JPH0238807A - 平面度自動測定装置 - Google Patents

平面度自動測定装置

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JPH0238807A
JPH0238807A JP18759488A JP18759488A JPH0238807A JP H0238807 A JPH0238807 A JP H0238807A JP 18759488 A JP18759488 A JP 18759488A JP 18759488 A JP18759488 A JP 18759488A JP H0238807 A JPH0238807 A JP H0238807A
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JP
Japan
Prior art keywords
inclination
work
workpiece
image
photodiode
Prior art date
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Pending
Application number
JP18759488A
Other languages
English (en)
Inventor
Yojiro Iwamoto
岩本 洋次郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は物体の表面の平面度を非接触に、光干渉方式
によってll′2i精度に測定する装置に係るもので、
測定の準備操作としてのワークの測定面の高さ及び傾斜
の調整を自動的に行なうものである。
く従来技術〉 従来光学的平面度測定の際には、装置にワークをセット
し、その測定面の高さ、傾斜の調整は人手によって行な
っていたが、これは時間と労力と熟練とを要する欠点が
あった。
く本発明の問題解決方法〉 ここでまずワークをセットするテーブルについて第1図
によって概要を示す。ワーク1はX−YテーブルAの上
面に取付られる。そしてその下にX−Yを水平面とした
ときの高さ(Z)調整のテーブルBを置き、更にその下
にテーブルA、B全体の傾斜を調整する傾斜調整テーブ
ルCを重ねる。
なおこの重ねる順序は適宜変更できる。ここでテーブル
Aは測定部分を決めるものであり、テーブルBは測定の
光学系の焦点合わせ、テーブルCは測定系に設けられた
基準測定面に対して平行度を調整するもので、テーブル
AのX−Yテーブルでは測定物の測定部分を順次位置決
めし、テーブルB、Cで測定最良位置を自動li!!整
しようとするのである。このためワーク垂直上面より観
察する光学系により、ワークの傾斜量と傾斜方向を検出
して、その信号によって傾斜14整テーブルCの調整を
する。つぎにワーク表面に傾斜して投光された光の反射
用、tγを4分割フォトダイオードに受けて、基準点か
らの高さのずれ方向と量とを検出し、これによりテーブ
ルBを高さ方向に調整して魚、αを合わせる方式をとる
〈実施例〉 第2図によって本発明の詳細な説明する。光源3からの
レーザー尤はビームエキスパンダ4を通って、偏光ビー
ムスプリッタ5で下方に向きを変えて、λ/4板6、基
準測定面(参照面)16を辿って、ワークに当り反射し
てくる光と基準測定面上の尤とで干渉して直上方向に進
み、結像レンズ18を通って、モ渉縞を電気信号に変換
する充電変換エリアセンサ(固体撮像索子カメラ)19
によって平面度の測定が行なわれる。
このような測定vc置が完全に機能するためにはワーク
表面の位置傾斜をi11!整する必要がある。
そこでまず自動傾斜補正について説明する。光源3かも
のレーザー尤はワークに直上から投Itされて、反射し
、λ/4Jfi6を通って、偏光方向を90°変えられ
、偏光ビームスプリッタ5を通過し、ハーフミラ−17
,7を一カスレンズ7を通って4分割フォトダイオード
8に焦光される。このときワーク表面が基準測定面に平
行していると、4分割フォトダイオードの中央に受像し
、傾斜していると中央からずれて4つのフォトダイオー
ド8の光電変換出力が相互に相異し、その出力を演算す
ることにより、ワークがどの方向に、とのぐらい傾斜し
ているかがti1明する。そこで傾斜測定テーブルCを
回転、4つの受光量が同じになる方向に調整する9すな
わち4分割されているフォトダイオードの中央に焦点が
結ばれる状態とすることによって傾斜調整を完了する。
次にワーク表面位置の高さ制御に2いて説明する。すな
わち本測定系の固有の焦点に一致させる位置に複写体を
置くように、高さの制御を行なう。
斜め横の光源11からの光は7オーカスレンズ12によ
り焦点をほぼワーク表面に結ばれて反射し、結像レンX
13”C”2分’jFi 7 t )ダイオードI4に
結像する。そして萌記同様な出力信号の演法を行なって
、Z調整ハンドルを自動回転して、定位置を決める。な
お定位置は傾斜回転テーブルCの旋回中心5−仄である
。まだこのとき2分2F1フォトダイオードの代わりに
4分割7t)ダイオードを使用しても良い。
このようにしてワーク表面の傾斜が補正され、表面の位
置が補正されたところで、基準測定面16とワーク表面
との距離の差をモ渉縞としてエリアセンサ19によって
読み取って、電気信号出力を得る。
く効果〉 ワークテーブル上に受数個のワークをセットしていたと
さ、これを順次自動的に平面度を測定することができて
、能率化が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に使用されるテーブルの構成を示す説明
図、f52図は本発明の構成説明図。 1・・・ワーク(被測定物体)  3・・・レーザー光
源4・・・ビームエキスパンダ  5・・・偏光ビーム
スフリツタ  6・・・λ/4板  8,14・・・4
分割フォトダイオード  11・・・光源  16・・
・基準測定面  19・・・光電変換エリアセンサ特許
出願人  株式会社 東京精密

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)高さ及び傾斜の調整テーブル上に取付けられたワ
    ークの表面を干渉縞で測定する平面度測定装置において
    、光源からの光をワークに垂直に投射した測定系の反射
    光を取出し、その結像を4分割フォトダイオードに受け
    て、その出力よりワークの傾斜方向と量を検知する検出
    系と、その系の出力を入力とする傾斜調整テーブルの自
    動制御系と、斜め方向からワーク表面に投射し、その反
    射光の結像を分割フォトダイオードに受けてワークの高
    さ位置を検知する検出系と、この出力により高さ調整を
    行なう自動制御系とから構成される平面自動測定装置。
JP18759488A 1988-07-27 1988-07-27 平面度自動測定装置 Pending JPH0238807A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103389051A (zh) * 2013-08-09 2013-11-13 昆山允可精密工业技术有限公司 一种立式晶圆形状测量仪

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5924819A (ja) * 1982-08-03 1984-02-08 Ricoh Co Ltd 干渉測定装置の光軸合せ機構
JPS60140314A (ja) * 1983-12-28 1985-07-25 Hitachi Ltd 光姿勢合わせ装置
JPS62223613A (ja) * 1986-03-26 1987-10-01 Toshiba Corp 位置測定方法

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