JPH02280069A - 出力バッファ回路 - Google Patents

出力バッファ回路

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JPH02280069A
JPH02280069A JP1102418A JP10241889A JPH02280069A JP H02280069 A JPH02280069 A JP H02280069A JP 1102418 A JP1102418 A JP 1102418A JP 10241889 A JP10241889 A JP 10241889A JP H02280069 A JPH02280069 A JP H02280069A
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JP
Japan
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output
level
control signal
high impedance
circuit
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JP1102418A
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Makoto Murase
真 村瀬
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、出力バッファ回路に関し、特に出力信号が低
レベル及び高レベルの二つの状態をとるほか、出力イン
ピーダンスがハイインピーダンス状態をとることができ
る3状態型の出力バッファ回路に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の出力バッファ回路は、第2図に示すよう
に、第1の電源端子である接地端子と出力端子Toとの
間に接続されたNチャネルMO3型の第1のトランジス
タQ1と、第2の電源端子(電源電圧Vcc)と出力端
子Toとの間に接続されたPチャネルMO3型の第2の
トランジスタQ2とを備えたインバータ回路1と、イン
バータ1、、NANDゲートG、及びNORゲートG2
を備え、入力信号IN及びハイインピーダンス制御信号
H2Cを入力し、第1及び第2の出力端を第1及び第2
のトランジスタQ1.Q2のゲートにそれぞれ対応して
接続し、ハイインピーダンス制御信号H2Cが低レベル
のときトランジスタQl、Q2をオフ状態としてインバ
ータ回路1の出力インピーダンスをハイインピーダンス
状態とし、ハイインピーダンス制御信号H2Cが高レベ
ルのときインバータ回路lの出力信号OUTを入力信号
INのレベルに応じて低レベル及び高レベルとする出力
制御回路2とを有する構成となっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の出力バッファ回路は、インバータ回路1
と、このインバータ回路1の出力状態を、低レベル、高
レベル及びハイインピーダンスの3状態に制御する出力
制御回路2とをする構成となっているので、この出力バ
ッファ回路のハイインピーダンス状態を試験するには、
試験装置のファンクションパターンをハイインピーダン
スとなるパターンで停止させて直流的に測定するか、出
力端子T。にプルアップ抵抗を付加し高レベルとして測
定する等の方法を用いなければならず、前者の測定方法
では、ファンクションパターン中の全ハイインピーダン
ス状態の測定を行なうにはテスト時間がかかりすぎ、ま
た特定周波数のファンクションテスト中における動作チ
エツクにはなっていないという欠点があり、また、後者
の測定方法ではハイインピーダンスと高レベルとの区別
がつかなくなるという欠点がある。
本発明の目的は、ハイインピータンス状態の試験を、フ
ァンクションテストの動作チエツクの中で、正確で確実
に、かつ短時間に行うことができる出力バッファ回路を
提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の出力バッファ回路は、第1の電源端子と出力端
子との間に接続された第1のトランジスタと、第2の電
源端子と前記出力端子との間に接続された第2のトラン
ジスタとを備えたインバータ回路と、入力信号及びハイ
インピーダンス制御信号を入力し、第1及び第2の出力
端を前記第1及び第2のトランジスタのゲートにそれぞ
れ対応して接続し、前記ハイインピーダンス制御信号が
第1のレベルのとき前記第1及び第2のトランジスタを
オフ状態とし、前記ハイインピーダンス制御信号が第2
のレベルのとき前記インバータ回路の出力信号を前記入
力信号のレベルに応じて第1及び第2のレベルとする出
力制御回路と、前記ハイインピーダンス制御信号が第1
のベレルにあり、かつ中間出力制御信号が所定のレベル
のとき中間出力発生制御信号を出力する中間出力制御回
路と、前記中間出力発生制御信号により前記インバータ
回路の出力信号のレベルをこの出力信号の第1及び第2
のレベルの中間のレベルにする中間レベル発生回路とを
有している。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例を示す回路図である。
この実施例が第2図に示された従来の出力バッファ回路
と相違する点は、インバータI2及びANDゲートG、
を備え、ハイインピーダンス制御信号H2Cが低レベル
にあり、かつ中間出力制御信号MOCが高レベルのとき
、高レベルの中間出力発生制御信号MGCを出力する中
間出力制御回路3と、所定のしきい値電圧をもつNチャ
ネルMO3型のトランジスタQ3を備え、高レベルの中
間出力発生制御信号MGCが入力されたとき、インバー
タ回路1の出力信号OUTのレベルをこの出力信号OU
Tの低レベル及び高レベルの中間レベルにする中間レベ
ル発生回路4とを設けた点にある。
次に、この実施例の動作について説明する。
ハイインピーダンス制御信号H2Cが高レベルにあると
きは、インバータエ2の出力、即ちANDゲートG、の
入力端の片方が低レベルとなっているので、中間出力制
御信号MOCに関係なくANDゲートG3の出力、即ち
中間出力発生制御信号MGCは低レベルとなり、トラン
ジスタQ3はオフ状態となって中間レベル発生回路4は
インバータ回路1から切離される。従って従来例と同様
にインバータ回路1の出力信号OUTは入力信号INの
レベルに応じたレベルとなる。
ハイインピーダンス制御信号H2Cが低レベルであり、
かつ中間出力制御信号MOCが低レベルのときは、AN
DゲートG3の入力端の他方が低レベルとなるので、ハ
イインピーダンス制御信号H2Cが高レベルのときと同
様に中間レベル発生回路4がインバータ回路1と切離さ
れ、インバータ回路1は従来例と同様のハイインピーダ
ンス状態となる。
ハイインピーダンス制御信号H2Cが低レベルにあり、
かつ中間出力制御信号MO8が高レベルのときは、イン
バータエ2の出力、即ちANDゲートG3の入力端の一
方が高レベルでかつ他方も高レベルとなるので、AND
ゲートG3の出力、即ち中間出力発生制御信号MGCが
高レベルとなり、トランジスタQ3が導通状態となって
出力端子Toを、中間出力発生制御信号MGCの高レベ
ルの電圧からトランジスタQ3のソース・ドレイン間電
圧を引いた電圧の、出力信号OUTの低レベルと高レベ
ルの中間のレベルにする。このとき、トランジスタQl
、Q2はハイインピーダンス制御信号H2Cによりオフ
状態となっている。
このように、ハイインピーダンス状態において出力端子
Toを中間レベルにするモードを設けることにより、ハ
イインピーダンス状態の試験を、ファンクションテスト
の動作チエツクの中で正確かつ確実に行うことができる
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、ハイインピーダンス状態
にある出力端子のレベルを、出力信号の低レベルと高レ
ベルの中間レベルにするモードを設ける構成とすること
により、ハイインピーダンス状態の試験を、ファンクシ
ョンテストの動作チエツクの中で正確で確実に、かつ短
時間に行うことができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は従来
の出力バッファ回路の一例を示す回路図である。 1・・・インバータ回路、2・・・出力制御回路、3・
・・中間出力制御回路、4・・・中間レベル発生回路、
G1・・・NANDゲート、G2・・・NORゲート、
G、・・・ANDゲート、1.、I2・・・インバータ
、Q1〜Q3・・・トランジスタ。 代理人 弁理士  内 原  晋

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  第1の電源端子と出力端子との間に接続された第1の
    トランジスタと、第2の電源端子と前記出力端子との間
    に接続された第2のトランジスタとを備えたインバータ
    回路と、入力信号及びハイインピーダンス制御信号を入
    力し、第1及び第2の出力端を前記第1及び第2のトラ
    ンジスタのゲートにそれぞれ対応して接続し、前記ハイ
    インピーダンス制御信号が第1のレベルのとき前記第1
    及び第2のトランジスタをオフ状態とし、前記ハイイン
    ピーダンス制御信号が第2のレベルのとき前記インバー
    タ回路の出力信号を前記入力信号のレベルに応じて第1
    及び第2のレベルとする出力制御回路と、前記ハイイン
    ピーダンス制御信号が第1のベレルにあり、かつ中間出
    力制御信号が所定のレベルのとき中間出力発生制御信号
    を出力する中間出力制御回路と、前記中間出力発生制御
    信号により前記インバータ回路の出力信号のレベルをこ
    の出力信号の第1及び第2のレベルの中間のレベルにす
    る中間レベル発生回路とを有することを特徴とする出力
    バッファ回路。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100500946B1 (ko) * 2000-06-30 2005-07-14 매그나칩 반도체 유한회사 전자기 방해를 개선한 데이터 입출력 버퍼
CN114646824A (zh) * 2022-03-11 2022-06-21 中国船舶重工集团公司第七0七研究所九江分部 一种器件输出高阻态的测量电路及方法

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CN114646824B (zh) * 2022-03-11 2025-09-09 中国船舶重工集团公司第七0七研究所九江分部 一种器件输出高阻态的测量电路及方法

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