JPH0240543A - マイクロ波による水分測定方法 - Google Patents
マイクロ波による水分測定方法Info
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- JPH0240543A JPH0240543A JP19055088A JP19055088A JPH0240543A JP H0240543 A JPH0240543 A JP H0240543A JP 19055088 A JP19055088 A JP 19055088A JP 19055088 A JP19055088 A JP 19055088A JP H0240543 A JPH0240543 A JP H0240543A
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- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
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- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、試料中の水分によりマイクロ波が吸収され
る特性を利用した水分測定方法に関する。
る特性を利用した水分測定方法に関する。
従来技術
伝播路中の水分によるマイクロ波の吸収を利用した水分
測定装置は例えば、特開昭55−132938号公報、
同56−92435号公報、同59−87346号公報
などに記載されているよ・うに多くのものが知られてい
る。
測定装置は例えば、特開昭55−132938号公報、
同56−92435号公報、同59−87346号公報
などに記載されているよ・うに多くのものが知られてい
る。
これらはいずれも、ガンダイオードなどを備えたマイク
ロ波発(i 5とマイク【コ波検出ダイオードを備えた
受信器とでマイクロ波の伝播路を形成し、伝播路に試料
が配置されていない場合の受信マイクロ波エネルギーを
検出ダイオードによって電圧として検出しく以下、駐準
電圧VOと称する)、これと同様にして検出した伝播路
中の試料により影響を受けた受信マイクロ波エネルギー
による電圧(同、検出電圧V1)を比較し、その差(同
、減衰電圧vO)を発信マイクロ波エネルギーの減衰量
に相当するものと把握する。そして、全乾法など他の手
段によりあらかじめ求めておいた、減衰量・試料重量・
水分間の相関式にこの減衰電圧(vO)を代入して水分
値を算出している。
ロ波発(i 5とマイク【コ波検出ダイオードを備えた
受信器とでマイクロ波の伝播路を形成し、伝播路に試料
が配置されていない場合の受信マイクロ波エネルギーを
検出ダイオードによって電圧として検出しく以下、駐準
電圧VOと称する)、これと同様にして検出した伝播路
中の試料により影響を受けた受信マイクロ波エネルギー
による電圧(同、検出電圧V1)を比較し、その差(同
、減衰電圧vO)を発信マイクロ波エネルギーの減衰量
に相当するものと把握する。そして、全乾法など他の手
段によりあらかじめ求めておいた、減衰量・試料重量・
水分間の相関式にこの減衰電圧(vO)を代入して水分
値を算出している。
この場合、受信マイクロ波エネルギーは、受信器の特性
や回路上の要請から、適正な範囲にあることが必要であ
る。
や回路上の要請から、適正な範囲にあることが必要であ
る。
ところが、実際には試料によるマイクロ波吸収率が予想
外に大きいか小さい場合があり、受信マイクロ波エネル
ギーが前記の適正範囲外になる場合がある。このような
場合、受信マイクロ波エネルギーの過大過少を調整する
ために発信マイクロ波エネルギーを増減するが、従来は
ガンダイオードへの入力電圧を大小調整するか、入力電
圧は一定のままで発信器の導波管中に減衰器を配置して
伝播マイクロ波を適宜増減させる手段を採用している。
外に大きいか小さい場合があり、受信マイクロ波エネル
ギーが前記の適正範囲外になる場合がある。このような
場合、受信マイクロ波エネルギーの過大過少を調整する
ために発信マイクロ波エネルギーを増減するが、従来は
ガンダイオードへの入力電圧を大小調整するか、入力電
圧は一定のままで発信器の導波管中に減衰器を配置して
伝播マイクロ波を適宜増減させる手段を採用している。
しかし、ガンダイオードに対する入力電圧を変化させる
と発振マイクロ波の主たる周波数に対する高次周波数の
混入割合が変化する。例えば、第3図のように、主たる
周波数(9GHz)に対し常に存在している高次周波数
(18GHz、36GH2など)のマイクロ波の混入割
合が変化するが、波長によって水分による減衰量が異な
るため、同じ試料でも全体として減衰量が異なって来る
ので、前記の相関式との整合性が崩れてしまう欠点があ
る。
と発振マイクロ波の主たる周波数に対する高次周波数の
混入割合が変化する。例えば、第3図のように、主たる
周波数(9GHz)に対し常に存在している高次周波数
(18GHz、36GH2など)のマイクロ波の混入割
合が変化するが、波長によって水分による減衰量が異な
るため、同じ試料でも全体として減衰量が異なって来る
ので、前記の相関式との整合性が崩れてしまう欠点があ
る。
また、減衰器を導波管の途中に介在すると、減衰器とそ
の調整のために必要な部材とで、これを備えた測定装置
は全体が大きなものとなってしまうなどの欠点を有する
。
の調整のために必要な部材とで、これを備えた測定装置
は全体が大きなものとなってしまうなどの欠点を有する
。
発明が解決しようとする課題
この発明は、発信マイクロ波の周波数を変動させること
なく、また、減衰器を使用せずに、マイクロ波のエネル
ギーを電気的に能率良く調整することができる、マイク
ロ波による水分測定装置の提供を課題とする。
なく、また、減衰器を使用せずに、マイクロ波のエネル
ギーを電気的に能率良く調整することができる、マイク
ロ波による水分測定装置の提供を課題とする。
発明を解決するための手段
マイクロ波の伝播路に試料を配置し、該試料によるマイ
クb波エネルギーの減衰量を検出して試料が保有する水
分を測定する方法とする。
クb波エネルギーの減衰量を検出して試料が保有する水
分を測定する方法とする。
マイクロ波発信器に対する入力電圧を矩形波とする。
前記矩形波のデユーティ比を変更することにより発信マ
イクロ波エネルギー最を調整する。
イクロ波エネルギー最を調整する。
作 用
マイクロ波発信器に対する入力電圧を矩形波とし、該矩
形波のデユーティ比を変更する構成は、発信器に対する
入力電圧を変更することなく、発信マイクロ波エネルギ
ー量の増減を可能とする。
形波のデユーティ比を変更する構成は、発信器に対する
入力電圧を変更することなく、発信マイクロ波エネルギ
ー量の増減を可能とする。
実施例
第2図は測定装置の概要を示し、電磁ホーン形とした発
信器1と、同形態の受信器2が°対向して配置され、両
者間にマイクロ波の伝播路3が形成され、該伝播路3の
途中にアクリル樹脂あるいは発泡スチロールなどマイク
ロ波透過率の高い素材からなる試料載1台4が配置され
て試料5が位置している。
信器1と、同形態の受信器2が°対向して配置され、両
者間にマイクロ波の伝播路3が形成され、該伝播路3の
途中にアクリル樹脂あるいは発泡スチロールなどマイク
ロ波透過率の高い素材からなる試料載1台4が配置され
て試料5が位置している。
発信器1はガンダイオード6を主とした発振部7を備え
、これには電源部8から電力が供給される。
、これには電源部8から電力が供給される。
受信器2はマイクロ波検出ダイオード9を主とした受信
部10を備え、これには検出値処理部11が接続されて
いる。
部10を備え、これには検出値処理部11が接続されて
いる。
また、前記試料載置台4にはロードセル12が取付けら
れ、その検出値は前記の検出値処理部11に接続されて
いる。
れ、その検出値は前記の検出値処理部11に接続されて
いる。
発振部7、受信部10は通常のマイクロ波送受信回路で
あり、検出値処理部11はメモリ一部や演算部を備えた
、いわゆるパソコンを利用している。
あり、検出値処理部11はメモリ一部や演算部を備えた
、いわゆるパソコンを利用している。
電源回路8は、第1図に示すように、100vまたは2
00Vの交流電源に整流回路を介して定電圧電源回路1
3が接続され、一方、無安定マルチバイブレータによる
パルス発生回路14にパルス間隔調整回路15が接続さ
れおり、定電圧電源回路13の出力とパルス間隔調整回
路15の出力がパワートランジスタを利用したスイッチ
ング回路16で結合されている。なお、前記パルス間隔
調整回路15は単安定マルチバイブレータ17の時定数
部分18を外部から操作出来るよう、その抵抗をパルス
間隔調整用ボリューム19としている。
00Vの交流電源に整流回路を介して定電圧電源回路1
3が接続され、一方、無安定マルチバイブレータによる
パルス発生回路14にパルス間隔調整回路15が接続さ
れおり、定電圧電源回路13の出力とパルス間隔調整回
路15の出力がパワートランジスタを利用したスイッチ
ング回路16で結合されている。なお、前記パルス間隔
調整回路15は単安定マルチバイブレータ17の時定数
部分18を外部から操作出来るよう、その抵抗をパルス
間隔調整用ボリューム19としている。
そして、前記スイッチング回路16の出力が前記の発振
部7に接続されている。
部7に接続されている。
伝播路3途中の試料載置台4に試料を配置し、この測定
装置を作動すると、定電圧電源回路13から出力される
定電圧の電力はスイッチング回路16でパルス間隔調整
回路15からのパルスによってトリガされ、矩形波電圧
の電力とされる。
装置を作動すると、定電圧電源回路13から出力される
定電圧の電力はスイッチング回路16でパルス間隔調整
回路15からのパルスによってトリガされ、矩形波電圧
の電力とされる。
この矩形波電圧は、定電圧電源回路13により一定に定
められ、高レベル時は9v(ガンダイオードをマイクロ
波の発振状態まで励起するのに充分な大きさ)、低レベ
ル時にはOvをとり、その周波数はパルス発生回路14
により一定(40H7)に定まっている。また、矩形波
のデユーティ比は通常80%程度で使用するが、これは
前記のボリューム19を調整することにより変更が可能
である。
められ、高レベル時は9v(ガンダイオードをマイクロ
波の発振状態まで励起するのに充分な大きさ)、低レベ
ル時にはOvをとり、その周波数はパルス発生回路14
により一定(40H7)に定まっている。また、矩形波
のデユーティ比は通常80%程度で使用するが、これは
前記のボリューム19を調整することにより変更が可能
である。
スイツヂング回路16からはこのように形成された矩形
波電圧の電力が発信回路7に出力され、該回路7のガン
ダイオード6は矩形波電圧の高レベル時のみ9.4GH
2のマイクロ波を発振し、低レベル時には発振を停止す
る。したがって、矩形波電圧のアユ−ティ比を調整する
と単位時間(前記矩形波電圧のパネル周期よりも充分長
い時間)当たりの発信マイクロ波エネルギー量が変化す
る。 発信器1の電磁ホーンから発射されたマイクロ波
は進行波となって伝播路3を受信器2の電磁ホーンに向
けて伝播し、受信器2の電磁ホーンから検出ダイオード
9に到達し、そこで、保有エネギー量に略々比例した電
圧として検出される。
波電圧の電力が発信回路7に出力され、該回路7のガン
ダイオード6は矩形波電圧の高レベル時のみ9.4GH
2のマイクロ波を発振し、低レベル時には発振を停止す
る。したがって、矩形波電圧のアユ−ティ比を調整する
と単位時間(前記矩形波電圧のパネル周期よりも充分長
い時間)当たりの発信マイクロ波エネルギー量が変化す
る。 発信器1の電磁ホーンから発射されたマイクロ波
は進行波となって伝播路3を受信器2の電磁ホーンに向
けて伝播し、受信器2の電磁ホーンから検出ダイオード
9に到達し、そこで、保有エネギー量に略々比例した電
圧として検出される。
なお、実際には試料周辺の機材や試料自身からの反射波
の干渉などによっても進行波のエネルギーが減衰する場
合があるので、反射を出来るだけ無くする工夫が必要で
ある。
の干渉などによっても進行波のエネルギーが減衰する場
合があるので、反射を出来るだけ無くする工夫が必要で
ある。
検出ダイオード9の検出電圧は発信器1に対する入力電
力が矩形波電圧を持ち、ガンダイオード6の発振がパル
ス状であることから、その影響でやはりパルス状に出力
されるが、受信部10で平滑化され、検出値処理部11
には平滑侵の電圧が伝達される。
力が矩形波電圧を持ち、ガンダイオード6の発振がパル
ス状であることから、その影響でやはりパルス状に出力
されるが、受信部10で平滑化され、検出値処理部11
には平滑侵の電圧が伝達される。
なお、検出値処理部11にはロードセル12からの検出
値が常時伝達されている。
値が常時伝達されている。
そこで、まず、伝播路3中に試料5を配置しない状態で
動作させ、受信部10から検出値処理部11に平滑侵の
電圧、すなわち、基準電圧(VO)を得、これとロード
セル12の検出値をメモリー部に記憶させる(初期値設
定モード)。なお、メモリ一部にはあらかじめ設定した
減衰ω・重量・水分の相関式も記憶されている。
動作させ、受信部10から検出値処理部11に平滑侵の
電圧、すなわち、基準電圧(VO)を得、これとロード
セル12の検出値をメモリー部に記憶させる(初期値設
定モード)。なお、メモリ一部にはあらかじめ設定した
減衰ω・重量・水分の相関式も記憶されている。
ついで、測定モードとし、試料5を伝播路に配置して受
信マイクロ波エネルギーに対応する検出電圧(Vl)と
このときのロードセル12から検出値を検出値処理部1
1に伝達する。検出値処理部11では伝達されてくるこ
れらの検出値を適宜のタイミングで演算部に取りこんで
、減衰電圧(vO)と試料重量を篩出し、さらにこれら
を前記の相関式に代入し、試料の水分値を算出する。
信マイクロ波エネルギーに対応する検出電圧(Vl)と
このときのロードセル12から検出値を検出値処理部1
1に伝達する。検出値処理部11では伝達されてくるこ
れらの検出値を適宜のタイミングで演算部に取りこんで
、減衰電圧(vO)と試料重量を篩出し、さらにこれら
を前記の相関式に代入し、試料の水分値を算出する。
算出結果は検出値処理部11から、産業機器を水分に関
して自動制御するためのドライバー装置や、メーターな
どの駆動制御部(図示していない)に接続される。
して自動制御するためのドライバー装置や、メーターな
どの駆動制御部(図示していない)に接続される。
そして、検出値処理装置11に入力される検出電圧(■
1)の大きさは発信マイクロ波エネルギーの大きさと試
料の水分によるマイクロ波吸収量に左右され、発信マイ
クロ波エネルギーの大きさはガンダイオード6に印加さ
れる電力の矩形波電圧のデユーティ比によって定まる。
1)の大きさは発信マイクロ波エネルギーの大きさと試
料の水分によるマイクロ波吸収量に左右され、発信マイ
クロ波エネルギーの大きさはガンダイオード6に印加さ
れる電力の矩形波電圧のデユーティ比によって定まる。
また、一方、受信マイクロ波エネルギーは、前述したよ
うに一定の範囲にあることが必要である。
うに一定の範囲にあることが必要である。
したがって、前記実施例において発信マイクロ波エネル
ギーと試料5による減衰通の関係から受信マイクロ波の
エネルギーの大きさが前記の適正な範囲の外となる時は
、パルス間隔調整回路15のボリューム19を調整して
、矩形波電圧のデユーティ比を大小に調整する。これに
より、検出値処理部11は正常に作動し、正確な水分値
を出力することが出来る。
ギーと試料5による減衰通の関係から受信マイクロ波の
エネルギーの大きさが前記の適正な範囲の外となる時は
、パルス間隔調整回路15のボリューム19を調整して
、矩形波電圧のデユーティ比を大小に調整する。これに
より、検出値処理部11は正常に作動し、正確な水分値
を出力することが出来る。
なお、電源部8の回路構成は周知の一例を示したが、こ
れ以外の回路構成であっても良い。
れ以外の回路構成であっても良い。
発明の効果
マイクロ波を利用した水分測定装置において、発信器か
らの発信マイクロ波エネルギー吊を、入力電力の電圧を
一定に維持したまま、電気的に簡単に、かつ、精密に調
整することができる。
らの発信マイクロ波エネルギー吊を、入力電力の電圧を
一定に維持したまま、電気的に簡単に、かつ、精密に調
整することができる。
受信器における受信マイクロ波エネルギーの調整に際し
、高次波の混入割合が変化して測定結果に誤差を生ずる
ことがない。
、高次波の混入割合が変化して測定結果に誤差を生ずる
ことがない。
第1図は電源部の回路図、第2図は水分測定装置の概略
図、第3図は説明のためのグラフである。 1・・・発信器、2・・・受信器、3・・・伝播路、4
・・・試Fl載置台、5・・・試料、6・・・ガンダイ
オード、7・・・発振部、8・・・電源部、9・・・検
出ダイオード、10・・・受信部、11・・・検出値処
理部、12・・・ロードセル、13・・・定電圧電源回
路、14・・・パルス発生回路、15・・・パルス間隔
調整回路、16・・・スイッチング回路、17・・・単
安定マルチバイブレータ18・・・時定数部分、19・
・・パルス間隔調整用ボリューム。 入力電圧
図、第3図は説明のためのグラフである。 1・・・発信器、2・・・受信器、3・・・伝播路、4
・・・試Fl載置台、5・・・試料、6・・・ガンダイ
オード、7・・・発振部、8・・・電源部、9・・・検
出ダイオード、10・・・受信部、11・・・検出値処
理部、12・・・ロードセル、13・・・定電圧電源回
路、14・・・パルス発生回路、15・・・パルス間隔
調整回路、16・・・スイッチング回路、17・・・単
安定マルチバイブレータ18・・・時定数部分、19・
・・パルス間隔調整用ボリューム。 入力電圧
Claims (1)
- マイクロ波の伝播路に試料を配置して該試料によるマイ
クロ波エネルギーの減衰量を検出し、試料が保有する水
分を測定する方法であつて、マイクロ波発信器に対する
入力電圧を矩形波とし、そのデューティ比を変更するこ
とにより発信マイクロ波エネルギー量を調整することを
特徴とした水分測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19055088A JPH0240543A (ja) | 1988-08-01 | 1988-08-01 | マイクロ波による水分測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19055088A JPH0240543A (ja) | 1988-08-01 | 1988-08-01 | マイクロ波による水分測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0240543A true JPH0240543A (ja) | 1990-02-09 |
| JPH0583860B2 JPH0583860B2 (ja) | 1993-11-29 |
Family
ID=16259944
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19055088A Granted JPH0240543A (ja) | 1988-08-01 | 1988-08-01 | マイクロ波による水分測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0240543A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CZ305802B6 (cs) * | 2011-07-26 | 2016-03-23 | Vysoké Učení Technické V Brně | Aparatura pro měření vlhkostních parametrů pórovité hmoty |
| JP2023090361A (ja) * | 2021-12-17 | 2023-06-29 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 水分量測定装置及び水分量測定方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5917775A (ja) * | 1982-07-20 | 1984-01-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 撮像装置 |
-
1988
- 1988-08-01 JP JP19055088A patent/JPH0240543A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5917775A (ja) * | 1982-07-20 | 1984-01-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 撮像装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CZ305802B6 (cs) * | 2011-07-26 | 2016-03-23 | Vysoké Učení Technické V Brně | Aparatura pro měření vlhkostních parametrů pórovité hmoty |
| JP2023090361A (ja) * | 2021-12-17 | 2023-06-29 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 水分量測定装置及び水分量測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0583860B2 (ja) | 1993-11-29 |
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