JPH0235383A - ハイインピーダンス出力の検査回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、デジタル電子回路ハイインピーダンス機能を
持つ出力において、ファンクション系テス）Ｒにハイイ
ンピーダンスの判定を可能とする検査回路に関するもの
である。

〔従来の技術〕

従来、この種のハイインピーダンス機能を有する出力の
検査はハイインピーダンス時に外部抵抗によりプルアッ
プを行う方法や、ハイインピーダンスになるファンクシ
ョンパターンでパターン走行を停止し、出力端子より出
力される電流値により判定を行うというスタティック状
態でのリーク電流測定という方法が用いられてきた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来のハイインピーダンス機能を有する出力の
検査方法において、外部抵抗によるプルアップを用いる
方法では、ハイインピーダンス時と高レベル出力時の区
別がつかないという欠点がある。

また、スタティック状態でのリーク電流測定という方法
では、ハイインピーダンスになるファンクションパター
ンでパターン走行を停止しなければならず、ハイインピ
ーダンス機能を有する出力端子が多数存在する場合、ま
た全ファンクションパターン中にハイインピーダンスを
与えるパターンが多数存在する場合には、ハイインピー
ダンスの全出力全パターンの検査を行うのに、テストフ
ロダラムの複雑化を招き、また多大なテスト時間を必要
とするという欠点がある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のハイインピーダンス出力の検査回路は出力端子
に負荷を介したパルス発振器を接続し、またこの出力端
子より発振検出部に接続するという構成を有している。

この構成により、パルス発振器の周波数をファンクショ
ンパターン走行の周波数に対し充分大きく設定すること
により、ファンクションパターン走行時において、ハイ
インピーダンス機能を有する出力がハイインピーダンス
の時のみにパルス発振器の出力が負荷を通り出力端子よ
り発振検出部へ入力される。この発振検出部を判定する
ことによりファンクションパターン走行中にリアルタイ
ムでパターン走行を停止することなくハイインピーダン
スの検査を行うことが可能となる。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の一実施例のブロック図である。

ファンクションパターン走行時に、ハイインピーンス機
能を有する出力回路１が高レベル出力時には、パルス発
振器４の出力は負荷３を介しているために負荷３の出力
端子２側では高レベルに固定される。同様に低レベル出
力時には低レベルに固定される。このために発振検出部
５はパルス発振器４よりの出力を検知することができな
い。

一方ハイインピーダンス時には出力端子２側から見たハ
イインピーダンス機能を有する出力回路１の出力インピ
ーダンスは負荷３に対し極めて大きくなり、パルス発振
器４よりの出力を減衰なく受は取り検知することが可能
となる。

第２図は本発明の他の実施例のブロック図である。出力
端子２よりトランスファリレー６を介し、トランスファ
リレー６の接点１２がＩ１０マルチプレクザ及び判定部
１１に入り、接点１３が負荷３を介しパルス発振器４に
接続される。また接点１３はコンパレータ７を通り発振
検出部５へ入り発振検出部５より発振検知の情報が判定
部９へ入力される。トランスファリレー６の制御及び判
定部９でのハイインピーダンスの判定が同期信号ライン
１０から与えられる試料のハイインピーダンス期待値フ
ァンクションパターンに同期するという構成を有する。

この実施例では、ファンクションパターン走行中にハイ
インピーダンス期待のファンクションパターン時のみに
トランスファリレー６が切り換わり、また判定部９では
ハイインピーダンス判定状態となる。これによりトラン
スファリレーの接点１２側にＩ１０マルチプレクザ及び
判定部１１を接続することにより試料の通常の高レベル
、低レベル出力時のファンクションテストトハイインピ
ーダンス出力時のファンクションテストを１回のファン
クションパターン走行で実施することができる。また、
ハイインピーダンス時にパルス発振器４の出力がコンパ
レータ７を通るためにコンパレータ７のスレッシュホー
ルド８の設定によりハイインピーダンス時の出力のイン
ピーダンスチエツクも同時に実施できるという利点があ
る。

一 〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明はハイインピーダンス機能
を有する出力に負荷を介し、パルス発振器を接続すると
いう簡易な回路構成のみにより、従来実施してきたハイ
インピーダンス測定に対し、特定のファンクションパタ
ーンでパターンを止めスタティック状態での測定を行う
ことなく、１回のファンクションパターン走行だけでフ
ァンクションパターン中の全ハイインピーダンスを検査
することが可能である。

これにより、テスト時間の大巾な短縮及び全ハイインピ
ーダンスモードを検査することからの信頼性の向上が見
込まれる。また、汎用ＬＳＩテスターに同機能を取り込
むことにより、１回のファンクション走行によりハイイ
ンピーダンスを含めた試料の全出力状態のテストが可能
となり、経済的でかつ信頼性の高い検査ができるという
効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例によるハイインピーダンス出
力の検査回路のブロック図である。第２図は本発明の他
の実施例による検査回路のブロック図である。 １・・・・・・ハイインピーダンス出力回路、２・・・
・・・出力端子、３・・・・・・負荷、４・・・・・・
パルス発振器、５・・発振検出部、６・・・・・・トラ
ンスファリレー、７・・・・コンパレータ、８・・・・
・・スレッシュホールド、９・・・・判定部、１０・・
・・・・同期信号ライン、１１・・■１０マルチプレク
ザ及び判定部、１２．１３・・・・接点。 代理人　弁理士　内　原　　　晋

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ハイインピーダンス機能を有する出力回路を備えた電子
   回路の該出力を生じる出力端子を負荷を通してパルス発
   振器に接続し、かつ該出力端子が発振検出部に入力され
   ているという構成を持つことを特徴とするハイインピー
   ダンス出力の検査回路。