JPH0227738B2 - Hikaripitsukuatsupunotoratsukingusaaboshingokenshutsuhoho - Google Patents

Hikaripitsukuatsupunotoratsukingusaaboshingokenshutsuhoho

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JPH0227738B2
JPH0227738B2 JP21693982A JP21693982A JPH0227738B2 JP H0227738 B2 JPH0227738 B2 JP H0227738B2 JP 21693982 A JP21693982 A JP 21693982A JP 21693982 A JP21693982 A JP 21693982A JP H0227738 B2 JPH0227738 B2 JP H0227738B2
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Tsutomu Matsui
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Akai Electric Co Ltd
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Akai Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、光ピツクアツプのトラツキングサ
ーボ信号検出方法に係り、特に、情報信号の逆相
をコンパレートした出力から得た立下りもしくは
立上りパルスで4分割光センサの受光パターンの
弦を含まない2つのエレメントの直流分をカツト
した差出力をサンプル・ホールドするとともにサ
ンプル・ホールドして得られた信号をローパスフ
イルタを介してトラツキングサーボ信号としたこ
とを特徴とする光ピツクアツプのトラツキングサ
ーボ信号検出方法に関する。
従来、光ビデオ・オーデイオデイスクプレーヤ
ーの光ピツクアツプにおけるトラツキングエラー
信号およびフオーカスエラー信号の検出は、第1
図に示す方法で行われている。第1図に基づいて
光学系について説明すると、半導体レーザ1から
の直線偏光はコリメータレンズ2で平行光にさ
れ、偏光ビームスプリツタ3を直進し、1/4波長
板4で円偏光にし、90゜偏向プリズム5、フオー
カスFおよびトラツキングT駆動される対物レン
ズ6を経てデイスク回転モータ7によつて回転さ
れるデイスク情報面8に合焦し、その反射光は入
射光に対して逆回転の円偏光となり、対物レンズ
6、90゜偏向プリズム5を経て、1/4波長板4で入
射光と直交する直線偏光となり、偏光ビームスプ
リツタ3で90゜偏向され遮光板9、収束レンズ1
0を経て4分割光センサ11で受光される。そし
て、この受光パターンは図示のような半円様のも
のである。
直流分を含むトラツキングエラー信号Teは、
加算器AD、減算器SBを介して受光パターンの弦
に直交するX軸によつて二分される4分割光セン
サ11の上部(#2+#3)と下部(#1+
#4)との差出力から検出しており、またフオー
カスエラー信号Feは、加算器AD、減算器SBを
介して受光パターンの弦に平行するY軸によつて
二分される4分割光センサ11の右部(#1+
#2)と左部(#3+#4)との差出力から検出
している。さらにピツト信号RFは加算器ADを
介して右部(#1+#2)と左部(#3+#4)
との和出力から検出している。
かかる検出においてデイスク情報面8上のピツ
トPを照射した光スポツトSは、ピツトPにより
回折、反射されて対物レンズ6に入射する。そし
てピツトPにより回折された反射光の強度分布は
ピツトPと光スポツトSの相対的な位置関係によ
り変化し、ピツトPの深さが光スポツトSの波長
λの5分の1でかつピツトPの巾の3倍の光スポ
ツトS径の条件下で対物レンズ6面で観察したと
きの空間的な強度分布、すなわち回折パターンを
第2図に示すが、このパターンから直流成分を含
むトラツキングエラー信号Teは、第3図aに示
すピツトP列を光スポツトSが傾めに走査する場
合、第3図fに示すような波形になる。なお第2
図について簡単に説明するとA列はピツトPと光
スポツトSの位置関係を示し、B列は対物レンズ
6面での強度分布を示している。またB列におい
て細かい斜線を引いて示す部分は反射光量分布の
暗い部分を表わし、円は対物レンズ6の開口を表
わし、に囲まれた数字は全体の変調度を表わ
し、他の数字は対物レンズ6面での反射全光量、
すなわちに囲まれた数字を1としたときの対
物レンズ6のそれぞれの光量を表わしている。さ
らに#のついた数字は4分割光センサ11のそれ
ぞれの領域を表わし、また、C列は4分割光セン
サ11の各エレメントにおける光量を示し、イ−
α等は第3図aのイ,αと対応している。
次に第2図の回折パターンから第3図fのトラ
ツキングエラー信号Teを得ることを説明する。
第3図aのピツトPのイのα位置については、
第2図のイ−αに相当し、トラツキングエラー信
号Te={(#2+#3)−(#1+#4)}×全体の
変調度から、(0.219−0.203)×0.591=+0.0095を
得る。またピツトPのイのβ位置については、
(0.137−0.363)×0.270=−0.061、同様にピツト
Pのイのγ位置については、(0.234−0.345)×
0.591=−0.066を得る。また、ピツトPのない所
は、(0.25−0.25)×1=0となる。このようにし
て第3図fに示すような各ピツトPごとの直流成
分をカツトしないトラツキングエラー信号Teを
得ている。
しかるに従来技術においては、このようにして
得られたトラツキングエラー信号Teを低域用DC
オペアンプ等により、または直接ローパスフイル
タLPFに通し高周波成分を除去して、トラツキ
ングサーボ信号Tsとしているが、デイスク情報
面8の傾きによる直流成分がトラツキングエラー
信号Teに入るため、サーボが不安定になるとい
う問題点があつた。
この発明は、このような従来技術の問題点に着
目してなされたもので、4分割光センサの受光パ
ターンの弦を含まない2つのエレメントの直流分
をカツトした差出力をサンプル・ホールドして得
られた信号により安定なトラツキングサーボをか
けることを目的としている。
以下、この発明を図面に基づいて説明する。
第4図は、この発明の一実施例を示す図であ
る。
4分割光センサ11の各エレメントの信号はコ
ンデンサCにより直流分がカツトされ、反転器
RVで逆相にされる。
加算器AD1で4分割光センサ11の#1、#2
の信号が加算され、加算器AD2で4分割光センサ
11の#3、#4の信号が加算され、加算器AD3
で加算器AD1,AD2の出力信号が加算されて情報
信号RFとなる。また減算器SB1で4分割光セン
サの#2の信号#1の信号が減算されてトラツキ
ングエラー信号Te′となる。
なお、直流分がカツトされていないトラツキン
グエラー信号Teは第3図gに示すように波形に
なる。
20はコンパレータで、第3図bに示すような
波形をもつ逆相された情報信号RFを入力とし、
基準電圧を0Vとする零クロスコンパレータであ
る。情報信号RFはコンパレータ20により第3
図cに示すような一定の振幅をもつ正のパルス波
形に変換される。
30はパルス発生器で、立上りと立下りがあ
り、いずれを用いてもよい。立上りの場合は、コ
ンパレータ20の出力を入力とし、コンパレータ
20の出力が0レベルから一定レベルまで立ち上
がるとき、パルスを発生するものである。この立
上りパルスは第3図dに示すような波形になる。
立下りの場合は、コンパレータ20の出力を入
力とし、コンパレータ20の出力が一定レベルか
ら0レベルまで立ち下がるとき、パルスを発生す
るものである。この立下りパルスは第3図eに示
すような波形になる。
40はアナログスイツチで、入力側には第3図
hに示すような波形をもつ4分割光センサ11の
受光パターンの弦を含まない2つのエレメントの
直流分をカツトした差出力(#2−#1)すなわ
ちトラツキングエラー信号Te′が加わり、出力側
はローパスフイルタLPFに接続されている。
アナログスイツチ40のオン・オフは立上りま
たは立下りパルスによつて制御される。そうし
て、アナログスイツチ40のオン・オフによつて
トラツキングエラー信号Te′をサンプル・ホール
ドする。なお、サンプリング期間はホールド期間
よりきわめて短いように定める。
アナログスイツチ40でサンプル・ホールドさ
れたトラツキングエラー信号Te″の波形は第3図
iまたはjに示すような変換された波形になる。
トラツキングエラー信号Te″に直流成分を含ま
ないので、安定したサーボをかけることができ
る。
サンプル・ホールドされたトラツキングエラー
信号Te″をローパスフイルタLPFに加え、トラツ
キングエラー信号Te″に含まれている高周波成分
を除去してトラツキングサーボ信号Tsを検出す
る。
なお第5図に示すように、パルス発生器30と
して立上りおよび立下り計2個を用いるとともに
アナログスイツチ40として2個を用いて、直流
分がカツトされたトラツキングエラー信号Te′を
立上りおよび立下りパルスでサンプル・ホールド
し、サンプル・ホールドされた両信号を減算器
SB2に加え、その差出力をローパスフイルタLPF
に加えてトラツキングサーボ信号Tsを得てもよ
い。減算器SB2の差出力は第3図kに示すような
波形となり、トラツキングサーボ信号Tsは第3
図lに示すような波形になる。
このようにトラツキングエラー信号Teを直接
ローパスフイルタLPFに加えるのではなく、直
流分をカツトしたトラツキングエラー信号Te′を
情報信号RFから得られるサンプリングパルスで
ホールドし、ローパスフイルタLPFに加えるこ
とにより、直流分によるサーボの不安定を解消で
きる。
以上説明してきたように、この発明は、情報信
号の逆相をコンパレートした出力から得た立上り
パルスまたは立下りパルスで、4分割光センサの
受光パターンの弦を含まない2つのエレメントの
直流分をカツトした差出力をサンプル・ホールド
するとともにサンプル・ホールドして得られた信
号をローパスフイルタに加えることによつて、安
定したサーボをかけることができるという効果が
得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は光ピツクアツプの光学系の斜視図およ
び4分割センサの信号処理系を示す図、第2図は
ピツト深さがλ/5のときの対物レンズ面での回
折パターンを示す図、第3図aはピツトを光スポ
ツトが走査する図、bは情報信号の逆相波形を示
す図、cはコンパレータの出力波形を示す図、d
は立上りパルスの波形を示す図、eは立下りパル
スの波形を示す図、f,gは直流分を含むトラツ
キングエラー信号Teの波形を示す図、hは直流
分がカツトされたトラツキングエラー信号Te′の
波形を示す図、iは立上りパルスでトラツキング
エラー信号Te′をサンプル・ホールドした波形を
示す図、jは立下りパルスでトラツキングエラー
信号Te′をサンプル・ホールドした波形を示す
図、kは減算器SB2の出力波形を示す図、lは減
算器SB2の出力をローパスフイルタLPFにかけて
得られたトラツキングサーボ信号Tsの波形を示
す図、第4図はこの発明の一実施例を示す図、第
5図はこの発明の他の実施例を示す図である。 1……半導体レーザ、2……コリメータレン
ズ、3……偏光ビームスプリツタ、4……1/4波
長板、5……90゜偏向プリズム、6……対物レン
ズ、7……デイスク回転モータ、8……デイスク
情報面、9……遮光板、10……収束レンズ、1
1……4分割光センサ、20……コンパレータ、
30……パルス発生器、40……アナログスイツ
チ、LPF……ローパスフイルタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 ナイフエツジ遮光板を用いて4分割光センサ
    で得られる半円様の受光パターンから該受光パタ
    ーンの弦に平行する軸によつて二分される各部の
    差出力からフオーカスエラー信号を検出するとと
    もに該各部の和出力から情報信号を検出する光ピ
    ツクアツプにおいて、該情報信号の逆相をコンパ
    レートした出力から得たパルスで該弦を含まない
    2つのエレメントの直流分をカツトした差出力を
    サンプル・ホールドするとともにサンプル・ホー
    ルドして得られた信号をローパスフイルタを介し
    てトラツキングサーボ信号としたことを特徴とす
    る光ピツクアツプのトラツキングサーボ検出方
    法。
JP21693982A 1982-12-13 1982-12-13 Hikaripitsukuatsupunotoratsukingusaaboshingokenshutsuhoho Expired - Lifetime JPH0227738B2 (ja)

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