JPH0240539Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0240539Y2 JPH0240539Y2 JP1984098373U JP9837384U JPH0240539Y2 JP H0240539 Y2 JPH0240539 Y2 JP H0240539Y2 JP 1984098373 U JP1984098373 U JP 1984098373U JP 9837384 U JP9837384 U JP 9837384U JP H0240539 Y2 JPH0240539 Y2 JP H0240539Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- plunger
- contact pins
- plunger contact
- sleeve
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の目的〕
（産業上の利用分野）
本考案は、例えば、テレビやビデオ等に使用さ
れる集積回路（I.C）を検査する回路基板検査機
や実装基板検査機（インサーキツト検査機）等の
ピンボードに挿着して使用されるコンタクトプロ
ーブに係り、特に、両端可動形のコンタクトプロ
ーブに関する。
れる集積回路（I.C）を検査する回路基板検査機
や実装基板検査機（インサーキツト検査機）等の
ピンボードに挿着して使用されるコンタクトプロ
ーブに係り、特に、両端可動形のコンタクトプロ
ーブに関する。
（従来の技術）
既に提案されているこの種のコンタクトプロー
ブは、第１図に示されるように構成されている。
ブは、第１図に示されるように構成されている。
即ち、第１図において、回路基板検査機におけ
る扁平なピンボード１には、導電性にして、しか
も、円筒状をなすスリーブ２が貫通して挿着され
ており、このスリーブ２の両端開口部２ａ，２ｂ
には、導電性の一対のプランジヤー接触ピン３，
４が伸張性のコイルばね５を介して滑動自在にし
て、しかも、上記スリーブ２の一部に絞り加工に
よつて形成された各ストツパ６ａ，６ｂで外方へ
抜け出ないようして突設されている。又、上記各
プランジヤー接触ピン３，４の各内端部３ｃと４
ｃとは、例えば、銅線による可撓性の連結導体９
で連結されており、上記両プランジヤー接触ピン
３，４を連結した連結導体９は、導通回路を形成
している。
る扁平なピンボード１には、導電性にして、しか
も、円筒状をなすスリーブ２が貫通して挿着され
ており、このスリーブ２の両端開口部２ａ，２ｂ
には、導電性の一対のプランジヤー接触ピン３，
４が伸張性のコイルばね５を介して滑動自在にし
て、しかも、上記スリーブ２の一部に絞り加工に
よつて形成された各ストツパ６ａ，６ｂで外方へ
抜け出ないようして突設されている。又、上記各
プランジヤー接触ピン３，４の各内端部３ｃと４
ｃとは、例えば、銅線による可撓性の連結導体９
で連結されており、上記両プランジヤー接触ピン
３，４を連結した連結導体９は、導通回路を形成
している。
従つて、上述したコンタクトプローブは、一方
のプランジヤー接触ピン３の接触部３ｂを被検査
体（例えば、I.C）に当接すると共に、他方のプ
ランジヤー接触ピン４の接触部４ｂを給電回路の
電源側に接触することにより、この給電回路の電
流は、上記連結導体９を通つて上記被検査体の導
通検査をするようになつている。
のプランジヤー接触ピン３の接触部３ｂを被検査
体（例えば、I.C）に当接すると共に、他方のプ
ランジヤー接触ピン４の接触部４ｂを給電回路の
電源側に接触することにより、この給電回路の電
流は、上記連結導体９を通つて上記被検査体の導
通検査をするようになつている。
（考案が解決しようとする課題）
しかしながら、上述したコンタクトプローブ
は、上記コイルばね５とこれと同心的に位置する
連結導体９とが、被検査体の導通検査時、反復継
続して相互に撓み、しかも、摺動接触を繰返すた
め、きわめて細い連結導体９が撚りを戻したり、
断線を生じるおそれがあり、これに起因して、正
常な被検査体を、導通不良の誤検査をする等の欠
点がある。
は、上記コイルばね５とこれと同心的に位置する
連結導体９とが、被検査体の導通検査時、反復継
続して相互に撓み、しかも、摺動接触を繰返すた
め、きわめて細い連結導体９が撚りを戻したり、
断線を生じるおそれがあり、これに起因して、正
常な被検査体を、導通不良の誤検査をする等の欠
点がある。
本考案は、上述した欠点を解消するために、一
対のプランジヤー接触ピンを、独立した各コイル
ばねで外方へ突出するように附勢して設け、細い
連結導電線が撓みを生じても上記コイルばねと摺
動接触して断線しないようにし、被検査体の導通
検査の安定した導通及び接触導通を確実なものと
し、併せて、被検査体の検査の信頼性の向上を図
るようにしたことを特徴とするコンタクトプロー
ブを提供するものである。
対のプランジヤー接触ピンを、独立した各コイル
ばねで外方へ突出するように附勢して設け、細い
連結導電線が撓みを生じても上記コイルばねと摺
動接触して断線しないようにし、被検査体の導通
検査の安定した導通及び接触導通を確実なものと
し、併せて、被検査体の検査の信頼性の向上を図
るようにしたことを特徴とするコンタクトプロー
ブを提供するものである。
（課題を解決するための手段とその作用）
本考案は、スリーブの両端開口部に一対のプラ
ンジヤー接触ピンをそれぞれ外方へ突出し、しか
も、抜け出ないように各ストツパで係止すると共
に、滑動自在に嵌装し、この両プランジヤー接触
ピンの各内端部を合成樹脂材で被覆した連結導電
線で連結し、上記各ストツパと上記各プランジヤ
ー接触ピンとの間に各コイルばねを介装して撓み
による接触を解消するように構成したものであ
る。
ンジヤー接触ピンをそれぞれ外方へ突出し、しか
も、抜け出ないように各ストツパで係止すると共
に、滑動自在に嵌装し、この両プランジヤー接触
ピンの各内端部を合成樹脂材で被覆した連結導電
線で連結し、上記各ストツパと上記各プランジヤ
ー接触ピンとの間に各コイルばねを介装して撓み
による接触を解消するように構成したものであ
る。
（考案の実施例）
以下、本考案を図示の一実施例について説明す
る。
る。
なお、本考案は、上述した具体例と同一構成部
材には、同じ符号を付して説明する。
材には、同じ符号を付して説明する。
第２図において、符号１は、回路基板検査機に
おける扁平なピンボードであつて、このピンボー
ド１のピン孔１ａには、導通性にして、しかも、
円筒状をなすスリーブ２が貫通して挿着されてお
り、このスリーブ２の両端開口部２ａ，２ｂに
は、各接触部３ｂ，４ｂを有する導電性の一対の
プランジヤー接触ピン３，４が、上記スリーブ２
の一部に絞り加工によつて形成された各ストツパ
６ａ，６ｂで外方へ抜け出ないようにして突設さ
れている。又、上記両プランジヤー接触ピン３，
４の各接触部３ｂ，４ｂの各鍔部３ａ，４ａと上
記各ストツパ６ａ，６ｂとの間には、伸張性の各
コイルバネ１０ａ，１０ｂが介装されており、上
記各コイルばね１０ａ，１０ｂは、上記各プラン
ジヤー接触ピン３，４を外方へ独立して突出する
ように附勢している。
おける扁平なピンボードであつて、このピンボー
ド１のピン孔１ａには、導通性にして、しかも、
円筒状をなすスリーブ２が貫通して挿着されてお
り、このスリーブ２の両端開口部２ａ，２ｂに
は、各接触部３ｂ，４ｂを有する導電性の一対の
プランジヤー接触ピン３，４が、上記スリーブ２
の一部に絞り加工によつて形成された各ストツパ
６ａ，６ｂで外方へ抜け出ないようにして突設さ
れている。又、上記両プランジヤー接触ピン３，
４の各接触部３ｂ，４ｂの各鍔部３ａ，４ａと上
記各ストツパ６ａ，６ｂとの間には、伸張性の各
コイルバネ１０ａ，１０ｂが介装されており、上
記各コイルばね１０ａ，１０ｂは、上記各プラン
ジヤー接触ピン３，４を外方へ独立して突出する
ように附勢している。
一方、上記各プランジヤー接触ピン３，４の各
内端部３ｃと４ｃとは、例えば、銅線による可撓
性の連結導電線９で連結されており、上記両プラ
ンジヤー接触ピン３と４とを連結した連結導電線
９は、導通回路を形成している。
内端部３ｃと４ｃとは、例えば、銅線による可撓
性の連結導電線９で連結されており、上記両プラ
ンジヤー接触ピン３と４とを連結した連結導電線
９は、導通回路を形成している。
従つて、本考案は、被検査体の導通検査時、一
方のプランジヤー接触ピン３の接触部３ｂを被検
査体に当接すると共に、他方のプランジヤー接触
ピン４の接触部４ｂを給電回路の電源側に接触す
ることにより、この給電回路の電流は、上記連結
導電線９を通つて上記被検査体の導通検査をする
ようになつている。
方のプランジヤー接触ピン３の接触部３ｂを被検
査体に当接すると共に、他方のプランジヤー接触
ピン４の接触部４ｂを給電回路の電源側に接触す
ることにより、この給電回路の電流は、上記連結
導電線９を通つて上記被検査体の導通検査をする
ようになつている。
又一方、上記被検査体の導通検査時、上記一方
のプランジヤー接触ピン３の接触部３ｂが、被検
査体に接触するとき、上記各コイルばね１０ａ，
１０ｂの弾力に抗して接触して、上記連結導電線
９が大きく、しかも、反復継続して撓みを生じて
も、前述した具体例のように、コイルばね５に摺
動接触をするおそれはないから、断線を生じるこ
とはなくなり、信頼性のある検査を長期に亘つて
継続することができる。
のプランジヤー接触ピン３の接触部３ｂが、被検
査体に接触するとき、上記各コイルばね１０ａ，
１０ｂの弾力に抗して接触して、上記連結導電線
９が大きく、しかも、反復継続して撓みを生じて
も、前述した具体例のように、コイルばね５に摺
動接触をするおそれはないから、断線を生じるこ
とはなくなり、信頼性のある検査を長期に亘つて
継続することができる。
次に、第３図に示される本考案の実施例は、上
記連結導電線９の外がわに、例えば、ポリイミド
チユーブのような合成樹脂材９ａを被覆した導電
線にしたものであり、これによつて、連結導電線
９を補強して撚り戻しや変形及び断線を防止する
ようにしたものである。
記連結導電線９の外がわに、例えば、ポリイミド
チユーブのような合成樹脂材９ａを被覆した導電
線にしたものであり、これによつて、連結導電線
９を補強して撚り戻しや変形及び断線を防止する
ようにしたものである。
因に、上述した実施例は、スリーブ２の両端開
口部に、各プランジヤー接触ピン３，４を挿入し
たものについて説明したけれども、本考案の要旨
を変更しない範囲内で、例えば、スリーブ２の片
側開口部にのみ、プランジヤー接触ピンを挿入す
るように設計変更することは自由である。
口部に、各プランジヤー接触ピン３，４を挿入し
たものについて説明したけれども、本考案の要旨
を変更しない範囲内で、例えば、スリーブ２の片
側開口部にのみ、プランジヤー接触ピンを挿入す
るように設計変更することは自由である。
以上述べたように本考案によれば、スリーブ２
の両端開口部２ａ，２ｂに一対のプランジヤー接
触ピン３，４をそれぞれ外方へ突出し、しかも抜
け出ないように各ストツパ６ａ，６ｂで係止する
と共に、滑動自在に嵌装し、この両プランジヤー
接触ピン３，４の各内端部３ｃと４ｃを合成樹脂
材を被覆した連結導電線９で連結し、上記各スト
ツパ６ａ，６ｂと上記プランジヤー接触ピン３，
４との間に各コイルばね１０ａ，１０ｂを介装し
てあるので、上記連結導電線９が撓んでも、摺動
接触するおそれはなくなり、断線事故を防止でき
ると共に、被検査体の正確な検査をするができる
ばかりでなく、コンタクトプローブの寿命を長く
することができる。
の両端開口部２ａ，２ｂに一対のプランジヤー接
触ピン３，４をそれぞれ外方へ突出し、しかも抜
け出ないように各ストツパ６ａ，６ｂで係止する
と共に、滑動自在に嵌装し、この両プランジヤー
接触ピン３，４の各内端部３ｃと４ｃを合成樹脂
材を被覆した連結導電線９で連結し、上記各スト
ツパ６ａ，６ｂと上記プランジヤー接触ピン３，
４との間に各コイルばね１０ａ，１０ｂを介装し
てあるので、上記連結導電線９が撓んでも、摺動
接触するおそれはなくなり、断線事故を防止でき
ると共に、被検査体の正確な検査をするができる
ばかりでなく、コンタクトプローブの寿命を長く
することができる。
第１図は、既に提案されているコンタクトプロ
ーブの断面図、第２図は、本考案によるコンタク
トプローブの断面図、第３図は、本考案の他の実
施例を示す図である。 ２……スリーブ、３，４……プランジヤー接触
ピン、６ａ，６ｂ……ストツパ、９……連結導電
線、１０ａ，１０ｂ……コイルばね。
ーブの断面図、第２図は、本考案によるコンタク
トプローブの断面図、第３図は、本考案の他の実
施例を示す図である。 ２……スリーブ、３，４……プランジヤー接触
ピン、６ａ，６ｂ……ストツパ、９……連結導電
線、１０ａ，１０ｂ……コイルばね。
Claims (1)
- スリーブの両端開口部にそれぞれ外方へ突出し
て抜け出ないように各ストツパで係止すると共に
滑動自在に嵌装された一対のプランジヤー接触ピ
ンと、この両プランジヤ接触ピンの両内端部とを
連結した合成樹脂材で被覆した連結導電線と、上
記両プランジヤ接触ピンの両鍔部及び上記各スト
ツパとの間に両プランジヤー接触ピンを外方へ突
出するように付勢して介装された伸縮性の各コイ
ルばねとを具備したことを特徴とするコンタクト
プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9837384U JPS6114383U (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | コンタクトプロ−ブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9837384U JPS6114383U (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | コンタクトプロ−ブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6114383U JPS6114383U (ja) | 1986-01-28 |
| JPH0240539Y2 true JPH0240539Y2 (ja) | 1990-10-29 |
Family
ID=30657916
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9837384U Granted JPS6114383U (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | コンタクトプロ−ブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6114383U (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004504703A (ja) * | 2000-07-13 | 2004-02-12 | リカ エレクトロニクス インターナショナル インコーポレイテッド | 試験機器に特に有用な接点器具 |
| US7598757B2 (en) * | 2005-12-06 | 2009-10-06 | Unitechno Inc. | Double ended contact probe |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5150617Y2 (ja) * | 1971-12-07 | 1976-12-04 |
-
1984
- 1984-06-29 JP JP9837384U patent/JPS6114383U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6114383U (ja) | 1986-01-28 |
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