JPH0231176A - 回路基板検査方法 - Google Patents
回路基板検査方法Info
- Publication number
- JPH0231176A JPH0231176A JP63181248A JP18124888A JPH0231176A JP H0231176 A JPH0231176 A JP H0231176A JP 63181248 A JP63181248 A JP 63181248A JP 18124888 A JP18124888 A JP 18124888A JP H0231176 A JPH0231176 A JP H0231176A
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- Japan
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- voltage
- measurement
- circuit board
- board
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は電子部品が実装された回路基板の良否を検査
する回路基板検査方法に係り、特に、発光ダイオード等
、他の回路素子よりも高い測定電圧を特徴とする特定回
路を有する回路基板に対して好適な検査方法に関するも
のである。
する回路基板検査方法に係り、特に、発光ダイオード等
、他の回路素子よりも高い測定電圧を特徴とする特定回
路を有する回路基板に対して好適な検査方法に関するも
のである。
電子部品等が実装された回路基板の検査にインサーキッ
トテスタと称される検査装置が利用されるようになって
きた。この種の従来装置は測定用信号源として一般に直
流及び交流の電流、電圧源を備え、測定項目等により適
宜使い分けるようにしている。
トテスタと称される検査装置が利用されるようになって
きた。この種の従来装置は測定用信号源として一般に直
流及び交流の電流、電圧源を備え、測定項目等により適
宜使い分けるようにしている。
第４図には信号源として直流電流源を用い、図示しない
回路基板に装置された発光ダイオードなどの良否を検査
する例が示されている。発光ダイオードの点灯電流は種
類によって異なるが、適当な輝度で点灯させるには５〜
１０＋ＩＡの電流を流すことが望ましいとされている。
回路基板に装置された発光ダイオードなどの良否を検査
する例が示されている。発光ダイオードの点灯電流は種
類によって異なるが、適当な輝度で点灯させるには５〜
１０＋ＩＡの電流を流すことが望ましいとされている。
また、この程度の電流を流したときのダイオードの両端
間電圧も種類によって異なり、一般には約１．５〜２ｖ
となる。
間電圧も種類によって異なり、一般には約１．５〜２ｖ
となる。
そこで、第４図の例においては例えばこの２ｖを下回ら
ない起電力ｖ０を有し、１０ＩＩＡ程度の電流工。が流
せる定電流信号源１を備えており、その出力極性をスイ
ッチ２で切り換えるようにしている。この場合、出力極
性がダイオードＤに対して順方向であれば電流工。が流
れてダイオードの両端間にはそのインピーダンスに比例
した電圧降下が生じ、逆方向であればわずかの飽和電流
が流れるのみで開放状態に近いからその両端には信号源
１の起電力Ｖ。にほぼ等しい電圧が現れる。
ない起電力ｖ０を有し、１０ＩＩＡ程度の電流工。が流
せる定電流信号源１を備えており、その出力極性をスイ
ッチ２で切り換えるようにしている。この場合、出力極
性がダイオードＤに対して順方向であれば電流工。が流
れてダイオードの両端間にはそのインピーダンスに比例
した電圧降下が生じ、逆方向であればわずかの飽和電流
が流れるのみで開放状態に近いからその両端には信号源
１の起電力Ｖ。にほぼ等しい電圧が現れる。
よって、ダイオードＤの両端間電圧をそれぞれ電圧計３
で測定すれば、その順方向特性や回路基板に対して正規
の状態に取り付けられているか逆向きに取り付けられて
いるか等がわかる。
で測定すれば、その順方向特性や回路基板に対して正規
の状態に取り付けられているか逆向きに取り付けられて
いるか等がわかる。
ところで、この種の発光ダイオードを例えば回路基板上
へ直線状あるいは円弧状等所望の形状に複数個配設し、
それらを同時的にあるいは任意に点滅させる表示器等が
各種の装置に利用されているが、そのような基板上のダ
イオードに対しては従来の検査方法は必ずしも適当では
ない。
へ直線状あるいは円弧状等所望の形状に複数個配設し、
それらを同時的にあるいは任意に点滅させる表示器等が
各種の装置に利用されているが、そのような基板上のダ
イオードに対しては従来の検査方法は必ずしも適当では
ない。
その−例を第５図により説明すると、同図（Ａ）は図示
しない基板上に例えば発光ダイオードＤ工。
しない基板上に例えば発光ダイオードＤ工。
Ｄ２．・・・・・・Ｄｎが直列的に装着されている場合
である８ただし、電圧計３の図示は省略しである。この
例においては、例えば点線で示されているように上記第
４図と同一の測定をＤよからり。まで順次行う必要があ
るため極めて手間がかかり、検査終了までに長時間を要
する。この場合、例えば電流容量は上記と同様にＴｏで
起電力がほぼｎＶ、の信号源１ａを用いれば端子Ａ、Ｂ
から一括測定が可能となるが、信号源の種類が増えるの
で好ましくない。
である８ただし、電圧計３の図示は省略しである。この
例においては、例えば点線で示されているように上記第
４図と同一の測定をＤよからり。まで順次行う必要があ
るため極めて手間がかかり、検査終了までに長時間を要
する。この場合、例えば電流容量は上記と同様にＴｏで
起電力がほぼｎＶ、の信号源１ａを用いれば端子Ａ、Ｂ
から一括測定が可能となるが、信号源の種類が増えるの
で好ましくない。
同図（Ｂ）は発光ダイオードＤ１〜Ｄ、が並列的に接続
されている場合である。この例においては個別測定のた
め各ダイオードを切り離すことは実際上困戴であるから
、端子Ａ、Ｂから一括測定することになる。しかし、そ
のためには例えば電流容量がｎｌ１ｌで起電力■。なる
信号源１ｂを必要とし、同様に信号源の種類が増えて好
ましくない。
されている場合である。この例においては個別測定のた
め各ダイオードを切り離すことは実際上困戴であるから
、端子Ａ、Ｂから一括測定することになる。しかし、そ
のためには例えば電流容量がｎｌ１ｌで起電力■。なる
信号源１ｂを必要とし、同様に信号源の種類が増えて好
ましくない。
この発明は上記の点に鑑みなされたもので、その目的は
、発光ダイオード等が装着された回路基板に電圧変換用
のトランスを介して測定用交流信号を１サイクル加え、
正、負各半波期間に流れる電流によりそれぞれ順方向と
逆方向のインピーダンスを測定して基板の良否を判定す
るようにした簡単で、かつ、高速の回路基板検査方法を
提供することにある。
、発光ダイオード等が装着された回路基板に電圧変換用
のトランスを介して測定用交流信号を１サイクル加え、
正、負各半波期間に流れる電流によりそれぞれ順方向と
逆方向のインピーダンスを測定して基板の良否を判定す
るようにした簡単で、かつ、高速の回路基板検査方法を
提供することにある。
Ｅｌ１題を解決するための手段〕
この発明の実施例が示されている第１図を参照すると、
上記の課題を解決するため下記イないしハの手段を備え
ている。
上記の課題を解決するため下記イないしハの手段を備え
ている。
イ０例えば所定周波数の測定用交流電圧を１サイクル送
出する信号＠ｉｉ。
出する信号＠ｉｉ。
口、上記信号源１１からの交流電圧を所定レベルに昇圧
して被検査回路基板１４に加えるトランス１３゜ハ、上
記交流電圧の正の半波期間と負の半波期間にそれぞれ基
板１４に流れる電流と上記加えられた電圧とから基板１
４の各半波期間におけるインピーダンスを測定し、あら
かじめ良品基板を実測して得られた基準値と比較してそ
の良否判定を行う測定制御部２２゜ 〔作 用〕 上記の手段を備えることにより、複数の発光ダイオード
等が装着された回路基板の順方向のインピーダンスと逆
方向のインピーダンスが自動的に測定され、高速で基板
の良否判定が行われる。
して被検査回路基板１４に加えるトランス１３゜ハ、上
記交流電圧の正の半波期間と負の半波期間にそれぞれ基
板１４に流れる電流と上記加えられた電圧とから基板１
４の各半波期間におけるインピーダンスを測定し、あら
かじめ良品基板を実測して得られた基準値と比較してそ
の良否判定を行う測定制御部２２゜ 〔作 用〕 上記の手段を備えることにより、複数の発光ダイオード
等が装着された回路基板の順方向のインピーダンスと逆
方向のインピーダンスが自動的に測定され、高速で基板
の良否判定が行われる。
この実施例においては、まず、あらかじめ良品と確認さ
れている複数の回路基板について正、負各半波期間にお
けるインピーダンスを測定し、その平均値Ｚμ、とＺμ
８を求めるとともにそれに対して所定の許容差α＾、α
８を設定する。しかるのち生産基板の正、負各半波期間
におけるインピーダンスＺＸＡとＺＸＳを測定し、それ
ぞれ良品基板のデータと比較して良否判定を行うように
なっている。
れている複数の回路基板について正、負各半波期間にお
けるインピーダンスを測定し、その平均値Ｚμ、とＺμ
８を求めるとともにそれに対して所定の許容差α＾、α
８を設定する。しかるのち生産基板の正、負各半波期間
におけるインピーダンスＺＸＡとＺＸＳを測定し、それ
ぞれ良品基板のデータと比較して良否判定を行うように
なっている。
判定式の一例
Ｚｘ＾：
Ｚμ８−α４≦ＺＸＡ≦Ｚμ＾十α６ならば良ＺｘＢ：
Ｚμ８−α８≦ＺＸＢ≦Ｚμ８＋αＢならば良Ｚｘａ＞
Ｚμ８＋α日 上記第１図を参照すると、例えば信号源１１からは１サ
イクルの測定用交流電圧ｖａが発せられ・電流増幅器１
２を経てトランス１３に加えられる・この加えられた電
圧Ｖ。は第２図（イ）に示されるようにトランス１３に
てｎＶ、（ｎ≧１）に昇圧され、発光ダイオード等が装
着された基板１４に加えられる。このトランス１３の２
次側には例えば図示しない複数のタップが設けられてお
り、上記第５図（Ａ）又は（Ｂ）に示されるダイオード
の配設状態に応じて使用タップを適宜選択することによ
り所望の昇圧電圧が得られるようになっている。
Ｚμ８＋α日 上記第１図を参照すると、例えば信号源１１からは１サ
イクルの測定用交流電圧ｖａが発せられ・電流増幅器１
２を経てトランス１３に加えられる・この加えられた電
圧Ｖ。は第２図（イ）に示されるようにトランス１３に
てｎＶ、（ｎ≧１）に昇圧され、発光ダイオード等が装
着された基板１４に加えられる。このトランス１３の２
次側には例えば図示しない複数のタップが設けられてお
り、上記第５図（Ａ）又は（Ｂ）に示されるダイオード
の配設状態に応じて使用タップを適宜選択することによ
り所望の昇圧電圧が得られるようになっている。
これにより、基板１４には例えば第２図（ロ）に示され
るような電流が流れたものとすると、この電流は′電流
／電圧変換器１５にて電圧に変換され、更に同図（ハ）
に示されるように例えばそれぞれ負の同極性電圧にされ
てスイッチ１６に加えられる。
るような電流が流れたものとすると、この電流は′電流
／電圧変換器１５にて電圧に変換され、更に同図（ハ）
に示されるように例えばそれぞれ負の同極性電圧にされ
てスイッチ１６に加えられる。
この実施例においては、上記信号源１１は測定制御部２
２から与えられる例えば周波数が１ｋＨｚで１サイクル
のｓｉｎ波形データをアナログ電圧に変換して送出する
ようになっている。また、切換制御器１７は信号源１１
から送出されるｓｕｎ波形電圧を正、負の方形波電圧に
波形整形し、その出力にて第２図（ニ）に示されるよう
に例えば正の半波期間はスイッチ１６を接点Ａ側に駆動
し、負の半波期間は接点Ｂ側へ駆動するようになってい
る。
２から与えられる例えば周波数が１ｋＨｚで１サイクル
のｓｉｎ波形データをアナログ電圧に変換して送出する
ようになっている。また、切換制御器１７は信号源１１
から送出されるｓｕｎ波形電圧を正、負の方形波電圧に
波形整形し、その出力にて第２図（ニ）に示されるよう
に例えば正の半波期間はスイッチ１６を接点Ａ側に駆動
し、負の半波期間は接点Ｂ側へ駆動するようになってい
る。
これにより、電流／電圧変換器１５の正の半波期間にお
ける電圧は第２図（ホ）に示されるように例えば積分器
１８に加えられて積分され、その積分電圧ｖＡは同図（
ト）に示されるようにＡ／Ｄコンバータ２０にてディジ
タル変換されて測定制御部２２に加えられる。また、上
記電流／電圧変換器１５の負の半波期間における電圧は
同図（へ）に示されるように積分器１９に加えられて積
分され、その積分電圧ｖＩＩは同図（チ）に示されるよ
うにＡ／Ｄコンバータ２１にてディジタル変換されたの
ち測定制御部２２に加えられる。
ける電圧は第２図（ホ）に示されるように例えば積分器
１８に加えられて積分され、その積分電圧ｖＡは同図（
ト）に示されるようにＡ／Ｄコンバータ２０にてディジ
タル変換されて測定制御部２２に加えられる。また、上
記電流／電圧変換器１５の負の半波期間における電圧は
同図（へ）に示されるように積分器１９に加えられて積
分され、その積分電圧ｖＩＩは同図（チ）に示されるよ
うにＡ／Ｄコンバータ２１にてディジタル変換されたの
ち測定制御部２２に加えられる。
測定制御部２２・はこれら電流を意味する電圧データｖ
Ａ、ｖ８と上記測定用電圧ｎＶｏとから良品基板の順方
向インピーダンスＺ＾と逆方向インピーダンスＺＢを測
定するとともにその平均値２μえ。
Ａ、ｖ８と上記測定用電圧ｎＶｏとから良品基板の順方
向インピーダンスＺ＾と逆方向インピーダンスＺＢを測
定するとともにその平均値２μえ。
Ｚμ８を求め、例えば平均値に対する各インピーダンス
のばらつきを勘案してそれぞれ許容差αいとα８を設定
するようになっている。
のばらつきを勘案してそれぞれ許容差αいとα８を設定
するようになっている。
このようにして良品基板から正、負各半波期間における
インピーダンス平均値ＺμＡ＋ Ｚμ８を測定し、それ
に対する許容差αＡ、α８の設定が終わると、良品基板
と同様の方法で生産基板のインピーダンス測定を行い、
上記判定式を用いてその良否を判断する。表示部２３は
この判断結果を表示し、必要により測定データなどをプ
リン１〜アウトするようになっている。
インピーダンス平均値ＺμＡ＋ Ｚμ８を測定し、それ
に対する許容差αＡ、α８の設定が終わると、良品基板
と同様の方法で生産基板のインピーダンス測定を行い、
上記判定式を用いてその良否を判断する。表示部２３は
この判断結果を表示し、必要により測定データなどをプ
リン１〜アウトするようになっている。
上記の説明は基板に発光ダイオード等が装着されている
場合の例であるが、通常のダイオードが装着されている
基板に対してもこの検査方法は適用可能である。なお、
測定用電圧を特に昇圧する必要が無い場合にはｎ ＝
１のタップを使用すればよく、あるいは増幅器１２の出
力を回路基板１４へ直接加えるようにしてもよい。
場合の例であるが、通常のダイオードが装着されている
基板に対してもこの検査方法は適用可能である。なお、
測定用電圧を特に昇圧する必要が無い場合にはｎ ＝
１のタップを使用すればよく、あるいは増幅器１２の出
力を回路基板１４へ直接加えるようにしてもよい。
ちなみに、第３図には測定制御部２２の動作を例えばマ
イクロコンピュータに行わせた場合の一例が流れ線図で
示されている。
イクロコンピュータに行わせた場合の一例が流れ線図で
示されている。
以上、詳細に説明したように、この発明においては信号
源から発せられる１サイクルの測定用交流電圧を例えば
トランスにて所定レベルに昇圧し、この電圧を発光ダイ
オード等が装着された複数の良品基板に加えて正の半波
と負の半波におけるインピーダンスを測定するとともに
それぞれ平均値を求め、上記測定インピーダンスのばら
つき等を含む所定の許容差を各半波の平均値に対して設
定したのち、生産基板のインピーダンス測定を行って上
記許容差内にあるか否かによりその良否を判定するよう
になっている。
源から発せられる１サイクルの測定用交流電圧を例えば
トランスにて所定レベルに昇圧し、この電圧を発光ダイ
オード等が装着された複数の良品基板に加えて正の半波
と負の半波におけるインピーダンスを測定するとともに
それぞれ平均値を求め、上記測定インピーダンスのばら
つき等を含む所定の許容差を各半波の平均値に対して設
定したのち、生産基板のインピーダンス測定を行って上
記許容差内にあるか否かによりその良否を判定するよう
になっている。
したがってこの検査方法によれば、比較的高い点灯電圧
を有する発光ダイオード等が装着された回路基板のイン
ピーダンスを１つの交流信号源で測定することが可能と
なり、信号源の種類を特に増やすことなく、ｍ単、かつ
、高速に基板の良否を検査することができる。
を有する発光ダイオード等が装着された回路基板のイン
ピーダンスを１つの交流信号源で測定することが可能と
なり、信号源の種類を特に増やすことなく、ｍ単、かつ
、高速に基板の良否を検査することができる。
第１図はこの発明が適用された回路基板検査装置の構成
を示すブロックｌｌ７Ａ図、第２図は動作説明用の波形
図、第３図は測定動作をマイクロコンピュータにて制御
する場合の一例を示すフローチャート、第４図は従来装
置の構成を示すブロック線図、第５図（Ａ）及び第５図
（Ｂ）はその測定方法の説明図である。 図中、１１は信号源、１３はトランス、１４は被検査回
路基板、１５は電流／電圧変換器、１６はスイッチ、１
７は切換制御器、１８．１９は積分器、２０．２１はＡ
／Ｄコンバータ、２２は測定制御部である。
を示すブロックｌｌ７Ａ図、第２図は動作説明用の波形
図、第３図は測定動作をマイクロコンピュータにて制御
する場合の一例を示すフローチャート、第４図は従来装
置の構成を示すブロック線図、第５図（Ａ）及び第５図
（Ｂ）はその測定方法の説明図である。 図中、１１は信号源、１３はトランス、１４は被検査回
路基板、１５は電流／電圧変換器、１６はスイッチ、１
７は切換制御器、１８．１９は積分器、２０．２１はＡ
／Ｄコンバータ、２２は測定制御部である。
Claims (1)
- （１）発光ダイオード等を含み、他の回路素子よりも高
い測定電圧を必要とする特定回路を有する回路基板の検
査方法であって、信号源から所定周波数の１サイクルの
測定用交流定電圧信号を発し、上記特定回路に対しては
トランスにより所望のレベルに昇圧して加え、上記測定
用信号の正の半波期間と負の半波期間に上記基板に流れ
る応答電流をそれぞれ検出して上記基板の各半波期間に
おけるインピーダンスを測定するとともに、該測定値を
複数の良品基板から実測により求めた基準値と比較し各
々所定の許容差内にあるか否かにより上記基板の良否判
定を行うことを特徴とする回路基板検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63181248A JPH0231176A (ja) | 1988-07-20 | 1988-07-20 | 回路基板検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63181248A JPH0231176A (ja) | 1988-07-20 | 1988-07-20 | 回路基板検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0231176A true JPH0231176A (ja) | 1990-02-01 |
Family
ID=16097385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63181248A Pending JPH0231176A (ja) | 1988-07-20 | 1988-07-20 | 回路基板検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0231176A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04258426A (ja) * | 1991-02-13 | 1992-09-14 | Nitsukon Kikai Kogyo Kk | 下水用マンホールの施工方法 |
| JPH05255945A (ja) * | 1992-03-10 | 1993-10-05 | Nitsukon Kikai Kogyo Kk | 全方向インバート及びその導水路形成方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5178989A (en) * | 1974-12-30 | 1976-07-09 | New Nippon Electric Co | Handotaisoshino tokuseisokuteikairo |
-
1988
- 1988-07-20 JP JP63181248A patent/JPH0231176A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5178989A (en) * | 1974-12-30 | 1976-07-09 | New Nippon Electric Co | Handotaisoshino tokuseisokuteikairo |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04258426A (ja) * | 1991-02-13 | 1992-09-14 | Nitsukon Kikai Kogyo Kk | 下水用マンホールの施工方法 |
| JPH05255945A (ja) * | 1992-03-10 | 1993-10-05 | Nitsukon Kikai Kogyo Kk | 全方向インバート及びその導水路形成方法 |
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