JPH0419505Y2 - - Google Patents
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- JPH0419505Y2 JPH0419505Y2 JP1983086454U JP8645483U JPH0419505Y2 JP H0419505 Y2 JPH0419505 Y2 JP H0419505Y2 JP 1983086454 U JP1983086454 U JP 1983086454U JP 8645483 U JP8645483 U JP 8645483U JP H0419505 Y2 JPH0419505 Y2 JP H0419505Y2
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- JP
- Japan
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- voltage
- test
- triangular wave
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- reverse current
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Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の属する技術分野〕
本考案は高電圧の半導体整流素子、半導体制御
整流素子等の保守点検を対象とした逆方向電流試
験装置に関する。
整流素子等の保守点検を対象とした逆方向電流試
験装置に関する。
半導体整流素子の良否は、多くの場合逆方向電
流を測定することによつて判定できる。たとえば
逆方向電流の極端に大きいもの、履歴ループの大
きいもの、特性曲線が不安定なもの等は一般に劣
化あるいは不良品と判定される。したがつて逆方
向電流の判定は電力用変換装置の保守点検におい
て半導体整流素子の特性の良否の判定方法として
も利用されている。電力用変換装置の保守点検は
非常に多数の半導体整流素子について個々に逆方
向電流を測定するために、試験装置としては扱い
方が簡便でかつ短時間で正確な特性値が得られる
ものが求められている。
流を測定することによつて判定できる。たとえば
逆方向電流の極端に大きいもの、履歴ループの大
きいもの、特性曲線が不安定なもの等は一般に劣
化あるいは不良品と判定される。したがつて逆方
向電流の判定は電力用変換装置の保守点検におい
て半導体整流素子の特性の良否の判定方法として
も利用されている。電力用変換装置の保守点検は
非常に多数の半導体整流素子について個々に逆方
向電流を測定するために、試験装置としては扱い
方が簡便でかつ短時間で正確な特性値が得られる
ものが求められている。
第１図は従来の逆方向電流試験装置の接続図で
ある。図において、１は交流電源に接続された電
圧調整器、２は昇圧変圧器、３は補助整流器、４
は被試験半導体素子、５はブラウン管オシロスコ
ープ、６は分流器、７は抵抗分圧器である。上述
の接続図において電圧調整器１および昇圧変圧器
２によつて被試験半導体素子４に対して規定され
た試験電圧に調整された交流電圧は、補助整流器
３が導通常態にある半波電圧のみが被試験半導体
素子４に印加される。この時素子４に流れる逆方
向電流は分流器６によつて検出されてブラウン管
オシロスコープ５の縦軸入力回路に、素子４に印
加される逆方向電圧は抵抗分圧器７によつて検出
されてブラウン管オシロスコープ５の横軸入力回
路にそれぞれ入力され、ブラウン管オシロスコー
プ５の管面には被試験素子４の逆方向電流−電圧
特性が表示される。
ある。図において、１は交流電源に接続された電
圧調整器、２は昇圧変圧器、３は補助整流器、４
は被試験半導体素子、５はブラウン管オシロスコ
ープ、６は分流器、７は抵抗分圧器である。上述
の接続図において電圧調整器１および昇圧変圧器
２によつて被試験半導体素子４に対して規定され
た試験電圧に調整された交流電圧は、補助整流器
３が導通常態にある半波電圧のみが被試験半導体
素子４に印加される。この時素子４に流れる逆方
向電流は分流器６によつて検出されてブラウン管
オシロスコープ５の縦軸入力回路に、素子４に印
加される逆方向電圧は抵抗分圧器７によつて検出
されてブラウン管オシロスコープ５の横軸入力回
路にそれぞれ入力され、ブラウン管オシロスコー
プ５の管面には被試験素子４の逆方向電流−電圧
特性が表示される。
ところが試験される半導体素子が電力用の素子
である場合、その試験電圧波高値は数千ボルトに
なる。このため、商用周波数の電源電圧を試験電
圧にまで昇圧する昇圧変圧器２および電圧調整器
１が大形かつ重くなること、ならびにブラウン管
オシロスコープもかなり大きいため、試験装置全
体が大形かつ重くなり、工場試験等で据置き形と
して使用するにはよいが、変換装置の据着け場所
で試験装置を試験しようとする素子の近くに持ち
運んで使用するには適さない欠点がある。また素
子４の逆方向電流を求めるためには、ブラウン管
の管面の撮影、写真からのデータの読み取り、分
圧比、分流比を用いたデータの換算等の測定デー
タの解析を必要とする。このため試験結果の判定
に時間がかかり、変換装置等に内設された多数の
整流素子の良否の判定を要する保守点検において
は、変換装置の運転を長時間停止しなければなら
ない等の問題を生ずる欠点があつた。
である場合、その試験電圧波高値は数千ボルトに
なる。このため、商用周波数の電源電圧を試験電
圧にまで昇圧する昇圧変圧器２および電圧調整器
１が大形かつ重くなること、ならびにブラウン管
オシロスコープもかなり大きいため、試験装置全
体が大形かつ重くなり、工場試験等で据置き形と
して使用するにはよいが、変換装置の据着け場所
で試験装置を試験しようとする素子の近くに持ち
運んで使用するには適さない欠点がある。また素
子４の逆方向電流を求めるためには、ブラウン管
の管面の撮影、写真からのデータの読み取り、分
圧比、分流比を用いたデータの換算等の測定デー
タの解析を必要とする。このため試験結果の判定
に時間がかかり、変換装置等に内設された多数の
整流素子の良否の判定を要する保守点検において
は、変換装置の運転を長時間停止しなければなら
ない等の問題を生ずる欠点があつた。
本考案は上述の状況に鑑みてなされたもので、
小形軽量で測定結果を直読できる半導体整流素子
の逆方向電流試験装置を提供することにより、大
容量の変換装置の保守点検作業を簡便かつ迅速に
することを目的とする。
小形軽量で測定結果を直読できる半導体整流素子
の逆方向電流試験装置を提供することにより、大
容量の変換装置の保守点検作業を簡便かつ迅速に
することを目的とする。
本考案によれば、上述の目的は、従来の交流半
波試験電圧の代りに、交流半波電圧の波高値と等
しいピーク値を有する三角波試験電圧を用いるこ
ととし、制御部が試験開始信号を受けて発する１
個の低圧の三角波電圧信号を、変換部で三角波電
圧信号の２倍の振幅を有する高周波振動電圧に変
換し、高周波トランスによりこの高周波振動電圧
をピーク値が前記三角波試験電圧のピーク値と等
しくなるよう昇圧し、試験電圧発生部で昇圧され
た振動電圧を整流して三角波試験電圧を得るよう
構成したことにより試験電圧発生部を小形化し、
さらに試験電圧のピーク値とこれに対応して現れ
る逆方向電流のピーク値をそれぞれ検出し表示す
るピーク値検出部および表示部を設けて測定結果
を即座に知ることができるよう構成することによ
り達成された。
波試験電圧の代りに、交流半波電圧の波高値と等
しいピーク値を有する三角波試験電圧を用いるこ
ととし、制御部が試験開始信号を受けて発する１
個の低圧の三角波電圧信号を、変換部で三角波電
圧信号の２倍の振幅を有する高周波振動電圧に変
換し、高周波トランスによりこの高周波振動電圧
をピーク値が前記三角波試験電圧のピーク値と等
しくなるよう昇圧し、試験電圧発生部で昇圧され
た振動電圧を整流して三角波試験電圧を得るよう
構成したことにより試験電圧発生部を小形化し、
さらに試験電圧のピーク値とこれに対応して現れ
る逆方向電流のピーク値をそれぞれ検出し表示す
るピーク値検出部および表示部を設けて測定結果
を即座に知ることができるよう構成することによ
り達成された。
以下本考案の一実施例を添付図面を参照しつつ
説明する。
説明する。
第２図は本考案の実施例を示す試験装置の接続
図である。図において、１１は制御部で、試験開
始信号入力電気接点１１ａに信号が入力された時
これに対応して１個の三角波電圧信号を発するよ
う形成されており、例えば可変制御整流器によつ
てコンデンサ１１ｂを定電流充電するよう構成さ
れる。１２は制御部１１の出力三角波電圧信号を
受けて出力三角波電圧信号の２倍の振幅を有する
高周波振動電圧に変換する波形変換器で、例えば
矩形波インバータが用いられ、10-4〜10-3秒程度
の振動周期を有し、その包絡線が前出の三角波電
圧信号とほぼ等しく正負対称な波形を有する振動
電圧を出力する。１３は高周波トランスで、変換
器１２の出力振動電圧を受けて高圧の振動電圧を
出力する昇圧トランスで、振動電圧の振動周期を
短かくすることによつてトランスの鉄心が従来よ
り大幅に小形化されている。高周波トランス１３
によつて昇圧された振動電圧のピーク値は、試験
される半導体整流素子の試験に必要な電圧のピー
ク値と一致するよう制御部１１の三角波電圧信号
のピーク値を調整することによつて制御される。
１４は三角波試験電圧発生部で、高周波トランス
１３の出力振動電圧を高圧整流器によつて両波整
流するよう形成され、その出力電圧波形は制御部
１１の出力三角波電圧信号とピーク値到達時間が
等しい高電圧三角波電圧となる。三角波試験電圧
は出力端子１４ａを介して被試験半導体素子４に
印加される。６は被試験素子４の逆方向電流を検
出するための検知器、７は三角波試験電圧を検出
するための抵抗分圧器で、検知器６および抵抗分
圧器７によつて所定のレベルに調整された逆方向
電流および三角波試験電圧はピーク値検出部８ａ
および８ｂにそれぞれ入力される。ピーク値検出
部８ａおよび８ｂはそれぞれ逆方向電流のピーク
値iPおよび三角波試験電圧のピーク値VPを検出し
てそれぞれの値を一時保持する機能を備え、デイ
ジタルメータなどの表示器９ａおよび９ｂに逆方
向電流のピーク値iPおよび三角波試験電圧のピー
ク値VPあるいはそれに比例した電流値および電
圧値をそれぞれ表示する。
図である。図において、１１は制御部で、試験開
始信号入力電気接点１１ａに信号が入力された時
これに対応して１個の三角波電圧信号を発するよ
う形成されており、例えば可変制御整流器によつ
てコンデンサ１１ｂを定電流充電するよう構成さ
れる。１２は制御部１１の出力三角波電圧信号を
受けて出力三角波電圧信号の２倍の振幅を有する
高周波振動電圧に変換する波形変換器で、例えば
矩形波インバータが用いられ、10-4〜10-3秒程度
の振動周期を有し、その包絡線が前出の三角波電
圧信号とほぼ等しく正負対称な波形を有する振動
電圧を出力する。１３は高周波トランスで、変換
器１２の出力振動電圧を受けて高圧の振動電圧を
出力する昇圧トランスで、振動電圧の振動周期を
短かくすることによつてトランスの鉄心が従来よ
り大幅に小形化されている。高周波トランス１３
によつて昇圧された振動電圧のピーク値は、試験
される半導体整流素子の試験に必要な電圧のピー
ク値と一致するよう制御部１１の三角波電圧信号
のピーク値を調整することによつて制御される。
１４は三角波試験電圧発生部で、高周波トランス
１３の出力振動電圧を高圧整流器によつて両波整
流するよう形成され、その出力電圧波形は制御部
１１の出力三角波電圧信号とピーク値到達時間が
等しい高電圧三角波電圧となる。三角波試験電圧
は出力端子１４ａを介して被試験半導体素子４に
印加される。６は被試験素子４の逆方向電流を検
出するための検知器、７は三角波試験電圧を検出
するための抵抗分圧器で、検知器６および抵抗分
圧器７によつて所定のレベルに調整された逆方向
電流および三角波試験電圧はピーク値検出部８ａ
および８ｂにそれぞれ入力される。ピーク値検出
部８ａおよび８ｂはそれぞれ逆方向電流のピーク
値iPおよび三角波試験電圧のピーク値VPを検出し
てそれぞれの値を一時保持する機能を備え、デイ
ジタルメータなどの表示器９ａおよび９ｂに逆方
向電流のピーク値iPおよび三角波試験電圧のピー
ク値VPあるいはそれに比例した電流値および電
圧値をそれぞれ表示する。
またピーク値検出部８ａに検出された逆方向電
流のピーク値iPが所定のレベルを超えた時、異常
報知信号を発する判定機能を持たせるよう構成し
ておけば、大容量変換装置の保守点検において多
数の半導体整流素子の中から特性不良の素子を摘
出する作業をより効率よく実施することができて
便利である。
流のピーク値iPが所定のレベルを超えた時、異常
報知信号を発する判定機能を持たせるよう構成し
ておけば、大容量変換装置の保守点検において多
数の半導体整流素子の中から特性不良の素子を摘
出する作業をより効率よく実施することができて
便利である。
第３図は前述の実施例における各部の出力波形
の概念図である。図においてイは制御部１１の出
力三角波電圧信号波形で、三角波試験電圧のピー
ク値VPのｎ分の１の低圧パルスで、ピークVP／
ｎに到達するまでの立上がり時間tPは商用周波数
半波電圧の波高値到達時間を考慮して５〜10ミリ
秒程度に設定される。ロは変換器１２の出力振動
電圧波形で、振動周期τは10-4〜10-3秒程度の高
周波振動パルスである。ハは高周波トランスの出
力振動電圧で、そのピーク値は三角波振動電圧の
ピーク値VPにまで昇圧される。ニは試験電圧発
生部１４の出力三角波試験電圧波形、ホは被試験
半導体素子４の逆方向電流を検知器６で検出した
波形で、一般に三角波試験電圧のピーク値VPと
同期して電流のピーク値iPが検出される。
の概念図である。図においてイは制御部１１の出
力三角波電圧信号波形で、三角波試験電圧のピー
ク値VPのｎ分の１の低圧パルスで、ピークVP／
ｎに到達するまでの立上がり時間tPは商用周波数
半波電圧の波高値到達時間を考慮して５〜10ミリ
秒程度に設定される。ロは変換器１２の出力振動
電圧波形で、振動周期τは10-4〜10-3秒程度の高
周波振動パルスである。ハは高周波トランスの出
力振動電圧で、そのピーク値は三角波振動電圧の
ピーク値VPにまで昇圧される。ニは試験電圧発
生部１４の出力三角波試験電圧波形、ホは被試験
半導体素子４の逆方向電流を検知器６で検出した
波形で、一般に三角波試験電圧のピーク値VPと
同期して電流のピーク値iPが検出される。
また第２図の実施例において、端子１４ａに接
続される高圧プローブおよび検出プローブを設け
被試験素子４の両端子に接触させるとともに、試
験開始信号の入力電気接点１１ａを延長コードを
用いて前記プローブに近接した位置に設け、試験
作業者がこの電気接点を操作するよう構成すれ
ば、試験装置を変換装置内部に持ち込まないでも
試験を実施することができて便利である。
続される高圧プローブおよび検出プローブを設け
被試験素子４の両端子に接触させるとともに、試
験開始信号の入力電気接点１１ａを延長コードを
用いて前記プローブに近接した位置に設け、試験
作業者がこの電気接点を操作するよう構成すれ
ば、試験装置を変換装置内部に持ち込まないでも
試験を実施することができて便利である。
本考案によれば、まず高周波変圧器の一次側電
圧源として、例えば可変制御整流器によつてコン
デンサを定電流充電して三角波電圧信号を発する
制御部と、この電圧を所定の周期をもつた振動電
圧に変換するインバータ等よりなる変換部とで構
成したことにより、従来装置におけるスライドト
ランス等の電圧調整器が不要になり、装置を小形
軽量化するのに貢献できた。また高周波トランス
を用いて前記高周波の振動電圧を、高圧の振動電
圧に昇圧するよう構成したことにより、商用周波
数の昇圧変圧器に比べて鉄心を大幅に小形化する
ことが可能になり、装置の小形軽量化に貢献でき
た。さらに測定値の表示器にデイジタルメータ等
の小形化された計器を用いることにより、ブラウ
ン管オシロスコープが不要になり、前述の試験電
圧発生部分の小形化と併せて試験装置全体を小形
かつ軽量に形成することができた。
圧源として、例えば可変制御整流器によつてコン
デンサを定電流充電して三角波電圧信号を発する
制御部と、この電圧を所定の周期をもつた振動電
圧に変換するインバータ等よりなる変換部とで構
成したことにより、従来装置におけるスライドト
ランス等の電圧調整器が不要になり、装置を小形
軽量化するのに貢献できた。また高周波トランス
を用いて前記高周波の振動電圧を、高圧の振動電
圧に昇圧するよう構成したことにより、商用周波
数の昇圧変圧器に比べて鉄心を大幅に小形化する
ことが可能になり、装置の小形軽量化に貢献でき
た。さらに測定値の表示器にデイジタルメータ等
の小形化された計器を用いることにより、ブラウ
ン管オシロスコープが不要になり、前述の試験電
圧発生部分の小形化と併せて試験装置全体を小形
かつ軽量に形成することができた。
また三角波試験電圧を１回だけ発生し、被試験
素子に印加し、試験電圧および逆方向電流のピー
ク値を表示するよう構成したことにより、電圧の
印加と同時に測定結果を知ることができるので、
データの解析に要する時間が大幅に短縮され、例
えば大容量変換装置の多数の整流素子の保守点検
を効率よく実施できるようになつた。ことに変換
装置の負荷側の短絡事故等に際して個々の整流素
子に異常がないか否かをチエツクしたいような場
合、逆方向電流の測定を短時間で実施できること
により、装置の停止時間が短縮され、生産活動に
及ぼす損失を低減する効果が期待される。
素子に印加し、試験電圧および逆方向電流のピー
ク値を表示するよう構成したことにより、電圧の
印加と同時に測定結果を知ることができるので、
データの解析に要する時間が大幅に短縮され、例
えば大容量変換装置の多数の整流素子の保守点検
を効率よく実施できるようになつた。ことに変換
装置の負荷側の短絡事故等に際して個々の整流素
子に異常がないか否かをチエツクしたいような場
合、逆方向電流の測定を短時間で実施できること
により、装置の停止時間が短縮され、生産活動に
及ぼす損失を低減する効果が期待される。
第１図は従来の試験装置の接続図、第２図は本
考案の実施例の試験装置の接続図、第３図は試験
装置各部の出力電圧、電流波形の概念図である。 図において、４……被試験半導体素子、６……
逆方向電流検知部、７……分圧器、１１……制御
部、１２……波形変換部、１３……高周波変圧
器、１４……試験電圧発生部、１１ａ……試験開
始信号入力接点、１４ａ……出力端子、８ａ，８
ｂ……ピーク値検出部、９ａ，９ｂ……表示部、
である。
考案の実施例の試験装置の接続図、第３図は試験
装置各部の出力電圧、電流波形の概念図である。 図において、４……被試験半導体素子、６……
逆方向電流検知部、７……分圧器、１１……制御
部、１２……波形変換部、１３……高周波変圧
器、１４……試験電圧発生部、１１ａ……試験開
始信号入力接点、１４ａ……出力端子、８ａ，８
ｂ……ピーク値検出部、９ａ，９ｂ……表示部、
である。
Claims (1)
- 半導体整流素子の逆方向電流を測定する試験装
置において、試験開始信号に対応して１個の単極
性の三角波電圧信号を発する制御部と、この三角
波電圧信号を受けてこの三角波電圧信号の２倍の
振幅を有する双極性振動電圧を発する変換器と、
この振動電圧を高圧振動電圧に昇圧する高周波ト
ランスと、この高周波トランスの出力電圧を整流
して前記単極性の三角波電圧信号とピーク値到達
時間が等しい１個の高圧の単極性三角波試験電圧
を発する試験電圧発生部と、この試験電圧発生部
の出力回路に設けられ、被試験素子の前記三角波
試験電圧の印加による逆方向電流を検出する検知
器と、前記三角波試験電圧を検出する分圧器と、
前記検知器および分圧器にそれぞれ対応して設け
られた逆方向電流および三角波試験電圧のそれぞ
れのピーク値を検出し保持する機能を有したピー
ク値検出部と、前記ピーク値検出部にそれぞれ対
応して設けられた前記被試験素子の逆方向電流な
らびに試験電圧のピーク値に比例した計測値をそ
れぞれ表示する表示器とを備えたことを特徴とす
る半導体整流素子試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8645483U JPS59191680U (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 半導体整流素子試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8645483U JPS59191680U (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 半導体整流素子試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59191680U JPS59191680U (ja) | 1984-12-19 |
| JPH0419505Y2 true JPH0419505Y2 (ja) | 1992-05-01 |
Family
ID=30216383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8645483U Granted JPS59191680U (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 半導体整流素子試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59191680U (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5042704U (ja) * | 1973-08-15 | 1975-04-30 | ||
| JPS57179766A (en) * | 1981-04-30 | 1982-11-05 | Fujitsu Ltd | Evaluating device for semiconductor device |
-
1983
- 1983-06-07 JP JP8645483U patent/JPS59191680U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59191680U (ja) | 1984-12-19 |
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