JPH0720580Y2 - レンズテスタの光路系 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この考案は、光学レンズの不良品の判別に利用される検
査装置の光路系の改良に関する。

［従来の技術］ 一般に、写真レンズ等の光学レンズは、その量産時にお
いて投影テストにより最終検査（性能検査）される。こ
の投影テストとは、検査対象レンズ（被検レンズ）によ
って投影されたチャート像を作業者が目視によりチェッ
クして当該被検レンズの解像力を確認検査するものであ
る。

第23図に投影テストの概要を示し、１′は光源としての
ハロゲンランプ等のランプ、２′はランプ１′からの光
線を集光するコンデンサレンズ、３′は透過型チャー
ト、４′は被検レンズ、５′は投影板である。

透過型チャート３′は、透明なガラス板の表面に、大小
様々なピッチの縦線列と横線列を組合せた所定のパター
ンを、クロム等の蒸着によって光線不透過として複数描
いたものである。このパターンの線列の大小（線の幅及
びピッチ）が解像力と対応し、投影板５′上に投影され
たチャート像中で分離して見える最小ピッチの線列から
例えば100本/mmの如く解像力が評価されるようになって
いるものである。

ランプ１′からの光線は、コンデンサレンズ２′により
集光されて透過型チャート３′を背面から照光して透過
する。この透過光により形成される透過型チャート３′
の像を、被検レンズ４′によって該被検レンズ４′の焦
点距離の40〜50倍の位置に置かれた投影板５′上に拡大
投影する。尚、この時、被検レンズ４′によるチャート
像の光束の入射角度θ_１に対してコンデンサレンズ２′
からのチャート３′へ照光の入射角度θ_２が図の様に小
さいと被検レンズ４′が絞られた結果となる為、入射角
θ_２は充分大きくなければならないものである。

作業者は、被検レンズ４′の位置を光軸方向に微動調節
して上記チャート像の中心のピントを投影板５′上に合
わせた後、この投影板５′上に投影されたチャート像内
の所定位置に於る所定ピッチのチャートが分離されてい
るかどうか（換言すればチャート像内の所定位置に於て
所定の解像力を有するかどうか）を目視によって確認
し、被検レンズの良否を検査するものである。

しかし、こうした投影テストでは、作業を暗室内で行な
わなければならないために作業性が悪い、被検レンズの
焦点距離が長い場合には大きな暗室を必要として多大な
設備費を要する、コンデンサレンズに大口径且つ明るい
ものが必要、チャート像を目視によりチェックするもの
であることから熟練した作業者であっても一定以上の精
度での安定した検査は望めない、といった数々の不具合
がある。これらの問題を解決するものとして本出願人は
先に、被検レンズを回転駆動可能に保持するレンズ保持
部と、該レンズ保持部に保持された被検レンズに軸上と
軸外から所定ピッチの格子状チャートを透過した光を入
射させる光学系と、該光学系による軸上及び軸外光のそ
れぞれの光路前方に被検レンズの光軸方向に移動駆動可
能に配置された検知手段により検知されたチャート像に
基づいてコントラストを算出するコントラスト測定手段
と、レンズ保持部の回転駆動及びコントラスト測定手段
の作動を制御して被検レンズの像の所定位置に於けるコ
ントラストを測定する作動制御手段と、コントラスト測
定手段により測定されたコントラストを予め定められた
判定基準と比較することにより被検レンズの良否を判定
する判定部と、該判定部による判定結果を表示する表示
部と、により構成したレンズテスタを提案した。

［考案が解決しようとする課題］ しかしながら、こうしたレンズテスタの構成では、軸上
光と軸外光をそれぞれ別光源により構成したのでは分光
特性が軸上と軸外で異って測定結果（判定結果）が正確
でなくなるといった問題があり、又、所定光路長を確保
する為には装置全体が細長いものとなって設置スペース
を要するものであった。

［考案の目的］ この考案は、上記のような背景に鑑みてなされたもので
あり、軸上及び軸外光の分光特性を一致させて精度の高
い測定（判定）を可能とすると共に装置全体をコンパク
トに構成し得るレンズテスタの光路系の提供、をその目
的とする。

［課題を解決するための手段］ そのため、本考案によるレンズテスタの光路系は、光源
から出射された光をハーフミラーにより反射させて軸上
光を形成すると共にハーフミラーを透過した光をミラー
により反射させて軸外光を形成し、被検レンズ透過後の
軸上及び軸外光をそれぞれミラーにより反射させて検知
手段に導くよう構成したものである。

［発明の実施例］ 以下、この発明の実施例を添付図面を参照しながら説明
する。

第１図は、本発明に係るレンズテスタの光路系を適用し
たレンズテスタLTのブロック図である。

「レンズテスタLTの概略」 （構成） レンズテスタLTは、レンズ保持部としてのレンズマウン
ト部10、光学系２、センサ部31と演算回路32とにより構
成されるコントラスト測定手段としてのコントラスト測
定部３、作動制御手段としての制御部４、判定部５、表
示部６、とにより構成されている。尚、制御部４と判定
部５は一つのマイクロコンピュータにより構成されてい
るものである。

尚、本実施例に於てレンズテスタLTは第26図の如くコン
ピュータと接続されてレンズテスタシステムを構成して
いるが、これについては後に詳説する。

（作用） レンズマウント部10は、被検レンズ１を、該被検レンズ
１の光軸を中心として回転駆動可能に所定位置に保持す
る。

光学系２は、レンズマウント部10に保持された被検レン
ズ１に、該被検レンズ１の光軸に沿う軸上から所定格子
ピッチのチャートCAを透過した光（軸上光LA）を入射さ
せると共に、光軸と所定の角度を有する軸外から所定格
子ピッチのチャートCZを透過した光（軸上光LZ）を入射
させる。

コントラスト測定部３では、光学系２からの軸上及び軸
外光LA・LZがレンズマウント部10に保持された被検レン
ズ１を通過することにより形成されるチャートCA・CZの
像を、CCDセンサ部31の各CCDセンサ（軸上センサ31A及
び軸外センサ31Z）がチャート像のピッチ方向に走査し
て該チャート像の明暗を電気信号に交換し、この電気信
号を演算回路32（軸上演算回路32A及び軸外演算回路32
B）により演算して軸上及び軸外に於るチャート像のコ
ントラストを算出（即ち測定）する。

制御部４は、CCDセンサ部31の各CCDセンサ31A・31Zを被
検レンズ１の光軸方向に移動させて被検レンズ１の光軸
方向の複数箇所に於いて軸上及び軸外に於るチャート像
のコントラストを測定すると共に、レンズマウント部10
を駆動することにより被検レンズ１をその光軸を中心に
回転させて軸外の測定点を変更すると共に軸上に於る被
検レンズ１に対するチャート像のピッチ方向を変更し、
上記被検レンズ１の光軸方向の複数箇所に於けるチャー
ト像のコントラストの測定を所定の複数の軸外位置につ
いて行ない、更に、上記測定により得られた軸上のコン
トラスト測定結果から、各測定点に於るコントラストが
最大値を示す光軸上の位置の平均位置に軸上及び軸外の
CCDセンサ31A・31Zを固定し（即ち、軸上の各測定点に
於るコントラストが最大値を示す被検レンズ１と軸上セ
ンサ31Aとの平均距離、と等しい被検レンズ１からの距
離に軸外センサ31Zも固定し）、被検レンズ１を回転さ
せて軸外の各測定点に於るチャート像のコントラストを
測定するよう、コントラスト測定部３のセンサ部31の各
CCDセンサ31A・31Zの移動駆動とコントラストの測定、
及びレンズマウント部10の駆動（被検レンズ１の回転）
を制御するものである。

判定部５は、上記作動制御部４に制御されてコントラス
ト測定部３により得られたチャート像のコントラストの
値を予め定められた判定基準値と比較すると共に、最大
のコントラスト値を示す軸上と軸外の各測定点の光軸方
向の相互のズレ量を予め定められた判定基準量と比較
し、判定基準を越えているものがあれば不良として被検
レンズ１の良否を判定する。更に、被検レンズ１が不良
の場合には、上記各測定点のコントラスト値又は最大の
コントラスト値を示す軸上と軸外の各測定点の光軸方向
の相互のズレの状態から、予め定められた解析演算方法
によってその不良内容を導出する。

表示部６は、判定部５による判定結果と、導出された不
良内容を配置されたLEDの点灯により表示するものであ
る。

次に、上記各構成部の構成及び作用を、順を追って詳細
に説明する。

「レンズマウント部10」 （構成） 第２図は、レンズマウント部10の平面図、第３図はその
III-III断面図である。

図において、100はレンズテスタLTのシャーシ（第２図
には示してない）、11は被検レンズ１が位置決め保持さ
れるマウント、101はマウント11を回転自在に支持する
シャーシ100に固定された軸受ボス、15は被検レンズ１
をマウント11上に固定するロック機構、17はロック機構
15を駆動するエアシリンダ、18はマウント11を回転駆動
するDCモータである。

マウント11は、円板状の基板12の中心部に検査光通過の
為の開口部を形成すると共に、この基板12の上面に被検
レンズ１を位置決め載置可能なレンズ載置部13、下面に
軸受ボス101との嵌合部14、をそれぞれ突出形成した略
円板状の外観を呈している。基板12の外周端部面には全
周に亘ってギア12Aが形成されており、又、基板12の上
面のレンズ載置部13を中心とした対向する二箇所に、被
検レンズ１をレンズ載置部13に固定する為のロック機構
15が設けられている。

そして、嵌合部14がベアリング102を介してシャーシ100
に固定された軸受ボス101に嵌合し、シャーシ100に回転
自在に設置されている。

レンズ載置部13は、その上面が基準面13Aとなっている
と共に図示しない前後・左右方向の位置決めが形成され
ており、該基準面13A上に被検レンズ１の鏡筒のフラン
ジ1A（当該レンズをカメラ本体へ取付ける為のフラン
ジ）を当接させて載置すると、マウント11に対して被検
レンズ１の上下・前後・左右の位置が決った（即ち位置
決めされた）状態となるよう構成されているものであ
る。

DCモータ18は、マウント11配置位置の側方であるシャー
シ100の下側の面にそのスピンドル18Aを上向きとして固
定されている。シャーシ100を貫通して上側に突出する
スピンドル18Aの上端にはギア181が嵌合固定され、該ギ
ア181がアイドルギア16と噛合すると共に該アイドルギ
ア16がマウント11の基板12の外周のギア12Aと噛合して
おり、DCモータ18の回転によりマウント11が回転駆動さ
れるようになっている。

ロック機構15は、基板12の上面に立設されたポスト151
の側面に、リンクプレート152がその略中央部で回動可
能に軸支されると共に、該リンクプレート152の先端に
固定さられたピン152Aがロックプレート153の切り欠き1
53Aに嵌合しており、リンクプレート152の回動によりロ
ックプレート153も回動するよう構成されている。ロッ
クプレート153は、所定厚さの板状で、上端部に切り欠
き153Aが開放形成されると共に一方側端にツメ153Bが突
出形成されており、該ツメ153Bをレンズ載置部13側とし
てその下端側でポスト151に回動自在に軸支されている
ものである。

又、リンクプレート152とロックプレート153とは、その
夫々の軸支位置の外側（レンズ載置部13とは反対の側）
に於てスプリング154によって連結されており、該スプ
リング154がロックプレート153をリンクプレート152に
対してそのツメ153Bをレンズ載置部13側に回動させる方
向に引っ張り付勢している。このロックプレート153の
回動はツメ153Bがレンズ載置部13の上面（基準面13A）
に当接することで規制されるが、この時ツメ153Bが基準
面13Aを押圧する力は、被検レンズ１を保持するに充分
な所定の押圧力となるよう設定されているものである。

エアシリンダ17は、そのロッド17Aの位置をリンクプレ
ート152の軸支点より上側に対応させてリンクプレート1
52より外側のシャーシ100上に設置されており、該エア
シリンダ17を駆動してロッド17Aを伸張させると、該ロ
ッド17Aの先端がリンクプレート152の上端を押圧して回
動（上端がレンズ載置部13側に、下端がレンズ載置部13
と反対の側に移動するよう回動）させ、ピン152Aを介し
てロックプレート153をそのツメ153Bがレンズ載置部13
から離れる方向（図中矢印で示す）に回動させるように
なっている。尚、図中エアシリンダ17は一方のロック機
構15に対するものしか記載してないが、他方のロック機
構15に対しても同様に配置するか、又は双方のロック機
構15をリンク機構等により連結して同期作動するよう構
成すれば良いものである。

（作用） そして、エアシリンダ17を駆動してロックプレート153
をそのツメ153Bがレンズ載置部13から離れる方向に回動
させると、レンズ載置部13の基準面13A上への被検レン
ズ１の載置（又は取り外し）が可能となる。この状態
で、基準面13A上に被検レンズ１を位置決め載置し、エ
アシリンダ17を逆方向に駆動してリンクプレート152の
押圧を解除すると、スプリング154の引っ張り力でロッ
クプレート153が回動し、ツメ153Bが被検レンズ１のフ
ランジ1Aをレンズ載置部13上に押圧して被検レンズ１を
基準面13A上に（即ちマウント11上に）固定するもので
ある。

又、DCモータ18を回転させてマウント11を回転駆動する
ことにより、マウント11上に固定された被検レンズ１を
その光軸を中心として回転させることができ、且つ任意
の位置（角度）で停止させることができるものである。

尚、上記エアシリンダ17及びDCモータ18の駆動制御は、
後述する制御部４により行なわれるものである。

「光学系２」 （構成） 光学系２は、第１図に示す如く、軸上光及び軸外光の二
本の光束を形成する光源部21と、該光源部からのそれぞ
れの光束が透過する位置に配置された所定ピッチの透過
型格子であるそれぞれのチャートCA・CZ、該チャートCA
・CZ及び被検レンズ１を介したそれぞれの光束（軸上光
LA及び軸外光LZ）の光路を反射屈折させて後述するコン
トラスト測定部３に導くミラー22・23、それぞれの光束
光路上に配置されたコリメータレンズ24・24、により構
成されている。

光源部21は、その概念構成図を第４図に示す如く、光源
としてのハロゲンランプ211、該ハロゲンランプ211から
の光を所定の分光特性に整える為の二枚のフィルタ212
・213、コンデンサレンズ214、拡散板215、軸上用固定
ハーフミラー216、軸外用可動ミラー217、を上記記述順
に配置して構成されている。

ハロゲンランプ211の背面側（光線出射側とは反対の
側）には、パラボラ状の反射板211Aが設けられ、ハロゲ
ンランプ211からの光を所定の位置（図中ｆで示す）に
集光するようになっている。そして、その集光位置ｆよ
り光路前方に赤外吸収フィルタ212及び色補正フィルタ2
13の二枚のフィルタが、次にコンデンサレンズ214、拡
散板215の順で配置されている。

拡散板215より光路前方には、軸上用固定ハーフミラー2
16が光路に対して45°の傾きで固定配置され、次に軸外
用可動ミラー217が配置されている。軸外用可動ミラー2
17は、その角度が調整可能となっていると共に、ハロゲ
ンランプ211からの光束と平行する方向に前後に移動可
能となっており、被検レンズ１の光軸に対する軸外光の
角度を調整可能に構成されている。

光源部21から出射される軸上及び軸外光LA・LZの光路上
の被検レンズ１の前（即ちマウント11の光源部21側）
に、別々のチャートCA・CZがシャーシ100に固定されて
配置されている。

チャートCA・CZは、第６図に示す如く、光線透過可能な
平坦なガラス基板上に一方方向に所定ピッチ（Ｐ）で光
線不透過の複数の線部をクロムを蒸着して形成した矩形
波格子である。

そして、軸上光LAが透過する位置（即ち被検レンズ１の
光軸上）にはＰ＝1/20mmの軸上チャートCAが、軸外光LZ
が透過する位置にはＰ＝1/10mmの軸外チャートCZが、そ
れぞれ配置されている。尚、各チャートCA・CZの配置方
向は、軸外チャートCZに於て、そのピッチ方向（刻線と
直交する方向）が被検レンズ１の中心から放射状となる
方向とし、軸上チャートCAもこの軸外チャートCZと同じ
向きとして配置されている。

ミラー22・23は、軸上チャートCA及び被検レンズ１を介
した軸上光LAの光路延長上の所定位置に軸上ミラー22を
固定すると共に、軸外チャートCZ及び被検レンズ１を介
した軸外光LZの光路延長上の所定位置に軸外ミラー23を
配置して構成される。

軸上ミラー22は、被検レンズ１の光軸に沿う軸上光LAを
後述するコントラスト測定部３の軸上センサ31Aに向け
て直角に反射するよう、被検レンズ１の光軸上の所定位
置に、該被検レンズ１の光軸に対して45°傾けて固定設
置されている。

軸外ミラー23は、第７図乃至第８図に示す如く、シャー
シ100に固定されたガイドレール231に、スライドベース
232及びミラーホルダ233を介して被検レンズ１の光軸か
らの距離及び設置角度を調整可能として設置されている
ものである。

ガイドレール231は、その長手方向を後述するコントラ
スト測定部３の軸外センサ31Zに向けて水平にシャーシ1
00に固定されている。

スライドベース232は、その下面に於てガイドレール231
に摺動可能且つ離脱不能に嵌合し、ガイドレール231の
長手方向に沿って摺動移動可能であると共に、図示しな
いロック機構によって所定位置に固定可能となってい
る。

ミラーホルダ233は、スライドベース232に離脱不能に嵌
合して一体となっており、その嵌合部234に於て摺動回
転可能となっている。このスライドベース232に対する
ミラーホルダ233の回転位置も、図示しない固定機構に
よって任意の角度で固定可能となっている。ミラーホル
ダ233の回転軸方向は、当該軸外ミラー23の摺動移動方
向（即ちガイドレール231の長手方向）と直交する水平
方向となっているものである。又、ミラーホルダ233の
上面にはミラー保持部233Aが立設されており、該ミラー
保持部233Aの上端近傍には、取付孔233Bが貫通形成され
ている。

軸外ミラー23の裏面には、円柱状の取付バー23Aがその
端面で接着剤により接着固定されており、該取付バー23
Aをミラーホルダ233の取付孔233Bに嵌合すると共にこの
取付バー23Aを二本の止めネジ233Cで直交する方向から
締付けることで、ミラーホルダ233に軸外ミラー23が固
定されている。本構成により軸外ミラー23を歪ませるこ
となく固定することができるものである。

尚、第７図及び第８図では、軸該ミラー23が光軸方向と
直交する角度となっているが、実際は第１図示の如く所
定の角度に傾けて設置されるものである。

コリメータレンズ24は、上記軸上ミラー22及び軸外ミラ
ー23により屈折されてコントラスト測定部３に向う光路
上に、それぞれ後述するコントラスト測定部３のセンサ
部31のユニットベース313を介してシャーシ100に固定さ
れて配置されている。

（作用） そして、光源部21では、ハロゲンランプ211からの光を
赤外吸収フィルタ212及び色補正フィルタ213によって第
５図（ｄ）に示す如き所定の分光特性の光とすると共
に、軸上及び軸外光LA・LZとして被検レンズ１に向けて
出射する。

第５図（ａ），（ｂ），（ｃ），は光源部21を構成する
各構成要素の放射分光特性又は透過分光特性を示すグラ
フであり、各図とも横軸が波長，縦軸が放射率あるいは
透過率となっている。それぞれのグラフを説明すると、 （ａ）は、ハロゲンランプ211単体の放射分光特性であ
る。

（ｂ）は、色補正フィルタ212単体の透過分光特性であ
り、該色補正フィルタ212は中心透過波長460nmとなって
いる。

（ｃ）は、赤外吸収フィルタ213単体の透過分光特性で
あり、50％カット波長750nmとなっている。

（ｄ）は、ハロゲンランプ211,赤外吸収フィルタ213,色
補正フィルタ212を第３図の如く組み合わせた場合の透
過光の分光特性である。即ち、当該光源部から出射され
る光は、この（ｄ）に示す如き分光特性を有する光とな
っているものである。この分光特性の光は、後述するコ
ントラスト測定部３のCCDセンサ31A・31Zの受光分光特
性（第５図（ｅ））との組合わせにより視感度と略一致
した分光特性となるものである。

このような分光特性に加工された光は、ハロゲンランプ
211のフィラメント像をボカす為に拡散板215によって拡
散され、軸上用固定ハーフミラー216によって略50％の
光が軸上光LAとして上方に向けて直角に反射される。軸
上用固定ハーフミラー216を透過した光は軸外用可動ミ
ラー217によって略上方に向けて所定の角度で反射さ
れ、軸外光LZとなる。軸外用可動ミラー217は、前述の
如く光束と平行な方向に前後に移動可能であると共に角
度を変更調整することにより光軸に対する軸外光LZの角
度を変更調整可能となっており、軸外の測定位置を変更
できると共に被検レンズ１の種類に対応できるようにな
っているものである。

光源部21からの軸上及び軸外の光束LA・LZは、それぞれ
軸上チャートCA及び軸外チャートCZを透過して被検レン
ズ１に入射する。

被検レンズ１を通過した軸上及び軸外の光束LA・LZは、
それぞれ軸上ミラー22及び軸外ミラー23によって反射さ
れ、コリメータレンズ24により結像位置を短縮させられ
て後述するコントラスト測定部３に入射する。

尚、軸外ミラー23の移動及び回転は、前述の光源部21に
於る軸外用可動ミラー217の調整によって軸外光LZの光
軸に対する角度を変更した際に、該軸外光LZがコントラ
スト測定部３のセンサ31Zに入射するよう調節するもの
である。

「コントラスト測定部３」 （構成） コントラスト測定部３は、軸上光LA及び軸外光LZの光路
上のそれぞれにCCDセンサ31A・31Zを配したセンサ部31
と、該センサ部31からの軸上及び軸外二つの信号を演算
処理する演算部32とにより構成されている。

センサ部31は、軸上及び軸外のCCDセンサ31A・31Zを光
線方向に移動可能として構成されるが、その構成は、軸
上と軸外では同一であり、軸上側を説明することで軸外
側の説明は省略する。

演算部32は、センサ部31のCCDセンサ31Aからの軸上側の
信号を演算処理する演算回路32Aと、センサ部31のCCDセ
ンサ31Zからの軸外側の信号を演算処理する演算回路32Z
とにより構成される。そして、その構成は、上記センサ
部31と同様に軸上と軸外では同一であり、軸上側を説明
することで軸外側の説明は省略する。

センサ部31は、第９図、該第９図のＸ−Ｘ断面図である
第10図及びXI-XI断面図である第11図に示す如く、光学
系２によって当該コントラスト測定部３に導入される軸
上光LAを受光するCCDセンサ31A、該CCDセンサ31Aを保持
するセンサボード311、該センサボード311が固定された
スライドベース312、等をユニットベース313に所定の位
置関係に配置して一体化したユニットとなっている。

ユニットベース313には、リニアベアリング314のスライ
ドシャフト314Aが二本、軸上光LAの光路（光軸）と平行
に固定されており、該スライドシャフト314Aには夫々二
個のスライドピース314Bが摺動移動自在に嵌合されてい
る。

スライドベース312は、その下面に夫々のスライドピー
ス314Bが嵌合固定されることによってユニットベース31
3に設置され、軸上光LAの光路方向に移動自在となって
いる。

又、下面の略中央に、雌ネジ315が固定されており、該
雌ネジ315には、ユニットベース313の軸上光LA入射側と
は反対の側の端面に固定されたパルスモータ316のスピ
ンドルと連結されたスクリュウシャフト317が螺合して
いる。

センサボード311は、被検レンズ１を通過した軸上光LA
による軸上チャートCAの像の光量をアナログ信号として
検出（測定）する電気回路基板であり、軸上光LAを感知
してその光量に対応した電気信号を出力するCCDセンサ3
1Aと、図示しない該CCDセンサ31Aの駆動回路およびサン
プル＆ホールド回路等の周辺回路とにより構成される。

CCDセンサ31Aは、画素を一行に並べたラインセンサであ
り、センサボード311の前面側に固定されるが、軸上光L
Aに対して受光面が直角となり且つそのライン方向を軸
上チャートCAのピッチ方向に一致させてスライドベース
312に垂立固定される。つまり、その画素配列方向を軸
上光LAによる軸上チャートCAの像の格子方向と直交させ
てセンサボード311前面に設けられる。

尚、ユニットベース313の前端部には、前述の光学系２
のコリメータレンズ24が固定されている。

演算回路32Aは、第12図に示すブロック図の如く構成さ
れており、センサ部31のCCDセンサ31Aが感知した光像信
号S₀つまり被検レンズ１を透過した軸上チャートCAの光
像の感知信号S₀を演算処理して、軸上チャートCAの像の
コントラストを出力する。

つまり、この演算回路32Aでは、CCDセンサ31Aが前述し
た図示しないサンプル＆ホールド回路を介してハイパス
フィルタ321および積分回路322に接続されており、ハイ
パスフィルタ321は絶対値回路323に接続される。そし
て、絶対値回路323は積分回路324に接続され、積分回路
324はサンプル＆ホールド回路325に接続される。さら
に、一方の積分回路322はサンプル＆ホールド回路326に
接続されており、これらのサンプル＆ホールド回路325
・326は共に除算回路327に接続される。

（作用） センサ部31は、パルスモータ316の回転によりスラード
ベース312がスライドシャフト314Aに沿ってスライド移
動する。即ち、CCDセンサ31Aは軸上光LAの光軸方向に移
動駆動されるものである。

演算回路32Aは、センサ部31のCCDセンサ31Aから送られ
る光像信号S₀を交流成分と直流成分に分解し、その両者
を各々所定時間積分して、それら交流成分と直流成分の
互いの積分値の比を被検レンズ１のコントラストとして
出力する。

ハイパスフィルタ321は、上記光像信号S₀内の交流成分
を取り出す。

絶対値回路323は、ハイパスフィルタ321による上記交流
成分の絶対値、つまり負側の交流成分を正側に整流した
値を出力する。

積分回路324は、絶対値回路323から送られる上記絶対値
を所定の時間について積分する。つまり、積分回路324
では、光像信号S₀内の交流成分が積分される。

一方、もう一つの積分回路322は、センサ部31のCCDセン
サ31Aから送られた光像信号S₀をそのまま所定の時間に
ついて積分しており、該積分回路322では、光像信号S₀
の直流成分が積分される。

なお、積分回路322・324の各々は、リセット信号T₀によ
ってリセットされ、積分信号T₁によってその積分時間が
制御される。サンプル＆ホールド回路325は積分回路324
の積分値をサンプリングして除算回路327に送出してお
り、同様に、サンプル＆ホールド回路326は積分回路322
の積分値をサンプリングして除算回路327に送出してい
る。そして、そのサンプリングのタイミングは、サンプ
ル信号T₂によって制御される。

除算回路327は、積分回路324による光像信号S₀内の交流
成分の積分値を、積分回路322による光像信号S₀の直流
成分の積分値で割る除算を実行し、その除算結果を被検
レンズ１のコントラストとして出力する。

光像信号S₀は、軸上チャートCAが矩形格子なので矩形波
信号となっている（該矩形波信号は直流成分を含んでげ
た上げされている）。しかし、フーリェ変換すれば、上
記矩形波信号は、周波数が互いに異なるいくつかの正弦
波を複数合成したものとして表現できる。そこで、演算
回路32Aによる上記演算出力が被検レンズ１のコントラ
ストとなる旨、光像信号S₀を第13図に示す正弦波信号S₁
に置き替えて説明する。

同図において、ａは正弦波信号S₁の最大値つまり最大光
量、ｂは正弦波信号S₁の最小値つまり最小光量、Ｔはは
正弦波信号S₁の周期である。

この正弦波信号S₁の交流成分は、角速度をωとすれば、 と表わされる。

また、その直流成分は、 と表わされる。

ここで、上記交流成分の一周期に注目して、交流成分と
直流成分を積分し、互いの積分値の比をとれば、 となり、上記（５）式は、前述した（２）式と違って2/
πという定数が乗ぜられているものの、コントラストそ
のものとなる。

すなわち、演算回路32Aでは、センサ部31のCCDセンサ31
Aから送られる光像信号S₀は、ハイパスフィルタ321,絶
対値回路323を介してその交流成分が積分回路324により
所定の時間について積分され、他方の積分回路322によ
りその直流成分が積分される。そして、除算回路327に
より交流成分の積分値が直流成分の積分値で割られ、す
なわち（５）式に示す除算が実行されて該除算結果が被
検レンズ１のコントラストとなる。

以上、演算回路32Aによる演算出力が被検レンズ１のコ
ントラストとなる旨、光像信号S₀を第13図に示す正弦波
信号S₁に置き替えて説明したが、上記コントラストの演
算が積分回路322・324を用いた光像信号S₀の交流成分対
直流成分の面積比計算となっているため、光像信号S₀が
高調正弦波を多数含んだ矩形波信号であっても同様であ
り、何らかまわないものである。

なお、上記センサ部31の駆動制御及び演算回路32Aの演
算制御は後述する制御部により行なわれる。

「制御部４」 （構成） 制御部４は、後述する判定部５と共にCPUおよびメモリ
とによるマイクロコンピュータによって構成される。

この制御部４は、上記メモリ内の所定の制御プログラム
4A（第17図に示す）に従ってレンズテスタLTの各部（レ
ンズマウント部10及びコントラスト測定部３）を作動制
御するものであり、コントラスト測定動作全ての動作を
制御するものである。

（作用） 該制御部４は、コントラスト測定部３のCCDセンサ31Aを
駆動制御して被検レンズ１の光軸方向に移動させ、軸上
及び軸外について被検レンズ１の光軸方向の複数箇所に
於いてチャート像のコントラストを測定すると共に、レ
ンズ保持部10を駆動して被検レンズをその光軸を中心と
して回転させて軸外の測定点を変更して上記被検レンズ
の光軸方向の複数箇所に於けるチャート像のコントラス
トの測定を所定の複数の軸外位置で行なう。（測定１） 該測定１の測定結果からは、下記の如き被検レンズ１の
光学特性を知ることができる。（これらの測定結果を基
準値と比較しての良否判定は後述する判定部５により行
なう） （１）軸上の各測定点に於るコントラストが最大値を示
す光軸上の位置、の変化から、軸上に於る非点収差の程
度を検知できる。

（２）軸上の各測定点に於てコントラストが最大値を示
す光軸上の位置の平均位置（平均像面位置）を、当該被
検レンズ１の基準像面位置と比較することにより被検レ
ンズ１のバックフォーカスのオーバー乃至アンダーを察
知できる。

（３）軸外の各測定点に於てコントラストが最大値を示
す光軸方向の位置の変化により軸外に於る非点収差の程
度を検知できる。

（４）軸外の測定点に於いてコントラストが最大値を示
す位置（即ち像面位置）と軸上の像面位置とを比較する
ことにより像面の湾曲・倒れを察知できる。

（５）軸上の各測定点に於るコントラストの最大値の差
から、軸上コマ収差の程度を検知できる。

（６）軸上の各測定点に於るコントラストの最大値の平
均値から、軸上コントラスト不足を判断できる。

（７）軸上の各測定点に於るコントラストの最大値のう
ちで最小のものの値から、軸上に於る一部のコントラス
ト不足を判断できる。

（８）軸外の各測定点に於るコントラストの最大値の平
均値から、軸外コントラスト不足を判断できる。

（９）軸外の各測定点に於るコントラストの最大値の差
から、軸外コマ収差の程度を検知できる。

このような検知を可能とする測定点は、例えば被検レン
ズ１が35mmフィルム使用のカメラ用のレンズの場合、像
面位置に於て35mmフィルムの写角（36mm×24mm）の対角
線角度の４方位（第14図に於る，，，）とし、
軸外位置は軸上位置から判定に必要な所定の距離ｈの位
置（本実施例ではｈ＝15mm）に於て測定すれば良い。
尚、軸外の測定点に於ける像面位置と軸上の像面位置と
の比較により湾曲・倒れを察知することのみを目的とす
るのであれば、軸外の測定点は三箇所で良いものであ
る。

次に、上記測定により得られた軸上のコントラスト測定
結果から、各測定点に於るコントラストが最大値を示す
光軸上の位置の平均位置にCCDセンサ31Aを固定し、レン
ズ保持部10を駆動することにより被検レンズ１をその光
軸を中心として回転させて軸外の所定測定点に於るチャ
ート像のコントラストを測定するよう、コントラスト測
定手段３のCCDセンサ31Aの移動駆動とチャート像のコン
トラストの測定、及びレンズ保持部10の駆動（被検レン
ズ１の回転）を制御する。（測定２） 該測定２の測定結果からは、 （１）軸上の各測定点に於るコントラストの値の差か
ら、軸上に於る非点収差を検知できる。

（２）軸上の各測定点に於るコントラストの平均値から
軸上コントラスト不足を検知できる。

（３）軸上の各測定点に於るコントラストの最小値から
軸上コントラストの一部不足を検知できる。

（４）軸外の各測定点に於るコントラストの平均値か
ら、軸外コントラスト不足を判断できる。

（５）軸外の各測定点に於るコントラスト値の差から、
軸外コントラストの変動不良を判定できる。

この検知に於る軸外の測定点は、例えば被検レンズ１が
35mmフィルム使用のカメラ用のレンズで直進ヘリコイド
等フォーカシングに伴なってレンズが回転しないタイプ
である場合、像面位置に於て第14図示の如く、35mmフィ
ルムの写角（36mm×24mm）の対角線と軸上位置（光軸中
心）を中心とした水平線及び垂直線上の８方位（第14図
に於る〜）で、軸上位置から所定の距離ｈの位置
（本実施例では前述の測定１の際と同じｈ＝15mmの位
置）に於て測定すれば良い。但し、35mmフィルムの場合
で垂直線上の測定点（図中及び）が軸上位置から15
mmの位置では写角から外れるが、像面の湾曲等のデータ
を得るには有効なものである。又、回転ヘリコイド等フ
ォーカシングに伴なってレンズが回転してレンズの方位
が一定しない被検レンズ１の場合には、第15図示の如く
30°間隔で12方位（〜）測定すれば良い。尚、像面
に於る軸上位置から測定位置迄の距離は、当該被検レン
ズ１の写角に応じて適宜設定すれば良いものである。

次に、フローチャートに基づいて具体的な作動制御を説
明する。

第16図は、制御部４の制御プログラム4Aおよび後述する
判定プログラム5Aのフローチャートである。

この制御プログラム4Aは、前述の如く制御部４を構成す
るメモリ内に記憶されており、複数のサブプログラム
（サブルーチン）から成る。

つまり、この制御プログラム4Aは、初期設定サブルーチ
ン41,測定準備サブルーチン42,コントラスト測定サブル
ーチン43,コントラスト測定サブルーチン44,各部復帰＆
データ転送サブルーチン45により構成される。

以下、同図の流れに従って各サブルーチンを説明する。

初期設定サブルーチン41は、光学系２およびコントラス
ト測定部３の各駆動機構部，表示部6,制御部４が構成さ
れるマイクロコンピュータ内のメモリ等を夫々の初期状
態にセットする。なお、この初期設定サブルーチン41は
電源投入時にのみ一回実行される。

測定準備サブルーチン42は、各空圧機構部の空圧をチェ
ックし、被検レンズ１のレンズマウント部10へのセット
を確認し、不良および不良項目を表示する表示部をクリ
ヤし、センサ部31のセンサボード311をイニシャルセッ
トつまりその走査開始位置（基準位置）に移動，停止さ
せ、被検レンズの透過光量を測定して各チャートCA,CZ
のよごれおよび光学系の大きな異常（例えば、絞り込ま
れている）等をチェックする。

コントラスト測定サブルーチン43は、センサ部31のセン
サボード311を上記走査開始位置（基準位置）から所定
距離毎にコントラストを測定しながら被検レンズ１に接
近して光路を短縮する方向に走査（移動）させる。尚、
本実施例では１走査ステップの走査幅（移動距離）は1/
12mmに設定されており、その走査スピードは約240Step/
Secとなっている。また、この走査の動力源はパルスモ
ータ316を用いているが、エンコーダ付きのモータ等を
利用しても良い。

この結果、第17図に示すようなディフォーカス量に対す
るコントラスト値の特性曲線が得られ、数値計算により
コントラストのピーク値とその位置が軸上，軸外共に得
られる。さらに、該コントラスト測定サブルーチン43で
は、被検レンズを回転させてその測定点を変更してコン
トラスト測定を４回実行する。（前述の測定１） コントラスト測定サブルーチン44は、平均軸上像面位置
に軸上，軸外の各センサボードをセットさせる。これ
は、中心にピントの合ったフイルム面（設計値）に軸
上，軸外の各CCDセンサをセットすることに相当する。

そして、軸上，軸外のコントラストを数方位の所定方位
について測定（前述の測定２）する。つまり、直線ヘリ
コイド等レンズが回転しないタイプの被検レンズでは第
14図に示す８方位について、回転ヘリコイド等レンズの
方位が一定しないタイプの被検レンズでは第15図に示す
12方位について測定する。測定方位は、上記被検レンズ
１のタイプに応じてレンズマウント部10の回転を制御し
て変更する。

各部復帰＆データ転送サブルーチン45は、レンズマウン
ト部10の停止位置を所定の初期位置に復帰させ、そのロ
ック機構15を解除して被検レンズ１をレンズテスタLTか
ら取り外せる状態にすると共に、コントラストの測定値
を後述するパソコン部PC部に出力し、更に、測定したコ
ントラストが前回測定した値よりも低い場合、チャート
CA,CZに空気を一方から吹きつけかつ他方より吸引して
該チャートCA,CZを清掃する。

つぎに、主要な各サブルーチンについて詳細に説明す
る。

コントラスト測定サブルーチン43は軸上と軸外のピント
位置（像面位置）を探しだすサブルーチンである。コン
トラストの測定は、第１図に示すように被検レンズ１に
対して軸上，軸外の二つの光路LA・LZにそれぞれについ
て軸上，軸外の各センサボード（CCDセンサ31A,31Z）に
より行なわれる。各CCDセンサ31A・31Zはコントラスト
を一度計測する毎に１走査ステップ移動する。これによ
り、第18図に示すコントラスト１〜コントラストwss
（ディフォーカス量に対するコントラスト値の特性曲
線）が得られる。このコントラスト値は全てメモリ内に
記憶され、所定の走査幅WSS走査終了後、コントラスト
のピーク値とその像面位置が後述する判定部５にて計算
される。

さらに、被検レンズ１を回転させて軸外光束LZに対する
レンズの方位を変更して上記測定が第14図に示す４方位
について行なわれる。これにより、所定方位についてコ
ントラストのピーク値とその最良像面位置が求められ
る。

第18図は、第16図に示すコントラスト測定サブルーチン
43のフローチャートである。以下、同図フローチャート
の流れに従って各処理（手順）を説明する。

処理［１］では、センサ部31および演算部32によって軸
上および軸外のコントラストを計測する。

処理［２］では、処理［１］で計測したコントラストを
演算部32の後段に配した図示しないA/Dコンバータでデ
ィジタル量に変換する。

処理［３］では、制御部４内に設けられた走査平均レジ
スタ群のD₀に処理［２］でディジタル量に変換したコン
トラストを転送する。

処理［４］では、制御部４内の走査平均レジスタ群にて
走査平均を計算し、計算結果をメモリ内の所定場所に記
憶させる。

処理［５］では、走査平均レジスタ群にて、各走査平均
レジスタ上の各データを夫々となりのレジスタにシフト
させる。

処理［６］では、各CCDセンサを１走査ステップ移動さ
せる。

処理［７］では、各CCDセンサの走査（移動）量を検査
する。つまり、走査量（走査による移動量）が設定した
走査ステップ数に達したかどうか検査し、走査終了の場
合は次の処理［８］に移り、走査未終了の場合は処理
［１］に戻る。

処理［８］では、所定走査幅分のコントラストから、コ
ントラストのピーク値とその位置を演算する。

処理［９］では、レンズマウントを所定角度回転させて
被検レンズの測定方位を変更する。

処理［10］では、設定方位（４方位）の全てについてコ
ントラストを測定終了したかどうか検査する。測定終了
の場合は該コントラスト測定サブルーチン43から抜け出
してメインの制御プログラム4Aに復帰する。測定未終了
の場合は処理［11］を実行する。

処理［11］では、走査ステップ数を条件により変更設定
し、処理［１］に戻る。これは所定の条件が成立したと
きに走査ステップ数を減少させて、走査時間の短縮化を
図るものである。

なお、処理［１］から処理［７］までで構成されるルー
プが１走査ステップとなり、本実施例では１走査ステッ
プの処理時間は4.096msに設定されている。

当該制御部４では、コントラスト測定に際して走査平均
レジスタ群を利用して走査平均計算が行なわれるように
なっており、次に、この走査平均の動作について説明す
る。

（走査平均の動作について） 第19図は、走査平均レジスタ群の概念図である。

走査平均レジスタ群は、８個の所定ビット数のレジスタ
D₀〜D₇で構成され、制御部４内に設けられる。

その動作は、まず、前述したディジタル信号が制御部４
内の走査平均レジスタ群のD₀に転送されてレジスタD₀〜
D₇の平均が計算される。そして、この平均値がコントラ
ストとしてメモリに転送，記憶される。その後、走査平
均レジスタ群の各データが夫々隣りのレジスタにシフト
される。つまり、D₀→D₁，D₁→D₂，…，D₆→D₇とシフト
されるのである。すなわち、２進法で８で割るロジック
が簡単なため、こうした処理により高速演算が可能とな
る。さらに、レジスタ内のデータシフトは、制御部４を
構成したマイクロコンピュータでは容易である。などの
理由により走査平均計算は、容易かつ高速に処理でき
る。なお、上記方法では、レジスタD₀〜D₇の和が最大と
なるコントラストのピーク位置はD₀にデータを取り込む
時点のセンサボード位置と４走査ステップのズレを生ず
る。しかし、このズレは常に一定なので４走査ステップ
ズレた位置をピーク位置とすればよい。

レジスタD₀に取り込むデータの最初の１個から７個目ま
で、つまり、走査平均レジスタ群D₀〜D₇が全てFULLにな
るまでは、走査平均を取ったコントラストは実際に測定
したコントラストよりもかなり低くでる。しかし、この
部分の測定値は、第17図に示すコントラスト曲線の裾野
の部分に相当するので問題ない。また、走査平均を取っ
たコントラストは、実際の測定値より必ず低い値となり
誤差を生ずる。しかし、この実際の測定値との誤差は、
走査ステップのステップ数を多くすることにより減少さ
せることができ、これによりその影響を無視できる。

実際には、走査幅WSSにおける走査ステップ数は300〜10
00ステップに達する。１走査ステップは4.096msなので
約１秒強〜４秒を必要とする。

コントラストのピーク値とその位置は、メモリ内に記憶
させた各ステップ毎のコントラストデータ全てについて
コントラストの大小比較をくり返し行なうことで捜しだ
す。走査ステップのステップ数にもよるが、最大約1000
回比較をくり返すことになり、本実施例では制御部４が
2MHzクロックで作動しているので該大小比較の処理時間
に約100ms必要となる。

（走査時間の短縮化について） コントラスト測定サブルーチン43では、第14図に於る
，，，に示す所定の４方位についてコントラス
トを測定し、コントラストのピーク値とその位置を演算
するものであるが、下記の条件を満足する場合には走査
幅WSS全幅の走査を行なわずに、所定手順に基いて走査
幅を減少させる。これにより走査時間の短縮化を図るも
のである。

その条件とは、 （１）複数の被検レンズを検査する時のfbのバラツキと
個々の被検レンズ内の像面の測定点の変化による変化量
に大差があり、前者の方が大きい場合。

（２）被検レンズの軸外像面の倒れが小さいか、または
調べる必要がない場合。

（３）被検レンズの中心像面の方位による変化を調べ、
平均軸上像面のみを測定すればよい場合。である。

第20図は、走査時間の短縮化を説明する概念図である。
同図において、横軸はセンサボードの走査方向を示し、
縦軸は下方に向って走査時間の経過を示している。

センサボードの走査は所定の４方位について４回行なわ
れるが、まず一回目の方位でセンサボードの走査を例
えば800走査ステップで行なったとすると、つぎの方位
では方位で見つけたピーク位置プラス所定走査幅WS
H（これを例えば200走査ステップとする）走査する。一
回目の方位でのピーク位置が400走査ステップ目であ
ったとすると、二回目の方位での走査は600走査ステ
ップで済むことになる。同様に三回目の方位では400
走査ステップ、四回目の方位でも400走査ステップと
なる。こうすると４方位４回の走査は合計2200走査ステ
ップとなり、こうした方法を取らずに４方位４回全てに
ついて所定の800走査ステップ走査した場合の合計3200
走査ステップと比較して、1000走査ステップ、つまり時
間にして約４秒短縮される。

「判定部５」 （構成） 判定部５は、前述の制御部４と共にCPUおよびメモリと
によるマイクロコンピュータによって構成される。又、
該判定部５内には、判定結果を一時格納するための各々
８ビットで構成された二つの判定レジスタDS0およびDS1
（図示しない）が設けられている。尚、判定レジスタを
DS0およびDS1の二つとしたのは、一つでは処理データ数
に対応しきれないことによる。

更に、制御部４と共に該判定部５を構成するマイクロコ
ンピュータのメモリを、後述する表示部６を制御する為
の表示制御メモリとして使用するようになっている。

（作用） 該判定部５では、前述の制御部４により作動制御されて
測定された被検レンズ１の各測定点に於るコントラスト
の値を、第16図に示す制御プログラム5Aに従って予め定
められた判定基準と比較することにより良否判定を行な
う。制御プログラム5Aは、判定部５を構成するメモリ内
に記憶されており、複数のサブプログラム（サブルーチ
ン）から成る。つまり、この制御プログラム5Aは、二つ
の判定サブルーチン51,52により構成される。

ここでは、 1.測定１（コントラスト測定サブルーチン43）の測定結
果を判定基準と比較することにより、 （１）軸上に於る非点収差不良（軸上ピークの異常変化
による不良（A-ASU）） （２）バックフォーカスのオーバー乃至アンダー不良
（機械的なバックフォーカスの不良、過大不良（fb大）
及び不足不良（fb小）） （３）軸外に於る非点収差不良（軸外像面がたおれてい
る不良（Z-ASU）） （４）像面の湾曲・倒れ不良（アンダー不良つまり軸外
像面が軸上像面よりもレンズ側に寄りすぎている不良
（UND）、及びオーバー不良つまり軸外像面が軸上像面
よりもレンズ側から離れている不良（OVER）） （５）軸上コマ収差不良（最良軸上コントラストの異常
変化による不良（A-COM）） （６）軸上コントラスト不足不良（平均軸上コントラス
ト値が小さすぎる不良（A-MTFLO）） （７）軸上一部コントラスト不足不良（（A-MTFPL）） （８）軸外コントラスト不足不良（平均軸外コントラス
ト値が小さすぎる不良（Z-MTFLO）） （９）軸外コマ収差不良（最良軸外コントラストの異常
変化（Z-COM）） を判定する。

2.測定２（コントラスト測定サブルーチン44）の測定結
果を判定基準と比較することにより、 （１）軸上に於る非点収差不良（A-ASU） （２）軸上コントラスト不足不良（A-MTFLO） （３）軸上コントラストの一部不足不良（軸外コントラ
ストの一部が小さく、かつアンダー不良である場合（Ｕ
＋Ｈ）の不良、軸外コントラストの一部が小さく、かつ
オーバー不良である場合（Ｏ＋Ｈ）） （４）軸外コントラスト不足不良（Z-MTFLO） （５）軸外コントラストの変動不良（軸外のMTFが激し
く変化している不良（Z-HEN）） を判定する。

上記項目別の判定の結果は、それぞれ判定レジスタDS0
およびDS1の予め定められたビッド１〜８の状態を変化
（良の場合:0,不良の場合:1）することにより記録さ
れ、該判定レジスタDS0・DS1に記録された判定結果は各
判定サブルーチン51・52毎に表示制御メモリに転送され
る。

そして、この表示制御メモリに転送記憶された判定結果
に基づいて、後述する表示部６に設けられた各LEDが点
滅制御されるようになっている。即ち、表示部６の各LE
Dは、表示制御メモリの内容、つまり判定レジスタDS0お
よびDS1の各ビッドの状態（０または１）に対応して点
滅制御される構成となっており、各LEDは、その各々と
対応するビットの状態が０の場合は消灯され、１の場合
には点灯されるようになっている。又、上記判定に用い
られたデータは、後述するパソコン部PCにも送られるよ
うになっている。

以下、フローチャートに基づいて具体的に説明する。

まず、制御プログラム5Aを構成する二つの判定サブルー
チン51,52を第16図の流れに従って説明する。

判定サブルーチン51は、前述したコントラスト測定サブ
ルーチン43の結果から軸上アス（非点収差），コマ，軸
外アス（偏心），コマの程度を計算する。さらに、軸上
の平均像面位置（HKNPPA）と、軸外の平均像面位置（HK
NPPZ）との差から像面湾曲を計算する。そして、これら
の計算結果と後述する各基準値との比較から被検レンズ
１の良否および不良内容を判定し、その判定結果を判定
レジスタDS0およびDS1に記録する。

判定サブルーチン52は、軸上，軸外のコントラストおよ
びコントラストの変化の様子を計算し、判定サブルーチ
ン51と同様に、これらの計算結果と後述する各基準値と
の比較から被検レンズ１の良否および不良内容を判定
し、その判定結果を判定レジスタDS0およびDS1に記録す
る。

判定レジスタDS0およびDS1に記録された判定結果は、前
述の如くその都度（判定サブルーチン51・52毎に）表示
制御メモリに転送記憶され、該表示制御メモリの記憶内
容に基づいて後述する表示部６の各LEDを点滅制御する
ものである。

（判定基準について） 被検レンズの種類によってレンズ良否の判定基準が異な
るため、レンズテスタLTでは、制御プログラム5A上に多
くの判定基準を持っている。これらの判定基準には、そ
の全てに制御プログラム5A上でSTDを冠した基準値名が
付けられている。

像面についての基準値には、 STDPPA :基準軸上像面 STDPPZ :基準軸外像面 STDPPAU:軸上アンダー側リミット STDPPAO:軸上オーバー側リミット STDPPGU:軸外アンダー側リミット STDPPGO:軸外オーバー側リミット があり、上記各リミットから外れる被検レンズ１は、バ
ックフォーカスfb（機械的なピント位置）不良と判定さ
れる。

像面変化についての基準値には、 STDPPSA:軸上像面変化リミット STDPPSZ:軸外像面変化リミット があり、上記各像面変化リミットをオーバーする被検レ
ンズは、アス（非点収差）不良と判定される。

コントラストの変化についての基準値には、 STDMMSA:最良軸上コントラストの変化リミット STDMMSZ:最良軸外コントラストの変化リミット があり、上記各変化リミットをオーバーする被検レンズ
は、コマ収差不良と判定される。

コントラストの最小値についての基準値には、 STDMINA:最良軸上コントラストリミット STDMINZ:最良軸外コントラストリミット STDMNLA:平均軸上像面における軸上コントラストリミッ
ト STDMNLZ:平均軸上像面における軸外コントラストリミッ
ト STDMNHZ:平均軸上像面における軸外コントラストの平均
値のリミット があり、上記各リミットに満たない被検レンズは、コン
トラストアンダー不良と判定される。なお、平均軸上像
面における軸外コントラストの平均値のリミット（STDM
NHZ）に満たない被検レンズは、特定方位のみの不良で
はなく、平均値も不良な不良の程度の大きいレンズと判
定される。

（判定動作について） 第21図1/4〜4/4は、第16図に示す判定サブルーチン51の
フローチャートである。以下、同図に示す各処理（手
順）の流れに従って説明する。

処理［１］では、４方位について測定した４個の軸上像
面位置（PPA）から、 PPAMAX:最大値 PPAMIN:最小値 HKNPPA:平均値 SAPPA :最大値と最小値との差 を求める。

処理［２］では、軸上像面変化リミット（STDPPSA）と
処理［１］で計算した最大値と最小値との差（SAPPA）
とを比較する。軸上像面変化リミット（STDPPSA）より
も最大値と最小値との差（SAPPA）の方が大きい場合
は、軸上アス（非点収差）不良と判定し、判定レジスタ
の所定ビット（判定レジスタDS0の３ビット目）を１と
する。

設計上回転対称になっているカメラレンズは、一般に光
軸上に非点収差を発生しない。しかし、カメラレンズが
心取り不良の玉により組み立てられた場合等には、光軸
上に非点収差が現われるので、上記処理［２］にて軸上
像面位置が所定量以上変動している被検レンズを軸上ア
ス不良とするものである。

ここで、該処理［２］に於て軸上アス（非点収差）不良
と判定された場合を例として不良表示を説明する。

処理［２］に於て軸上アス（非点収差）不良と判定され
ると、判定レジスタのそれと対応するビット（判定レジ
スタDS0の３ビット目）が１となる。そして、当該判定
サブルーチン51の終了時に判定レジスタの内容が表示制
御メモリに転送記憶される（後述の処理［23］）と、該
表示制御メモリに記憶された軸上アス不良を示すデータ
に基づいて、表示部６（第25図示）の当該不良の表示で
あるLED64A（A-ASU）を点灯させるものである。

処理［３］では、軸上アンダー側リミット（STDPPAU）
と処理［１］で計算した平均値（HKNPPA）とを比較す
る。軸上アンダー側リミット（STDPPAU）よりも平均値
（HKNPPA）の方が大きい場合は、機械的なバックフォー
カスfbのアンダー側異常と判定し、判定レジスタの対応
ビット（判定レジスタDS0の１ビット目）を１とする。
これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のLED63A（fb大）を点灯させる。

処理［４］では、軸上オーバー側リミット（STDPPAO）
と処理［１］で計算した平均値（HKNPPA）とを比較す
る。そして、軸上オーバー側リミット（STDPPAO）より
も平均値（HKNPPA）の方が小さい場合は、機械的なバッ
クフォーカスfbのオーバー側異常と判定し、判定レジス
タの対応ビット（判定レジスタDS0の２ビット目）を１
とする。これにより、上記判定レジスタの内容が表示制
御メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示である
表示部６のLED63B（fb小）を点灯させる。

処理［５］では、基準軸上像面（STDPPA）つまり軸上像
面位置の設計値と、処理［１］で計算した平均値（HKNP
PA）つまり平均軸上像面位置との像面位置の差（SAHKN
A）を求める。すなわち、 （STDPPA）−（HKNPPA）＝（SAHKNA） という計算が行なわれる。

処理［６］では、平均軸上像面（HKNPPA）に相当（一
致）する軸外像面（SKPPZ）を求める。これは、軸外コ
ントラストの測定を平均軸上像面（HKNPPA）に相当（一
致）する軸外像面（SKPPZ）で行なう必要があるためで
ある。

第22図は、基準となる像面位置と、処理［１］で計算し
た平均の像面位置との関係を示す説明図である。同図に
示すように軸外像面の設計値からのズレ量は、処理
［５］で計算した像面位置の差（SAHKNA）から（SAHKN
A）/Cosθとなる。

すなわち、基準軸外像面（STDPPZ）から と、求められる。

なお、上記のような三角関数の計算は、判定部５を構成
したマイクロコンピュータでは計算プログラムが繁雑と
なり、いたずらにプログラムステップ数が増大する傾向
にある。そこで、本実施例では上記計算をまるめ計算と
してある。

処理［７］では、軸外像面のアンダー方向リミット（SK
PPZU）と、オーバー方向リミット（SKPPZO）を求める。
すなわち、処理［６］で計算した軸外像面（SKPPZ），
軸外像面のアンダー方向許容量（STDWU），軸外像面の
オーバー方向許容量（STDWO）から （SKPPZU）＝（SKPPZ）＋（STDWU） （SKPPZO）＝（SKPPZ）−（STDWO） と、求められる。

処理［８］では、処理［７］で計算した軸外像面のオー
バー方向リミット（SKPPZO）を検査してその値が負の場
合に（SKPPZO）＝０とする。これは、負の値をなくして
判定部５での演算処理を容易にするためのものである。

処理［９］では、４方位について測定した４個の軸外像
面位置（PPZ）から、 PPZMAX:最大値 PPZMIN:最小値 HKNPPZ:平均値 SAPPZ :最大値と最小値との差 を求める。

処理［10］では、軸外像面変化リミット（STDPPSZ）と
処理［９］で計算した最大値と最小値との差（SAPPZ）
とを比較する。軸外像面変化リミット（STDPPSZ）より
も最大値と最小値との差（SAPPZ）の方が大きい場合
は、軸外アス（非点収差）不良と判定し、判定レジスタ
の対応ビット（判定レジスタDS1の１ビット目）を１と
する。これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御
メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表
示部６のLED65C（Z-ASU）を点灯させる。

処理［11］では、処理［７］で計算した軸外像面のアン
ダー方向リミット（SKPPZU）と処理［９］で計算した平
均値（HKNPPZ）とを比較する。軸外像面のアンダー方向
リミット（SKPPZU）よりも平均値（HKNPPZ）の方が大き
い場合は、像面がアンダー側に湾曲したアンダー異常と
判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタDS0
の７ビット目）を１とする。これにより、上記判定レジ
スタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当
該不良の表示である表示部６のLED65A（UND）を点灯さ
せる。

処理［12］では、処理［７］で計算した軸外像面のオー
バー方向リミット（SKPPZO）と処理［９］で計算した平
均値（HKNPPZ）とを比較する。軸外像面のオーバー方向
リミット（SKPPZO）よりも平均値（HKNPPZ）の方が小さ
い場合は、像面がオーバー側に湾曲したオーバー異常と
判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタDS0
の８ビット目）を１とする。これにより、上記判定レジ
スタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当
該不良の表示である表示部６のLED65B（OVER）を点灯さ
せる。

処理［13］では、処理［９］で計算した平均値（HKNPP
Z）つまり平均軸外像面位置と、処理［６］で計算した
軸外像面位置（SKPPZ）との像面位置の差（SAHKNZ）を
求める。すなわち、 （HKNPPZ）−（SKPPZ）＝（SAHKNZ） という計算が行なわれる。

処理［14］では、処理［13］で計算した軸外像面の差
（SAHKNZ）を検査する。つまり、軸外像面の差（SAHKN
Z）の正負を検査する。

軸外像面の差（SAHKNZ）が正の値の場合は、軸外像面が
軸上像面よりもアンダー側にあると考えられる。この場
合、軸外アンダー量（PPZGU）は、 （PPZGU）＝（SAHKNZ）×２＋（SAPPZ） と計算される。この軸外アンダー量（PPZGU）は、平均
軸上像面（HKNPPA）からの軸外像面のディフォーカス量
の２倍に相当し、該軸外アンダー量が大きいほどコント
ラスト低下の原因となる。次に、この軸外アンダー量
（PPZGU）と軸外アンダー側リミット（STDPPZU）とを比
較する。そして、軸外アンダー側リミット（STDPPZU）
よりも軸外アンダー量（PPZGU）の方が大きい場合は、
像面のアンダー側への湾曲と共に偏心も考えられるた
め、アンダー異常と偏心異常の合成不良と判定し、判定
レジスタの対応ビット（判定レジスタDS1の５ビット
目）を１とする。これにより、上記判定レジスタの内容
が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表
示である表示部６のLED65G（Ｕ＋Ｈ）を点灯させる。

一方、軸外像面の差（SAHKNZ）が負の値の場合は、軸外
像面が軸上像面よりもオーバー側にあると考えられる。
この場合、軸外オーバー量（PPZGO）は、 （PPZGO）＝（SAHKNZ）×２＋（SAPPZ） と計算される。この軸外オーバー量（PPZGO）は、前記
軸外アンダー量の場合と同様、平均軸上像面（HKNPPA）
からの軸外像面のディフォーカス量の２倍に相当し、該
軸外オーバー量が大きいほどコントラスト低下の原因と
なる。次に、この軸外オーバー量（PPZGO）と軸外オー
バー側リミット（STDPPZO）とを比較する。そして、軸
外オーバー側リミット（STDPPZO）よりも軸外オーバー
量（PPZGO）の方が大きい場合は、像面のオーバー側へ
の湾曲と共に偏心も考えられるため、オーバー異常と偏
心異常の合成不良と判定し、判定レジスタの対応ビット
（判定レジスタDS1の６ビット目）を１とする。これに
より、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送
記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のLED6
5H（Ｏ＋Ｈ）を点灯させる。

処理［15］では、４方位について測定した軸上像面位置
における４個の軸上コントラスト（MTFA）から、 MTFMAXA:最大値 MTFMINA:最小値 HKNMTFA:平均値 SAMTFA :最大値と最小値との差 を求める。

処理［16］では、最良軸上コントラストの変化リミット
（STDMMSA）と、処理［15］で計算した最大値と最小値
との差（SAMTFA）とを比較する。ここで、最良軸上コン
トラストの変化リミット（STDMMSA）よりも最大値と最
小値との差（SAMTFA）の大きい場合は、軸上コントラス
トのコマ不良と判定し、判定レジスタの対応ビット（判
定レジスタDS0の４ビット目）を１とする。これによ
り、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記
憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のLED64B
（A-COM）を点灯させる。

処理［17］では、最良軸上コントラストリミット（STDM
INA）と処理［15］で計算した平均値（HKNMTFA）とを比
較する。ここで、最良軸上コントラストリミット（STDM
INA）よりも平均値（HKNMTFA）の方が小さい場合は、軸
上コントラストの値不足と判定し、判定レジスタの対応
ビット（判定レジスタDS0の５ビット目）を１とする。
これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のLED64C（A-MTF・LOW）を点灯させる。

処理［18］では、最良軸上コントラストリミット（STDM
INA）と処理［15］で計算した最小値（MTFMINA）とを比
較する。ここで、最良軸上コントラストリミット（STDM
INA）よりも最小値（MTFMINA）の方が小さい場合は、軸
上コントラストの一部の値不足と判定し、判定レジスタ
の対応ビット（判定レジスタDS0の６ビット目）を１と
する。これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御
メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表
示部６のLED64D（A-MTF・PL）を点灯させる。

処理［19］では、４方位について測定した軸外像面位置
における４個の軸外コントラスト（MTFZ）から、 MTFMAXZ:最大値 MTFMINZ:最小値 HKNMTFZ:平均値 SAMTFZ :最大値と最小値との差 を求める。

処理［20］では、最良軸外コントラストリミット（STDM
INZ）と処理［19］で計算した平均値（HKNMTFZ）とを比
較する。ここで、最良軸外コントラストリミット（STDM
INZ）よりも平均値（HKNMTFZ）の方が小さい場合は、軸
外コントラストの値不足と判定し、判定レジスタの対応
ビット（判定レジスタDS1の３ビット目）を１とする。
これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のLED65E（Z-MTF・LOW）を点灯させる。

処理［21］では、最良軸外コントラストの変化リミット
（STDMMSZ）と、処理［19］で計算した最大値と最小値
との差（SAMTFZ）とを比較する。ここで、最良軸外コン
トラストの変化リミット（STDMMSZ）よりも最大値と最
小値との差（SAMTFZ）の方が大きい場合は、軸外のコマ
不良と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジス
タDS1の２ビット目）を１とする。これにより、上記判
定レジスタDS1の内容が表示制御メモリに転送記憶され
たとき、当該不良の表示である表示部６のLED65D（Z-CO
M）を点灯させる。

処理［22］では、当該判定サブルーチン51に於る個々の
判定に基づいて総合判定を行なうものであり、判定レジ
スタDS0およびDS1の全てのビットを検査する。つまり、
被検レンズ１に何らかの不良がある場合は、上記処理
［21］までの各処理が実行されることで、判定レジスタ
DS0あるいはDS1の何れかのビットが１になっているはず
である。このため、判定レジスタDS0およびDS1の全ての
ビットについて、その状態を検査すれば被検レンズ１の
各不良の有無を知ることができる。

すなわち、判定レジスタDS0およびDS1の全てのビットが
０の場合は、被検レンズ１を良品と判定し、判定サブル
ーチン51の総合良判定対応レジスタ（判定レジスタDS1
の８ビット目）を１とする。これにより、上記判定レジ
スタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、良
品の表示となる表示部６のLED62B（良）を点灯させる。
一方、判定レジスタDS0およびDS1の全てのビットを検査
して、１のビットが一つでもある場合には、被検レンズ
１には当該ビットに対応した何らかの不良があるという
ことなので、被検レンズ１を不良品と判定し、判定サブ
ルーチン51の総合不良判定対応レジスタ（判定レジスタ
DS1の７ビット目）を１とする。これにより、上記判定
レジスタDS1の内容が表示制御メモリに転送記憶された
とき、不良品の表示である表示部６のLED62A（不良）を
点灯させる。

処理［23］では、判定レジスタDS0およびDS1の内容をメ
モリ内の表示制御メモリに記憶させる。すなわち、該処
理［23］を実行することで、判定結果である各不良内容
が表示制御メモリに記憶され、その内容が表示部６の各
LEDに点灯表示される。この処理は、判定レジスタDS0お
よびDS1が判定部５内の演算処理用のレジスタであっ
て、後述する判定サブルーチン52等でも使用するなどの
取り扱い上の理由による処理である。

判定サブルーチン51は、以上の23項目の処理を記述順に
実行するものである。

次に、判定サブルーチン52について説明する。

この判定サブルーチン52では、前述したコントラスト測
定サブルーチン44で測定したコントラストによる被検レ
ンズ１の判定、つまり平均軸上像面にて測定したコント
ラストによる被検レンズ１の判定が行なわれる。ここで
の判定基準は、判定サブルーチン51で用いた前述したST
Dを冠した基準値が用いられる。

第24図1/2〜2/2は、第16図に示す判定サブルーチン52の
フローチャートである。以下、同図に示す各処理（手
順）の流れに従って説明する。

処理［１］では、平均軸上像面位置において測定した、
所定の８方位または12方位における８個または12個の軸
上コントラストから、 MTFMXLA:最大値 MTFMNLA:最小値 HKNMFLA:平均値 SAMTFLA:最大値と最小値との差 を求める。

処理［２］では、最良軸上コントラストの変化リミット
（STDMMSA）と、処理［１］で計算した最大値と最小値
との差（SAMTFLA）とを比較する。ここで、最良軸上コ
ントラストの変化リミット（STDMMSA）よりも最大値と
最小値との差（SAMTFA）の方が大きい場合は軸上コント
ラストのアス不良と判定し、判定レジスタの対応ビット
（判定レジスタDS0の３ビット目）を１とする。これに
より、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送
記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のLED6
4A（A-ASU）を点灯させる。

処理［３］では、平均軸上像面における軸上コントラス
トリミット（STDMNLA）と、処理［１］で計算した平均
値（HKNMFLA）とを比較する。平均軸上像面における軸
上コントラストリミット（STDMNLA）よりも平均値（HKN
MFLA）の方が小さい場合は、軸上コントラストの値不足
と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタDS
0の５ビット目）を１とする。これにより、上記判定レ
ジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、
当該不良の表示である表示部６のLED64C（A-MTF・LOW）
を点灯される。

処理［４］では、平均軸上像面における軸上コントラス
トリミット（STDMNLA）と、処理［１］で計算した最小
値（MTFMNLA）とを比較する。平均軸上像面における軸
上コントラストリミット（STDMNLA）よりも最小値（MTF
MNLA）の方が小さい場合は、軸上コントラストの一部の
値不足と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジ
スタDS0の６ビット目）を１とする。これにより、上記
判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶された
とき、当該不良の表示である表示部６のLED64D（A-MTF
・PL）を点灯させる。

処理［５］では、軸外コントラストの測定値（データ）
を一部移し換えて、データの退避を実行する。８個また
は12個の軸外コントラストの測定値は、各々専用の退避
レジスタ（MTFZL0〜MTFZL7またはMTFZL0〜MTFZL11）に
格納される。そこで、８方位について軸外コントラスト
を測定した場合は、第４方位の測定値、つまり退避レジ
スタ（MTFZL3）の内容を第８方位の退避レジスタ（MTFZ
L7）に転送する。その後、第７方位の測定値、つまり退
避レジスタ（MTFZL6）の内容を第４方位の退避レジスタ
（MTFZL3）に転送する。この測定値の移し換えは、つぎ
の処理［６］での計算処理を簡単にするための準備であ
り、第４方位の測定値が後述するパソコン部PCへの転送
データとなっていることによるデータ退避作業である。
また、12方位について軸外コントラストを測定した場合
は、測定データ全てを利用するので該処理［５］は行な
わずに、そのままつぎの処理［６］に移る。

処理［６］では、軸外コントラストの測定値から、 MTFMXLZ:最大値 MTFMNLZ:最小値 HKNMFLZ:平均値 SAMTFLZ:最大値と最小値との差 を求める。なお、８方位について軸外コントラストを測
定した場合は、退避レジスタ（MTFZL0〜MTFZL5）の内容
から上記各値を求める。また、12方位について軸外コン
トラストを測定した場合は、退避レジスタ（MTFZL0〜MT
FZL11）の内容から上記各値を求める。

処理［７］では、処理［５］で退避させた軸外コントラ
ストの測定値を元に戻す。つまり、８方位について軸外
コントラストを測定した場合は退避レジスタ（MTFZL7）
に退避させた第４方位の測定値を本来の退避レジスタ
（MTFZL3）に転送し、元の状態に戻す。さて、第８方位
の測定値は、前記処理［５］のデータ退避作業で消滅し
ているが、これと対称な位置の第４方位の測定値が確保
されているので問題はない。また、12方位について軸外
コントラストを測定した場合は、該処理［７］を実行す
る必要はなく、処理［６］を実行後直ちにつぎの処理
［８］に移る。

処理［８］では、平均軸上像面における軸外コントラス
トリミット（STDMNLZ）と処理［６］で計算した最小値
（MTFMNLZ）とを比較する。平均軸上像面における軸外
コントラストリミット（STDMNLZ）よりも最小値（MTFMN
LZ）の方が小さい場合は、像面の湾曲と偏心の合成不良
が考えられるので像面湾曲の方向を検査する。また、平
均軸上像面における軸外コントラストリミット（STDMNL
Z）よりも最小値（MTFMNLZ）の方が小さくない場合は、
直ちに処理［10］の処理に移る。

像面湾曲の方向は、判定サブルーチン51によりすでに検
査されている。つまり、（PPZGO）＞（PPZGU）ならばオ
ーバー方向、（PPZGO）＜（PPZGU）ならばアンダー方向
である。したがって、被検レンズの像面がアンダー方向
に湾曲している場合は、アンダーと偏心の合成による軸
外コントラストの異常と判定し、判定レジスタの対応ビ
ット（判定レジスタDS1の５ビット目）を１とする。こ
れにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに
転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６の
LED65G（Ｕ＋Ｈ）を点灯させる。

一方、被検レンズ１の像面がオーバー方向に湾曲してい
る場合は、オーバーと偏心の合成による軸外コントラス
トの異常と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レ
ジスタDS1の６ビット目）を１とする。これにより、上
記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶され
たとき、当該不良の表示である表示部６のLED65H（Ｏ＋
Ｈ）を点灯させる。

処理［９］では、平均軸上像面における軸外コントラス
トの平均値のリミット（STDMNHZ）と処理［６］で計算
した平均値（HKNMFLZ）とを比較する。そして、平均軸
上像面における軸外コントラストの平均値のリミット
（STDMNHZ）よりも平均値（HKNMFLZ）の方が小さい場合
は、軸外コントラストの値不足と判定し、判定レジスタ
の対応ビット（判定レジスタDS1の３ビット目）を１と
する。これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御
メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表
示部６のLED65E（Z-MTF・LOW）を点灯させる。

処理［10］では、最良軸外コントラストの変化リミット
（STDMMSZ）と処理［６］で計算した最大値と最小値と
の差（SAMTFLZ）とを比較する。ここで、最良軸外コン
トラストの変化リミット（STDMMSZ）よりも最大値と最
小値との差（SAMTFLZ）の方が大きい場合は、軸外コン
トラストの変動異常と判定し、判定レジスタの対応ビッ
ト（判定ジスタDS1の４ビット目）を１とする。これに
より、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送
記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のLED6
5F（Z-HEN）を点灯させる。

処理［11］では、判定レジスタDS0およびDS1の全てのビ
ットを検査する。これは、判定サブルーチン51に於る処
理［22］の場合と同様に、判定サブルーチン52に於る個
々の判定に基づいて総合判定を行なうものであり、判定
レジスタDS0およびDS1の各ビットの全てのビットを検査
する。すなわち、判定レジスタDS0およびDS1の全てのビ
ットが０の場合は、被検レンズ１を良品と判定し、判定
サブルーチン52の総合良判定対応レジスタ（判定レジス
タDS1の８ビット目）を１とする。これにより、上記判
定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたと
き、良品の表示である表示部６のLED62B（良）を点灯さ
せる。一方、判定レジスタDS0およびDS1の全てのビット
を検査して、１のビットが一つでもある場合には、被検
レンズ１に当該ビットに対応した何らかの不良があると
いうことなので、被検レンズ１を不良品と判定し、被検
レンズ１を不良品と判定し、判定サブルーチン51の総合
不良判定対応レジスタ（判定レジスタDS1の７ビット
目）を１とする。これにより、上記判定レジスタの内容
が表示制御メモリに転送記憶されたとき、不良品の表示
である表示部６のLED62A（不良）を点灯させる。

処理［12］では、判定レジスタDS0およびDS1の内容をメ
モリ内の表示制御メモリに記憶させる。すなわち、該処
理［12］を実行することで、判定結果である各不良内容
が表示制御メモリに記憶され、その内容が表示部６の各
LEDに点灯表示される。この処理も、前述した判定サブ
ルーチン51の処理［23］と同様、取り扱い上の理由によ
る処理である。

判定サブルーチン52は、以上の12項目の処理を記述順に
実行するものである。

「表示部６」 （構成） 表示部６は、第25図示の如く、前記判定部５による判定
結果を表示パネル61に配置された発光ダイオード（LE
D）の点灯により表示するものである。

表示パネル61には、総合判定のLED62A・62Bと、判定部
５による判定と対応する各判定項目別のLED（63A・63B
・64A・64B・64C・64D・65A・65B・65C・65D・65E・65F
・65G・65H）が、第26図示の如く所定の位置に配置され
ている。尚、該表示パネル61内にはレンズテスタLTの電
源スイッチ66および測定動作の起動スイッチ等も一緒に
配置されるものである。

（作用） 表示パネル61に配置された各LEDは、前述の判定部５の
所で説明した如く、制御部４と共に判定部５を構成する
マイクロコンピュータ内に設けられた表示制御メモリに
より点滅制御される。すなわち、表示制御メモリには、
判定部５による判定結果が一時格納される前述した判定
レジスタDS0およびDS1の内容が記憶される。そして、表
示パネル61の各LEDは、表示制御メモリの内容、つまり
判定部５内の判定レジスタDS0およびDS1の各ビットと各
々対応しており、各ビットの状態（０または１）に対応
して点滅制御される構成となっている。つまり、各LED
は、その各々と対応するビットの状態が０の場合は消灯
され、１の場合には点灯される。

この各LEDと判定レジスタDS0およびDS1の各ビットとの
対応、つまりどのLEDが判定レジスタDS0およびDS1の何
れのビットに対応しているかについては、判定サブルー
チン51および52の説明の項にてその都度説明してあるの
で、ここでは省略する。

次に、各LEDによる具体的な表示内容を説明する。

総合判定のLED62A・62Bは、62Aが被検レンズ１が不良品
の時（即ち種々の判定基準の一つでも外れた時、この場
合後述する各検査項目別LEDの何れかが必ず点灯する）
に点灯し、62Bが被検レンズ１が良品の場合（種々の判
定基準すべてを満足した場合）に点灯する。

各判定項目別のLEDは、63A・63Bが機械的なバックフォ
ーカスの不良、64A〜64Dがレンズ軸上つまり中心部の不
良、65A〜65Hがレンズ軸外つまり周辺部の不良を示すも
のであり、点灯した場合が当該不良を表わすものであ
る。

以下、各判定項目別のLEDによる表示（点灯）を個々に
説明する。

被検レンズ１が判定基準を全てクリアすると、良品表示
である62Bが点灯。

不良の場合は不良品であることを示す62Aが点灯し、そ
の不良内容（理由）が63Aから65Hまでの判定項目別のLE
Dの点灯によって表示される。

63Aは、機械的なバックフォーカスの過大不良（fb大）
時に点灯。

63Bは、機械的なフォーカスバックの不足不良（fb小）
時に点灯。

64Aは、軸上アス不良、つまり軸上ピークの異常変化に
よる不良（A-ASU）時に点灯する。この不良の原因とし
ては、被検レンズ１を構成する構成レンズの偏心，研磨
不良が考えられる。64Bは、軸上コマ不良つまり最良軸
上コントラストの異常変化による不良（A-COM）時に点
灯する。この不良の原因としては、被検レンズ１を構成
する構成レンズの偏心，研磨不良が考えられる。

64Cは、軸上コントラストの不足不良つまり平均軸上MTF
値が小さすぎる不良（A-MTFLO）時に点灯する。この不
良の原因としては、被検レンズ１を構成する構成レンズ
の研磨不良が考えられる。

64Dは、軸上コントラストの一部が値不足な不良（A-MTF
PL）時に点灯する。これは64Cより示される不良の中で
不良程度が軽いものである。従って、64Cが点灯すれば
必ず64Dも点灯する。

65Aは、アンダー不良つまり軸外像面が軸上像面よりも
レンズ側に寄りすぎている不良（UND）時に点灯する。
この不良の原因としては、被検レンズ１を構成する構成
レンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えられる。

65Bは、オーバー不良つまり軸外像面が軸上像面よりも
レンズ側から離れている不良（OVER）時に点灯する。こ
の不良の原因としては、被検レンズ１を構成する構成レ
ンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えられる。

65Cは、軸外アス不良つまり軸外像面が倒れている不良
（Z-ASU）時に点灯する。この不良の原因としては、被
検レンズ１を構成する構成レンズの偏心が考えられる。

65Dは、軸外コマ不良つまり最良軸外コントラストの異
常変化（Z-COM）時に点灯する。この不良の原因として
は、被検レンズ１を構成する構成レンズの研磨不良，著
しい偏心が考えられる。

65Eは、軸外コントラストの値不足つまり平均軸外コン
トラスト値が小さすぎる不良（Z-MTFLO）時に点灯す
る。この不良の原因としては、被検レンズ１を構成する
構成レンズの偏心，玉間隔の変化等の調心不良が考えら
れる。

65Fは、軸外コントラスト変動つまり軸外のコントラス
トが激しく変化している不良（Z-HEN）時に点灯する。

65Gは、軸外コントラストの一部が小さく、かつアンダ
ー不良である場合（Ｕ＋Ｈ）の不良時に点灯する。この
不良の原因としては、被検レンズ１を構成する構成レン
ズの調心不良が考えられる。

65Hは、軸外コントラストの一部が小さく、かつオーバ
ー不良である場合（Ｏ＋Ｈ）の不良時に点灯する。この
不良の原因としては、被検レンズ１を構成する構成レン
ズの調心不良が考えられる。

以上の不良判定を表示することにより、被検レンズ１の
不良判定と共に不良原因別の分別も併せて行なうことが
可能となり、検査作業の効率化を図ることができるもの
である。

［レンズテスタLTのシステム化］ 本実施例では、レンズテスタLTに後述するパソコン部PC
を第26図示の如く接続してレンズテスタシステムを構成
し、レンズテスタLTからの情報（測定及び判定データ）
の加工処理を可能としている。

（構成） パソコン部PCでは、所謂パーソナルコンピュータであ
り、コンピュータ71、キーボード72、CRTディスプレイ7
3及びプリンタ74により構成される。

パソコン部PCのコンピュータ71はレンズテスタLTの制御
部４及び判定部５を構成するマイクロコンピュータとデ
ータバスDBにより接続されており、レンズテスタLTから
の測定値及びパソコン部PCからのコマンドが互いに受け
渡されるようになっている。

（作用） そして、パソコン部PCでは、レンズテスタLTから入力さ
れるデータを統計処理して被検レンズ１に対する不良対
策，品質管理等に有用な二次データを作ることができ、
このデータはプリンタ74によりプリントアウトすること
もできる。

又、測定データ及び二次データをCRTディスプレイ73上
にグラフ表示できると共にプリンタ74によりプリントア
ウトすることができる。これにより測定データを視覚化
することができ、レンズテストLTの表示部６による判定
表示では解らないより詳細な像面状態等を一目で把握で
きるようになるものである。

第27図は測定データのCRTディスプレイ73上へのグラフ
表示の一例である。

図示表示は、一画面中に４種のグラフ（画面左上のグラ
フをG1、画面左下のグラフをG2、画面右上のグラフをG
3、画面右下のグラフをG4、と呼称する）が同時に表示
され、これらが被検レンズ１の特性を如実に表わすもの
である。

各グラフの座標は、グラフG1,G2の縦軸はコントラスト
と像面位置を、グラフG3,グラフG4の縦軸はコントラス
トを表わすと共に、横軸は各グラフとも方位を表わす。
但し、横軸の目盛は、グラフG1,G2ではコントラスト測
定サブルーチン43における４方位を、グラフG3,G4では
コントラスト測定サブルーチン44における８方位または
12方位を表わすようになっている。

次に、各グラフについて個々に説明する。

グラフG1は、コントラスト測定サブルーチン43で測定さ
れた各方位における軸上コントラストのピーク値とその
像面位置（最良軸上像面位置）を示し、軸上各測定点の
コントラストのピーク値を実線で、その位置（最良像面
位置）を一転鎖線で示している。なお、設計像面位置も
併せて表示してあり、被検レンズの像面状態の変化を把
握しやすいようになっている。

グラフG2は、コントラスト測定サブルーチン43で測定さ
れた各方位における軸外コントラストのピーク値とその
像面位置（最良軸外像面位置）を、軸外の各測定点コン
トラストのピーク値を実線で、その位置（最良像面位
置）を一点鎖線で示す。なお、グラフG1と同様に設計像
面位置も併せて表示してある。

グラフG3は、コントラスト測定サブルーチン44で測定し
た平均軸上像面位置における各方位についての軸上のコ
ントラストをグラフ化したものであり、軸上コントラス
トを実線で示し、併せて当該被検レンズに対する良否判
定の基準値を一点鎖線で示している。従って、当該グラ
フ3Gにおいて、実線で示されるコントラストが良否判定
の基準値を越えていれば、軸上コントラストに関しては
良品レンズと判定されているものである。

グラフG4は、コントラスト測定サブルーチン44で測定し
た平均軸上像面位置における各方位についての軸外のコ
ントラストをグラフ化したものであり、軸外コントラス
トを実線で示し、併せて当該被検レンズに対する良否判
定の基準値を一点鎖線で示している。従って、グラフ3G
と同様に当該グラフ4Gにおいて、実線で示されるコント
ラストが良否判定の基準値を越えていれば、軸外コント
ラストに関しては良品レンズと判定されているものであ
る。

上記のグラフ表示から、例えば下記の如く被検レンズの
光学特性の不具合及びその原因を読み取ることができ
る。

（１）グラフG2に於て、第28図の如く各測定点の軸外の
像面位置のグラフが設計像面位置と交差して表わされる
場合には、第30図（ａ）に示すように像面に倒れを生じ
ていることが解る。このような状態は、被検レンズ１の
構成レンズが偏心している場合に発生するものである。

（２）第29図の如く、グラフG1では各測定点の軸上の像
面位置のグラフは設計像面位置付近にあるが、グラフG2
では各測定点の軸外の像面位置のグラフが設計像面位置
から上下何れか一方側（図では下方即ちレンズに近づく
側）に略平行に離れている場合には、第30図（ｂ）に示
すように像面が湾曲（図ではアンダー側に湾曲）してい
ることが解る。このような状態は、被検レンズ１の構成
レンズの玉間隔に変化がある場合に発生する。

［考案の効果］ 本考案に係るレンズテスタの光路系によれば、一つの光
源からの光を軸上及び軸外光に分割することにより分光
特性を一致させた軸上及び軸外光により測定することが
可能となり、精度の高い測定（判定）が可能となるもの
である。又、光路を屈曲することにより装置全体をコン
パクトに構成できるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案によるレンズテスタの光路系の一実施例
を適用したレンズテスタの概略構成を示すブロック図、
第２図はレンズマウントの平面図、第３図はそのIII-II
I断面図、第４図は光源部の構成図、第５図は光源部の
各構成要素の放射又は透過分光特性を示すグラフ、第６
図はチャートの平面図、第７図は軸外ミラー部の平面
図、第８図はその左側面図、第９図はセンサ部の平面
図、第10図はそのＸ−Ｘ断面図、第11図は第９図のXI-X
I断面図、第12図は演算回路のブロック図、第13図は演
算回路に於るコントラスト演算に係る正弦波信号の説明
図、第14図及び第15図は軸外測定点位置を示す図、第16
図は制御部及び判定部のフローチャート、第17図は測定
により得られるディフォーカス量に対するコントラスト
値の特性曲線、第18図はコントラスト測定のサブルーチ
ンのフローチャート、第19図は走査平均レジスタ群の概
念図、第20図は走査時間短縮化を説明する概念図、第21
図は判定サブルーチンのフローチャート、第22図は基準
像面位置と平均像面位置との関係を示す説明図、第23図
は従来例である投影テストの説明図、第24図は判定サブ
ルーチンのフローチャート、第25図は表示パネルの平面
図、第26図は本考案に係るレンズテスタを適用したレン
ズテスタシステムの構成ブロック図、第27図はパソコン
部による測定結果の表示の一例を示す図、第28図及び第
29図は第27図の表示の説明図、第30図は第28図及び第29
図と対応した像面変化の説明図である。 １……被検レンズ、２……光学系 10……レンズマウント部（レンズ保持部） 22……軸上ミラー（ミラー） 23……軸外ミラー（ミラー） 31A・31Z……CCDセンサ（検知手段） 211……ハロゲンランプ（光源） 216……ハーフミラー 217……ミラー

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】レンズ保持部に被検レンズを回転駆動可能
   に保持すると共に該保持された被検レンズに軸上と軸外
   から所定ピッチの格子状チャートを透過した光を入射さ
   せ、軸上及び軸外光のそれぞれの光路前方に配置された
   検知手段によりチャート像を検知するよう構成されたレ
   ンズテスタに於て、光源から出射された光をハーフミラ
   ーにより反射させて軸上光を形成すると共に前記ハーフ
   ミラーを透過した光をミラーにより反射させて軸外光を
   形成し、前記被検レンズ透過後の前記軸上及び軸外光を
   それぞれミラーにより反射させて検知手段に導くよう構
   成したこと、を特徴とするレンズテスタの光路系。