JPH02275330A - 磁場中温度差計測法 - Google Patents
磁場中温度差計測法Info
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- JPH02275330A JPH02275330A JP9669889A JP9669889A JPH02275330A JP H02275330 A JPH02275330 A JP H02275330A JP 9669889 A JP9669889 A JP 9669889A JP 9669889 A JP9669889 A JP 9669889A JP H02275330 A JPH02275330 A JP H02275330A
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- JP
- Japan
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- magnetic field
- resistance
- temperature difference
- bridge
- temperature
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- Granted
Links
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- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
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- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 2
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- 239000006185 dispersion Substances 0.000 abstract 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 abstract 1
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
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Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
本発明は磁場中温度差計測法に関するものである。
［従来技術］
最近超伝導マグネットの実用化によって、様々な分野で
高い磁場を使用することが増加しているが、その空間で
使用する構造材料等は安全及び省エネルギの観点から磁
場下での特性が十分に評価されていることが望まれる。
高い磁場を使用することが増加しているが、その空間で
使用する構造材料等は安全及び省エネルギの観点から磁
場下での特性が十分に評価されていることが望まれる。
材料の熱的性質の内信頼性は、温度差検出法の信頼性に
依存している。
依存している。
［発明が解決しようとする問題点コ
現在温度差検出の用途には熱電対が広く用いられている
が、数テスラという高い磁場では数％の誤差を生じるば
かりでなく、磁場の影響が複雑で補正が困難であること
が問題であった。
が、数テスラという高い磁場では数％の誤差を生じるば
かりでなく、磁場の影響が複雑で補正が困難であること
が問題であった。
［問題点を解決するための手段］
本発明は、抵抗温度特性が０．１％程度に揃った同じ素
材の抵抗温度センサを、温度差を知りたい複数の対象に
配し、 抵抗比をブリッジを用いて測定することにより
、磁場下の温度差を計測する方法をもちいた。
材の抵抗温度センサを、温度差を知りたい複数の対象に
配し、 抵抗比をブリッジを用いて測定することにより
、磁場下の温度差を計測する方法をもちいた。
［作用］
この発明は、温度差検出の方法を与え、高感度で、かつ
、ブリッジを用いているため高精度であるばかりでなく
、同じ素材でつくられたセンサは磁場依存性が似かよフ
ていることから磁場の影響がキャンセルされ、信頼性を
失わないことを特徴とする。
、ブリッジを用いているため高精度であるばかりでなく
、同じ素材でつくられたセンサは磁場依存性が似かよフ
ていることから磁場の影響がキャンセルされ、信頼性を
失わないことを特徴とする。
［実施例コ
第１図がその実施例であり、温度差を知るべき対象１，
２に特性が０．１％程度に揃）た温度センサ３．４をそ
れぞれ配置する０口・ンクインアンプ１１からの１０ｋ
Ｈｚ程度の参照信号出力１３はシールドボックス１０内
に配置されたシールドトランス９を介して温度センサ３
，４に測定のための電流を供給する。電圧出力は両端と
中間８Ｂの計３本の別のリード線により取り出される０
両端からの電圧は電圧分割器に加えられ、中間部からの
電圧と電圧分割器からの出力電圧の差がロックインアン
プ１１の差動人力１２に加えられ位相検波・増幅される
。この回路の特徴は、完全な４端子ブリツジではないに
もかかわらず、模式的に示すリード線の抵抗５． ６．
７． ８． 等にブリッジのバランスが影響を受け
ないことである。その感度は、温度センサ３，４に室温
で１にΩ程度の白金薄膜抵抗温度計を用い、電流を０．
２ｍＡとごく小さな値に保った場合でも室温で熱電対の
２倍、５０に程度では１０倍にもなる。また薄膜白金抵
抗温度計の抵抗Ｒの磁場Ｈの影響は Ｒ＝ Ｒ（Ｔ ） Ｘ （１＋ ａＸ Ｈりと一般に示
されるが（但しａは磁場に依存しない定数）、素材が同
じ同種の測温センサの場合はａのばらつきは小さく、ブ
リッジの抵抗比は８Ｔという強磁場下でも０．１％以下
の影響しか受けない、比熱あるいは熱伝導度の精度は一
般に０．１％が限界と言われており、事実上磁場の影響
は無視できる。
２に特性が０．１％程度に揃）た温度センサ３．４をそ
れぞれ配置する０口・ンクインアンプ１１からの１０ｋ
Ｈｚ程度の参照信号出力１３はシールドボックス１０内
に配置されたシールドトランス９を介して温度センサ３
，４に測定のための電流を供給する。電圧出力は両端と
中間８Ｂの計３本の別のリード線により取り出される０
両端からの電圧は電圧分割器に加えられ、中間部からの
電圧と電圧分割器からの出力電圧の差がロックインアン
プ１１の差動人力１２に加えられ位相検波・増幅される
。この回路の特徴は、完全な４端子ブリツジではないに
もかかわらず、模式的に示すリード線の抵抗５． ６．
７． ８． 等にブリッジのバランスが影響を受け
ないことである。その感度は、温度センサ３，４に室温
で１にΩ程度の白金薄膜抵抗温度計を用い、電流を０．
２ｍＡとごく小さな値に保った場合でも室温で熱電対の
２倍、５０に程度では１０倍にもなる。また薄膜白金抵
抗温度計の抵抗Ｒの磁場Ｈの影響は Ｒ＝ Ｒ（Ｔ ） Ｘ （１＋ ａＸ Ｈりと一般に示
されるが（但しａは磁場に依存しない定数）、素材が同
じ同種の測温センサの場合はａのばらつきは小さく、ブ
リッジの抵抗比は８Ｔという強磁場下でも０．１％以下
の影響しか受けない、比熱あるいは熱伝導度の精度は一
般に０．１％が限界と言われており、事実上磁場の影響
は無視できる。
また、この実施例の温度差に対する応答性はパルス的に
熱を加えた場合の応答から見積ることができるが、第２
図に示すように０．０１秒程度の時間内に完全に応答し
ており１通常の熱物性測定には十分な高速性を持つ。
熱を加えた場合の応答から見積ることができるが、第２
図に示すように０．０１秒程度の時間内に完全に応答し
ており１通常の熱物性測定には十分な高速性を持つ。
第１Ｉｌ！！Ｉは実施例の構成図であり、第２図は実施
例の応答性をグラフに表したものであるφ１．２
温度差を知るべき対象３．４ 温度センサ ５．６．７．８ 模式的に示すリード線の抵抗９
シールドトランス １０ シールドボックス １１ ロックインアンプ １２ 差動人力 １３ 参照信号出力 第１図
例の応答性をグラフに表したものであるφ１．２
温度差を知るべき対象３．４ 温度センサ ５．６．７．８ 模式的に示すリード線の抵抗９
シールドトランス １０ シールドボックス １１ ロックインアンプ １２ 差動人力 １３ 参照信号出力 第１図
Claims (1)
- 抵抗温度特性が０．１％程度に揃った同じ素材の抵抗温
度センサを、温度差を知りたい複数の対象に配し、抵抗
比をブリッジを用いて測定することにより、磁場下の温
度差を計測する方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1096698A JPH0786434B2 (ja) | 1989-04-17 | 1989-04-17 | 磁場中温度差計測法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1096698A JPH0786434B2 (ja) | 1989-04-17 | 1989-04-17 | 磁場中温度差計測法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02275330A true JPH02275330A (ja) | 1990-11-09 |
| JPH0786434B2 JPH0786434B2 (ja) | 1995-09-20 |
Family
ID=14171987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1096698A Expired - Lifetime JPH0786434B2 (ja) | 1989-04-17 | 1989-04-17 | 磁場中温度差計測法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0786434B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50110680A (ja) * | 1974-02-12 | 1975-08-30 | ||
| JPS5767829A (en) * | 1980-10-15 | 1982-04-24 | Hitachi Ltd | Temperature difference detection circuit |
-
1989
- 1989-04-17 JP JP1096698A patent/JPH0786434B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50110680A (ja) * | 1974-02-12 | 1975-08-30 | ||
| JPS5767829A (en) * | 1980-10-15 | 1982-04-24 | Hitachi Ltd | Temperature difference detection circuit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0786434B2 (ja) | 1995-09-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |