JPH0240538A - 濃淡検出装置 - Google Patents
濃淡検出装置Info
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- JPH0240538A JPH0240538A JP19193088A JP19193088A JPH0240538A JP H0240538 A JPH0240538 A JP H0240538A JP 19193088 A JP19193088 A JP 19193088A JP 19193088 A JP19193088 A JP 19193088A JP H0240538 A JPH0240538 A JP H0240538A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は濃淡検出装置に関し、例えばファクシミリ記録
紙のエンドマーク検出のための改良構造に係るものであ
る。
紙のエンドマーク検出のための改良構造に係るものであ
る。
〈従来技術〉
従来のファクシミリエンドマーク検出用の濃淡検出装置
は、第８．９図の如く、濃淡検出装置本体１と、一方向
の指向性をもつ発光素子２と、発光素子２の光を受光す
る受光素子３と、検出回路４とから構成されている。
は、第８．９図の如く、濃淡検出装置本体１と、一方向
の指向性をもつ発光素子２と、発光素子２の光を受光す
る受光素子３と、検出回路４とから構成されている。
そして、本体１を第１０図の如く、被検出物（ファクシ
ミリ記録紙）５の指標（ファクシミリエンドマーク）６
が通過する位置に設置し、検出回路４にて受光素子３の
標準出力電圧ＶＬと受光素子３の出力電圧ＶＥとを比較
して被検出物５の指標６を検出していた。
ミリ記録紙）５の指標（ファクシミリエンドマーク）６
が通過する位置に設置し、検出回路４にて受光素子３の
標準出力電圧ＶＬと受光素子３の出力電圧ＶＥとを比較
して被検出物５の指標６を検出していた。
このとき、受光素子３の標準出力電圧ＶＬ、指標６を検
出しているときの受光素子３の出力電圧ＶＥＩ、および
指標６以外を検出しているときの受光素子３の電圧ＶＥ
２との関係は、 ＶＥｌ ＜ＶＬ＜ＶＦ６ と設定されている。
出しているときの受光素子３の出力電圧ＶＥＩ、および
指標６以外を検出しているときの受光素子３の電圧ＶＥ
２との関係は、 ＶＥｌ ＜ＶＬ＜ＶＦ６ と設定されている。
く 発明が解決しようとする問題点 〉しかし、従来の
濃淡検出装置において、受光素子３の標準出力電圧ＶＬ
は、第９図の如く、検出回路４にて抵抗Ｒ１，Ｒ２によ
る分圧で固定し、可変抵抗Ｒ３の利得を変えることによ
り初期調整されているので、発光素子２の出力が経年変
化等により低下すると、一定時間を経過後の指標６以外
を検出しているときの受光素子３の出力電圧ＶＥ２は、
第１１図の如く、受光素子３の標準出力電圧ＶＬを下回
り、 ＶＥＩ ＜ＶＬ＜ＶＦ６ の関係が維持できなくなり、第１２図の如く、検出回路
４の出力電圧■０が一定時間ｔで低下して誤動作を生じ
ることになる。
濃淡検出装置において、受光素子３の標準出力電圧ＶＬ
は、第９図の如く、検出回路４にて抵抗Ｒ１，Ｒ２によ
る分圧で固定し、可変抵抗Ｒ３の利得を変えることによ
り初期調整されているので、発光素子２の出力が経年変
化等により低下すると、一定時間を経過後の指標６以外
を検出しているときの受光素子３の出力電圧ＶＥ２は、
第１１図の如く、受光素子３の標準出力電圧ＶＬを下回
り、 ＶＥＩ ＜ＶＬ＜ＶＦ６ の関係が維持できなくなり、第１２図の如く、検出回路
４の出力電圧■０が一定時間ｔで低下して誤動作を生じ
ることになる。
さらに、指標６と、この指標６以外の濃淡比の小さな被
検出物５での指標６の検出が困難であつ等により発光素
子の出力の低下が生じても誤作動することなく安定した
出力を得ることができ、しかも濃淡比の小さな被検出物
の指標を検出できる濃淡検出装置の提供を目的とするも
のである。
検出物５での指標６の検出が困難であつ等により発光素
子の出力の低下が生じても誤作動することなく安定した
出力を得ることができ、しかも濃淡比の小さな被検出物
の指標を検出できる濃淡検出装置の提供を目的とするも
のである。
〈 問題点を解決するための手段 〉
本発明による問題点解決手段は、第１，２図の如く、濃
淡検出装置本体１０と、該本体１０上を相対的に移動す
る被検出物１１の指標１２が通過する第一照射位置Ａと
前記指標１２以外が通過する第二照射位置Ｂとの双方向
に指向性を持つ発光素子１３と、前記第一照射位置Ａか
らの第一反射光１４を受光する第一受光素子１５と、前
記第二照射位置Ｂからの第二反射光１６を受光する第二
受光素子１７と、前記第一受光素子１５の出力ＶＥと第
二受光素子１７の出力ＶＬとを比較して前記指標１２を
検出する検出回路１８とから構成されたものである。
淡検出装置本体１０と、該本体１０上を相対的に移動す
る被検出物１１の指標１２が通過する第一照射位置Ａと
前記指標１２以外が通過する第二照射位置Ｂとの双方向
に指向性を持つ発光素子１３と、前記第一照射位置Ａか
らの第一反射光１４を受光する第一受光素子１５と、前
記第二照射位置Ｂからの第二反射光１６を受光する第二
受光素子１７と、前記第一受光素子１５の出力ＶＥと第
二受光素子１７の出力ＶＬとを比較して前記指標１２を
検出する検出回路１８とから構成されたものである。
〈作用〉
上記問題点解決手段において、濃淡検出装置は、発光素
子１３の双方向の光を被検出物１１に照射し、第一照射
位置Ａからの第一反射光１４を第一受光素子１５で受光
し、第二照射位置Ｂからの第二反射光１６を第二受光素
子１７で受光する。そして、第一受光素子１５と第二受
光素子１７との出力を検出回路１８で比較して被検出物
１１の指標１２を検出する。
子１３の双方向の光を被検出物１１に照射し、第一照射
位置Ａからの第一反射光１４を第一受光素子１５で受光
し、第二照射位置Ｂからの第二反射光１６を第二受光素
子１７で受光する。そして、第一受光素子１５と第二受
光素子１７との出力を検出回路１８で比較して被検出物
１１の指標１２を検出する。
このとき、経年変化等による発光素子１３の出力低下に
伴ない第一受光素子１５の出力ＶＥが低下しても、発光
素子１３の双方向の光を第一、第二受光素子１５．１７
が夫々受光してその出力ＶＥ、ＶＬを検出回路１８に出
力するので、第二受光素子１７の出力ＶＬを第一受光素
子１５の出力ＶＥの低下に追従して低下することができ
る。
伴ない第一受光素子１５の出力ＶＥが低下しても、発光
素子１３の双方向の光を第一、第二受光素子１５．１７
が夫々受光してその出力ＶＥ、ＶＬを検出回路１８に出
力するので、第二受光素子１７の出力ＶＬを第一受光素
子１５の出力ＶＥの低下に追従して低下することができ
る。
〈実施例〉
以下、本発明の実施例につき図面により説明する。第１
図は本発明第一実施例の濃淡検出装置の縦断面図、第２
図は同じくその検出回路の電気回路図、第３図は同じく
それが被検出物の指標以外を検出する状態を示す平面図
、第４図は同じく指標を検出する状態を示す平面図、第
５図は指標および指標以外を検出したときの第一受光素
子およゾ検出回路の出力電圧の関係を示す図、第６図は
同じくその経年変化等により発光素子の出力低下に伴な
う第一、第二受光素子の出力電圧の関係を示す図である
。
図は本発明第一実施例の濃淡検出装置の縦断面図、第２
図は同じくその検出回路の電気回路図、第３図は同じく
それが被検出物の指標以外を検出する状態を示す平面図
、第４図は同じく指標を検出する状態を示す平面図、第
５図は指標および指標以外を検出したときの第一受光素
子およゾ検出回路の出力電圧の関係を示す図、第６図は
同じくその経年変化等により発光素子の出力低下に伴な
う第一、第二受光素子の出力電圧の関係を示す図である
。
図示の如く、本発明のファクシミリエンドマーク検出用
濃淡検出装置は、濃淡検出装置本体１０と、該本体１０
上を相対的に移動する被検出物（例えばファクシミリ記
録紙）１１の指標（例えばファクシミリエンドマーク）
１２が通過する第一照射位置Ａと前記指標１２以外が通
過する第二照射位置Ｂとの双方向に指向性を持つ発光素
子１３と、前記第一照射位置Ａからの第一反射光１４を
受光する第一受光素子１５と、前記第二照射位置Ｂｈ−
らの第二反射光１６を受光する第二受光素子１７と、前
記第一受光素子１５の出力ＶＥと第二受光素子１７の出
力ＶＬとを比較して前記指標１２を検出する検出回路１
８とから構成されている。
濃淡検出装置は、濃淡検出装置本体１０と、該本体１０
上を相対的に移動する被検出物（例えばファクシミリ記
録紙）１１の指標（例えばファクシミリエンドマーク）
１２が通過する第一照射位置Ａと前記指標１２以外が通
過する第二照射位置Ｂとの双方向に指向性を持つ発光素
子１３と、前記第一照射位置Ａからの第一反射光１４を
受光する第一受光素子１５と、前記第二照射位置Ｂｈ−
らの第二反射光１６を受光する第二受光素子１７と、前
記第一受光素子１５の出力ＶＥと第二受光素子１７の出
力ＶＬとを比較して前記指標１２を検出する検出回路１
８とから構成されている。
前記本体１０は、第１図の如く、直方体に形成されてい
る。そして、該本体１０内に、その中心に配置された前
記発光素子１３と、該発光素子１３の第一照射位置Ａ側
に配置された前記第一受光素子１５と、第二照射位置Ｂ
側に配置された前記第二受光素子１７とが装着されてい
る。
る。そして、該本体１０内に、その中心に配置された前
記発光素子１３と、該発光素子１３の第一照射位置Ａ側
に配置された前記第一受光素子１５と、第二照射位置Ｂ
側に配置された前記第二受光素子１７とが装着されてい
る。
前記検出回路１８は、第２図の如く、前記第二受光素子
１７の出力電圧ＶＬを初期調整する可変抵抗Ｒ１、前記
第一受光素子１５の出力電圧ＶＥと第二受光素子１７の
出力電圧ＶＬとを比較して検出出力電圧■０を出力する
増幅器１９、および抵抗Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４から構成され
ている。
１７の出力電圧ＶＬを初期調整する可変抵抗Ｒ１、前記
第一受光素子１５の出力電圧ＶＥと第二受光素子１７の
出力電圧ＶＬとを比較して検出出力電圧■０を出力する
増幅器１９、および抵抗Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４から構成され
ている。
前記可変抵抗Ｒ１は、予め、第二受光素子１７の出力電
圧ＶＬを、指標１２を検出するときの第一受光素子１５
の出力電圧ＶＥＩと、指標１２以外を検出するときの第
一受光素子１５の出力電圧ＶＥ２との中間の値、すなわ
ち ＶＥｌ ＜ＶＬ＜ＶＦ６ となるように初期調整されている。
圧ＶＬを、指標１２を検出するときの第一受光素子１５
の出力電圧ＶＥＩと、指標１２以外を検出するときの第
一受光素子１５の出力電圧ＶＥ２との中間の値、すなわ
ち ＶＥｌ ＜ＶＬ＜ＶＦ６ となるように初期調整されている。
上記濃淡検出装置は、発光素子１３の双方向の光を被検
出物１１に照射し、第一照射位置Ａからの第一反射光１
４を第一受光素子１５で受光し、第二照射位置Ｂからの
第二反射光１６を第二受光素子１７で受光する。そして
、第一受光素子１５と第二受光素子１７との出力を検出
回路１８で比較して被検出物１１の指標１２を検出する
。
出物１１に照射し、第一照射位置Ａからの第一反射光１
４を第一受光素子１５で受光し、第二照射位置Ｂからの
第二反射光１６を第二受光素子１７で受光する。そして
、第一受光素子１５と第二受光素子１７との出力を検出
回路１８で比較して被検出物１１の指標１２を検出する
。
例えば、第３図に示すように濃淡検出装置が被検出物１
１のＸに位置したとき、第一受光素・子１５が第一反射
光１４を受光するので、第一受光素子１５の出力電圧Ｖ
Ｅは、第５図の如く、第二受光素子１７の出力電圧ＶＬ
よりも高くなり、検出回路１８内の増幅器１９により検
出出力電圧■Ｏが高く出力され、被検出物１１の指標１
２以外が検出される。
１のＸに位置したとき、第一受光素・子１５が第一反射
光１４を受光するので、第一受光素子１５の出力電圧Ｖ
Ｅは、第５図の如く、第二受光素子１７の出力電圧ＶＬ
よりも高くなり、検出回路１８内の増幅器１９により検
出出力電圧■Ｏが高く出力され、被検出物１１の指標１
２以外が検出される。
また、第４図に示すように濃淡検出装置が被検出物１１
のＹに位置したとき、第一受光素子１５が第一反射光１
４を受光しないので、第一受光素子１５の出力電圧ＶＥ
は、第５図の如く、第二受光素子１７の出力電圧ＶＬよ
りも低くなり、検出回路１８内の増幅器１９により検出
出力電圧■Ｏが低く出力され、被検出物１１の指標１２
が検出される。
のＹに位置したとき、第一受光素子１５が第一反射光１
４を受光しないので、第一受光素子１５の出力電圧ＶＥ
は、第５図の如く、第二受光素子１７の出力電圧ＶＬよ
りも低くなり、検出回路１８内の増幅器１９により検出
出力電圧■Ｏが低く出力され、被検出物１１の指標１２
が検出される。
このとき、経年変化等により発光素子１３の出力が低下
しても、本体１０内に双方向の指方向性を持つ発光素子
１３を設置し、そして発光素子１３の第一照射位置Ａか
らの第一反射光１４を第一受光素子１５で受光し、さら
に発光素子１３の第二照射位置Ｂからの第二反射光１６
を第二受光素子１７で受光するので、第二受光素子１７
の出力電圧ＶＬ、指標１２を検出するときの第一受光素
子１５の出力電圧ＶＥ１および指標１２以外を検出する
ときの第一受光素子１７の出力電圧ＶＥ２との関係を第
６図の如く、常に ＶＥＩ ＜ＶＬ＜ＶＦ６ に維持することができる。
しても、本体１０内に双方向の指方向性を持つ発光素子
１３を設置し、そして発光素子１３の第一照射位置Ａか
らの第一反射光１４を第一受光素子１５で受光し、さら
に発光素子１３の第二照射位置Ｂからの第二反射光１６
を第二受光素子１７で受光するので、第二受光素子１７
の出力電圧ＶＬ、指標１２を検出するときの第一受光素
子１５の出力電圧ＶＥ１および指標１２以外を検出する
ときの第一受光素子１７の出力電圧ＶＥ２との関係を第
６図の如く、常に ＶＥＩ ＜ＶＬ＜ＶＦ６ に維持することができる。
すなわち、本発明の濃淡検出装置では、発光素子１３の
双方向の反射光１４．１６を受光素子１５．１７が夫々
受光して検出回路１８に出力するので、経年変化等によ
る発光素子１３の出力低下に伴ない第一受光素子１５の
出力電圧ＶＥが低下しても、それに追従して第二受光素
子１７の出力電圧ＶＬを低下することができる。
双方向の反射光１４．１６を受光素子１５．１７が夫々
受光して検出回路１８に出力するので、経年変化等によ
る発光素子１３の出力低下に伴ない第一受光素子１５の
出力電圧ＶＥが低下しても、それに追従して第二受光素
子１７の出力電圧ＶＬを低下することができる。
したがって、経年変化等により発光素子の出力の低下が
生じても誤作動することなく安定した出力を得ることが
でき、しかも濃淡比の小さな被検出物の指標を検出でき
る。
生じても誤作動することなく安定した出力を得ることが
でき、しかも濃淡比の小さな被検出物の指標を検出でき
る。
次に、本発明の第二実施例について図面により説明する
。第７図は本発明第二実施例濃淡検出装置の縦断面図で
ある。
。第７図は本発明第二実施例濃淡検出装置の縦断面図で
ある。
図示の如く、本実施例の濃淡検出装置は、第一実施例の
ように第一、第二受光素子１５．１７が発光素子１３を
挟んで配置されるのではなく、前記第一、第二受光素子
１５．１７が発光素子１３を挟まないで配置されたもの
である。その池の構成および、作用、効果は、第一実施
例と同様である。
ように第一、第二受光素子１５．１７が発光素子１３を
挟んで配置されるのではなく、前記第一、第二受光素子
１５．１７が発光素子１３を挟まないで配置されたもの
である。その池の構成および、作用、効果は、第一実施
例と同様である。
なお、本発明は、上記実施例に限定されるものではなく
、本発明の範囲内で上記実施例に多くの修、ｉＥ、およ
び変更を加え得ることは勿論である。
、本発明の範囲内で上記実施例に多くの修、ｉＥ、およ
び変更を加え得ることは勿論である。
例えば、本実施例においては、第二受光素子１７の出力
電圧ＶＬを初期調整するのに可変抵抗Ｒ１を用いている
が、単なる普通の抵抗でＶＥＩ ＜ＶＬ＜ＶＦ６ の関係が維持できるよう出力電圧ＶＬの初期調整を行な
っても、本発明の目的は達成できる。
電圧ＶＬを初期調整するのに可変抵抗Ｒ１を用いている
が、単なる普通の抵抗でＶＥＩ ＜ＶＬ＜ＶＦ６ の関係が維持できるよう出力電圧ＶＬの初期調整を行な
っても、本発明の目的は達成できる。
〈発明の効果〉
以上の説明から明らかな通り、本発明によると、濃淡検
出装置本体内に、本体上を相対的に移動する被検出物の
指標が通過する第一照射位置と前記指標以外が通過する
第二照射位置との双方向に指向性を持つ発光素子と、第
一照射位置からの第一反射光を受光する第一受光素子と
、第二照射位置からの第二反射光を受光する第二受光素
子とを設置し、検出回路により第一受光素子の出力と第
二受光素子の出力とを比較して指標を検出するので、発
光素子の出力低下に伴なう第一受光素子の出力の低下に
追従して第二受光素子の出力を低下することができる。
出装置本体内に、本体上を相対的に移動する被検出物の
指標が通過する第一照射位置と前記指標以外が通過する
第二照射位置との双方向に指向性を持つ発光素子と、第
一照射位置からの第一反射光を受光する第一受光素子と
、第二照射位置からの第二反射光を受光する第二受光素
子とを設置し、検出回路により第一受光素子の出力と第
二受光素子の出力とを比較して指標を検出するので、発
光素子の出力低下に伴なう第一受光素子の出力の低下に
追従して第二受光素子の出力を低下することができる。
このため、経年変化等により発光素子の出力の低下が生
じても誤作動することなく安定した出力を得ることがで
き、しかも濃淡比の小さな被検出物の指標を検出できる
といった優れた効果がある。
じても誤作動することなく安定した出力を得ることがで
き、しかも濃淡比の小さな被検出物の指標を検出できる
といった優れた効果がある。
第１図は本発明第一実施例の濃淡検出装置の縦断面図、
第２図は同じくその検出回路の電気回路図、第３図は同
じくそれが被検出物の指標以外を検出する状態を示す平
面図、第４図は同じく指標を検出する状態を示す平面図
、第５図は指標お上び指標以外を検出したときの第一受
光素子および検出回路の出力電圧の関係を示す図、第６
図は同じくその経年変化等により発光素子の出力低下に
伴なう第一、第二受光素子の出力電圧の関係を示す図、
第７図は本発明第二実施例濃淡検出装置の縦断面図、第
８図は従来の濃淡検出装置の縦断面図、第９図は同じく
その検出回路の電気回路図、第１０図は同じくその設置
状態を示す平面図、第１１図は同じくその受光素子の出
力電圧の経年変化を示す図、第１２図は同じくその検出
回路の出力電圧を示す図である。 １０：濃淡検出装置本体、１１：被検出物、１２：指標
、１３：発光素子、１４：第一反射光、１５：第一受光
素子、１６：第二反射光、１７：第二受光素子１７．１
８：検出回路。 出 願 人 シャープ株式会社
第２図は同じくその検出回路の電気回路図、第３図は同
じくそれが被検出物の指標以外を検出する状態を示す平
面図、第４図は同じく指標を検出する状態を示す平面図
、第５図は指標お上び指標以外を検出したときの第一受
光素子および検出回路の出力電圧の関係を示す図、第６
図は同じくその経年変化等により発光素子の出力低下に
伴なう第一、第二受光素子の出力電圧の関係を示す図、
第７図は本発明第二実施例濃淡検出装置の縦断面図、第
８図は従来の濃淡検出装置の縦断面図、第９図は同じく
その検出回路の電気回路図、第１０図は同じくその設置
状態を示す平面図、第１１図は同じくその受光素子の出
力電圧の経年変化を示す図、第１２図は同じくその検出
回路の出力電圧を示す図である。 １０：濃淡検出装置本体、１１：被検出物、１２：指標
、１３：発光素子、１４：第一反射光、１５：第一受光
素子、１６：第二反射光、１７：第二受光素子１７．１
８：検出回路。 出 願 人 シャープ株式会社
Claims (1)
- 濃淡検出装置本体と、該本体上を相対的に移動する被検
出物の指標が通過する第一照射位置と前記指標以外が通
過する第二照射位置との双方向に指向性を持つ発光素子
と、前記第一照射位置からの第一反射光を受光する第一
受光素子と、前記第二照射位置からの第二反射光を受光
する第二受光素子と、前記第一受光素子の出力と第二受
光素子の出力とを比較して前記指標を検出する検出回路
とから構成されたことを特徴とする濃淡検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19193088A JPH0240538A (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 濃淡検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19193088A JPH0240538A (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 濃淡検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0240538A true JPH0240538A (ja) | 1990-02-09 |
Family
ID=16282813
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19193088A Pending JPH0240538A (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 濃淡検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0240538A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6051479B2 (ja) * | 1976-11-26 | 1985-11-14 | 旭化成株式会社 | 有機テルル−銀錯体 |
| JPS6231655A (ja) * | 1985-08-02 | 1987-02-10 | Nec Corp | 紙エンドマ−ク検出装置 |
| JPS62146852A (ja) * | 1985-12-18 | 1987-06-30 | Omron Tateisi Electronics Co | 反射形フオトセンサ |
-
1988
- 1988-07-29 JP JP19193088A patent/JPH0240538A/ja active Pending
Patent Citations (3)
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|---|---|---|---|---|
| JPS6051479B2 (ja) * | 1976-11-26 | 1985-11-14 | 旭化成株式会社 | 有機テルル−銀錯体 |
| JPS6231655A (ja) * | 1985-08-02 | 1987-02-10 | Nec Corp | 紙エンドマ−ク検出装置 |
| JPS62146852A (ja) * | 1985-12-18 | 1987-06-30 | Omron Tateisi Electronics Co | 反射形フオトセンサ |
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