JPH0229964B2 - Sunhosokuteisochi - Google Patents
SunhosokuteisochiInfo
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- JPH0229964B2 JPH0229964B2 JP2619480A JP2619480A JPH0229964B2 JP H0229964 B2 JPH0229964 B2 JP H0229964B2 JP 2619480 A JP2619480 A JP 2619480A JP 2619480 A JP2619480 A JP 2619480A JP H0229964 B2 JPH0229964 B2 JP H0229964B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 52
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/04—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
- G01B11/043—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring length
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、被測定物の光学像からその寸法を測
定する寸法測定装置に関する。
定する寸法測定装置に関する。
鋼板の圧延または検査ラインにおける被測定物
の板幅を測定する寸法測定装置としては、板端を
光学的に検出する１対の検出ヘツドをサーボ系に
より板端に追従させ、この両ヘツド位置をマグネ
スケールあるいはエンコーダで位置検出して板幅
を測定するものが知られている。
の板幅を測定する寸法測定装置としては、板端を
光学的に検出する１対の検出ヘツドをサーボ系に
より板端に追従させ、この両ヘツド位置をマグネ
スケールあるいはエンコーダで位置検出して板幅
を測定するものが知られている。
この板端追従方式では、検出ヘツド視野内に１
つ以上の板端が存在すると、検出ヘツドが所望す
る被測定物の端部に追従できず測定不能となる。
すなわち、１枚の鋼板を縦方向に裁断して複数枚
の鋼板を切り出すスリツタラインにおいては、幅
方向に４以上の複数の板端が存在することになる
ため、上記方式では測定不能となる。
つ以上の板端が存在すると、検出ヘツドが所望す
る被測定物の端部に追従できず測定不能となる。
すなわち、１枚の鋼板を縦方向に裁断して複数枚
の鋼板を切り出すスリツタラインにおいては、幅
方向に４以上の複数の板端が存在することになる
ため、上記方式では測定不能となる。
本発明は、所望する被測定物の板端がその視野
内に存在するように検出ヘツドを配置し、その視
野内に他の板材の端部がともに存在した場合、そ
の板材の視野内長さ、および板材と被測定物との
間の長さを除去して被測定物の寸法を測定するよ
うに構成した寸法測定装置を提供しようとするも
のである。
内に存在するように検出ヘツドを配置し、その視
野内に他の板材の端部がともに存在した場合、そ
の板材の視野内長さ、および板材と被測定物との
間の長さを除去して被測定物の寸法を測定するよ
うに構成した寸法測定装置を提供しようとするも
のである。
以下、本発明の一実施例につき図面を参照して
説明する。
説明する。
この一実施例では、第１図に示すように検出ヘ
ツド１０，２０の視野Wf内に被測定物３０以外
の板材４０，５０の板端がそれぞれ存在するよう
な検出ラインを例にとつて説明する。
ツド１０，２０の視野Wf内に被測定物３０以外
の板材４０，５０の板端がそれぞれ存在するよう
な検出ラインを例にとつて説明する。
検出ヘツド１０，２０は、被測定物３０の板端
をそれぞれの視野Wf内に十分捕えることができ
るような間隔Wsで配置されている。またこの検
出ヘツド１０，２０は、被測定物３０および板材
４０，５０がともに搬送されるライン上で、その
搬送方向に交叉する面内に配置されている。ま
た、このヘツド１０，２０は、それぞれ図示しな
い固体撮像素子群を内装し、これら素子群を一方
向から走査して被測定物３０の板端位置を検出す
るものである。
をそれぞれの視野Wf内に十分捕えることができ
るような間隔Wsで配置されている。またこの検
出ヘツド１０，２０は、被測定物３０および板材
４０，５０がともに搬送されるライン上で、その
搬送方向に交叉する面内に配置されている。ま
た、このヘツド１０，２０は、それぞれ図示しな
い固体撮像素子群を内装し、これら素子群を一方
向から走査して被測定物３０の板端位置を検出す
るものである。
すなわち、この検出ヘツド１０，２０は、第２
図に示す光源６０からの光線の被測定物３０およ
び板材４０，５０による遮光状態を検出するもの
である。そして、この検出ヘツド１０，２０は、
駆動回路７０により矢印ａ，ｂ方向に走査されて
いる。また、この検出ヘツド１０，２０は、レベ
ル設定器１１，２１の設定レベルとヘツド出力と
を比較して、被測定物３０と板材４０，５０との
間隙W1，W2に相当する幅信号を出力する比較器
１２，２２に接続されている。この比較器１２，
２２は、それぞれ検出ヘツド１０，２０の視野
Wf内の板材４０，５０の長さW〓1，W〓2から視野
Wf内の被測定物３０の存在しない長さW′1，W′2
を検出する回路１３，２３に接続されている。
図に示す光源６０からの光線の被測定物３０およ
び板材４０，５０による遮光状態を検出するもの
である。そして、この検出ヘツド１０，２０は、
駆動回路７０により矢印ａ，ｂ方向に走査されて
いる。また、この検出ヘツド１０，２０は、レベ
ル設定器１１，２１の設定レベルとヘツド出力と
を比較して、被測定物３０と板材４０，５０との
間隙W1，W2に相当する幅信号を出力する比較器
１２，２２に接続されている。この比較器１２，
２２は、それぞれ検出ヘツド１０，２０の視野
Wf内の板材４０，５０の長さW〓1，W〓2から視野
Wf内の被測定物３０の存在しない長さW′1，W′2
を検出する回路１３，２３に接続されている。
すなわち、この検出回路１３は、第４図に示す
ように、前記比較器１２及び駆動回路７０に接続
された板材長さ検出部１４と、この検出部１４及
び前記比較器１２に接続されたオアゲート１５と
から構成されている。この板材長さ検出部１４
は、前記駆動回路７０からの走査開始信号Spと、
前記比較器１２からの間隙W1の幅信号の立上り
信号とから前記検出ヘツド１０の視野内での板材
長さに相当する幅信号W〓1をオアゲート１５へ供
給するものである。また、前記オアゲート１５
は、この板材長さの幅信号W〓1及び前記比較器１
２からの間隙幅信号W1を後段のカウンタ１６を
介して演算回路８０へ供給するものである。
ように、前記比較器１２及び駆動回路７０に接続
された板材長さ検出部１４と、この検出部１４及
び前記比較器１２に接続されたオアゲート１５と
から構成されている。この板材長さ検出部１４
は、前記駆動回路７０からの走査開始信号Spと、
前記比較器１２からの間隙W1の幅信号の立上り
信号とから前記検出ヘツド１０の視野内での板材
長さに相当する幅信号W〓1をオアゲート１５へ供
給するものである。また、前記オアゲート１５
は、この板材長さの幅信号W〓1及び前記比較器１
２からの間隙幅信号W1を後段のカウンタ１６を
介して演算回路８０へ供給するものである。
なお、一方の検出回路１３につき説明したが、
他方の検出回路２３もこの回路１３と同様なので
その説明を省略する。
他方の検出回路２３もこの回路１３と同様なので
その説明を省略する。
演算回路８０は、予め検出ヘツド１０，２０の
間隔Ws及び各ヘツド１０，２０の視野Wfが記憶
されており、前記検出回路１３，２３からの幅信
号を受け次式から被測定物３０の幅Ｗを算出する
ものである。
間隔Ws及び各ヘツド１０，２０の視野Wfが記憶
されており、前記検出回路１３，２３からの幅信
号を受け次式から被測定物３０の幅Ｗを算出する
ものである。
Ｗ＝Ws＋Wf−（W′1＋W′2）
また、この回路８０には、前記比較回路１２，
２２からの幅信号を受け、被測定物３０と板材４
０，５０との間隙W1，W2を判別する回路９０が
接続されている。この判別回路９０は、その間隙
W1，W2が所定値と比較し、所定値以下の場合
に、前記演算回路８０に演算禁止指令を供給する
もので、被測定物３０と板材４０，５０とがオー
バラツプした場合などに誤つた測定が行なわれな
いように設けられている。
２２からの幅信号を受け、被測定物３０と板材４
０，５０との間隙W1，W2を判別する回路９０が
接続されている。この判別回路９０は、その間隙
W1，W2が所定値と比較し、所定値以下の場合
に、前記演算回路８０に演算禁止指令を供給する
もので、被測定物３０と板材４０，５０とがオー
バラツプした場合などに誤つた測定が行なわれな
いように設けられている。
また、１００は、演算回路８０に接続された表
示部で、適正な測定が成された場合にその値を表
示するメータ、あるいは前記判別回路９０から演
算禁止指令が出力されている場合を知らせる警報
器などで構成されている。
示部で、適正な測定が成された場合にその値を表
示するメータ、あるいは前記判別回路９０から演
算禁止指令が出力されている場合を知らせる警報
器などで構成されている。
次に、このように構成された一実施例の作用を
説明する。
説明する。
まず、一方の検出ヘツド１０につき説明する。
このヘツド１０の視野内には、被測定物３０及び
板材４０の各端部が間隙W1を有して存在する。
したがつて、この検出ヘツド１０は、この間隙
W1を通した光源６０の光線を検出し、その信号
を比較器１２へ供給する。この比較器１２では、
その信号を設定レベルと比較し、前記間隙W1に
相当する間隙幅信号W1を出力する。この間隙幅
信号W1は、検出回路１３へ供給される。そして、
第３図Ａの１に示すように板材４０の視野内長さ
W〓1が板材長さ検出部１４で検出される。すなわ
ち、前記駆動回路７０からの走査開始信号Spと、
前記間隙幅信号W1の立上り信号とにより視野内
長さW〓1に相当する幅信号W〓1が形成され、オア
ゲート１５へ供給される。
このヘツド１０の視野内には、被測定物３０及び
板材４０の各端部が間隙W1を有して存在する。
したがつて、この検出ヘツド１０は、この間隙
W1を通した光源６０の光線を検出し、その信号
を比較器１２へ供給する。この比較器１２では、
その信号を設定レベルと比較し、前記間隙W1に
相当する間隙幅信号W1を出力する。この間隙幅
信号W1は、検出回路１３へ供給される。そして、
第３図Ａの１に示すように板材４０の視野内長さ
W〓1が板材長さ検出部１４で検出される。すなわ
ち、前記駆動回路７０からの走査開始信号Spと、
前記間隙幅信号W1の立上り信号とにより視野内
長さW〓1に相当する幅信号W〓1が形成され、オア
ゲート１５へ供給される。
このオアゲート１５には、この幅信号W〓1及び
前記比較器１２からの間隙幅信号W1が供給され
る。したがつて、このオアゲート１５からは、両
幅信号の和であるW′1（＝W1＋W〓1）がカウンタ
１６へ出力される。つまり、前記光学ヘツド１０
の視野内の被測定物３０以外の長さに相当する幅
信号W′1がカウンタ１６を介して演算回路８０に
供給される。
前記比較器１２からの間隙幅信号W1が供給され
る。したがつて、このオアゲート１５からは、両
幅信号の和であるW′1（＝W1＋W〓1）がカウンタ
１６へ出力される。つまり、前記光学ヘツド１０
の視野内の被測定物３０以外の長さに相当する幅
信号W′1がカウンタ１６を介して演算回路８０に
供給される。
また、この演算回路８０には、他方の検出ヘツ
ド２０、比較器２２、検出回路２３そしてカウン
タ２６を通して、その視野内の被測定物３０以外
の長さに相当する幅信号W′2が供給されている。
そして、この回路８０では、 Ｗ＝Ws＋Wf−（W′1＋W′2）の式から被測定物
３０の幅Ｗを算出する。そして、この値は、後段
の表示回路１００により表示されるので、被測定
物３０の正しい板幅Ｗを知ることができる。
ド２０、比較器２２、検出回路２３そしてカウン
タ２６を通して、その視野内の被測定物３０以外
の長さに相当する幅信号W′2が供給されている。
そして、この回路８０では、 Ｗ＝Ws＋Wf−（W′1＋W′2）の式から被測定物
３０の幅Ｗを算出する。そして、この値は、後段
の表示回路１００により表示されるので、被測定
物３０の正しい板幅Ｗを知ることができる。
なお、被測定物３０と板材４０あるいは５０と
の間隙W1あるいはW2が所定値以下の場合には、
前記判別回路９０から演算禁止指令が出力される
ので、演算回路８０は演算せず、後段の表示回路
１００へ警報信号を供給する。これにより被測定
物３０と板材４０あるいは５０がオーバーラツプ
し、板端信号が検出されない状態での誤つた測定
結果が出力されることはなくなる。
の間隙W1あるいはW2が所定値以下の場合には、
前記判別回路９０から演算禁止指令が出力される
ので、演算回路８０は演算せず、後段の表示回路
１００へ警報信号を供給する。これにより被測定
物３０と板材４０あるいは５０がオーバーラツプ
し、板端信号が検出されない状態での誤つた測定
結果が出力されることはなくなる。
また、検出ヘツド１０，２０の走査方向を矢印
ａ，ｂで示した説明したがこれに限るものではな
く、共に同一方向に走査するようにしても良い。
また、被測定物３０を測定する場合について説明
したが、さらに検出ヘツドを板材４０，５０の両
端にそれぞれ配置すれば、板材４０，５０につい
ても測定することができる。この際、先の検出ヘ
ツド１０，２０と、これらヘツド１０，２０の視
野内に捕えられない各板材５０，６０の端部にそ
れぞれ検出ヘツドを設け、計４個のヘツドにより
被測定物３０、板材４０，５０を全て測定するこ
とも可能となる。すなわち、例えば板材４０の測
定信号としては、検出ヘツド１０からの信号によ
り生じる板材長さ検出部１４からの幅信号W〓1を
用いれば良い。
ａ，ｂで示した説明したがこれに限るものではな
く、共に同一方向に走査するようにしても良い。
また、被測定物３０を測定する場合について説明
したが、さらに検出ヘツドを板材４０，５０の両
端にそれぞれ配置すれば、板材４０，５０につい
ても測定することができる。この際、先の検出ヘ
ツド１０，２０と、これらヘツド１０，２０の視
野内に捕えられない各板材５０，６０の端部にそ
れぞれ検出ヘツドを設け、計４個のヘツドにより
被測定物３０、板材４０，５０を全て測定するこ
とも可能となる。すなわち、例えば板材４０の測
定信号としては、検出ヘツド１０からの信号によ
り生じる板材長さ検出部１４からの幅信号W〓1を
用いれば良い。
また、検出ヘツド視野内に被測定物以外の端部
が存在しない場合には、当然に視野内の板材長さ
に相当する幅信号W〓1あるいはW〓2が生じないの
で、何ら測定に支障をきたさないが、予めはつき
りしている場合、例えば被測定物の搬送ラインの
幅方向端部に設置する場合などには、検出回路１
３をシヨートするようにしても良い。もちろん、
その該当する一方に従来公知の方式の検出部を設
けても良いことはもちろんである。
が存在しない場合には、当然に視野内の板材長さ
に相当する幅信号W〓1あるいはW〓2が生じないの
で、何ら測定に支障をきたさないが、予めはつき
りしている場合、例えば被測定物の搬送ラインの
幅方向端部に設置する場合などには、検出回路１
３をシヨートするようにしても良い。もちろん、
その該当する一方に従来公知の方式の検出部を設
けても良いことはもちろんである。
本発明は、このように構成したので、従来のよ
うに被測定物の板端に追従できず測定不能となる
ことがなく、各視野内での被測定物の長さを確実
に検出することができ、スリツタラインのように
裁断された複数の鋼板が同一ライン上で搬送され
る場合に適用できるなどの効果を奏する。
うに被測定物の板端に追従できず測定不能となる
ことがなく、各視野内での被測定物の長さを確実
に検出することができ、スリツタラインのように
裁断された複数の鋼板が同一ライン上で搬送され
る場合に適用できるなどの効果を奏する。
図は本発明の一実施例を説明するためのもの
で、第１図は測定状態を示す概略図、第２図は回
路構成図、第３図Ａ，Ｂはパルス波形図、第４図
は第２図に示した検出回路の詳細を示す回路構成
図である。 １０，２０；検出ヘツド、１３，２３；検出回
路、１４；板材長さ検出部、１５；オアゲート、
３０；被測定物、７０；駆動回路、８０；演算回
路、９０；判別回路、１００；表示回路。
で、第１図は測定状態を示す概略図、第２図は回
路構成図、第３図Ａ，Ｂはパルス波形図、第４図
は第２図に示した検出回路の詳細を示す回路構成
図である。 １０，２０；検出ヘツド、１３，２３；検出回
路、１４；板材長さ検出部、１５；オアゲート、
３０；被測定物、７０；駆動回路、８０；演算回
路、９０；判別回路、１００；表示回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数の固体撮像素子群を直線的に配置して構
成されるとともに被測定物の対向する板端をそれ
ぞれの視野内で捕えるように配置された一対の検
出ヘツドと、 これらの検出ヘツドの固体撮像素子群を一方向
から走査する駆動回路と、 前記検出ヘツドからの検出信号を受け各ヘツド
の視野内の前記被測定物と被測定物以外の板材と
の板端の間隙の長さに相当する間隙幅信号をそれ
ぞれ出力する比較回路と、 前記駆動回路の走査開始信号および前記比較回
路からの間隙幅信号とより前記検出ヘツドの視野
内の測定すべき被測定物以外の長さに相当する幅
信号を出力する検出回路と、 この検出回路の幅信号、前記検出ヘツド間の長
さおよび各検出ヘツドの視野長さとより前記被測
定物の寸法を算出する演算回路と、 前記比較回路からの間隙幅信号が所定値以下の
場合に前記演算回路の演算を停止させる判別回路
とを具備したことを特徴とする寸法測定装置。 ２ 検出回路が、検出ヘツドの視野端から検出す
べき被測定物以外の板材の板端までの視野内長さ
を検出する検出部と、この検出部からの板材幅信
号および比較回路からの被測定物の板端と前記板
材の板端との間隙に相当する間隙幅信号とより測
定すべき被測定物以外の長さに相当する幅信号を
出力するオアゲート回路とから構成されたことを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の寸法測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2619480A JPH0229964B2 (ja) | 1980-03-04 | 1980-03-04 | Sunhosokuteisochi |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2619480A JPH0229964B2 (ja) | 1980-03-04 | 1980-03-04 | Sunhosokuteisochi |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56122904A JPS56122904A (en) | 1981-09-26 |
| JPH0229964B2 true JPH0229964B2 (ja) | 1990-07-03 |
Family
ID=12186677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2619480A Expired - Lifetime JPH0229964B2 (ja) | 1980-03-04 | 1980-03-04 | Sunhosokuteisochi |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0229964B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4570643B2 (ja) * | 2006-05-25 | 2010-10-27 | 豊田スチールセンター株式会社 | 板材幅測定システム及び板材幅測定方法 |
-
1980
- 1980-03-04 JP JP2619480A patent/JPH0229964B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56122904A (en) | 1981-09-26 |
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