド1は、必ずしも旋回テーブ
ル14の回転中心に一致させる必要はない。
この粗研削は、薄膜磁気ヘッド1の前面がテープ摺動面
4に対して仕上げ研削のための加工シロを残したところ
まで研削が進むと完了する。
粗研削加工が終わると、仕上げ研削加工に移る、この際
、粗研削用の砥石17aを第1図の状態から後退させ、
主軸台12のケレ回し12bを180度回転させて第1
図の2点鎖線に示す位置に移動させる。すると、薄膜磁
気ヘッド1が主軸センタ12aと心押しセンタ13aと
を結ぶ中心線Jを中心にして半回転し、粗研削を終えた
前面が第2砥石台18側を向くことになる。そして、こ
の状態で仕上げ研削用の砥石18aを前進させれば、仕
上げ研削を行うことができる。また、この際に薄膜磁気
ヘッド1をケレ回し12bによって第3図の矢印H方向
に揺動させることは粗研削の場合と同様である。ただし
、この場合には、テープ摺動面4の仕上げ品位を向上さ
せるために、スライドテーブル15を往復移動させてト
ラバース研削を行う。
この仕上げ研削の際にも、インプロセスでモニタパター
ン6・6の抵抗測定を行う。そして、これにより切り込
み量を制御してテープ摺動面4のギャップ深さを精密に
仕上げる。ただし、この場合には、既に粗研削時に薄膜
磁気ヘッド1の傾きを修正しているので、改めて修正作
業を行う必要はない。また、粗研削時に傾きが完全に修
正できずに、この仕上げ研削の際にも傾き修正を行う必
要が生じた場合であっても、その修正量は僅かなものと
なるので、修正作業は簡単に行うことができる。従って
、この修正作業のために大きな加工シロが必要になると
いうことがなく、前記粗研削で残す加工シロを小さくす
ることができるので、この仕上げ研削の加工時間を短縮
させることができる。
このようにして所定のギャップ深さまで仕上げ研削を行
うことによりテープ摺動面4が仕上がると、後工程のテ
ープ研磨等を経て薄膜磁気ヘッド1が完成する。
なお、研削加工によって高精度の加工を行うには、砥石
面の管理が重要になる。しかし、この研削装置11では
、同一の旋回テーブル14等に固定したドレッサを用い
て粗研削用の砥石17aと仕上げ研削用の砥石18aと
をドレッシングすること力5できるので、両者の平行度
を極めて良好なものとし、精密な加工を容易に行えるよ
うにする。
〔発明の効果〕
本発明に係る薄膜磁気ヘッドの研削加工方法は、以上の
ように、モニタパターンを形成した薄膜磁気ヘッドを研
削装置に装着して、このモニタパターンの削り込み量を
インプロセスで測定しながら薄膜磁気ヘッドの前面をギ
ャップ深さ方向に研削することによりテープ摺動面の研
削を行う研削加工方法において、薄膜磁気ヘッドを研削
装置に装着し、この研削装置に設置された粗研削用の研
削工具を用いて、装着された薄膜磁気ヘッドの前面を粗
研削した後に、同じ研削装置に設置された仕上げ研削用
の研削工具を用いて、装着された薄膜磁気ヘッドの前面
を仕上げ研削する構成をなしている。
これにより、本発明は、下記の効果を奏する。
粗研削用と仕上げ研削用の研削工具を設置した1台の研
削装置でテープ摺動面の研削作業を行うので、製造設備
コストを低減することができる。
また、仕上げ研削の際に、傾きの修正を初めから遺り直
す必要がないので、装着の手間やモニタパターンによる
修正の手間を軽減し、加工時間を短縮することができる
。
さらに、モニタパターンによる修正は、粗研削時にほと
んどが完了するので、仕上げ研削時にギャップ深さ不良
が生じるのを防止し、歩留まりを向上させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は本発明の一実施例を示すものであっ
て、第1図は薄膜磁気ヘッドを装着した研削装置の要部
拡大平面図、第2図は薄膜磁気ヘッドを装着した研削装
置の平面図、第3図は薄膜磁気ヘッドの加工時の動作を
説明するだめの斜視図である。第4図は薄膜磁気ヘッド
の全体斜視図、第5図は薄膜磁気ヘッドの研削加工を説
明するための側面図、第6図は薄膜磁気ヘッドにおける
基板の平面図、第7図は薄膜磁気ヘッドの角度修正作業
を説明するだめのモニタパターンの平面図である。 1は薄膜磁気ヘッド、4はテープ摺動面1.6はモニタ
パターン、11は研削装置2.17aは砥石(粗研削用
の研削工具)、’iBaは砥石(仕」;げ研削用の研削
工具)である。 第 図 第 図 第

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、モニタパターンを形成した薄膜磁気ヘッドを研削装
    置に装着して、このモニタパターンの削り込み量をイン
    プロセスで測定しながら薄膜磁気ヘッドの前面をギャッ
    プ深さ方向に研削することによりテープ摺動面の研削を
    行う研削加工方法において、 薄膜磁気ヘッドを研削装置に装着し、この研削装置に設
    置された粗研削用の研削工具を用いて、装着された薄膜
    磁気ヘッドの前面を粗研削した後に、同じ研削装置に設
    置された仕上げ研削用の研削工具を用いて、装着された
    薄膜磁気ヘッドの前面を仕上げ研削することを特徴とす
    る薄膜磁気ヘッドの研削加工方法。
JP17775988A 1988-07-15 1988-07-15 薄膜磁気ヘッドの研削加工方法 Pending JPH0227511A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17775988A JPH0227511A (ja) 1988-07-15 1988-07-15 薄膜磁気ヘッドの研削加工方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17775988A JPH0227511A (ja) 1988-07-15 1988-07-15 薄膜磁気ヘッドの研削加工方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0227511A true JPH0227511A (ja) 1990-01-30

Family

ID=16036633

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17775988A Pending JPH0227511A (ja) 1988-07-15 1988-07-15 薄膜磁気ヘッドの研削加工方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0227511A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6659843B2 (en) Substrate dicing method
WO2000067950A1 (en) Method and device for simultaneously grinding double surfaces, and method and device for simultaneously lapping double surfaces
JP6633954B2 (ja) ウェーハの面取り方法
JPH04364727A (ja) ウエーハのノッチ部面取り方法および装置
US20040112360A1 (en) Substrate dicing method
US20140341796A1 (en) Dual-side wafer bar grinding
JP2020047946A (ja) ウェーハの面取り方法
US6458019B1 (en) Method of manufacturing magnetic head
JP7016934B2 (ja) ウェーハの面取り装置
JP6847484B1 (ja) ワークの溝研磨方法及び研磨装置
JPS6171968A (ja) 回転砥石の摩耗補償方法
JP2024062914A (ja) 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法
JPH0760630A (ja) 平面研削盤
JP2003136385A (ja) 端面加工方法および装置
US2129031A (en) Method of and means for grinding and polishing sprocket teeth
JP2542445Y2 (ja) バフ溝加工装置
JPH06218670A (ja) 研削盤および研削加工方法
JPH03142703A (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法および製造装置
JP2604089Y2 (ja) 研削盤
JPH0516014A (ja) 多刃カツタによる鏡面切削装置
JP2774335B2 (ja) 研磨治具
JP3843452B2 (ja) 磁気ヘッドの回転シリンダへの取付方法
JP2000082203A (ja) 磁気ヘッドの製造方法
JPH07204997A (ja) 丸刃列設型裁断刃の研磨方法とそのための円形裁断刃
JPH0518163B2 (ja)