JPH02308438A - 出射光の光強度検出構造 - Google Patents

出射光の光強度検出構造

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JPH02308438A
JPH02308438A JP1128462A JP12846289A JPH02308438A JP H02308438 A JPH02308438 A JP H02308438A JP 1128462 A JP1128462 A JP 1128462A JP 12846289 A JP12846289 A JP 12846289A JP H02308438 A JPH02308438 A JP H02308438A
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JP
Japan
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light
emitted
emitted light
reflected
light intensity
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JP1128462A
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English (en)
Inventor
Hiroaki Nishikuma
西隈 弘明
Shuichi Hoshino
秀一 星野
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NHK Spring Co Ltd
Original Assignee
NHK Spring Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ 〈産業上の利用分野〉 本発明は、被照射体に向けて光源から発せられた出射光
の光強度を検出するための出射光の光強度検出構造に関
する。
〈従来の技術〉 従来、例えば光学式記録媒体としての光ディスクの記録
面に収束光を照射すると共に、その反射光を検出するこ
とにより、記録及び再生を行うようにした光学式情報記
録再生装置がある。この装置では、光ディスクの記録ト
ラックに対する光学ヘッドのフォーカシング及びトラッ
キングの各エラーを検出して、光学ヘッドの位置制御を
行うと共に、その検出光により情報の再生を行っている
上記装置としては、第6図に示されるように、光源とし
ての半導体レーザ31がら発せられる出射光32の光路
中に偏光ビームスプリッタ33を配置しており、光磁気
記録再生装置の場合にはカー効果によりデータの再生を
行うため、偏光ビームスプリッタ33には、P偏光成分
の透過率が60〜80%程度でありかつS偏光成分の反
射率が100%であるものが用いらている。図示されな
い光磁気ディスクからの反射光34が、図の破線により
示されるように左方から偏光ビームスプリッタ33内に
入射するが、反射光34の一部が、偏光ビームスプリッ
タ33内にて出射光32の光路とは異なる向きに変向さ
れて、偏光ビームスプリッタ33の図に於ける下面から
下方に向けてデータ検出光35として出射される。その
データ検出光35の光路−ヒには、上記したフォーカシ
ング及びトラッキングの各エラーの検出並びにデータ再
生のための測光センサ36が配置されている。
ところで、記録やデータ再生時には、適切な光強度をも
って光磁気ディスクに対して照射するべく出射光32の
光強度を検出することが必要であるが、半導体レーザ3
1内に設けられた図示されない公知形式のモニタ用フォ
トダイオードにより出射光32の光強度を検出すること
ができる。しかしながら、偏光ビームスプリッタ33内
を通過する反射光34の残りが、反射光34及び出射光
32の両光路が互いに一致していることから、半導体レ
ーザ31内に入射するため、その入射光をもモニタ用フ
ォトダイオードにより検出してしまうため、出射光32
の光強度のみを検出することができない。
また、偏光ビームスプリッタ33にて図に於ける上方に
向けて変向された出射光32の一部を検出することによ
り、出射光32の光強度を検出することができ、その変
向された出射光32の一部からなる検出光37の光路」
二に光強度検出器38を配置すれば良い。しかしながら
、その光強度検出器38の受光面としてのケーシングに
設けられたガラスカバー39の表面及びケーシング内に
設けられたフォトダイオード41の受光面にて検出光3
7が反射する。これら反射光40が、図の想像線により
示されるように、検出光37の光路と一致するデータ検
出光35の光路上に配置された測光センサ36に入射す
ることになる。従って、測光センサ36により検出する
各エラー検出信号及び再生信号に対するノイズとなって
、各信号の劣化が生じる虞れがあるため、」二記ノイズ
を除去することが望ましい。
〈発明が解決しようとする課題〉 このような従来技術の問題点に鑑み、本発明の主な目的
は、光検出器の受光面からの反射光による他の光学素子
に対する悪影響を防止し得る出射光の光強度検出構造を
提供することにある。
[発明の構成] 〈課題を解決するための手段〉 このような目的は、本発明によれば、被照射体に向けて
光源から発せられた出射光の一部を異なる向きに変向さ
せるための変向手段と、前記出射光の光強度を検出する
べく前記変向された出射光の光路中に配置された光検出
器とを有する出射光の光強度検出構造に於て、前記光検
出器の受光面が、前記変向された出射光の光軸に直交す
る面に対して傾けられていることを特徴とする出射光の
光強度検出構造を提供することにより達成される。
また、前記光検出器を支持する支持体が、前記変向され
た出射光を通すための通孔と、前記受光面からの反射光
が前記通孔内を逆行する向きに進むことを阻止するべく
前記通孔の内壁面に設けられた反射阻止手段とを有する
と良い。
〈作用〉 このようにすれば、光検出器の受光面からの反射光が、
検出光の光路とは異なる向きに向かうため、検出光の光
路上にある他の光学素子に対して悪影響を及ぼすことを
防止することができる。
〈実施例〉 以下、本発明の好適実施例を添付の図面について詳しく
説明する。
第1図は、本発明が適用された光磁気記録再生装置の要
部を示す模式図である。第1図に示されるように、光源
としての・半導体レーザ1から図示されない光磁気ディ
スクに向けて発せられた出射光2の光路上には、コリメ
ータレンズ3及び偏光ビームスプリッタ4が配設されて
いる。
偏光ビームスプリッタ4を通過した出射光2は、光磁気
ディスクにて反射して反射光5となって、図の破線によ
り示されるように偏光ビームスプリッタ4内に入射する
。光磁気記録の場合にはカー効果により信号を読み取る
ため、偏光フィルム6には一般にP偏光成分の透過率が
60〜80%でありかつS偏光成分の反射率が100%
のものを用いており、P偏光成分の一部とS偏光成分と
が、偏光ビームスプリッタ4内に対角位置に配設された
偏光フィルム6にて反射される。従って、反射光5の一
部は、偏光ビームスプリッタ4内に於て偏光フィルム6
により向きを変向されて、偏光ビームスプリッタ4の図
に於ける下面から下方に向けてデータ信号検出光7とし
て出射する。
このデータ信号検出光7の光路上には集光レンズ8及び
測光センサ9がそれぞれ同軸的に配設されており、デー
タ信号検出光7を集光レンズ8により測光センサ9に収
束させて、フォーカシング及びトラッキングの各エラー
の検出並びにデータの検出を行うようになっている。
ところで、出射光2の一部が、前記と同様に偏光フィル
ム6にて光路を変向されて、偏光ビームスプリッタ4の
図に於ける上面から上方に向けて検出光11として出射
する。この検出光11の光路上には集光レンズ12及び
受光素子しての光強度検出器13が配設されており、検
出光11を光強度検出器13に収束させて、出射光2の
光強度を検出する。光強度検出器13の検出値をリード
線14から図示されない制御回路に出力することにより
、半導体レーザ1の出力を監視して、出射光2の光強度
を適切に制御することができる。
上記した光強度検出器13は、図に良く示されるように
キャンパッケージタイプからなり、そのケーシング15
内の図示されないベースに固定されたフォトダイオード
17と、そのフォトダイオード17に向けて検出光11
を通過させるためのガラスカバー16とを有する。この
光強度検出器13の受光面としてのガラスカバー16の
入射面及びフォトダイオード17の受光面が、検出光1
1の光軸に対して直交する面に対して傾くように、光強
度検出器13が支持部材18に取付けられている。その
ため、ガラスカバー16の入射面からの反射光19と、
検出光11のフォトダイオード17の受光面からの反射
光20とが、それぞれ図の想像線により示されるように
検出光11の光軸とは異なる向きに反射するため、上記
各反射光19.20が、検出光11の光路と一致するデ
ータ信号検出光7の光路上を通って測光センサ9にノイ
ズとして混入することを容易に防止できる。
光強度検出器13には、前記したキャンパッケージタイ
プのみならず、例えば第2図に示されるようにプラスチ
ックモールドタイプの光強度検出器21を用いることか
できる。この第2の実施例では、前記実施例と同様の部
分については同一の符号を付してその説明を省略するが
、図に良く示されるように検出光11の光軸に直交する
面に対して光強度検出器21の入射面22が傾斜して形
成されていると共に、フォトダイオード17も傾斜して
モールドされている。従って、前記と同様に、各反射光
19.20が検出光11の光路−1−を通って測光セン
サ9に入射することを防止できる。
また、プラスチックモールドタイプの光強度検出器21
では、ケーシングの形状を自由に形成することができる
ため、第3図に示されるように、入射面22をフォトダ
イオード17とは反対向きに傾斜するように形成しても
良い。この場合にも、各反射光19.20が、図に示さ
れるように互いに異なる向きに反射して、前記と同様に
測光センサ9に入射することを防止できる。
第4図は、光磁気記録再生装置の光学ヘッドの本体23
に支持部材18を介して固定されたプラスチックモール
ドタイプの検出器21が示されている。この実施例では
、第1の実施例と同様に検出器21が傾いて取り付けら
れているが、本体23には検出光11を通すための通孔
24が設けられていると共に、通孔24の光強度検出器
21側の開口部には、検出光11の光束を通し得る程度
の開口面積を残すように形成された内向突設部25が設
けられている。このようにすることにより、光強度検出
器21からの各反射光19.20が内向突設部25によ
り阻止されるため、反射光19.20が、通孔24の内
壁面を反射するなどして逆向きに進んで測光センサ9に
達することを好適に防止できる。また、第5図に示され
るように、通孔24の内壁面にねじ山形状を成す複数の
突部26を形成しても良く、この場合にも第4図に示し
た実施例と同様の効果がある。また、上記実施例に示し
たように通孔24の内壁面に何等かの凸状部を設けるこ
とに限ることなく、例えば反射率の極めそ低い塗料を通
孔24の内壁面に塗布するなどしても良い。
このように、例えば光磁気記録再生装置に於て、トラッ
キング及びフォーカシングの各エラー並びにデータ検出
用の測光センサ9と、出射光2の光強度を検出するため
の光強度検出器21とが、偏光ビームスプリッタ4を介
して相対する位置に配置されている場合に、光強度検出
器21の受光面からの反射光が、ノイズとして各検出信
号に混入することを防止できるため、安定した位置制御
を行うことができると共に、データ信号の対ノイズ比を
向上し得る。
[発明の効果コ このように本発明によれば、光強度検出器からの反射光
が、光強度検出器に向かう光路を通って他の光学素子に
達することを防止して、他の光学素子に対する悪影響を
防止できる光強度の検出構造を、簡単な構造により形成
しかつ低廉化し得るため、その効果は極めて大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、光磁気記録再生装置に適用された本発明に基
づく出射光の光強度検出構造の要部を示す模式図である
。 第2図は、第2の実施例を示す図である。 第3図は、第3の実施例を示す第2図と同様の図である
。 第4図は、第4の実施例を示す図である。 第5図は、第5の実施例を示す第4図と同様の図である
。 第6図は、従来の実施例を示す模式図である。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被照射体に向けて光源から発せられた出射光の一
    部を異なる向きに変向させるための変向手段と、前記出
    射光の光強度を検出するべく前記変向された出射光の光
    路中に配置された光検出器とを有する出射光の光強度検
    出構造に於て、 前記光検出器の受光面が、前記変向された出射光の光軸
    に直交する面に対して傾けられていることを特徴とする
    出射光の光強度検出構造。
  2. (2)前記光検出器を支持する支持体が、前記変向され
    た出射光を通すための通孔と、前記受光面からの反射光
    が前記通孔内を逆行する向きに進むことを阻止するべく
    前記通孔の内壁面に設けられた反射阻止手段とを有する
    ことを特徴とする請求項1に記載の出射光の光強度検出
    構造。
JP1128462A 1989-05-22 1989-05-22 出射光の光強度検出構造 Pending JPH02308438A (ja)

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JP1128462A JPH02308438A (ja) 1989-05-22 1989-05-22 出射光の光強度検出構造
US07/399,710 US5126988A (en) 1989-05-22 1989-08-25 Optical head structure

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JP1128462A JPH02308438A (ja) 1989-05-22 1989-05-22 出射光の光強度検出構造

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008209266A (ja) * 2007-02-27 2008-09-11 Yokogawa Electric Corp 双方向光モジュールおよび光パルス試験器

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61208644A (ja) * 1985-03-13 1986-09-17 Sharp Corp 光学ヘツド
JPS6381636A (ja) * 1986-09-26 1988-04-12 Olympus Optical Co Ltd 光学式ピツクアツプ

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