JPH02304852A - 質量分析装置における試料冷却装置 - Google Patents

質量分析装置における試料冷却装置

Info

Publication number
JPH02304852A
JPH02304852A JP1125958A JP12595889A JPH02304852A JP H02304852 A JPH02304852 A JP H02304852A JP 1125958 A JP1125958 A JP 1125958A JP 12595889 A JP12595889 A JP 12595889A JP H02304852 A JPH02304852 A JP H02304852A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
target
liquid
mass spectrometer
ion source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1125958A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuji Kobayashi
達次 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP1125958A priority Critical patent/JPH02304852A/ja
Publication of JPH02304852A publication Critical patent/JPH02304852A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、−次位子ビームを試料に照射し、その衝撃で
試料をイオン化するイオン源を備えた質量分析装置にお
ける試料保持装置に関する。
[従来の技術] 上記イオン源において、液体試料をイオン化する場合に
はイオン源内に導入する前に試料を冷却した状態でイオ
ン源内に導入しなければならない。
そのために従来においては、試料を保持する試料導入プ
ローブ内に冷媒ガスを循環させて試料を冷却する試料冷
却装置が広く使用されている。
[発明が解決しようとする課題] このような試料冷却装置では、試料導入プローブ内に冷
媒ガスを循環させるための冷媒ガス往復用の2つのバイ
ブを組込むと共に、各パイプと冷媒ガス発生用タンクと
を可撓性のチューブによって接続しなければならない。
そのため、構造の複雑化かつ大型化を避けることができ
ず、しかも導入プローブの持ち運び範囲に制限があり取
扱が非常に面倒である。
そこで、本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり
、構造が簡単かつ小型で、しかも導入プローブを任意の
場所に持ち運びできる試料冷却装置を提供することを目
的とするものである。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため、本発明の試料冷却装置は真空
に保たれた筐体内に試料を保持したターゲットを導入ビ
、該導入された試料に一次粒子ビームを照射してイオン
化する質量分析装置において、前記ターゲットあるいは
その近傍に液体を保持する手段を備え、前記液体がター
ゲットと共に筐体内に導入されたとき、該液体が気化し
て試料を冷却するように構成したことを特徴とするもの
である。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳説する。
[実施例] 添付図面は本発明に係る試料冷却装置の一実施例を示す
断面図である。
図において、1はイオン源で、内部は図示外の高真空ポ
ンプにより高真空に保たれている。
2はイオン源1の内部に連通穴3を介して連通した試料
交換室で、この試料交換室とイオン源との堺部分には両
者を遮断するための仕切弁4が設けである。
5は前記イオン源1内に試料を導入するための試料導入
プローブで、一端(イオン源1側)には熱絶縁体6を介
して熱良導体製のターゲット7が固定してあり、また、
他端(大気側)にはつまみ8が設けである。
前記ターゲット7の上面には切欠部9が形成され、この
切欠部に試料10が付着される。また、この切欠部9の
反対側には凹部11が設けられ、この凹部内にグラスウ
ール12が充填されている。
13は一次粒子ビーム発生器、14は電極群である。
かかる構成において、同図中実線の状態は試料導入プロ
ーブ5を試料交換室2内に装填した、つまり液状試料1
0を付着させたターゲット7を試料交換室内にセットし
た状態を示す。このとき、ターゲット7に組込んだグラ
スウール12には予めマイクロシリンジ等によって水や
アルコール等の気化熱の大きな液体が保持されている。
この状態で、試料交換室2内を図示外の油回転ポンプに
より排気すると、グラスウールに保持された液体が圧力
の低下に伴って気化するため、その気化熱によりターゲ
ット7が冷却される。このターゲットの冷却により液状
試料10が冷却されるため、液状試料の気化によるロス
を少なくすることができる。そして、試料交換室2内の
圧力が例えば10−1〜10−2程度の圧力に到達する
と、油回転ポンプの駆動を停止させてから仕切弁4を開
放し、試料導入プローブ5を矢印F方向に移動させて同
図中点線Aで示すようにイオン源5内にセットする。こ
の状態において、−次位子ビーム発生器13からの一次
粒子ビームBを試料10.に照射すれば、その衝撃によ
りイオン化されたイオンlが電極群14を介して加速、
収束されて図示外の質量分析系に導入され質量分析され
る。
尚、試料によってはあまり冷却しすぎると、イオン化し
にくくなる場合があるため、試料に応じてグラスクール
に保持させる液体の量及び種類を選択する必要がある。
また、前述の説明は本発明の一例であり、実施にあたっ
ては幾多の変形が考えられる。例えば、液状の試料をイ
オン化する場合について述べた力(・加熱されると短時
間で気化するような試料の場合にも同様ように実施する
ことができる。
さらに、上記実施例ではグラスウールを使用した場合を
示したが、これに限定されることなく、細いワイヤを束
ねたものやステンレスの粉末を焼結して作製したフィル
タ等の多孔性物質を使用しても良い。
さらに、上記実施例ではターゲットにグラスウールを組
込んだが、ターゲット全体あるいは試料を塗布する部分
のみを多孔性部材で形成しても良し、細い穴を明けただ
けのものでも良い。
以上詳述したように本発明によれば、ターゲットに液体
を保持しその気化熱により試料を冷却するため、従来の
ように試料導入プローブ内に冷媒ガスを循環させる必要
がなくなり構造の簡略化かつ小型化を図ることができる
と共に、試料導入プローブを任意場所に持ち運びするこ
とができ取扱が容易となる。
【図面の簡単な説明】
添付図面は本発明に係る試料冷却装置の一実施例を示す
断面図である。 1:イオン源    2:試料交換室 3:連通穴     4:仕切弁 5:試料導入プローブ 7:ターゲット   9:切欠部 10:試料     11:凹部 12ニゲラスウール

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 真空に保たれた筐体内に試料を保持したターゲットを導
    入し、該導入された試料に一次粒子ビームを照射してイ
    オン化する質量分析装置において、前記ターゲットある
    いはその近傍に液体を保持する手段を備え、前記液体が
    ターゲットと共に筐体内に導入されたとき、該液体が気
    化して試料を冷却するように構成したことを特徴とする
    試料冷却装置。
JP1125958A 1989-05-19 1989-05-19 質量分析装置における試料冷却装置 Pending JPH02304852A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1125958A JPH02304852A (ja) 1989-05-19 1989-05-19 質量分析装置における試料冷却装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1125958A JPH02304852A (ja) 1989-05-19 1989-05-19 質量分析装置における試料冷却装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02304852A true JPH02304852A (ja) 1990-12-18

Family

ID=14923181

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1125958A Pending JPH02304852A (ja) 1989-05-19 1989-05-19 質量分析装置における試料冷却装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02304852A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5811820A (en) Parallel ion optics and apparatus for high current low energy ion beams
JPS63954A (ja) グロ−放電質量分析計
EP1734560B1 (en) Ionizing method and device for mass analysis
EP0202937A3 (en) Surface analysis spectroscopy apparatus
US11864303B2 (en) Air-cooled interface for inductively coupled plasma mass spectrometer (ICP-MS)
PT858096E (pt) Ionizador para utilizacao num espectrometro de massa cicloidal
JP7114426B2 (ja) 荷電粒子線装置
JPH02304852A (ja) 質量分析装置における試料冷却装置
GB1102462A (en) Improvements relating to mass spectrometer ion sources
JPS6010272Y2 (ja) 試料汚染防止装置
JP2619731B2 (ja) 脱離ガスの検出装置および方法
KR102869564B1 (ko) 원격 챔버 및 이를 이용한 dart-ms 시스템
JP2675064B2 (ja) 質量分析装置用イオン源
JPH0332630B2 (ja)
JPS61225748A (ja) ガスフエ−ズイオン源
JPS6139400A (ja) 粒子加速器の放出源の交換方法及び装置
Honig The Technique of Bombarding Organic Compounds with Deuterons
JP3345490B2 (ja) グロー放電発光分光分析装置
SU1718299A1 (ru) Высокотемпературна чейка
JPH0943174A (ja) プラズマエッチング装置を備えた表面分析装置
JP2728417B2 (ja) マイクロ波加熱型蒸発炉付イオン源
JP2024512894A (ja) 遠隔チャンバ及びそれを用いたdart-msシステム
JPH02123638A (ja) 軽元素イオン源
JPS61219790A (ja) 粒子線エピタキシヤル装置
Marcus et al. A high vacuum large volume specimen chamber for an electron microscope