JPH02281679A - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置

Info

Publication number
JPH02281679A
JPH02281679A JP10243189A JP10243189A JPH02281679A JP H02281679 A JPH02281679 A JP H02281679A JP 10243189 A JP10243189 A JP 10243189A JP 10243189 A JP10243189 A JP 10243189A JP H02281679 A JPH02281679 A JP H02281679A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal film
semiconductor laser
heat sink
metal
conductive wire
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10243189A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Yamaguchi
山口 昌幸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP10243189A priority Critical patent/JPH02281679A/ja
Publication of JPH02281679A publication Critical patent/JPH02281679A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ボンディング・ワイヤによるインダクタンス
を低減した半導体レーザ装置に関する。
〔従来の技術〕
近年、半導体レーザ素子の高速化に伴い、光フアイバ通
信の伝送容量は大幅に伸びな。数年前までは、伝送容量
として400 M b / s程度であったのが、今で
は1.6Gb/sのシステムが実用化されている。数年
光の近い将来には2.4〜4.8Gb/sの高速システ
ムが計画されている。
ところで、半導体レーザ素子単体の周波数応答特性は大
幅に改善され、今では2〜5 G b / s程度の高
速変調が可能になったものの、半導体レーザ素子の実装
方法は、まだこの様な高速変調に適したものになってお
らず改善が必要とされる。第4図に従来の半導体レーザ
装置の構造図を示す。
絶縁性放熱体1の上下の面にはAuを含む金属膜2.3
が形成されており、放熱体1の上には半導体レーザ素子
4が共晶ハンダ5により固着されている。更に放熱体1
そのものは導電性台座6の上にPb5n共晶ハンダ7に
より固着されている。
半導体レーザ素子4は固着時のストレス等の影響を避け
るために、p−n接合面が固着部より遠い側、すなわち
上側になるように固着される。n型半導体基板を用いた
半導体レーザ素子では、固着部に接する側がn型1反対
側がp型となる。また、一般に半導体レーザ素子4のド
ライブ回路はアース(すなわち台座6)が正極となる。
従って、半導体レーザ素子4の上側電極と台座6との間
を電気的に導通させるため、導電性ワイヤ8が両者の間
に設けられている。更に、給電用端子10から放熱体1
の上面の金属膜2には導電性ワイヤ9が接続されている
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の半導体レーザ装置の問題点は導電性ワイ
ヤ8.9が長いために生じるインダクタンスが大きくな
り2〜5Gb/β程度の高速変調が困難なことである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明による半導体レーザ装置は、絶縁性放熱体の上面
に互いに分割された第1の金属膜と第2の金属膜とを有
し、前記第1の金属膜は前記放熱体の側面及び裏面に連
続して形成されており、第2の金属膜上に共晶合金によ
り半導体レーザ素子が固着されており前記放熱体は導電
性台座の上に固着されており、前記半導体レーザ素子の
上側電極と前記第1の金属膜とは第1導電性ワイヤによ
り接続され、前記第2の金属膜は給電用端子に第2の導
電性ワイヤにより接続されていることを特徴とする。
また本発明による半導体レーザ装置は、絶縁性放熱体の
上面に互いに分割された第1.第2の金属膜を有し、前
記放熱体の下面には互いに分割された第3.第4の金属
膜を有し、前記第1と第3の金属膜、前記第2の第4の
金属膜はそれぞれ前記放熱体側面を経由して連続してお
り、前記第2の金属膜の上には共晶合金により半導体レ
ーザ素子が固着されており、前記半導体レーザ素子の上
側電極と前記第1の金属膜とは導電性ワイヤにより接続
され、前記放熱体は絶縁性台座の上に形成された第1.
第2の金属配線の上に、前記第3の金属膜と前記第1の
金属配線とが接触し、更に前記第4の金属膜と前記第2
の金属配線とが接触するように固着されていることを特
徴とする。
〔実施例〕
以下に本発明について図面を用いて詳細に説明する。第
1図は本発明の第1の実施例である半導体レーザ装置の
構造図である。ボロン・ナイトライド(BN)からなる
絶縁性放熱体1の上面にAuを含む第1の金属膜21と
、これとは電気的に分離された第2の金属膜22とが設
けられており、第2の金属膜22は放熱体1の側面及び
裏面にまで連続して形成されている。半導体レーザ素子
4はAuSn共晶ハンダ5により第1の金属膜21上に
p型半導体側が上になるように固着されている。放熱体
lはPb5nハンダ7により導電性台座6の上に固着さ
れている。更に、給電用端子10と第1の金属膜21の
間には導電性ワイヤ9が接続され、更に半導体レーザ素
子4の上からの導電性ワイヤ8は第2の金属膜22に接
続されている。
従来例で示した半導体レーザ装置では、半導体レーザ素
子4からのワイヤ8が台座6に接続されるため比較的長
くなっていた。これに対し、本実施例による半導体レー
ザ装置では、半導体レーザ素子4からのワイヤ8は第2
の金属膜22に接続されているなめ、ワイヤ8の長さは
従来例に比べ短くなる。具体的に言えば、放熱体1の横
幅が1mmであるので、ワイヤ8の長さは、従来例では
1.2mm、本実施例では0.3mm程変ヒケる。これ
により装置全体のインダクタンスは従来の2nHから0
.8nHに低減され、2.4G b / s程度の変調
が可能となった。
第2図に本発明の第2の実施例の半導体レーザ装置の構
造図を示す。ボロン・ナイトライドからなる絶縁性放熱
体1の上面に第1.第2のAuを含む金属膜31.32
が設けられており、それぞれの金属膜は互いに接続する
ことなく放熱体1の裏側にまで連続して形成されている
。第2の金属M32の上には半導体レーザ素子4がAu
Sn共晶ハンダ5により固着されている。放熱体1はセ
ラミックからなる絶縁性台座30の上の金属配線33.
34の上に、第1の金属[31と金属配線33とが接触
し更に第2の金属膜32と金属配線34とが接触する様
にPb5nハンダ7により固着されている。半導体レー
ザ素子4の上側電極から第1の金属膜31へは導電性ワ
イヤ8が接続されている。
本実施例による半導体レーザ装置では、導電性ワイヤの
数が一本で済み、かつワイヤ8の長さが第1の実施例と
同様の理由により、従来よりも短くできるため、インダ
クタンスは大幅に小さくなり、おおよそ0.3nHとな
った。更に、4.8G b / sの良好なパルス変調
が可能となった。
本実施例では、放熱体1を固着する台座3oとして、金
属配線33.34を形成した絶縁性の台座30が必要と
なる。この台座は従来にない特殊なものであるため、こ
こでその−例を示す。第3図は、第2の実施例で示した
半導体レーザ装置用の台座(キャリア)部の構造図であ
る。L型の金属台40と、セラミックからなる絶縁性台
座3゜と、給電用の金属リード41とがら構成されてい
る。絶縁性台座30の上には、金属台4oがら連続した
金属配線33と、金属リード41がら連続した金属配線
34とが、中央で互いに対向するように形成されている
。金属配線33と34が互いに対向して形成された部分
に、半導体レーザ素子が固着される放熱体1を第3図中
の点線で示したように配置することにより、第2の実施
例で示した半導体レーザ装置が得られる。
なお、本発明の実施例で示した半導体レーザ装置では、
絶縁性放熱体1の材質として、ボロン・ナイトライドを
用いたが、絶縁物質としては、高抵抗のシリコン、酸化
ベリリウム、ダイアモンド等であってもよい。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明による半導体レーザ装置で
は導電性ワイヤの長さが短くなり、更にその本数も従来
よりも減らすことが可能であるため、装置全体のインダ
クタンスが減少し、2〜5 G b / s程度の高速
変調が可能になった。
例として示した半導体レーザ装置の構造図である。
1・・・絶縁性放熱体、2,3,21,22.3132
・・・金属膜、4・・・半導体レーザ素子、5,7・・
・共晶合金ハンダ、6・・・導電性台座、8.9・・・
導電性ワイヤ、10・・・給電用端子、3o・・・絶縁
性台座、33.34・・・金属配線、4o・・・金属台
、41・・・金属リード。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、絶縁性放熱体の上面に互いに分割された第1の金属
    膜と第2の金属膜とを有し、前記第1の金属膜は前記放
    熱体の側面及び裏面に連続して形成されており、第2の
    金属膜上に共晶合金により半導体レーザ素子が固着され
    ており前記放熱体は導電性台座の上に固着されており、
    前記半導体レーザ素子の上側電極と前記第1の金属膜と
    は第1導電性ワイヤにより接続され、前記第2の金属膜
    は給電用端子に第2の導電性ワイヤにより接続されてい
    ることを特徴とする半導体レーザ装置。 2、絶縁性放熱体の上面に互いに分割された第1、第2
    の金属膜を有し、前記放熱体の下面には互いに分割され
    た第3、第4の金属膜を有し、前記第1と第3の金属膜
    、前記第2の第4の金属膜はそれぞれ前記放熱体側面を
    経由して連続しており、前記第2の金属膜の上には共晶
    合金により半導体レーザ素子が固着されており、前記半
    導体レーザ素子の上側電極と前記第1の金属膜とは導電
    性ワイヤにより接続され、前記放熱体は絶縁性台座の上
    に形成された第1、第2の金属配線の上に、前記第3の
    金属膜と前記第1の金属配線とが接触し、更に前記第4
    の金属膜と前記第2の金属配線とが接触するように固着
    されていることを特徴とする半導体レーザ装置。
JP10243189A 1989-04-21 1989-04-21 半導体レーザ装置 Pending JPH02281679A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10243189A JPH02281679A (ja) 1989-04-21 1989-04-21 半導体レーザ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10243189A JPH02281679A (ja) 1989-04-21 1989-04-21 半導体レーザ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02281679A true JPH02281679A (ja) 1990-11-19

Family

ID=14327277

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10243189A Pending JPH02281679A (ja) 1989-04-21 1989-04-21 半導体レーザ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02281679A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH054534U (ja) * 1991-02-18 1993-01-22 三菱電機株式会社 レーザダイオードチツプキヤリア
US7605402B2 (en) 2003-12-26 2009-10-20 Opnext Japan, Inc. Structure of chip carrier for semiconductor optical device, optical module, and optical transmitter and receiver

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH054534U (ja) * 1991-02-18 1993-01-22 三菱電機株式会社 レーザダイオードチツプキヤリア
US7605402B2 (en) 2003-12-26 2009-10-20 Opnext Japan, Inc. Structure of chip carrier for semiconductor optical device, optical module, and optical transmitter and receiver

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5090119A (en) Method of forming an electrical contact bump
JPS59141249A (ja) 電力チツプ・パツケ−ジ
US3964157A (en) Method of mounting semiconductor chips
JPH01173627A (ja) 集積回路パッケージ
EP0139517B1 (en) Improvements in or relating to diamond heatsink assemblies
US4067041A (en) Semiconductor device package and method of making same
JPH02281679A (ja) 半導体レーザ装置
JPS59229850A (ja) 半導体装置
JPS63318193A (ja) 光半導体用サブマウント
JPS5850021B2 (ja) 半導体装置の製法
JPH06188516A (ja) 光半導体装置およびその製造方法
US4406054A (en) Method of mounting and packaging elongate silicon devices on a ceramic base
JPH0513603A (ja) 半導体集積回路装置
JP4005937B2 (ja) 熱電モジュールのパッケージ
JPS61234588A (ja) 光半導体素子用サブマウント
JPS62150837A (ja) 半導体装置
JPH02116186A (ja) 半導体レーザ
JPS62291129A (ja) 半導体装置
JPS6325993A (ja) 光結合装置
JPS5826675B2 (ja) ハンドウタイソウチ
JPS63245986A (ja) 半導体レ−ザ
JPH0722708A (ja) 半導体レーザ装置およびその実装方法
JPH0497581A (ja) 半導体レーザのヒートシンク
JPH04283948A (ja) 光半導体素子用サブマウント
KR100314709B1 (ko) 전력용 반도체 모듈