JPH0239202A - プロセス制御回路 - Google Patents
プロセス制御回路Info
- Publication number
- JPH0239202A JPH0239202A JP18869088A JP18869088A JPH0239202A JP H0239202 A JPH0239202 A JP H0239202A JP 18869088 A JP18869088 A JP 18869088A JP 18869088 A JP18869088 A JP 18869088A JP H0239202 A JPH0239202 A JP H0239202A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- control
- load
- circuit
- control circuit
- deviation
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- Pending
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- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
この発明はプロセス制御回路、主としてむだ時間を含む
積分性プロセス又はむだ時間を含む一次遅れプロセスに
対するPTD制御回路に関する。
積分性プロセス又はむだ時間を含む一次遅れプロセスに
対するPTD制御回路に関する。
(ロ)従来の技術
例えば、むだ時間を含む積分性プロセスでは、第4図に
示すように、等価むだ時間(むだ時間T:)要素1を含
む積分性要素(積分時定数↑)2のプロセス3において
、制御量χを目標値rに制御するために、比例(P)゛
要素4と積分(1)要素5と微分(D)要素6からなる
IID調節237が使用される。このプロセス3におい
て、従来、プロセスにかかる負荷Vの変化により、制御
計Xが目標値rから偏位したとき、制御計Xを目標値r
に制御す名ために、PID調節器7の各制御パラメータ
をジーグラ・ニコルスの提唱する値(比例ゲイン:1.
2T/L、積分時間:2■2、微分時間:L/2)に設
定している。このジーグラ・ニコルスの値は、プロセス
に加わる負荷が定格(100%)のときに最適な制御結
果が得られるように決められたものである。
示すように、等価むだ時間(むだ時間T:)要素1を含
む積分性要素(積分時定数↑)2のプロセス3において
、制御量χを目標値rに制御するために、比例(P)゛
要素4と積分(1)要素5と微分(D)要素6からなる
IID調節237が使用される。このプロセス3におい
て、従来、プロセスにかかる負荷Vの変化により、制御
計Xが目標値rから偏位したとき、制御計Xを目標値r
に制御す名ために、PID調節器7の各制御パラメータ
をジーグラ・ニコルスの提唱する値(比例ゲイン:1.
2T/L、積分時間:2■2、微分時間:L/2)に設
定している。このジーグラ・ニコルスの値は、プロセス
に加わる負荷が定格(100%)のときに最適な制御結
果が得られるように決められたものである。
(ハ)発明が解決しようとする課題
上記したジーグラ・ニコルスの値を採用した従来のもの
では、負荷が100%の場合、最適な制御結果が得られ
るから問題ないが、プロセスにかかる負荷Vが低下する
につれて、プロセス特性の積分時定数〒、むだ時間rが
大きくなるので、制御結果は、第5図に示すように負荷
の低下につれて、次第に応答が振動的になってくる。第
5図の例示は、定格時におけるプロセスの積分時定数T
=4.75分、むだ時間I、=2.24分とし、負荷が
100%から20%まで、20%ずつ低下していったと
きの計算結果である。100%時の応答曲線は10分、
20分、30分に偏差0となっている。
では、負荷が100%の場合、最適な制御結果が得られ
るから問題ないが、プロセスにかかる負荷Vが低下する
につれて、プロセス特性の積分時定数〒、むだ時間rが
大きくなるので、制御結果は、第5図に示すように負荷
の低下につれて、次第に応答が振動的になってくる。第
5図の例示は、定格時におけるプロセスの積分時定数T
=4.75分、むだ時間I、=2.24分とし、負荷が
100%から20%まで、20%ずつ低下していったと
きの計算結果である。100%時の応答曲線は10分、
20分、30分に偏差0となっている。
以にのように、従来の制御回路では、負荷が低下するに
つれて、制御結果が悪くなるという問題があった。
つれて、制御結果が悪くなるという問題があった。
この発明は、上記問題点に着目してなされたものであっ
て、負荷が低下しても制御結果が悪くならない、むしろ
良好となるプロセス制御回路をを供することを目的とし
ている。
て、負荷が低下しても制御結果が悪くならない、むしろ
良好となるプロセス制御回路をを供することを目的とし
ている。
(ニ)課題を解決するための手段及び作用この発明のプ
ロセス制御回路は、比例要素、積分要素、微分要素とを
含むものにおいて、入力側に、プロセスにかかる負荷又
は、操作量で入力を割る割算回路を特徴的に設けている
。
ロセス制御回路は、比例要素、積分要素、微分要素とを
含むものにおいて、入力側に、プロセスにかかる負荷又
は、操作量で入力を割る割算回路を特徴的に設けている
。
このプロセス制御回路では、負荷が低下した場合、例え
ば、第3図に示すように、負荷が低下するにつれて応答
特性の振動が小さくなり、制御結果が良好となる。
ば、第3図に示すように、負荷が低下するにつれて応答
特性の振動が小さくなり、制御結果が良好となる。
(ホ)実施例
以下、実施例により、この発明をさらに詳細に説明する
。
。
第1図は、この発明の一実施例を示すPID制御回路の
ブロック図である。このPrD制f711 @路も、等
価むだ時間要素lを含む積分性要素2のプロセス3をP
ID調節器7で調節するものであり、PID調節器7は
比例要素4、積分要素5及び微分要素6を備えている。
ブロック図である。このPrD制f711 @路も、等
価むだ時間要素lを含む積分性要素2のプロセス3をP
ID調節器7で調節するものであり、PID調節器7は
比例要素4、積分要素5及び微分要素6を備えている。
この点、第4図に示す従来のPID制御回路と同様であ
る。
る。
この実施例PID制御回路の特徴は、比例要素40入力
側に、割算回路8を設けたことである。
側に、割算回路8を設けたことである。
この割算回路8には、PrD制御回路の入力、つまり、
目標値r−制御量Xの制御偏差が入力されるとともに、
PID調節器7の出力、つまり操作4itmが加えられ
ている。この割1γ回路8は、制御偏差r−xを操作量
mで割算する機能を有する。
目標値r−制御量Xの制御偏差が入力されるとともに、
PID調節器7の出力、つまり操作4itmが加えられ
ている。この割1γ回路8は、制御偏差r−xを操作量
mで割算する機能を有する。
このPID制御回路において、第4図の回路と同じ特性
のプロセス、つまり定格時の積分時定数T=4.75分
、むだ時間L=2.24分を対象にジーグラ・ニコルス
のPIDパラメータを設定し、負荷Vを100%から2
0%まで20%ずつ低下していったとき、計算結果が第
3図に示すようになった。この第3図の応答特性をみる
と、9、荷100%の応答曲線は10分、20分、30
分に偏差0となり、第5図と同じであるが、制?I@x
の偏差は負荷力)゛低下するにつれて、11111次小
さくなっている。つまり、負荷が低下するにつれて、か
えって制御結果が良好となっている。
のプロセス、つまり定格時の積分時定数T=4.75分
、むだ時間L=2.24分を対象にジーグラ・ニコルス
のPIDパラメータを設定し、負荷Vを100%から2
0%まで20%ずつ低下していったとき、計算結果が第
3図に示すようになった。この第3図の応答特性をみる
と、9、荷100%の応答曲線は10分、20分、30
分に偏差0となり、第5図と同じであるが、制?I@x
の偏差は負荷力)゛低下するにつれて、11111次小
さくなっている。つまり、負荷が低下するにつれて、か
えって制御結果が良好となっている。
なお、ヒ記T流側では、操作1mで制御偏差r−Xを割
算しているが、操作1mは、常に負荷Vとなるように、
制御回路が働いているので、操作timは負荷■である
と見做してよい。したがって、負荷Vがわかっている場
合、つまり既知の場合は、第2図に示すように、負荷V
を割算回路8に加え、制御偏差r−xを、負荷Vで割算
しても、同様の結果が得られる。第2図のPTD制御回
路において、操作量mで制御偏差r−xを割る回路を除
けば、その他の回路部分は第1図のPID制御回路と同
様である。
算しているが、操作1mは、常に負荷Vとなるように、
制御回路が働いているので、操作timは負荷■である
と見做してよい。したがって、負荷Vがわかっている場
合、つまり既知の場合は、第2図に示すように、負荷V
を割算回路8に加え、制御偏差r−xを、負荷Vで割算
しても、同様の結果が得られる。第2図のPTD制御回
路において、操作量mで制御偏差r−xを割る回路を除
けば、その他の回路部分は第1図のPID制御回路と同
様である。
(へ)発明の効果
この発明によれば、調節器の入力を出力(tW作@)で
割る割tγ回路を設けることにより、プロセスにかかる
負荷の低下につれて、制御量の制御結果が悪(なるとい
う従来の欠点を解消し、負荷の低下につれてむしろ良好
な制御結果を得ることができる。この効果は、むだ1I
iIF間を含む積分性プロセスに対し、ジーグラ・ニコ
ルスの制御パラメータを用いた例示の場合は、もちろん
あらゆるプロセス制御系についてあてはまる。
割る割tγ回路を設けることにより、プロセスにかかる
負荷の低下につれて、制御量の制御結果が悪(なるとい
う従来の欠点を解消し、負荷の低下につれてむしろ良好
な制御結果を得ることができる。この効果は、むだ1I
iIF間を含む積分性プロセスに対し、ジーグラ・ニコ
ルスの制御パラメータを用いた例示の場合は、もちろん
あらゆるプロセス制御系についてあてはまる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例を示すPrD制御回路の
ブロック図、第2図は、この発明の他の実施例を示すP
IDffI制御回路のブロック図、第3図は、上記実施
例PID制御回路の応答特性の一例を示す図、第4図は
従来のP r D iIl+御回路を示すブロック図、
第5図は従来のPIDfflII御回路の応答特性の一
例を示す図である。 3:プロセス、 4:比例要素、 5:積分要素、 6;微分要素、 7:PrD調節器、8:割算回路、 m:操作量、 X:制御量、 r:目標値、 ■=負負荷
ブロック図、第2図は、この発明の他の実施例を示すP
IDffI制御回路のブロック図、第3図は、上記実施
例PID制御回路の応答特性の一例を示す図、第4図は
従来のP r D iIl+御回路を示すブロック図、
第5図は従来のPIDfflII御回路の応答特性の一
例を示す図である。 3:プロセス、 4:比例要素、 5:積分要素、 6;微分要素、 7:PrD調節器、8:割算回路、 m:操作量、 X:制御量、 r:目標値、 ■=負負荷
Claims (1)
- (1)比例要素、積分要素、微分要素を含むプロセス制
御回路において、 入力側に、プロセスにかかる負荷又は、操作量で入力を
割る割算回路を設けたことを特徴とするプロセス制御回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18869088A JPH0239202A (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | プロセス制御回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18869088A JPH0239202A (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | プロセス制御回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0239202A true JPH0239202A (ja) | 1990-02-08 |
Family
ID=16228127
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18869088A Pending JPH0239202A (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | プロセス制御回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0239202A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7266906B2 (en) | 2005-09-28 | 2007-09-11 | Mitutoyo Corporation | Measuring tool |
-
1988
- 1988-07-28 JP JP18869088A patent/JPH0239202A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7266906B2 (en) | 2005-09-28 | 2007-09-11 | Mitutoyo Corporation | Measuring tool |
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