JPH04324132A - 出射光の光強度検出構造 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被照射体に向けて光源
から発せられた出射光の光強度を検出するための出射光
の光強度検出構造に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光学式記録媒体としての光ディス
クの記録面に収束光を照射すると共にその反射光を検出
することにより、記録及び再生を行うようにした光学式
情報記録再生装置がある。例えば光磁気記録再生装置の
場合、図６に示されるように、光源としての半導体レー
ザ５１から発せられる出射光５２の光路中に、Ｐ偏光成
分の透過率が６０〜８０％程度であり、かつＳ偏光成分
の反射率が１００％である偏光ビームスプリッタ５３が
配置されている。図示されない光磁気ディスクからの反
射光５４が、図の破線により示されるように左方から偏
光ビームスプリッタ５３内に入射すると、その一部が偏
光ビームスプリッタ５３内にて出射光５２の光路と例え
ば９０゜異なる向きに変向されて偏光ビームスプリッタ
５３の図に於ける下面から下方に向けてデータ検出光５
５として出射する。そのデータ検出光５５の光路上には
、上記光磁気ディスクに対向する対物レンズのフォーカ
シング及びトラッキングの各エラーの検出並びにデータ
再生のための測光センサ５６が配置されている。

【０００３】一方、データ記録やデータ再生時には、適
切な光強度をもって光磁気ディスクに対して出射光５２
を照射するべく該出射光５２の光強度を検出することが
必要である。そこで、偏光ビームスプリッタ５３にて図
に於ける上方に向けて変向された出射光５２の一部から
なる強度検出光５７の光路上に光強度検出器５８を配置
し、その強度を検出することで出射光５２の光強度を検
出すれば良い。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、その光
強度検出器５８の受光面にて強度検出光５７が反射する
。この反射光６０が、図の想像線により示されるように
、強度検出光５７の光路と一致するデータ検出光５５の
光路上に配置された測光センサ５６に入射して測光セン
サ５６により検出する各エラー検出信号及び再生信号に
対するノイズとなる心配があった。

【０００５】そこで、例えば特開昭６２−１２４６４１
号公報には、上記同様の強度検出光を収束光とすると共
にその光軸に直交する方向に対して光強度検出器の受光
面を傾斜させた構造が開示されている。この構造によれ
ば光強度検出器の受光面に於ける入射光と反射光との光
軸が一致しないことから上記ノイズをある程度除去する
ことができる。しかしながら、上記したような光強度検
出器は受光面積を確保するべく比較的幅方向に大きくな
っており、かつ実際に光強度検出器の受光面からの反射
光を完全に測光センサに入射しないようにするためには
光強度検出器の受光面を著しく傾斜させなければならな
いことから、光強度検出器が強度検出光の光軸方向に突
出し装置全体が大型化しがちであった。また、側光セン
サとと光強度検出器との距離を長くすれば上記受光面の
傾斜角は小さくできるが、装置を小型化することはでき
ない。更に、上記強度検出光をプリズム、ミラー等の光
学素子により再度変向させた後、光強度検出器にて受光
するようにすれば、光の変向方向によってはスペース効
率が向上して装置を小型化できるが、部品点数が増加し
、構造が複雑化して組付け作業性が低下する問題がある
。

【０００６】このような従来技術の問題点に鑑み、本発
明の主な目的は、光強度検出器の受光面からの反射光に
よる他の光学素子に対する悪影響を防止し得ると共に大
型化、複雑化することのない出射光の光強度検出構造を
提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上述した目的は本発明に
よれば、被照射体に向けて光源から発せられた出射光の
一部を検出光として第１の方向に変向させるための変向
手段と、前記出射光の光強度を検出するべく前記検出光
の強度を検出する光強度検出器とを有する出射光の光強
度検出構造に於て、前記第１の方向に変向された前記検
出光を更に第２の方向に変向させると共に収束させる光
学素子が配置され、前記光検出器の受光面が、前記第２
の方向に変向された前記検出光の光軸に直交する方向に
対して傾斜することを特徴とする出射光の光強度検出構
造を提供することにより達成される。

【０００８】

【作用】このようにすれば、光強度検出器の配置自由度
が高くなると共に受光面からの反射光が強度検出光の光
路とは異なる方向に向かう。また強度検出光を収束光と
することで光強度検出器の受光面を小さくできる。

【０００９】

【実施例】以下、本発明の好適実施例を添付の図面につ
いて詳しく説明する。図１は、本発明が適用された光磁
気記録再生装置の要部を示す模式図である。図に示され
るように、光源としての半導体レーザ１から図示されな
い光磁気ディスクに向けて発せられた出射光２の光路上
には、コリメータレンズ３及び偏光ビームスプリッタ４
が配設されている。

【００１０】半導体レーザ１からコリメータレンズ３を
介して平行光として偏光ビームスプリッタ４に入射し、
かつ通過した出射光２は、光磁気ディスクにて反射して
反射光５となって、図の破線により示されるように偏光
ビームスプリッタ４内に入射する。Ｐ偏光成分の一部と
Ｓ偏光成分とが、偏光ビームスプリッタ４内に対角位置
に配設された偏光フィルム６にて反射される。ここで、
光磁気記録の場合にはカー効果により信号を読み取るた
め、偏光フィルム６には一般にＰ偏光成分の透過率が６
０〜８０％でありかつＳ偏光成分の反射率が１００％の
ものが用いられている。従って、反射光５の一部は、偏
光ビームスプリッタ４内に於て偏光フィルム６により向
きを変向されて、偏光ビームスプリッタ４の図に於ける
下面から下方に向けてデータ信号検出光７として出射す
る。

【００１１】このデータ信号検出光７の光路上には集光
レンズ８及び測光センサ９がそれぞれ同軸的に配設され
ており、データ信号検出光７は集光レンズ８により測光
センサ９に収束され、フォーカシング及びトラッキング
の各エラーの検出並びにデータの検出が行われるように
なっている。

【００１２】一方、偏光ビームスプリッタ４にて出射光
２の一部は上記同様に偏光フィルム６により光路を９０
゜変向され、即ち第１の方向Ａに変向されて、偏光ビー
ムスプリッタ４の図に於ける上面から上方に向けて強度
検出光１１として出射する。この変向された強度検出光
１１の光路上には、該強度検出光１１を第２の方向Ｂに
変向させると共に収束させる後記する光学素子としての
部分レンズ１２が配設され、第２の方向Ｂに変向された
光路強度検出光１１の略収束する位置には受光素子して
の光強度検出器１３が配設されており、強度検出光１１
を光強度検出器１３に収束させて、出射光２の光強度を
検出するようになっている。そして光強度検出器１３の
検出値をリード線１４から図示されない制御回路に出力
することにより、半導体レーザ１の出力を監視して、出
射光２の光強度を適切に制御することができる。

【００１３】ここで、部分レンズ１２は、図２ａ及び図
２ｂに良く示されているように、両凸レンズの中心線Ｏ
を通らない部分のみを利用したレンズからなる。即ち、
図２ａに示されているように部分レンズ１２に入射した
平行光は両凸レンズの中心Ｏを通る焦点Ｐに向けて変向
し、かつ収束する光となる。この作用により第１の方向
Ａの強度検出光１１を第２の方向Ｂに変向させると共に
光強度検出器１３に収束させる。尚、実際には第２の方
向Ｂに変向された強度検出光１１の光軸とレンズの中心
線とが一致しない位置に設けられた凸レンズであれば良
いことは云うまでもない。

【００１４】光強度検出器１３は、図１に良く示されて
いるようにキャンパッケージタイプからなり、そのケー
シング１５内の図示されないベースに固定されたフォト
ダイオード１７と、そのフォトダイオード１７に向けて
強度検出光１１を通過させるためのガラスカバー１６と
を有している。この光強度検出器１３の受光面としての
ガラスカバー１６の入射面及びフォトダイオード１７の
受光面は、上記第１の方向Ａに対して直交する面に延在
している。従って、上記第２の方向Ｂの光路の強度検出
光１１の光軸に直交する面に対しては傾くように、光強
度検出器１３が支持されている。そのため、ガラスカバ
ー１６の入射面からの反射光１９と、強度検出光１１の
フォトダイオード１７の受光面からの反射光２０とが、
それぞれ図の想像線により示されるように強度検出光１
１の光軸とは異なる向きに反射するため、上記各反射光
１９、２０が、強度検出光１１の光路を戻り、更にデー
タ信号検出光７の光路を通って測光センサ９にノイズと
して混入することを容易に防止できる。

【００１５】図３は本発明が適用された第２の実施例が
示された強度検出光１１を変向させ、かつ収束させる光
学素子の側断面図である。本実施例では上記光学素子と
して、平凸レンズの中心を通らない部分のみを利用した
レンズ部２２ａ及びプリズム部２２ｂを一体的に組合わ
せてなる複合レンズ２２が用いられている。この複合レ
ンズ２２のプリズム部２２ｂの屈折作用により、第１の
実施例に比較して強度検出光１１を一層鋭角に変向でき
、光強度検出器１３の配置自由度が向上する。それ以外
の構造は第１の実施例と同様である。

【００１６】図４は本発明が適用された第３の実施例が
示された偏光ビームスプリッタ４及び強度検出光１１を
変向させ、かつ収束させる光学素子の側断面図である。 本実施例では、上記光学素子として平凸レンズの中心を
通らない部分のみを利用した第１の実施例と同様な部分
レンズ３２が用いられ、かつ該部分レンズ３２が偏光ビ
ームスプリッタ４の強度検出光１１の出射面に一体的に
取り付けられている。従って、第１及び第２の実施例に
比較して強度検出光１１の第１の方向の光路が短くなる
ことにより装置の小型化が可能となると共に部品のサブ
アッセンブリ化により組付けが容易になる。それ以外の
構造は第１の実施例と同様である。

【００１７】図５は本発明が適用された第４の実施例が
示された偏光ビームスプリッタ４及び強度検出光１１を
変向させ、かつ収束させる光学素子の側断面図である。 本実施例では上記光学素子として透過型ホログラム４２
が用いられ、該ホログラム４２が偏光ビームスプリッタ
４の強度検出光１１の出射面に一体的に取り付けられて
いる。上記ホログラム４２は、その回折作用により光強
度検出器１３の受光面に向けて強度検出光１１を変向さ
せ、かつ収束させるようになる。

【００１８】本実施例によれば、第１〜第３の実施例に
比較して一層装置の小型化が可能となると共に部品のサ
ブアッセンブリ化により組付けが容易になる。それ以外
の構造は第１の実施例と同様である。

【００１９】

【発明の効果】以上の説明により明らかなように、本発
明による出射光の光強度検出構造によれば、光強度検出
器からの反射光が、光強度検出器に向かう光路を通って
他の光学素子に達することを防止して、他の光学素子に
対する悪影響を防止でき、かつ部品点数が増加したり装
置が大型化することもない。以上のことから本発明の効
果は大である。

【図面の簡単な説明】

【図１】光磁気記録再生装置に適用された本発明に基づ
く出射光の光強度検出構造の要部を示す模式図である。

【図２】ａ部は図１の部分レンズの拡大側断面図、ｂ部
はａ部の正面図である。

【図３】第２の実施例を示す複合レンズの拡大側断面図
である。

【図４】第３の実施例を示す偏光ビームスプリッタ及び
部分レンズの拡大側断面図である。

【図５】第４の実施例を示す偏光ビームスプリッタ及び
透過型ホログラムの拡大側断面図である。

【図６】従来の実施例を示す模式図である。

【符号の説明】

１　　半導体レーザ ２　　出射光 ３　　コリメータレンズ ４　　偏光ビームスプリッタ ５　　反射光 ６　　偏光フィルム ７　　データ信号検出光 ８　　集光レンズ ９　　測光センサ １１　　検出光 １２　　部分レンズ １３　　光強度検出器 １４　　リード線 １５　　ケーシング １６　　ガラスカバー １７　　フォトダイオード １９、２０　　反射光 ２２　　複合レンズ ３２　　部分レンズ ４２　　透過型ホログラム ５１　　半導体レーザ ５２　　出射光 ５３　　偏光ビームスプリッタ ５４　　反射光 ５５　　データ検出光 ５６　　測光センサ ５７　　強度検出光 ５８　　光強度検出器 ６０　　反射光

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被照射体に向けて光源から発せられた出射
   光の一部を検出光として第１の方向に変向させるための
   変向手段と、前記出射光の光強度を検出するべく前記検
   出光の強度を検出する光強度検出器とを有する出射光の
   光強度検出構造に於て、前記第１の方向に変向された前
   記検出光を更に第２の方向に変向させると共に収束させ
   る光学素子が配置され、前記光検出器の受光面が、前記
   第２の方向に変向された前記検出光の光軸に直交する方
   向に対して傾斜することを特徴とする出射光の光強度検
   出構造。
2. 【請求項２】前記光学素子が、前記第２の方向に変向さ
   れた前記検出光の光軸とレンズの中心線とが一致しない
   位置に設けられた凸レンズ、偏向プリズムと凸レンズと
   を一体的に組合わせてなる複合レンズ、ホログラム及び
   回折格子のうちのいずれかからなることを特徴とする請
   求項１に記載の出射光の光強度検出構造。