JPH02280069A - Output buffer circuit - Google Patents
Output buffer circuitInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、出力バッファ回路に関し、特に出力信号が低
レベル及び高レベルの二つの状態をとるほか、出力イン
ピーダンスがハイインピーダンス状態をとることができ
る3状態型の出力バッファ回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an output buffer circuit, and in particular, the present invention relates to an output buffer circuit in which an output signal can take two states, low level and high level, and an output impedance can take a high impedance state. This invention relates to a three-state output buffer circuit that can be used.
従来、この種の出力バッファ回路は、第2図に示すよう
に、第1の電源端子である接地端子と出力端子Toとの
間に接続されたNチャネルMO3型の第1のトランジス
タQ1と、第2の電源端子(電源電圧Vcc)と出力端
子Toとの間に接続されたPチャネルMO3型の第2の
トランジスタQ2とを備えたインバータ回路1と、イン
バータ1、、NANDゲートG、及びNORゲートG2
を備え、入力信号IN及びハイインピーダンス制御信号
H2Cを入力し、第1及び第2の出力端を第1及び第2
のトランジスタQ1.Q2のゲートにそれぞれ対応して
接続し、ハイインピーダンス制御信号H2Cが低レベル
のときトランジスタQl、Q2をオフ状態としてインバ
ータ回路1の出力インピーダンスをハイインピーダンス
状態とし、ハイインピーダンス制御信号H2Cが高レベ
ルのときインバータ回路lの出力信号OUTを入力信号
INのレベルに応じて低レベル及び高レベルとする出力
制御回路2とを有する構成となっていた。Conventionally, this type of output buffer circuit, as shown in FIG. 2, includes an N-channel MO3 type first transistor Q1 connected between a ground terminal, which is a first power supply terminal, and an output terminal To; An inverter circuit 1 including a P-channel MO3 type second transistor Q2 connected between a second power supply terminal (power supply voltage Vcc) and an output terminal To, an inverter 1, a NAND gate G, and a NOR Gate G2
, inputs the input signal IN and the high impedance control signal H2C, and connects the first and second output terminals to the first and second output terminals.
The transistor Q1. When the high-impedance control signal H2C is at a low level, the transistors Ql and Q2 are turned off to set the output impedance of the inverter circuit 1 to a high-impedance state, and when the high-impedance control signal H2C is at a high level, The configuration includes an output control circuit 2 that sets the output signal OUT of the inverter circuit 1 to a low level or a high level depending on the level of the input signal IN.
上述した従来の出力バッファ回路は、インバータ回路1
と、このインバータ回路1の出力状態を、低レベル、高
レベル及びハイインピーダンスの3状態に制御する出力
制御回路2とをする構成となっているので、この出力バ
ッファ回路のハイインピーダンス状態を試験するには、
試験装置のファンクションパターンをハイインピーダン
スとなるパターンで停止させて直流的に測定するか、出
力端子T。にプルアップ抵抗を付加し高レベルとして測
定する等の方法を用いなければならず、前者の測定方法
では、ファンクションパターン中の全ハイインピーダン
ス状態の測定を行なうにはテスト時間がかかりすぎ、ま
た特定周波数のファンクションテスト中における動作チ
エツクにはなっていないという欠点があり、また、後者
の測定方法ではハイインピーダンスと高レベルとの区別
がつかなくなるという欠点がある。The conventional output buffer circuit described above has an inverter circuit 1.
and an output control circuit 2 that controls the output state of the inverter circuit 1 into three states: low level, high level, and high impedance, so the high impedance state of this output buffer circuit is tested. for,
Either stop the function pattern of the test device with a high impedance pattern and measure it directly, or connect it to the output terminal T. The former measurement method requires too much test time to measure all high-impedance states in the function pattern, and also This method has the disadvantage that it does not serve as an operation check during a frequency function test, and the latter measurement method also has the disadvantage that high impedance and high level cannot be distinguished.
本発明の目的は、ハイインピータンス状態の試験を、フ
ァンクションテストの動作チエツクの中で、正確で確実
に、かつ短時間に行うことができる出力バッファ回路を
提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an output buffer circuit that can accurately, reliably, and quickly test a high impedance state during an operation check of a functional test.
本発明の出力バッファ回路は、第1の電源端子と出力端
子との間に接続された第1のトランジスタと、第2の電
源端子と前記出力端子との間に接続された第2のトラン
ジスタとを備えたインバータ回路と、入力信号及びハイ
インピーダンス制御信号を入力し、第1及び第2の出力
端を前記第1及び第2のトランジスタのゲートにそれぞ
れ対応して接続し、前記ハイインピーダンス制御信号が
第1のレベルのとき前記第1及び第2のトランジスタを
オフ状態とし、前記ハイインピーダンス制御信号が第2
のレベルのとき前記インバータ回路の出力信号を前記入
力信号のレベルに応じて第1及び第2のレベルとする出
力制御回路と、前記ハイインピーダンス制御信号が第1
のベレルにあり、かつ中間出力制御信号が所定のレベル
のとき中間出力発生制御信号を出力する中間出力制御回
路と、前記中間出力発生制御信号により前記インバータ
回路の出力信号のレベルをこの出力信号の第1及び第2
のレベルの中間のレベルにする中間レベル発生回路とを
有している。The output buffer circuit of the present invention includes a first transistor connected between a first power supply terminal and an output terminal, a second transistor connected between a second power supply terminal and the output terminal, and a second transistor connected between a second power supply terminal and the output terminal. an inverter circuit having an input signal and a high-impedance control signal, having first and second output terminals connected to the gates of the first and second transistors, respectively, and having an input signal and a high-impedance control signal; is at a first level, the first and second transistors are turned off, and the high impedance control signal is at a second level.
an output control circuit that sets the output signal of the inverter circuit to first and second levels according to the level of the input signal when the high impedance control signal is at the first level;
an intermediate output control circuit that outputs an intermediate output generation control signal when the intermediate output control signal is at a predetermined level; and an intermediate output control circuit that outputs an intermediate output generation control signal when the intermediate output control signal is at a prescribed level; 1st and 2nd
and an intermediate level generation circuit that generates a level intermediate between the levels of .
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention.
この実施例が第2図に示された従来の出力バッファ回路
と相違する点は、インバータI2及びANDゲートG、
を備え、ハイインピーダンス制御信号H2Cが低レベル
にあり、かつ中間出力制御信号MOCが高レベルのとき
、高レベルの中間出力発生制御信号MGCを出力する中
間出力制御回路3と、所定のしきい値電圧をもつNチャ
ネルMO3型のトランジスタQ3を備え、高レベルの中
間出力発生制御信号MGCが入力されたとき、インバー
タ回路1の出力信号OUTのレベルをこの出力信号OU
Tの低レベル及び高レベルの中間レベルにする中間レベ
ル発生回路4とを設けた点にある。This embodiment differs from the conventional output buffer circuit shown in FIG. 2 in that the inverter I2 and AND gate G,
an intermediate output control circuit 3 which outputs a high level intermediate output generation control signal MGC when the high impedance control signal H2C is at a low level and the intermediate output control signal MOC is at a high level; and a predetermined threshold value. It is equipped with an N-channel MO3 type transistor Q3 having a high voltage, and when a high level intermediate output generation control signal MGC is input, the level of the output signal OUT of the inverter circuit 1 is changed to the level of the output signal OUT of the inverter circuit 1.
The present invention is characterized in that an intermediate level generating circuit 4 is provided which generates an intermediate level between the low level and high level of T.
次に、この実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.
ハイインピーダンス制御信号H2Cが高レベルにあると
きは、インバータエ2の出力、即ちANDゲートG、の
入力端の片方が低レベルとなっているので、中間出力制
御信号MOCに関係なくANDゲートG3の出力、即ち
中間出力発生制御信号MGCは低レベルとなり、トラン
ジスタQ3はオフ状態となって中間レベル発生回路4は
インバータ回路1から切離される。従って従来例と同様
にインバータ回路1の出力信号OUTは入力信号INの
レベルに応じたレベルとなる。When the high impedance control signal H2C is at a high level, the output of the inverter E2, that is, one of the input terminals of the AND gate G, is at a low level. The output, that is, the intermediate output generation control signal MGC becomes low level, the transistor Q3 is turned off, and the intermediate level generation circuit 4 is disconnected from the inverter circuit 1. Therefore, as in the conventional example, the output signal OUT of the inverter circuit 1 has a level corresponding to the level of the input signal IN.
ハイインピーダンス制御信号H2Cが低レベルであり、
かつ中間出力制御信号MOCが低レベルのときは、AN
DゲートG3の入力端の他方が低レベルとなるので、ハ
イインピーダンス制御信号H2Cが高レベルのときと同
様に中間レベル発生回路4がインバータ回路1と切離さ
れ、インバータ回路1は従来例と同様のハイインピーダ
ンス状態となる。The high impedance control signal H2C is at a low level,
And when the intermediate output control signal MOC is at low level, AN
Since the other input terminal of D gate G3 is at a low level, the intermediate level generation circuit 4 is separated from the inverter circuit 1 in the same way as when the high impedance control signal H2C is at a high level, and the inverter circuit 1 is operated as in the conventional example. becomes a high impedance state.
ハイインピーダンス制御信号H2Cが低レベルにあり、
かつ中間出力制御信号MO8が高レベルのときは、イン
バータエ2の出力、即ちANDゲートG3の入力端の一
方が高レベルでかつ他方も高レベルとなるので、AND
ゲートG3の出力、即ち中間出力発生制御信号MGCが
高レベルとなり、トランジスタQ3が導通状態となって
出力端子Toを、中間出力発生制御信号MGCの高レベ
ルの電圧からトランジスタQ3のソース・ドレイン間電
圧を引いた電圧の、出力信号OUTの低レベルと高レベ
ルの中間のレベルにする。このとき、トランジスタQl
、Q2はハイインピーダンス制御信号H2Cによりオフ
状態となっている。High impedance control signal H2C is at low level,
When the intermediate output control signal MO8 is at a high level, the output of the inverter 2, that is, one of the input terminals of the AND gate G3 is at a high level, and the other is also at a high level, so the AND
The output of gate G3, that is, intermediate output generation control signal MGC, becomes high level, transistor Q3 becomes conductive, and output terminal To changes from the high level voltage of intermediate output generation control signal MGC to the source-drain voltage of transistor Q3. is set to a voltage that is between the low level and high level of the output signal OUT. At this time, the transistor Ql
, Q2 are turned off by the high impedance control signal H2C.
このように、ハイインピーダンス状態において出力端子
Toを中間レベルにするモードを設けることにより、ハ
イインピーダンス状態の試験を、ファンクションテスト
の動作チエツクの中で正確かつ確実に行うことができる
。By providing a mode in which the output terminal To is at an intermediate level in the high impedance state in this way, the test in the high impedance state can be performed accurately and reliably during the operation check of the function test.
以上説明したように本発明は、ハイインピーダンス状態
にある出力端子のレベルを、出力信号の低レベルと高レ
ベルの中間レベルにするモードを設ける構成とすること
により、ハイインピーダンス状態の試験を、ファンクシ
ョンテストの動作チエツクの中で正確で確実に、かつ短
時間に行うことができる効果がある。As explained above, the present invention provides a mode in which the level of the output terminal in the high impedance state is set to an intermediate level between the low level and the high level of the output signal, so that the test in the high impedance state can be performed using a function function. This has the advantage that it can be performed accurately, reliably, and in a short time during the operation check of the test.
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は従来
の出力バッファ回路の一例を示す回路図である。
1・・・インバータ回路、2・・・出力制御回路、3・
・・中間出力制御回路、4・・・中間レベル発生回路、
G1・・・NANDゲート、G2・・・NORゲート、
G、・・・ANDゲート、1.、I2・・・インバータ
、Q1〜Q3・・・トランジスタ。
代理人 弁理士 内 原 晋FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a conventional output buffer circuit. 1... Inverter circuit, 2... Output control circuit, 3.
... intermediate output control circuit, 4... intermediate level generation circuit,
G1...NAND gate, G2...NOR gate,
G,...AND gate, 1. , I2...inverter, Q1-Q3...transistor. Agent Patent Attorney Susumu Uchihara
Claims (1)
トランジスタと、第2の電源端子と前記出力端子との間
に接続された第2のトランジスタとを備えたインバータ
回路と、入力信号及びハイインピーダンス制御信号を入
力し、第1及び第2の出力端を前記第1及び第2のトラ
ンジスタのゲートにそれぞれ対応して接続し、前記ハイ
インピーダンス制御信号が第1のレベルのとき前記第1
及び第2のトランジスタをオフ状態とし、前記ハイイン
ピーダンス制御信号が第2のレベルのとき前記インバー
タ回路の出力信号を前記入力信号のレベルに応じて第1
及び第2のレベルとする出力制御回路と、前記ハイイン
ピーダンス制御信号が第1のベレルにあり、かつ中間出
力制御信号が所定のレベルのとき中間出力発生制御信号
を出力する中間出力制御回路と、前記中間出力発生制御
信号により前記インバータ回路の出力信号のレベルをこ
の出力信号の第1及び第2のレベルの中間のレベルにす
る中間レベル発生回路とを有することを特徴とする出力
バッファ回路。an inverter circuit including a first transistor connected between a first power supply terminal and an output terminal; a second transistor connected between a second power supply terminal and the output terminal; signal and a high impedance control signal, first and second output terminals are respectively connected to the gates of the first and second transistors, and when the high impedance control signal is at a first level, the 1st
and a second transistor is turned off, and when the high impedance control signal is at the second level, the output signal of the inverter circuit is set to the first level according to the level of the input signal.
and a second level output control circuit, and an intermediate output control circuit that outputs an intermediate output generation control signal when the high impedance control signal is at a first level and the intermediate output control signal is at a predetermined level. An output buffer circuit comprising: an intermediate level generation circuit that sets the level of the output signal of the inverter circuit to a level intermediate between the first and second levels of the output signal according to the intermediate output generation control signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1102418A JP3052312B2 (en) | 1989-04-21 | 1989-04-21 | Output buffer circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1102418A JP3052312B2 (en) | 1989-04-21 | 1989-04-21 | Output buffer circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02280069A true JPH02280069A (en) | 1990-11-16 |
| JP3052312B2 JP3052312B2 (en) | 2000-06-12 |
Family
ID=14326900
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1102418A Expired - Lifetime JP3052312B2 (en) | 1989-04-21 | 1989-04-21 | Output buffer circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3052312B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100500946B1 (en) * | 2000-06-30 | 2005-07-14 | 매그나칩 반도체 유한회사 | Tristate buffer with improved characteristic of EMI |
| CN114646824A (en) * | 2022-03-11 | 2022-06-21 | 中国船舶重工集团公司第七0七研究所九江分部 | Measuring circuit and method for device output high-resistance state |
-
1989
- 1989-04-21 JP JP1102418A patent/JP3052312B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100500946B1 (en) * | 2000-06-30 | 2005-07-14 | 매그나칩 반도체 유한회사 | Tristate buffer with improved characteristic of EMI |
| CN114646824A (en) * | 2022-03-11 | 2022-06-21 | 中国船舶重工集团公司第七0七研究所九江分部 | Measuring circuit and method for device output high-resistance state |
| CN114646824B (en) * | 2022-03-11 | 2025-09-09 | 中国船舶重工集团公司第七0七研究所九江分部 | Measuring circuit and method for high resistance state of device output |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3052312B2 (en) | 2000-06-12 |
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