JPH02307942A - 経糸群の開口不良検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、織機における経糸群の開口不良検出装置に関
する。

［従来の技術］ 経糸切断等により生じる経糸群の開口不良を検出するた
めに、従来より各種の開口不良検出装置が提供されてい
るが、その−〇として本出願人により出願された特開昭
６３〜１／１５４５２号公報の装置かある。

この経糸群の聞Ｉ」不良検出装置は、所定周期で開閉す
る織機の経糸れＹに検査光を放射し、経糸群の開口動作
により変調された検査光を光電変換して変調信号を求め
、求めた変調信号を所定のしきい値レベルを基準として
２値化し、得たパルス信号のデユーティ比の変動から経
糸群の開口不良を検出するように回路が構成されている
。

この経糸群の開口不良検出装置は、経糸群の開口不良に
より変化する経糸群の開口バタン変化をパルス信号のデ
ユーティ比の変化に変換しているので、開口の程度を精
度良く検出することができ、正常開口〈第５図参照）と
、経糸のからみ等で牛じる開口角最小の開口不良（第７
図参照）とを確実に判別できる他、各種原因で生じる不
完全問口（第６図参照）と上記開口不良（第７図参照）
とを判別することもできる。

［発明が解決しようとする課題］ 一般の織成においては経糸の色や太さなどを頻繁に変更
する場合があり、当然、経糸群の開口バタンから得られ
る変調信号波形は経糸の変更毎に一々変化する。

しかしながら、上記した経糸群の開口不良検出装置では
、２値化のためのしきい値レベルは、例えばハイレベル
側のスライスレベルとローレベル側のスライスレベルと
の間の中間値のごとき所定値に設定されているので、変
調信号波形の変動具合によっては、正常開口時及び開口
不良時におけるパルス信号のデユーディ比の差が減少し
、極端な例では開口不良発生にもかかわらずそれを判別
できない場合があった。更に、織布幅の変更や適用織機
の変更によっても、同じ理由ににす、正常開口時及び開
口不良時におけるデユーティ比の差が減少する場合があ
った。

なお、経糸を代える毎に２値化のためのしきい値レベル
を最適レベル、ずなわら最もデユーティ比変化が大きい
レベルに一々調整したり、織布幅や織機機種の変更毎に
しきい値レベルを調整すれば、上記問題を克服すること
ができる。しかしながら、このような解決策は面倒であ
り、実用的でなかった。

本発明は、上記事情に鑑みて案出されたものであり、糸
質ヤ織Ｖ５幅などの変更にもかかわらず無調整で高い検
出精度が得られる経糸群の開口不良検出装置を提供する
ことを解決すべぎ課題としている。

［課題を解決するための手段］ 本発明にかかる経糸群の開口不良検出装置は、所定周期
で開口する織機の経糸群に検査光を放射する送光装置と
、前記経糸群の開口により変調された前記検査光を光電
変換して変調信号を出力する受光装置と、前記変調信号
を２値化してパルス信号に変換する２値化手段と、前記
パルス信号に含まれる時間軸情報に塞づいて経糸群のか
らみ事故を検出する開口不良判別手段とを備える経糸群
の開口不良検出装置において、前記２値化手段は、前記
変調信号から疑似直流レベルを抽出し、抽出した疑似直
流レベルから所定量だけレベルシフトしたしきい値レベ
ルを出力するしきい値回路と、前記しきい値レベルによ
り前記変調信号を２値化する比較回路とからなることを
特徴としている。

送光装置は、発光ダイオード、レーザーダイオード等か
らなる発光素子をもつことができ、発光素子は連続作動
でもよく、所定の周波数で変調されてもよい。受光装置
は、フォトダイオード、フォトトランジスタ等からなる
光電変換素子をもつことができる。

受光装置から出力される変調信号は、周期が一定である
経糸群の開口動作により変調されて、正常開口時及び開
口不良時にかかわらず一定周期で変調される。開口不良
時の開口角は正常開口時のそれよりも挟角となる。なお
、第６図に示す不完全問口は開口不良（第７図参照）と
同じ状態とみなしてもにり、正常１；旧］（第５図参照
）と同じ状態とみなしてもよく、又は、この不完全開口
を正常開口及び開口不良とは独立に判別してもよい。

また、正常開口時の受光量に対する開口不良時の受光ｍ
は、開口における検査光の位置、及び透過光を受光する
か反則光を受光するかで変化するが、これらの条件変化
に伴う受光量の変化特性は簡単にわかるので、以下の説
明では検査光が開口の中心領域を透過する場合を代表例
とじて説明する。この場合には、受光量は正常開口時に
り開口不良時に減少する。

パルス信号の時間軸情報として、パルス幅及びパルス間
隔のどちらでもよく、又は両方を用いてもＪ：い。更に
、パルス周期は織機の回転速度に規定゛されて実際には
ほぼ一定であるので、パルス幅として又はその代りとし
てデユーティ比を用いてもよい。

変調信号の疑似直流レベルは直流成分及び非常に低域の
交流成分を含み、外部環境、回路特性、糸質などに基因
する長期的な変動成分を含む。

疑似直流レベルからのレベルシフト■は適宜設定される
が、場合によってはＯでもよい。

［作用］ 経糸群の正常開口及び開口不良により経糸群の開口バタ
ンが変化し、この開口バタンの変化は変調信号波形を変
化させる。２値化手段はこの変調信号波形の変化に応じ
て変調されたパルス信号を創成し、開口不良判別手段は
このパルス信号に含まれる時間軸情報に基づいて正常開
口と開口不良とを判別する。

２値化手段のしきい値回路は、変調信号の疑似直流レベ
ルを抽出し、この疑似直流レベルから所定俗だけレベル
シフトした疑似直流値レベルが合成される。合成された
疑似直流レベルは２値化手段に入力されて変調信号を２
伯化するためのしきい値となされ、変調信号がパルス信
号に変換される。

したがって、糸質や織布幅が変動すると、疑似直流レベ
ルから所定間だけレベルシフトしたしきい値レベルが変
調信号のレベル変動に追従するので、常に安定した精度
で正常１１旧」と］；旧」不良との判別が可能となる。

［実施例］ （実施例１） 本発明の経糸群の開口不良検出装置の一実施例を第１図
に示す。

この経糸群の開口不良検出装置は、所定周期で開口する
織機の経糸群Ｆに検査光りを放射する送光装置１と、経
糸群「の開口（第５図〜第７図参照）により変調された
検査光りを光電変換して変調信号３　ｎを出力する受光
装置２と、変調信号Ｓｎを予備処理する前置処理回路３
と、予備処理された変調信号３ｎを２値化してパルス信
号Ｓｐに変換する２値化手段４と、パルス信号Ｓｐに含
まれる時間情報に基づいて開口不良を判別するマイコン
（開口不良判別手段）５と、マイコン５により制す１１
されるインディケータ６とからなる。

送光装置１は発光ダイオード（図示せず）と、この発光
ダイオードから出力される検査光りのビーム径を１０−
２５φとするためのレンズ系（図示せず）と、この発光
ダイオードに約１０ｋＨｚのキャリア周波数で変調され
た発光電力を供給する交流電力源（図示せず）とからな
り、受光装置２は負倚抵抗（図示せず〉を介して一定の
電源電圧を供給される集束レンズ付の受光ダイオードか
らなる。送光装置１及び受光装置２は経糸群Ｆを挟んで
対向するように織機（図示Ｕず）に配設されており、送
光装置１から出力された検査光りは経糸群Ｆの扇形開口
断面の付根近傍の中心領域（第５図〜第７図参照）をｖ
４通して受光装置２により受光される。受光装置２の出
力端から出力される変調信号５ｒｉ（第２図参照）は前
置処理回路３で予備的に前＠処理された債、２値化手段
４に送られる。

すなわち、変調信号３ｎは増幅回路３ａで増幅（若しく
は同調増幅）された後、帯域フィルタ３ｂでキャリア周
波数及びその近傍の周波数領域が抽出される。これによ
り、上記必要帯域成分以外のノイズが除去される。この
必要帯域成分にリップル成分やノイズ成分などが重畳さ
れて合成された過大なハイレベル電圧値及び過少なロー
レベル電圧値はリミッタ３Ｃでカットされる。リミッタ
３Ｃは例えば信号線と接地線との間に接続された逆並列
ダイオードで構成されている。リミッタ３Ｃで重畳ノイ
ズが除去された必要帯域成分は検波回路３ｄで検波され
、低域フィルタ３ｅで無用な高域成分がカットされてそ
の低域成分だけが変調信号３ｍとして抽出される。なお
、この実施例では帯域フィルタは８　Ｋ　）−Ｉ　Ｚ〜
１２ＫＨ２程度の通過帯域をもつ。低域フィルタ３ｅの
遮断周波数は１　Ｋ　ｌ−Ｉ　Ｚ程度に設定されている
。

２値化手段４は、数＋Ｈｚ＆度の通過帯域をもつ低域フ
ィルタ４１及びレベルシフト回路４２からなるしきい値
回路４ａと、］ンバレータ４ｂとからなる。すなわら、
変調信号３ｍ中の疑似直流成分（正確には、例えば数−
１−ｌ−１ｚ以下の非常な低域成分）が低域フィルタ４
１にて抽出される。この疑似直流成分は糸質や織布幅の
変更により不可避的に生じる極低周波成分を含んでいる
。なＪ３、低域フィルタ４１の遮断周波数を商用周波数
以上とすれば照明器具のフリッカ成分をコンパレータ４
ｂで除去できるので右利である。低域フィルタ４１から
出力された疑似直流成分はレベルシフト回路４２により
所定量だけレベルシフトされてしきい値電圧ｖｔｈに変
換される。レベルシフト回路４２としては定電圧ダイオ
ードやショク１〜キダイオードを用いた周知の回路構成
が採用できる。

なお、ここでは、しきい値電圧ｖｔｈがほぼ変調信号Ｓ
ｎの中間値となるように、各回路定数が設定されている
。この回路室！！定では第６図に示す不完全問口は正常
開口側に区別される。コンパレータ４ｂは変調信号Ｓｍ
を２値化してパルス信号Ｓｐに変換し判別論理回路５に
入力する。

判別論理回路５は、マイコンで構成されており、入力さ
れたパルス信号Ｓｐのパルス幅τとパルス周期下とを求
め、次にデユーティ比τ／Ｔを求める。すなわち、判別
論理回路５は第２図に示す隣接の立ち上がりエツジＥｕ
、１．−ｕ間の時間をカウントしてパルス周期−「を求
め、次に、立ち上がりエツジＦｕとそれに続く立ち下が
りエツジＥｄとの間の時間をカウントしてパルス幅τを
求め、次にデユーティ比τ／Ｔを計葬し、次にデユーテ
ィ比τ／Ｔが予め設定された基準しきい値より小ざい場
合に開口不良としてインディケータ６を点灯し、同時に
織機の駆動−Ｅ−タを停止ざＶる。

なお、上記判別論理回路５を構成するマイコンのフ［１
−チャートは次に説明する第２実施例のものと基本的に
同じであるので、図示説明を省略ｌる。

本実施例において、変調信号３ｍは、正常開口１５に経
糸群の開閉に対応した波形Ｓｍ１（第２図参照）を示す
が、経糸群の開口不良が発生するとカラミにより振幅が
小さい波形Ｓｍ２（第２図参照）を示す。

また、上記実施例では、第６図に示１不完全開口を正常
開口に区分しているが、しきい値Ｖ　ｔ　ｉｌを調整す
ればそれを開口不良とみなすこともでき、また、新たに
しきい値電圧ｖｔｈを設ければ、正常開口、不完全問口
、開口不良を判別することもできる。

（実施例２） 本発明の経糸群の開口不良検出装置の他の実施例を第３
図に示す。

この経糸群の開口不良検出装置は、送光装置１と、受光
装置２と、受光装置２から出力された変調信号Ｓｍの低
域成分を抽出する低域フィルタ３ｄと、抽出された低域
成分をＡ／Ｄ変換して変調信＠ｓｎ”を出力するＡ／Ｄ
コンバータ７と、変調信号５ｒ）−を演韓して開口不良
を判別するマイコン（開口不良判別手段）８と、マイコ
ン８により制御されるインディクータロとからなる。

マイコン８の動作を第１図のフローチャートで説明する
。

まず、初期設定しく５１００）、変調信号Ｓｎ−を読込
む（Ｓ１０２＞。その後、周期的に割込みルーチン５２
００を実行し、変調信号３ｎ−を定期的に読込む。

次に、変調信号Ｓｎ−がしきい値Ｔ　ｈ　Ｊ：り大きい
かどうかを調べ（Ｓ１０４）、Ｓｎ”＞Ｔｈである場合
に３１０６に進んでマイコン内蔵のカウンタＡ、Ｂをス
ターｉ〜させる（Ｓ１０６）。しきい値Ｔｈは平均値Ｍ
＋レベルシフト値ΔＸであり、平均＋１ｆｆＭは現時点
から１秒前での期間に入力された変調信号Ｓｍの平均値
（実施例１でいう疑似直流成分〉である。ただし、運転
初期にはその前の運転停止直前の平均値Ｍｘを記憶して
おいて平均値Ｍとして使用する。更に、停電その伯の理
由にＪ：り平均値Ｍｘが所定範囲外の数値となる場合に
は、予め設定した所定の平均値ＭＣを平均ｆｉｏ、　Ｍ
として用いる。

また、レベルシフ１〜（直ΔＸは予めマイコン８に記憶
された所定値であり、カウンタＢはパルス周期を計測す
るカウンタであり、カウンタΔはパルス幅をｉｌ測する
カウンタである。

次に、変調信号３ｎ−がしきい値Ｔ　ｈ以下がどうかを
調べ（３１，０８）、以下であれば、カウンタＡをスト
ップする（３１１０）。

次に、変調イム号ＳＮ−が再びしきい値Ｔｈより大きい
かどうかを調べ（Ｓ１１２＞、大きければ、カウンタＢ
をス１〜ツブしく５１１４）、デューティ比Ａ／Ｂを計
節する（Ｓ１１６）。

次に、デユーティ比Ａ／Ｂが、予めマイコン８に吉込ま
れている所定値Ｒ以上かどうかを調べ（３１１８）、デ
ユーディ比Ａ／Ｂが所定値Ｒより小さければ開口不足と
して警報信号をインディケータ６に出力する（８１２６
）。また、デユーティ比△／Ｂが所定値Ｒ以上であれば
正常開口であるとして新たな平均値Ｍを粋出しく５１２
０＞、新たなしきい値Ｔｈ−平均値Ｍ＋レベルシフト値
ΔＸを咋出しく３１２２）、更に発光装置１に発光出力
制御信号を出力する。なお、この発光出力制御信号は、
１時間の間に入力された変調信号Ｓｎ−を平均してその
逆数を求めたものであり、発光装置１はこの逆数に比例
して発光する。ただし、織機の運転を開始して最初の１
時間は、直前の運転期間の最後の１時間に求められた上
記逆数に比例して発光装置１は発光するものとし、更に
、上記逆数が所定範囲を逸脱する場合には予め設定した
値が発光出力制御信号ＳＬとして発光装置１に出力され
る。

その後、Ｓｌ　０６にリターンして再びルーチンを実行
する。

上記説明した各実施例の検出装置は、回路構成及び取付
設定及び調整が簡易であり、且つｉ機の回転速度にも無
関係である。又、光電効果を利用しているため、織キズ
等を発生させることなくウォータールーム、エアルーム
、レピアルーム、スル・−リ“−ルーム、シＶツ１〜ル
ルーム等あらゆる織機に設置できる。

尚、実験及び実装テストによれば、ジャカード織りでｓ
ｏｒｐｍ以下の回転のルームでもエアジェツトルームの
ように７０Ｏｒｐｍ以上の回転のｆｌｉ機でも、又、受
光素子、発光素子に水）丙が飛来するウォータージェッ
トルームでも、ざらに、５デニールという極細糸や２〜
３φの毛布のような太糸の糸使いでも、確実に光切断が
検出できた。

又、静電気、電気スパイクノイズ、雰囲気湿度変化、塵
埃、風綿水滴等にも影響されず、経糸群の巽常を検出し
冑だ。

［発明の効果］ 以上、述べたＪ：うに本発明の経糸群の開口不良検出装
置は、２値化手段が変調信号の疑似直流成分から所定値
だけレベルシフトしたしきい値により変調信号を２値化
しているので、糸質の変更、織イロ幅の変更、織閤の機
種変更などにもかかわらず、判別精度が劣化するのを防
止し、無調整でも常に確実に経糸群の間１］不良を検出
することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例を示すブロック図、第２図
はその各部の信号波形図、第３図は本発明の第２実施例
を示すブロック図、第４図は第２実施例のフローチャー
ト、第５図は織機の経糸群の正常開口を示す模式図、第
６図は経糸１１￥の不完全開口を示す模式図、第７図は
経糸群の開口不良を示す模式図である。 １・・・送光装置　　　　２・・・受光装置４・・・２
舶化手段　　　４ａ・・・しぎい値回路４ｂ・・・比較
回路　　　５・・・開口不良判別手段第２図 Ｅｕ　　　　　　　ヒＵ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）所定周期で開口する織機の経糸群に検査光を放射
   する送光装置と、前記経糸群の開口により変調された前
   記検査光を光電変換して変調信号を出力する受光装置と
   、前記変調信号を２値化してパルス信号に変換する２値
   化手段と、前記パルス信号に含まれる時間軸情報に基づ
   いて経糸群のからみ事故を検出する開口不良判別手段と
   を備える経糸群の開口不良検出装置において、 前記２値化手段は、前記変調信号から疑似直流レベルを
   抽出し、抽出した疑似直流レベルから所定量だけレベル
   シフトしたしきい値レベルを出力するしきい値回路と、
   前記しきい値レベルにより前記変調信号を２値化する比
   較回路とからなることを特徴とする経糸群の開口不良検
   出装置。