JPH02278506A - 複合型磁気ヘッド - Google Patents
複合型磁気ヘッドInfo
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- JPH02278506A JPH02278506A JP9984389A JP9984389A JPH02278506A JP H02278506 A JPH02278506 A JP H02278506A JP 9984389 A JP9984389 A JP 9984389A JP 9984389 A JP9984389 A JP 9984389A JP H02278506 A JPH02278506 A JP H02278506A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、高保磁力を有する磁気記録媒体の記録再生に
使用される、フェライトとFe−A ll−Si系薄膜
の複合型磁気ヘッドに関するものである。
使用される、フェライトとFe−A ll−Si系薄膜
の複合型磁気ヘッドに関するものである。
磁気記録の分野においては、記録の高密度化に向けての
検討が、媒体・ヘッドの両方から進められている。媒体
の高保磁力化に対応して、磁気へノドは狭ギャップ化・
狭トランク化の方向で対応しているが、従来のフェライ
トヘッドでは、飽和磁束密度が5000 G程度である
ことから、媒体を飽和させるのに充分なヘッド磁界を発
生できない状況になってきている。そこでフェライト基
板上に高飽和磁束密度を有する強磁性金属薄膜を付着さ
せた複合型の磁気ヘッドが用いられてきている。
検討が、媒体・ヘッドの両方から進められている。媒体
の高保磁力化に対応して、磁気へノドは狭ギャップ化・
狭トランク化の方向で対応しているが、従来のフェライ
トヘッドでは、飽和磁束密度が5000 G程度である
ことから、媒体を飽和させるのに充分なヘッド磁界を発
生できない状況になってきている。そこでフェライト基
板上に高飽和磁束密度を有する強磁性金属薄膜を付着さ
せた複合型の磁気ヘッドが用いられてきている。
しかしながら、従来の複合型磁気ヘッドでは信頼性や性
能等の点で様々な問題がある。
能等の点で様々な問題がある。
例えば、第5図に示すように、磁気コア部78がフェラ
イトよりなり、記録再生に関与する磁気ギヤツブ10及
びその近傍が強磁性金属薄膜9で構成され、補強用のガ
ラス11が充てんされた構造の複合型磁気ヘッドが提案
されている。
イトよりなり、記録再生に関与する磁気ギヤツブ10及
びその近傍が強磁性金属薄膜9で構成され、補強用のガ
ラス11が充てんされた構造の複合型磁気ヘッドが提案
されている。
この磁気ヘッドは、その構造が極めて単純で生産性に優
れ、また強磁性金属薄膜の膜厚とは無関係にトランク幅
を設定できるという利点を有している。
れ、また強磁性金属薄膜の膜厚とは無関係にトランク幅
を設定できるという利点を有している。
ところが、この磁気ヘッドは磁気コア部7,8と強磁性
金属薄膜9との境界面が磁気ギャップ10と平行に位置
しているため、上記境界面が擬似ギャップとして作用し
てしまい記録再生特性の劣化を招く原因となってしまっ
ている。すなわち、この擬似ギャップにより再生信号の
周波数特性にうねりを生し、再生出力の低下を招いてし
まう。
金属薄膜9との境界面が磁気ギャップ10と平行に位置
しているため、上記境界面が擬似ギャップとして作用し
てしまい記録再生特性の劣化を招く原因となってしまっ
ている。すなわち、この擬似ギャップにより再生信号の
周波数特性にうねりを生し、再生出力の低下を招いてし
まう。
そこで、上述の擬似ギャップを解消するため、特開昭6
0−229210公報のように、強磁性金属薄膜を磁気
ギャップに対して10〜80°程度傾けて成膜し、擬似
ギャップをアジマス損失によって低減したもの、あるい
は強磁性金属薄膜を付着させる面にミゾや凹凸をもうけ
フェライトとの境界面が磁気ギャップと平行にならない
ようにする方法が提案されている。
0−229210公報のように、強磁性金属薄膜を磁気
ギャップに対して10〜80°程度傾けて成膜し、擬似
ギャップをアジマス損失によって低減したもの、あるい
は強磁性金属薄膜を付着させる面にミゾや凹凸をもうけ
フェライトとの境界面が磁気ギャップと平行にならない
ようにする方法が提案されている。
しかしながら、これらの方法では生産性や製造コストの
点で問題があった。
点で問題があった。
さらに、特開昭63−39106及び特開昭63−32
709 ;特開昭63−285715にあるように、磁
気コア部と強磁性金属薄膜との境界面にNi−Fe、
Ni−Znnフシイ)、 Fe−Si等の下地膜を介
在させた方法などが提案されている。
709 ;特開昭63−285715にあるように、磁
気コア部と強磁性金属薄膜との境界面にNi−Fe、
Ni−Znnフシイ)、 Fe−Si等の下地膜を介
在させた方法などが提案されている。
しかしながら、下地膜を介在させる方法も、製造コスト
や生産性の面で問題があった。
や生産性の面で問題があった。
前述したように、上記の強磁性金属薄膜を磁気ギャップ
に対して平行に形成した磁気ヘッドでは、生産性や精度
に優れているものの擬似ギヤツブの影響が大きく信頼性
に問題があり、強磁性金属薄膜を磁気ギャップに対して
斜めに形成した磁気ヘッドや磁気コア部と強磁性金属薄
膜との境界面に高透磁率材料によりなる下地膜を介在さ
せた磁気ヘッドでは、生産性や製造コストの点で問題が
あった。
に対して平行に形成した磁気ヘッドでは、生産性や精度
に優れているものの擬似ギヤツブの影響が大きく信頼性
に問題があり、強磁性金属薄膜を磁気ギャップに対して
斜めに形成した磁気ヘッドや磁気コア部と強磁性金属薄
膜との境界面に高透磁率材料によりなる下地膜を介在さ
せた磁気ヘッドでは、生産性や製造コストの点で問題が
あった。
また、磁気コア半休を、例えばMn−Znフェライト(
熱膨張係数: 105〜120xlO−’/’c)とF
e−A IJSi系薄膜(熱膨張係数=150〜170
X10 ’/”C)の複合磁性材料で構成された複合型
磁気ヘッドにおいては、これら異種材料間の熱膨張係数
の差異に起因して、フェライトにそり等が発生し、膜剥
離が生じやすく、上記擬似ギャップの悪影響を増長する
とともに、ヘッドの機械的強度の点でも問題があった。
熱膨張係数: 105〜120xlO−’/’c)とF
e−A IJSi系薄膜(熱膨張係数=150〜170
X10 ’/”C)の複合磁性材料で構成された複合型
磁気ヘッドにおいては、これら異種材料間の熱膨張係数
の差異に起因して、フェライトにそり等が発生し、膜剥
離が生じやすく、上記擬似ギャップの悪影響を増長する
とともに、ヘッドの機械的強度の点でも問題があった。
本発明の目的は、Fe−Ar−Si系薄膜を磁気ギャッ
プに対して平行に形成した磁気ヘッドの特徴を生かした
上で、磁気コア部とFe−Ar−3i系薄膜との間に生
じる擬似ギャップの影響を、酸素添加されたFe−A
12−Si系薄膜を介在させることによって抑え、かつ
機械的強度を増すことにより、信頼性および生産性に優
れた磁気ヘッドを提供することである。
プに対して平行に形成した磁気ヘッドの特徴を生かした
上で、磁気コア部とFe−Ar−3i系薄膜との間に生
じる擬似ギャップの影響を、酸素添加されたFe−A
12−Si系薄膜を介在させることによって抑え、かつ
機械的強度を増すことにより、信頼性および生産性に優
れた磁気ヘッドを提供することである。
本発明は、フェライトよりなる磁気コア1対の少なくと
も一方にFe−A jl!−3i系薄膜を付着させ、該
磁気コア半休同志を突き合わせて磁気ギャップを構成し
てなる磁気ヘッドにおいて、上記Fe−A llSi系
薄膜をスパッタリング法で成膜するに際し、Arと酸素
の混合ガス中の酸素分圧を2〜20%として、磁気コア
部との境界面に50〜300人の酸素添加されたRe−
Ar−Si系薄膜層を介在させることを特徴とするもの
である。
も一方にFe−A jl!−3i系薄膜を付着させ、該
磁気コア半休同志を突き合わせて磁気ギャップを構成し
てなる磁気ヘッドにおいて、上記Fe−A llSi系
薄膜をスパッタリング法で成膜するに際し、Arと酸素
の混合ガス中の酸素分圧を2〜20%として、磁気コア
部との境界面に50〜300人の酸素添加されたRe−
Ar−Si系薄膜層を介在させることを特徴とするもの
である。
磁気コア部とFe−Ar−Si系薄膜の境界面に、Fe
A 1−3t系薄膜の酸化層を介在させているため、磁
気コア部とRe−A R−Si系薄膜の反応が抑制され
境界面が擬似ギャップとして作用することが低減される
。さらに、酸素添加したFe−^j!−Si系薄膜を介
在させたことにより磁気コア部とFe−A j! −S
i系薄膜との密着性が向上し、充分な機械的強度が得ら
れる。
A 1−3t系薄膜の酸化層を介在させているため、磁
気コア部とRe−A R−Si系薄膜の反応が抑制され
境界面が擬似ギャップとして作用することが低減される
。さらに、酸素添加したFe−^j!−Si系薄膜を介
在させたことにより磁気コア部とFe−A j! −S
i系薄膜との密着性が向上し、充分な機械的強度が得ら
れる。
以下、本発明を適用した磁気ヘッドの実施例を図面を参
考にしながら説明する。
考にしながら説明する。
第1図は本発明を適用した磁気ヘッドの一例を示す外観
斜視図であり、第2図はその磁気記録媒体対向面を示す
拡大平面図である。
斜視図であり、第2図はその磁気記録媒体対向面を示す
拡大平面図である。
この磁気ヘッドにおいては、磁気コア部1.2がMn−
Znフェライトで形成され、磁気コア1,2の接合面に
は、フロントギャップ形成面からバックギャップ形成面
に至るまで連続して、Fe−AlSi系薄膜3が真空薄
膜形成技術により付着形成されている。
Znフェライトで形成され、磁気コア1,2の接合面に
は、フロントギャップ形成面からバックギャップ形成面
に至るまで連続して、Fe−AlSi系薄膜3が真空薄
膜形成技術により付着形成されている。
また、上記磁気コア部1.2とFe−A 1.−Si系
薄膜3との境界面には、連続して酸素添加されたFeA
ll−Si系薄膜が介在形成され、それぞれ磁気コア
半体鳳 ■が構成されている。
薄膜3との境界面には、連続して酸素添加されたFeA
ll−Si系薄膜が介在形成され、それぞれ磁気コア
半体鳳 ■が構成されている。
そして、1対の磁気コア半体1.IIは、ギヤツプスペ
ーサ5を介して突き合わされ、ガラス6によって接合さ
れている。
ーサ5を介して突き合わされ、ガラス6によって接合さ
れている。
また一方の磁気コア半休Hには巻線窓が設けてあり、そ
の巻線窓にコイルを巻くことによって、磁気記録信号を
供給し、あるいは再生信号を取り出すようになっている
。
の巻線窓にコイルを巻くことによって、磁気記録信号を
供給し、あるいは再生信号を取り出すようになっている
。
以上の構成の磁気ヘッドにおいては、酸素添加されたF
e−A ll−Si系薄膜を介在させない場合、磁気コ
ア1とFe−Al−Si系薄膜3の境界面近傍で反応が
生じ相互拡散のために擬似ギヤツブが生じやすい。また
Mn−Znフェライト(熱膨張係数105〜120 X
10−7/ ℃)上にFe−へ1−Si系薄膜(熱膨
張係数150〜170 x 1(1−’/ ’c )を
付着させた場合、異種材料間の熱膨張係数差により、膜
剥離が生しやすく、上記擬似ギャップの悪影響を増長す
るとともに、ヘッドの機械的強度の点でも問題があった
。
e−A ll−Si系薄膜を介在させない場合、磁気コ
ア1とFe−Al−Si系薄膜3の境界面近傍で反応が
生じ相互拡散のために擬似ギヤツブが生じやすい。また
Mn−Znフェライト(熱膨張係数105〜120 X
10−7/ ℃)上にFe−へ1−Si系薄膜(熱膨
張係数150〜170 x 1(1−’/ ’c )を
付着させた場合、異種材料間の熱膨張係数差により、膜
剥離が生しやすく、上記擬似ギャップの悪影響を増長す
るとともに、ヘッドの機械的強度の点でも問題があった
。
そこで、Mn−ZnフェライトとFe−八(1−Si系
薄膜の反応を抑制し、かつ付着力を向上させるために、
両者の境界面に酸素添加されたFe−A II−Si系
薄膜を介在させた結果について説明する。
薄膜の反応を抑制し、かつ付着力を向上させるために、
両者の境界面に酸素添加されたFe−A II−Si系
薄膜を介在させた結果について説明する。
第3図にスパッタリング装置内に導入されるΔrと0□
ガスの混合雰囲気中の0□ガス分圧を縦軸、酸素添加さ
れたFe−A 7!−3i系薄膜の膜厚を横軸にとった
場合の再生出力ピークE、と擬似ギャップビークE2の
比の関係の等値線を示す。測定は、保磁力10000e
のハードディスクを用い、E2/Elは125kHzで
測定した孤立再生波形より読み取った。
ガスの混合雰囲気中の0□ガス分圧を縦軸、酸素添加さ
れたFe−A 7!−3i系薄膜の膜厚を横軸にとった
場合の再生出力ピークE、と擬似ギャップビークE2の
比の関係の等値線を示す。測定は、保磁力10000e
のハードディスクを用い、E2/Elは125kHzで
測定した孤立再生波形より読み取った。
酸素添加されたFe−A ll−Si系薄膜がない場合
、Mn−ZnフェライトとFe−Al−Si系薄膜の反
応により、両者の界面に磁気劣化層が形成され、擬似ギ
ャップが生じやすい。オージェによる分析結果によれば
、500〜1000人程度のAlの酸素層及び2〜3μ
m程度のフェライトの酸素欠乏領域が生成されている。
、Mn−ZnフェライトとFe−Al−Si系薄膜の反
応により、両者の界面に磁気劣化層が形成され、擬似ギ
ャップが生じやすい。オージェによる分析結果によれば
、500〜1000人程度のAlの酸素層及び2〜3μ
m程度のフェライトの酸素欠乏領域が生成されている。
この反応によって生じた擬似ギャップにより、擬似ギャ
ップピーク比は、約20%にも及んでいる。これに対し
て、酸素添加されたFe−A ISi系薄膜を境界面に
介在された場合、その反応による擬似ギャップの生成を
著しく低減できる。
ップピーク比は、約20%にも及んでいる。これに対し
て、酸素添加されたFe−A ISi系薄膜を境界面に
介在された場合、その反応による擬似ギャップの生成を
著しく低減できる。
酸素分圧が低い場合、反応を抑える効果が小さくなり、
一方分圧が高すぎるとスパッタリングの放電が不安定に
なる。これらの条件より、酸化分圧は、2〜20%の範
囲とすることが望ましい。
一方分圧が高すぎるとスパッタリングの放電が不安定に
なる。これらの条件より、酸化分圧は、2〜20%の範
囲とすることが望ましい。
また、酸素分圧が高くなると第4図の如く酸素添加され
た層の保磁力が大きくなるので、その膜厚が厚すぎると
酸素添加Fe−^12−Si系薄膜そのものが、擬似ギ
ャップとなってしまう。逆に、酸化層が薄すぎる場合、
反応を充分に防止できなくなる。したがって、酸素分圧
とその酸化層の厚さの兼ね合いによって、擬似ギャップ
の大きさが決定されることになる。
た層の保磁力が大きくなるので、その膜厚が厚すぎると
酸素添加Fe−^12−Si系薄膜そのものが、擬似ギ
ャップとなってしまう。逆に、酸化層が薄すぎる場合、
反応を充分に防止できなくなる。したがって、酸素分圧
とその酸化層の厚さの兼ね合いによって、擬似ギャップ
の大きさが決定されることになる。
第3図よりわかるように、酸素分圧5〜10%。
酸素添加されたFe−A 1l−Si系薄膜厚さ70〜
150人の場合、擬似ギヤツブピーク比は、2%以下と
なる。酸素分圧2〜20%、酸素添加Fe−A j!−
Si系薄膜厚さ50〜300人の範囲で、擬似ギャップ
ピーク比は、10%以下であり、酸素添加層のない場合
に比べて、改善効果が見られる。
150人の場合、擬似ギヤツブピーク比は、2%以下と
なる。酸素分圧2〜20%、酸素添加Fe−A j!−
Si系薄膜厚さ50〜300人の範囲で、擬似ギャップ
ピーク比は、10%以下であり、酸素添加層のない場合
に比べて、改善効果が見られる。
さらに、第1表に示すごと< 、Fe−Al−5t系薄
膜とMn−Znフェライト間に、酸素添加されたFeA
j!−Si系薄膜を介在させることにより、付着力が
著しく増加する。
膜とMn−Znフェライト間に、酸素添加されたFeA
j!−Si系薄膜を介在させることにより、付着力が
著しく増加する。
なお、この付着力は、引っかき法により求めた値であり
、その値は膜が剥離する荷重を示す。
、その値は膜が剥離する荷重を示す。
酸素添加層がない場合、600°Cでの熱処理を施すと
5〜9Nと非常に小さい付着力しか得られず、フェライ
トとの界面より膜剥離が生じやすい。このように機械的
強度が弱いため、へ・ラド製造時の歩留も非常に低い。
5〜9Nと非常に小さい付着力しか得られず、フェライ
トとの界面より膜剥離が生じやすい。このように機械的
強度が弱いため、へ・ラド製造時の歩留も非常に低い。
これに対して、1%以上の酸素分圧で50Å以上の酸素
添加Fe−A j!−3i系薄膜を介在させた場合、付
着力が2ON以上と格段に大きくなる。
添加Fe−A j!−3i系薄膜を介在させた場合、付
着力が2ON以上と格段に大きくなる。
この酸素添加Fe−A j!−Si層をスパッタリング
装置を用いて成膜する場合、通常のFe−A (1−S
i系薄膜用と同一のターゲットを用い、Arに加えて0
□ガスを導入するだけでよい。したがって、他の下地膜
を介在させる場合に比べて、極めて容易に下地層(酸化
層〉を形式できる利点がある。
装置を用いて成膜する場合、通常のFe−A (1−S
i系薄膜用と同一のターゲットを用い、Arに加えて0
□ガスを導入するだけでよい。したがって、他の下地膜
を介在させる場合に比べて、極めて容易に下地層(酸化
層〉を形式できる利点がある。
このように、酸素添加Fe−A ll−Si系薄膜を、
MnZnフェライトとFe−Δβ−81系薄膜の境界面
に介在形式することば、その作製が容易であり、擬似ギ
ャップが抑制でき、かつ機械的強度も増すことができる
ので、複合型磁気ヘッドに非常に適した方法である。
MnZnフェライトとFe−Δβ−81系薄膜の境界面
に介在形式することば、その作製が容易であり、擬似ギ
ャップが抑制でき、かつ機械的強度も増すことができる
ので、複合型磁気ヘッドに非常に適した方法である。
第 1 表
〔発明の効果〕
本発明によれば、従来アジマス損失の利用や、高透磁率
材料よりなる下地膜を介在させなければ低減できなかっ
た磁気コアとFe−A j!−Si系薄膜との境界面の
擬似ギヤツブの影響を、酸素添加されたFe−A R−
Si系薄膜を境界に介在させることにより、大幅に低減
できる。また密着力が向上し、磁気ヘッドの信頼性も向
上する。
材料よりなる下地膜を介在させなければ低減できなかっ
た磁気コアとFe−A j!−Si系薄膜との境界面の
擬似ギヤツブの影響を、酸素添加されたFe−A R−
Si系薄膜を境界に介在させることにより、大幅に低減
できる。また密着力が向上し、磁気ヘッドの信頼性も向
上する。
この酸素添加されたFe−A R−Si系薄膜は、従来
のスパッタリング装置内に、Arに酸素を加えて導入す
ることにより、簡単に成膜できる。
のスパッタリング装置内に、Arに酸素を加えて導入す
ることにより、簡単に成膜できる。
本発明の磁気ヘッドは構造が単純でかつ、製造方法も簡
単であるため製造コストが低減でき、かつ高い信頼性も
確保できる利点がある。
単であるため製造コストが低減でき、かつ高い信頼性も
確保できる利点がある。
第1図は本発明を適用した磁気ヘッドの外観斜視図、第
2図は磁気ヘッドの磁気記録媒体対向面を示す要部拡大
平面図、第3図は、酸素分圧及び酸素添加Fe−A l
l−3i系薄膜厚さをパラメータとした場合の擬似ギャ
ップビーク比の測定結果を示す特性図である。第4図は
、酸素分圧とFe−A 1−Si系薄膜の透磁率の関係
を示す。 第5図は従来の磁気ヘッドの外観斜視図である。 1:磁気コア部 2:磁気コア部5;磁気ギャ
ップ 7:磁気コア部 9:強磁性金属薄膜 11;ガラス r:磁気コア半休 6:ガラス 8:磁気コア部 10:磁気ギャップ ■:磁気コア半休 第 図 第 図 02分圧 (%) 第 図 翻 第 図 第 図
2図は磁気ヘッドの磁気記録媒体対向面を示す要部拡大
平面図、第3図は、酸素分圧及び酸素添加Fe−A l
l−3i系薄膜厚さをパラメータとした場合の擬似ギャ
ップビーク比の測定結果を示す特性図である。第4図は
、酸素分圧とFe−A 1−Si系薄膜の透磁率の関係
を示す。 第5図は従来の磁気ヘッドの外観斜視図である。 1:磁気コア部 2:磁気コア部5;磁気ギャ
ップ 7:磁気コア部 9:強磁性金属薄膜 11;ガラス r:磁気コア半休 6:ガラス 8:磁気コア部 10:磁気ギャップ ■:磁気コア半休 第 図 第 図 02分圧 (%) 第 図 翻 第 図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 フェライトよりなる磁気コア1対の少なくとも一方にF
e−Al−Si系薄膜を付着させ、該磁気コア半導体同
志を突き合わせて磁気ギャップを構成してなる磁気ヘッ
ドにおいて、 上記Fe−Al−Si系薄膜をスパッタリング法で成膜
するに際し、Arと酸素の混合ガス中の酸素分圧を2〜
20%として、磁気コア部との境界面に、50〜300
Åの酸素添加されたFe−Al−Si系薄膜層を介在さ
せることを特徴とする複合型磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9984389A JPH02278506A (ja) | 1989-04-19 | 1989-04-19 | 複合型磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9984389A JPH02278506A (ja) | 1989-04-19 | 1989-04-19 | 複合型磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02278506A true JPH02278506A (ja) | 1990-11-14 |
Family
ID=14258085
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9984389A Pending JPH02278506A (ja) | 1989-04-19 | 1989-04-19 | 複合型磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02278506A (ja) |
-
1989
- 1989-04-19 JP JP9984389A patent/JPH02278506A/ja active Pending
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