JPH02290507A - 測距装置 - Google Patents

測距装置

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JPH02290507A
JPH02290507A JP11704890A JP11704890A JPH02290507A JP H02290507 A JPH02290507 A JP H02290507A JP 11704890 A JP11704890 A JP 11704890A JP 11704890 A JP11704890 A JP 11704890A JP H02290507 A JPH02290507 A JP H02290507A
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distances
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Takashi Kawabata
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、距離を測定する装置、特にカメラに好適な測
距装置に関するものである。
従来、この種の装置は、精度を保つために小さなスポッ
ト光を投光して、基線長だけ離れた所の反射光角度の検
知によって測距を行なってきた。
しかし、このように小さなスポット光においては、被写
体条件により反射光が得られない場合や、また測距視野
が狭いために、たとえば2人のポートレートで測距視野
が2人の間に入ってしまい、結果として測距不能や、誤
測距になる欠点があった。
本発明は以上の事情に鑑みなされたもので、複数の測距
軸を仮想し、該複数のそれぞれの測距軸上の物体より反
射される反射光を受光するための受光手段と、該受光手
段に応答して、前記各測距軸上の物体距離に対する距離
信号を検出するための検出手段と、該検出手段により検
出された前記それぞれの測距軸に対応する距離信号の近
距離優先的比較に基づいて焦点調節のための信号を形成
する信号形成手段とを備え、異なる測距視野に対する複
数測距を行ない誤測距を防止するとともに、それら測距
結果の近距離優先的比較により焦点調節に好適な信号を
形成する測距装置を提供しようとするものである。
以下、本発明による一実施例を、添付図面に基づいて説
明する。
第1図は本発明の一実施例に係わる測距装置の光学的な
説明図である。図中の( a + + a z ,a 
3 )はそれぞれ発光素子などの発光器で、直線上に並
べられて、各発光器(a,〜a3)はそれぞれ距離測定
のために投光される信号光としてのパルス光(pβ1〜
p I2:+ )をそれぞれ仮想された測距軸(β,〜
β3)に沿って、該測距軸(β1〜I23)上の測距対
象物体としての被写体(θ1.θ2θ3.θ,.:l)
に向けて投射する。(LA)は投光用レンズで、発光器
( a, −83 )群の前に配設される。( LD)
は受光用レンズで前記測距輔(41〜β3)上のそれぞ
れの被写体(01〜θカ)から反射されるパルス光( 
p 12 +〜p I2s )の反射光(p r r 
〜p ’66 )を受ける。
(D+.Dz.D3,D4.Ds.Da.Dt )はそ
れぞれ、光センサなどの受光器で、受光用レンズ(LD
)の後方に直線上に並べられて、該レンズを介して前記
パルス光(p℃1〜pI23)の反射光(pr)を受光
する。
そして発光器(a.〜a.)群、レンズ(LA,LD)
ならびに受光器(D,〜D?)群は、たとえば次のごと
《配置される。
レンズ(LA, LD)に近い被写体(θ1)の場合、
第1の発光器(a1)のパルス光(pj2+)による反
射光(pr+)が、第5の受光器(D5)にて主として
受光されるように配置され、同様に、第2の発光器(a
2)のパルス光(pβ2)による反射光(prz)は、
第6の受光器(Da)に、第3の発光器(a3)のパル
ス光(pI2,)による反射光(prs)は、第7の受
光器(D7)にそれぞれ主として受光されるように、配
置される。
レンズ(LA, LD)からやや遠い被写体(02)の
場合は、第1の発光器(a1)のパルス光(p℃,)に
よる反射光(priが、第4の受光器(D4)に主とし
て受光され、同様に、第2の発光器(a2)のパルス光
(pβ2)による反射光(priは、第5の受光器(D
6)に、第3の発光器(a3)のパルス光(pI2.3
)による反射光(priは、第6の受光器(D6)にそ
れぞれ主として受光されるように配置される。
レンズ(LA, LD)から遠い被写体(θ3)の場合
は、第1の発光器(a1)のパルス光(pβl)による
反射光(pr7)が、主として第3の受光器(D,)に
て受光され、第2の発光器(a2)のパルス光(pβ2
)による反射光(pre)は、第4の受光器(D4)に
、第3の発光器(a,)のパルス光(pI2s )によ
る反射光(pr9)は、第5の受光器(D5)にそれぞ
れ主として受光されるように配置される。
無限遠、の被写体(θ.)の場合は、第1の発光器(a
.)のパルス光(pj2+)による反射光(proo)
は、主として第1の受光器(D1)にて受光され、第2
の発光器(a2)のパルス光(1)I22)による反射
光は、第2の受光器(D2)に、第3の発光器(a,)
のパルス光(pβ3)による反射光は、第3の受光器(
D3)にそれぞれ主として受光されるように配置される
.なお、図示しなかったが、無限遠の被写体(θoo)
よりも近く、そして遠い被写体(θ3)よりもさらに遠
い被写体(θ4)の場合は、第1の発光器(a,)のパ
ルス光(pI2+)による反射光が、主として第2の受
光器(D2)にて受光され、第2の発光器(a2)のパ
ルス光(p12z )による反射光は、第3の受光器(
D3)に、第3の発光器(a3)のパルス光(p℃,)
による反射光は、第4の受光器(D4)にそれぞれ主と
して受光されるように配置される。
したがって、第1図の実施例では、被写体(θ,〜θエ
)の遠近距離ゾーンが、受光器(D,〜D?)群の受光
位置により5段階に分けられて判別されることになる。
第2図は、第1図の発光器( a l”a 3)群の駆
動および受光器(D.〜D,)群の受光信号の処理を行
なうための回路構成の一実施例を示すブロック回路図で
ある.なお、第2図中第1図と同一の構成には同一の符
号が付してある。第2図において、(Ml)は、発光器
(a1〜a3)群用の駆動回路で、たとえばパルス電力
(pp)を供給する。(DMI )はデマルチブレクサ
で、たとえば駆動回路(M】)からのパルス電力(pp
)を、順次に、第1,第2,第3の発光器(a,.a2
,a3)に振り分けて出力する。(CS)はデマルチプ
レクサ(DMI )から出力される同期用の制御信号で
ある。なお、各発光器(a1.〜a,)は、パルス電力
(pp)が、デマルチプレクサ(DMI )から与えら
れると、パルス光(p℃1〜pI2,)をそれぞれ発光
し、投射する。
(AI−A?)は増幅器群で、各受光器(DI −Dt
 )の各後段に接続されて、それぞれの検出信号(ds
)を増幅して出力する。
(MX,−MX.)はマルチブレクサ群で、各マルチブ
レクサ( M X I〜MX,)は7つの増幅器(A.
−A,)のうちの3つの増幅器から検出信号(ds)を
それぞれ入力し、被写体距離が同一距離とみなされる距
離であるにもかかわらす測距軸(41〜β3)が異なる
ことによって生じる第1図にて説明したごとき受光器(
DI〜D,)群の受光状態のずれを補正する。つまり、
第1のマルチブレクサ(MX+)は、第1,第2,第3
の増幅器( A I, A 1、 A 3 )からの各
検出信号(ds)をそれぞれ入力し、第2のマルチプレ
クサ(Mx2)は、第2.第3,第4の増幅器(A2.
A3.A4 )からの各検出信号(ds)をそれぞれ入
力する。同様にして、第3のマルチブレクサ(MXiは
、第3.第4,第5の増幅器(A 3, A 4. A
 a )からの各検出信号(d s )をそれぞれ入力
し、第4のマルチブレクサ(MX.)は、第4,第5,
第6の増幅器(A 4i A a, A s )からの
各検出信号(ds)をそれぞれ入力し、第5のマルチブ
レクサ(MXS)は、第5,第6.第7の増幅器(A 
s, A a. A t )からの各検出信号(ds)
をそれぞれ入力する.そしてさらに各マルチブレクサ(
 M X r〜MXs)は、その入力端子■,■.■が
デマルチブレクサ(DMI )からの制御信号(CS)
の入力に同期して切り換えられる。つまり、デマルチブ
レクサ(DM1)の出力端子■.■.■が、■一■一■
一■・・・・・・と切り換えられるのに対応して、各マ
ルチプレクサ(MX+〜MX.)の入力端子■.■.■
が、■一■一■一■・・・・・・と切り換えられる。
したがって、たとえば第1図において、発光器(at〜
aS)群より投射されたパルス光(pβ1〜pβ,)が
いずれも被写体距離が同一距離とみなされる近い被写体
(θl)にて反射された場合、前述したようにそれらの
反射光(pr+〜prs)はそれぞれ異なる受光器(D
,〜D,)にて受光されるが、第1の発光器(a,)に
よるパルス光(pI2.,)の反射光(pr+)の信号
は、第1の発光器(a,)の発光に同期して第5の受光
器(D,)から第5のマルチプレクサ(MXs)に取り
込まれ、また、第2の発光器(a2)によるパルス光(
pβ2)の反射光(pry)の信号は、第2の発光器(
a2)の発光に同期して第6の受光器(D6)から第5
のマルチブレクサ(MXS )に取り込まれ、さらに、
第3の発光器(a,)によるパルス光Cpl2s )の
反射光(pr3)の信号は、第3の発光器(a3)の発
光に同期して第7の受光器(D7)から第5のマルチブ
レクサ(MX!)に取り込まれる。
他の距離の被写体についても同様に、被写体距離が同一
距離とみなされる異なる測距軸(ρ1〜f23)上の被
写体からの反射光は受光器(D.〜D7)上では異なる
位置にて受光されるが、それらの信号はいずれも同一の
マルチブレクサ(M X r NM X s )に取り
込まれることになる。
これにより、各マルチプレクサ( M X l〜MX.
)の出力は、それぞれ測距軸(β1〜β3)の違いによ
る受光状態のずれを補正した絶対距離に対応する遠距離
から近距離を5段階のゾーンに分けた被写体までの距離
信号を表わすことになる.つまり、各マルチブレクサ(
MX.〜MX.)の出力は、それぞれ第1図にて示した
5段階の距離ゾーンの遠距離から近距離の被写体距離に
対応する。
( D A +〜DAM)はそれぞれ同期検波器および
所望のスレッショルドレベルが与えられたコンパレー夕
からなる検出回路群で、各マルチブレクサ(MXI〜M
XS)の後段にそれぞれ接続されて、該マルチプレクサ
(MXI−MXs)からの検知信号(ds’)をそれぞ
れその同期検波器で駆動回路(Ml)からの出力により
同期検波し、そして、検波後の信号レベルをコンパレー
夕によりスレッショルドレベルに対して比較し、スレツ
ショルド゛レベルを超えた場合、つまりマルチブレクサ
(Mxl−Mxs)から被写体距離信号が出力されてい
る場合のみ、ハイレベルの検出信号(dts)を出力す
る. (F F l−F F s )は記憶用のフリツブフロ
ツブ群で、各検出回路( D A l〜DAa)の後段
に接続され、ハイレベルの検出信号(dts)が入力さ
れるとセットされて、ハイレベルの距離信号(d+〜a
S)を出力する.なお、各フリツブフロップ( F F
 l−F F s )は、図示省略の手段から出力され
るリセット信号(puc )によりリセットされる. (PEI)はブライオリテイ機能を有するエンコーダで
、フリップフロツブ(F F l”F F s )群の
後段に接続され、前記遠近5段階の遠近距離ゾーンに対
応する距離信号(d+〜da)のいずれかを入力して、
該距離信号に対応する距離データ(dd)を出力する。
この距離データ(dd)は、ディジタルでもアナログで
もよい。たとえば、距離信号(dI)は、最遠ゾーンに
対応する.言い換えると、第1図の無限遠の被写体(θ
i)。)の場合に、距離信号(d1)がエンコーダ(P
EI)に入力され、該エンコーダ(PEI )から無限
遠の距離データ(dd)が出力される.そして、距離信
号(ds )は、最近ゾーンに対応し、同様にこの場合
、エンコーダ(PEI )から最近距離を示す距離デー
タ(dd)が出力される。
なお、距離信号(d1〜da)の複数が、エンコーダ(
PEI)に入力された場合は、該エンコーダ(PEI)
の優先機能が働いて、近距離を示す方の距離信号(ct
.〜dl1)が選択され、該距離信号(d.〜ds)に
対応する前記距離データ(dd)が出力される。
なお、MOS形フォトセンサーのように受光器(D.〜
D?)自身に、蓄積効果があって選択的に読み出しので
きるセンサーを利用する場合、実施例中のマルチブレク
サ( M X t〜MXS )をセンサー内に構成して
初段の増幅器(AI −A? )を省略することもでき
る. 以上、説明したように、本実施例によれば受光器(D.
〜D7)[含む初段の増幅器(Al〜A,)]を共用し
て、複数の測距軸(β1〜β3)に沿った狭幅のパルス
光( p 12 l〜p (1 3)による複数測距を
行ない、その結果より、測距表示や自動焦点を行なうこ
とで、被写体(01〜θエ)のパターンや条件に左右さ
れにくい測距が可能になる. しかも、受光回路側の受光器(DI〜D,)数は少しし
か増えないし、回路、特にマルチブレクサ( M X 
l〜MXI1)以降の復調部が共用でき、回路はあまり
大きくならないメリットがある。
また、複数の発光器(a+〜as)の一体化や、受光器
(DI−’D?)の一体化により、調整も従来とほとん
ど変わらないメリットがある。
以上説明したように本発明によれば、異なる測距視野に
対する複数測距を行ない誤測距を防止するとともに.、
それら測距結果の近距離優先的比較により焦点調節に好
適な信号を形成する測距装置を提供することができ、そ
の有効性は極めて高いものである.
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係わる測距装置の光学的な
説明図、第2図は同上実施例のブロック回路図である。 01〜θ,・・・被写体、 81〜a,・・・発光器、 β,〜β,・・・測距軸、 pβ1〜p 12 s・・・パルス光、D,〜D,・・
・受光器、 pr  ・・・ 反射光、 MX.〜M X s・・・マルチプレクサ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、複数の測距軸を仮想し、該複数のそれぞれの測距軸
    上の物体より反射される反射光を受光するための受光手
    段と、該受光手段に応答して、前記各測距軸上の物体距
    離に対する距離信号を検出するための検出手段と、該検
    出手段により検出された前記それぞれの測距軸に対応す
    る距離信号の近距離優先的比較に基づいて焦点調節のた
    めの信号を形成する信号形成手段とを備えたことを特徴
    とする測距装置。
JP11704890A 1990-05-07 1990-05-07 測距装置 Granted JPH02290507A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2728084A1 (fr) * 1994-12-08 1996-06-14 Samsung Aerospace Ind Dispositif et procede d'affichage d'une operation de mise au point automatique
US9316495B2 (en) 2012-09-13 2016-04-19 Ricoh Company, Ltd. Distance measurement apparatus

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