JPH0227545U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案によるレンズテスタの光路系の
一実施例を適用したレンズテスタの概略構成を示
すブロツク図、第２図はレンズマウントの平面図
、第３図はその―断面図、第４図は光源部の
構成図、第５図は光源部の各構成要素の放射又は
透過分光特性を示すグラフ、第６図はチヤートの
平面図、第７図は軸外ミラー部の平面図、第８図
はその左側面図、第９図はセンサ部の平面図、第
１０図はそのＸ―Ｘ断面図、第１１図は第９図の
―断面図、第１２図は演算回路のブロツ
ク図、第１３図は演算回路に於るコントラスト演
算に係る正弦波信号の説明図、第１４図及び第１
５図は軸外測定点位置を示す図、第１６図は制御
部及び判定部のフローチヤート、第１７図は測定
により得られるデイフオーカス量に対するコント
ラスト値の特性曲線、第１８図はコントラスト測
定のサブルーチンのフローチヤート、第１９図は
走査平均レジスタ群の概念図、第２０図は走査時
間短縮化を説明する概念図、第２１図は判定サブ
ルーチンのフローチヤート、第２２図は基準像面
位置と平均像面位置との関係を示す説明図、第２
４図は判定サブルーチンのフローチヤート、第２
５図は表示パネルの平面図、第２６図は本考案に
係るレンズテスタを適用したレンズテスタシステ
ムの構成ブロツク図、第２７図はパソコン部によ
る測定結果の表示の一例を示す図、第２８図及び
第２９図は第２７図の表示の説明図、第３０図は
第２８図及び第２９図と対応した像面変化の説明
図、第３１図は従来例である投影テストの説明図
、第３２図はＭＴＦ曲線を示すグラフ、第３３図
は単一空間周波数に於るＭＴＦの値から被検レン
ズの固有ＭＴＦの推察を説明する図である。 １……被検レンズ、２……光学系、１０……レ
ンズマウント部（レンズ保持部）、２２……軸上
ミラー（ミラー）、２３……軸外ミラー（ミラー
）、３１Ａ・３１Ｚ……ＣＣＤセンサ（検知手段
）、２１１……ハロゲンランプ（光源）、２１６
……ハーフミラー、２１７……ミラー。

補正 昭６３．１１．１６ 図面の簡単な説明を次のように補正する。 明細書第９６頁第１０行目〜第１１行目の、「
関係を示す説明図、」と「第２４図は」の間に、
「第２３図は従来例である投影テストの説明図、
」を挿入する。 明細書第９６頁第１８行目の、「変化の説明図
、」を、「変化の説明図である。」に補正する。 明細書第９６頁第１８行目〜第９７頁第２行目
の、「第３１図は〜である。」を削除する。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. レンズ保持部に被検レンズを回転駆動可能に保
   持すると共に該保持された被検レンズに軸上と軸
   外から所定ピツチの格子状チヤートを透過した光
   を入射させ、軸上及び軸外光のそれぞれの光路前
   方に配置された検知手段によりチヤート像を検知
   するよう構成されたレンズテスタに於て、光源か
   ら出射された光をハーフミラーにより反射させて
   軸上光を形成すると共に前記ハーフミラーを透過
   した光をミラーにより反射させて軸外光を形成し
   、前記被検レンズ透過後の前記軸上及び軸外光を
   それぞれミラーにより反射させて検知手段に導く
   よう構成したこと、を特徴とするレンズテスタの
   光路系。