JPH0583860B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0583860B2 JPH0583860B2 JP63190550A JP19055088A JPH0583860B2 JP H0583860 B2 JPH0583860 B2 JP H0583860B2 JP 63190550 A JP63190550 A JP 63190550A JP 19055088 A JP19055088 A JP 19055088A JP H0583860 B2 JPH0583860 B2 JP H0583860B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- microwave
- voltage
- circuit
- amount
- Prior art date
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、試料中の水分によりマイクロ波が
吸収される特性を利用した水分測定方法に関す
る。
吸収される特性を利用した水分測定方法に関す
る。
従来技術
伝播路中の水分によるマイクロ波の吸収を利用
した水分測定装置は例えば、特開昭55−132938号
公報、同56−92435号公報、同59−87346号公報な
どに記載されているように多くのものが知られて
いる。
した水分測定装置は例えば、特開昭55−132938号
公報、同56−92435号公報、同59−87346号公報な
どに記載されているように多くのものが知られて
いる。
これらはいずれも、ガンダイオードなどを備え
たマイクロ波発信器とマイクロ波検出ダイオード
を備えた受信器とでマイクロ波の伝播路を形成
し、伝播路に試料が配置されていない場合の受信
マイクロ波エネルギーを検出ダイオードによつて
電圧として検出し(以下、基準電圧V0と称す
る)、これを同様にして検出した伝播路中の試料
により影響を受けた受信マイクロ波エネルギーに
よる電圧(同、検出電圧V1)を比較し、その差
(同、減衰電圧v0)を発信マイクロ波エネルギー
の減衰量に相当するものと把握する。そして、全
乾法など他の手段によりあらかじめ求めておい
た、減衰量・試料重量・水分間の相関式にこの減
衰電圧(v0)を代入して水分値を算出している。
たマイクロ波発信器とマイクロ波検出ダイオード
を備えた受信器とでマイクロ波の伝播路を形成
し、伝播路に試料が配置されていない場合の受信
マイクロ波エネルギーを検出ダイオードによつて
電圧として検出し(以下、基準電圧V0と称す
る)、これを同様にして検出した伝播路中の試料
により影響を受けた受信マイクロ波エネルギーに
よる電圧(同、検出電圧V1)を比較し、その差
(同、減衰電圧v0)を発信マイクロ波エネルギー
の減衰量に相当するものと把握する。そして、全
乾法など他の手段によりあらかじめ求めておい
た、減衰量・試料重量・水分間の相関式にこの減
衰電圧(v0)を代入して水分値を算出している。
この場合、受信マイクロ波エネルギーは、受信
器の特性や回路上の要請から、適正な範囲にある
ことが必要である。
器の特性や回路上の要請から、適正な範囲にある
ことが必要である。
ところが、実際には試料によるマイクロ波吸収
率が予想外に大きいか小さい場合があり、受信マ
イクロ波エネルギーが前記の適正範囲外になる場
合がある。このような場合、受信マイクロ波エネ
ルギーの過大過少を調整するために発信マイクロ
波エネルギーを増減するが、従来はガンダイオー
ドへの入力電圧を大小調整するか、入力電圧は一
定のままで発信器の導波管中に減衰器を配置して
伝播マイクロ波を適宜増減させる手段を採用して
いる。
率が予想外に大きいか小さい場合があり、受信マ
イクロ波エネルギーが前記の適正範囲外になる場
合がある。このような場合、受信マイクロ波エネ
ルギーの過大過少を調整するために発信マイクロ
波エネルギーを増減するが、従来はガンダイオー
ドへの入力電圧を大小調整するか、入力電圧は一
定のままで発信器の導波管中に減衰器を配置して
伝播マイクロ波を適宜増減させる手段を採用して
いる。
しかし、ガンダイオードに対する入力電圧を変
化させると発振マイクロ波の主たる周波数に対す
る高次周波数波の混入割合が変化する。例えば、
第3図のように、主たる周波数(9GHz)に対し
常に存在している高次周波数(18GHz、36GHzな
ど)のマイクロ波の混入割合が変化するが、波長
によつて水分による減衰量が異なるため、同じ試
料でも全体として減衰量が異なつて来るので、前
記の相関式との整合性が崩れてしまう欠点があ
る。
化させると発振マイクロ波の主たる周波数に対す
る高次周波数波の混入割合が変化する。例えば、
第3図のように、主たる周波数(9GHz)に対し
常に存在している高次周波数(18GHz、36GHzな
ど)のマイクロ波の混入割合が変化するが、波長
によつて水分による減衰量が異なるため、同じ試
料でも全体として減衰量が異なつて来るので、前
記の相関式との整合性が崩れてしまう欠点があ
る。
また、減衰器を導波管の途中に介在すると、減
衰器とその調整のために必要な部材とで、これを
備えた測定装置は全体が大きなものとなつてしま
うなどの欠点を有する。
衰器とその調整のために必要な部材とで、これを
備えた測定装置は全体が大きなものとなつてしま
うなどの欠点を有する。
発明が解決しようとする課題
この発明は、発信マイクロ波の周波数を変動さ
せることなく、また、減衰器を使用せずに、マイ
クロ波のエネルギーを電気的に能率良く調整する
ことができる、マイクロ波による水分測定装置の
提供を課題とする。
せることなく、また、減衰器を使用せずに、マイ
クロ波のエネルギーを電気的に能率良く調整する
ことができる、マイクロ波による水分測定装置の
提供を課題とする。
発明を解決するための手段
マイクロ波の伝播路に試料を配置し、該試料に
よるマイクロ波エネルギーの減衰量を検出して試
料が保有する水分を測定する方法とする。
よるマイクロ波エネルギーの減衰量を検出して試
料が保有する水分を測定する方法とする。
マイクロ波発信器に対する入力電圧を矩形波と
する。
する。
前記矩形波のデユーテイ比(1サイクルタイム
に占めるON時間の割合)を変更することにより
発信マイクロ波エネルギー量を調整する。
に占めるON時間の割合)を変更することにより
発信マイクロ波エネルギー量を調整する。
作 用
マイクロ波発信器に対する入力電圧を矩形波と
し、該矩形波のデユーテイ比を変更する構成は、
発信器に対する入力電圧を変更することなく、発
信マイクロ波エネルギー量の増減を可能とする。
し、該矩形波のデユーテイ比を変更する構成は、
発信器に対する入力電圧を変更することなく、発
信マイクロ波エネルギー量の増減を可能とする。
実施例
第2図は測定装置の概要を示し、電磁ホーン形
とした発信器1と、同形態の受信器2が対向して
配置され、両者間にマイクロ波の伝播路3が形成
され、該伝播路3の途中にアクリル樹脂あるいは
発泡スチロールなどマイクロ波透過率の高い素材
からなる試料載置台4が配置されて試料5が位置
している。
とした発信器1と、同形態の受信器2が対向して
配置され、両者間にマイクロ波の伝播路3が形成
され、該伝播路3の途中にアクリル樹脂あるいは
発泡スチロールなどマイクロ波透過率の高い素材
からなる試料載置台4が配置されて試料5が位置
している。
発信器1はガンダイオード6を主とした発振部
7を備え、これには電源部8から電力が供給され
る。
7を備え、これには電源部8から電力が供給され
る。
受信器2はマイクロ波検出ダイオード9を主と
した受信部10を備え、これには検出値処理部1
1が接続されている。
した受信部10を備え、これには検出値処理部1
1が接続されている。
また、前記試料載置台4にはロードセル12が
取付けられ、その検出値は前記の検出値処理部1
1に接続されている。
取付けられ、その検出値は前記の検出値処理部1
1に接続されている。
発振部7、受信部10は通常のマイクロ波送受
信回路であり、検出値処理部11はメモリー部や
演算部を備えた、いわゆるパソコンを利用してい
る。
信回路であり、検出値処理部11はメモリー部や
演算部を備えた、いわゆるパソコンを利用してい
る。
電源回路8は、第1図に示すように、100vま
たは200vの交流電源に整流回路を介して定電圧
電源回路13が接続され、一方、無安定マルチバ
イブレータによるパルス発生回路14にパルス間
隔調整回路15が接続されおり、定電圧電源回路
13の出力とパルス間隔調整回路15の出力がパ
ワートランジスタを利用したスイツチング回路1
6で結合されている。なお、前記パルス間隔調整
回路15は単安定マルチバイブレータ17の時定
数部分18を外部から操作出来るよう、その抵抗
をパルス間隔調整用ボリユーム19としている。
たは200vの交流電源に整流回路を介して定電圧
電源回路13が接続され、一方、無安定マルチバ
イブレータによるパルス発生回路14にパルス間
隔調整回路15が接続されおり、定電圧電源回路
13の出力とパルス間隔調整回路15の出力がパ
ワートランジスタを利用したスイツチング回路1
6で結合されている。なお、前記パルス間隔調整
回路15は単安定マルチバイブレータ17の時定
数部分18を外部から操作出来るよう、その抵抗
をパルス間隔調整用ボリユーム19としている。
そして、前記スイツチング回路16の出力が前
記の発振部7に接続されている。
記の発振部7に接続されている。
伝播路3途中の試料載置台4に試料を配置し、
この測定装置を作動すると、定電圧電源回路13
から出力される定電圧の電力はスイツチング回路
16でパルス間隔調整回路15からのパルスによ
つてトリガされ、矩形波電圧の電力とされる。
この測定装置を作動すると、定電圧電源回路13
から出力される定電圧の電力はスイツチング回路
16でパルス間隔調整回路15からのパルスによ
つてトリガされ、矩形波電圧の電力とされる。
この矩形波電圧は、定電圧電源回路13により
一定に定められ、高レベル時は9v(ガンダイオー
ドをマイクロ波の発振状態まで励起するのに充分
な大きさ)、低レベル時には0vをとり、その周波
数はパルス発生回路14により一定(40Hz)に定
まつている。また、矩形波のデユーテイ比(1サ
イクルタイムに占めるON時間の割合)は通常80
%程度で使用するが、これは前記のボリユーム1
9を調整することにより変更が可能である。
一定に定められ、高レベル時は9v(ガンダイオー
ドをマイクロ波の発振状態まで励起するのに充分
な大きさ)、低レベル時には0vをとり、その周波
数はパルス発生回路14により一定(40Hz)に定
まつている。また、矩形波のデユーテイ比(1サ
イクルタイムに占めるON時間の割合)は通常80
%程度で使用するが、これは前記のボリユーム1
9を調整することにより変更が可能である。
スイツチング回路16からはこのように形成さ
れた矩形波電圧の電力が発振回路7に出力され、
該回路7のガンダイオード6は矩形波電圧の高レ
ベル時のみ9.4GHzのマイクロ波を発振し、低レ
ベル時には発振を停止する。したがつて、矩形波
電圧のデユーテイ比を調整すると単位時間(前記
矩形波電圧のパルス周期よりも充分長い時間)当
たりの発信マイクロ波エネルギー量が変化する。
発信器1の電磁ホーンから発射されたマイクロ波
は進行波となつて伝播路3を受信器2の電磁ホー
ンに向けて伝播し、受信器2の電磁ホーンから検
出ダイオード9に到達し、そこで、保有エネギー
量に略字比例した電圧として検出される。なお、
実際には試料周辺の機材や試料自身からの反射波
の干渉などによつても進行波のエネルギーが減衰
する場合があるので、反射を出来るだけ無くする
工夫が必要である。
れた矩形波電圧の電力が発振回路7に出力され、
該回路7のガンダイオード6は矩形波電圧の高レ
ベル時のみ9.4GHzのマイクロ波を発振し、低レ
ベル時には発振を停止する。したがつて、矩形波
電圧のデユーテイ比を調整すると単位時間(前記
矩形波電圧のパルス周期よりも充分長い時間)当
たりの発信マイクロ波エネルギー量が変化する。
発信器1の電磁ホーンから発射されたマイクロ波
は進行波となつて伝播路3を受信器2の電磁ホー
ンに向けて伝播し、受信器2の電磁ホーンから検
出ダイオード9に到達し、そこで、保有エネギー
量に略字比例した電圧として検出される。なお、
実際には試料周辺の機材や試料自身からの反射波
の干渉などによつても進行波のエネルギーが減衰
する場合があるので、反射を出来るだけ無くする
工夫が必要である。
検出ダイオード9の検出電圧は発信器1に対す
る入力電力が矩形波電圧を持ち、ガンダイオード
6の発振がパルス状であることから、その影響で
やはりパルス状に出力されるが、受信部10で平
滑化され、検出値処理部11には平滑後の電圧が
伝達される。
る入力電力が矩形波電圧を持ち、ガンダイオード
6の発振がパルス状であることから、その影響で
やはりパルス状に出力されるが、受信部10で平
滑化され、検出値処理部11には平滑後の電圧が
伝達される。
なお、検出値処理部11にはロードセル12か
らの検出値が常時伝達されている。
らの検出値が常時伝達されている。
そこで、まず、伝播路3中に試料5を配置しな
い状態で動作させ、受信部10から検出値処理部
11に平滑後の電圧、すなわち、基準電圧(V0)
を得、これとロードセル12の検出値をメモリー
部に記憶させる(初期値設定モード)。なお、メ
モリー部にはあらかじめ設定した減衰量・重量・
水分の相関式も記憶されている。
い状態で動作させ、受信部10から検出値処理部
11に平滑後の電圧、すなわち、基準電圧(V0)
を得、これとロードセル12の検出値をメモリー
部に記憶させる(初期値設定モード)。なお、メ
モリー部にはあらかじめ設定した減衰量・重量・
水分の相関式も記憶されている。
ついで、測定モードとし、試料5を伝播路に配
置して受信マイクロ波エネルギーに対応する検出
電圧(V1)とこのときのロードセル12から検
出値を検出値処理部11に伝達する。検出値処理
部11では伝達されてくるこれらの検出値を適宜
のタイミングで演算部に取りこんで、減衰電圧
(v0)を試料重量を算出し、さらにこれらを前記
の相関式に代入し、試料の水分値を算出する。算
出結果は検出値処理部11から、産業機器を水分
に関して自動制御するためのドライバー装置や、
メーターなどの駆動制御部(図示していない)に
接続される。
置して受信マイクロ波エネルギーに対応する検出
電圧(V1)とこのときのロードセル12から検
出値を検出値処理部11に伝達する。検出値処理
部11では伝達されてくるこれらの検出値を適宜
のタイミングで演算部に取りこんで、減衰電圧
(v0)を試料重量を算出し、さらにこれらを前記
の相関式に代入し、試料の水分値を算出する。算
出結果は検出値処理部11から、産業機器を水分
に関して自動制御するためのドライバー装置や、
メーターなどの駆動制御部(図示していない)に
接続される。
そして、検出値処理装置11に入力される検出
電圧(V1)の大きさは発信マイクロ波エネルギ
ーの大きさと試料の水分によるマイクロ波吸収量
に左右され、発信マイクロ波エネルギーの大きさ
はガンダイオード6に印加される電力の矩形波電
圧のデユーテイ比によつて定まる。また、一方、
受信マイクロ波エネルギーは、前述したように一
定の範囲にあることが必要である。
電圧(V1)の大きさは発信マイクロ波エネルギ
ーの大きさと試料の水分によるマイクロ波吸収量
に左右され、発信マイクロ波エネルギーの大きさ
はガンダイオード6に印加される電力の矩形波電
圧のデユーテイ比によつて定まる。また、一方、
受信マイクロ波エネルギーは、前述したように一
定の範囲にあることが必要である。
したがつて、前記実施例において発信マイクロ
波エネルギーと試料5による減衰量の関係から受
信マイクロ波のエネルギーの大きさが前記の適正
な範囲の外となる時は、パルス間隔調整回路15
のボリユーム19を調整して、矩形波電圧のデユ
ーテイ比を大小に調整する。これにより、検出値
処理部11は正常に作動し、正確な水分値を出力
することが出来る。
波エネルギーと試料5による減衰量の関係から受
信マイクロ波のエネルギーの大きさが前記の適正
な範囲の外となる時は、パルス間隔調整回路15
のボリユーム19を調整して、矩形波電圧のデユ
ーテイ比を大小に調整する。これにより、検出値
処理部11は正常に作動し、正確な水分値を出力
することが出来る。
なお、電源部8の回路構成は周知の一例を示し
たが、これ以外の回路構成であつても良い。
たが、これ以外の回路構成であつても良い。
発明の効果
マイクロ波を利用した水分測定装置において、
発信器からの発信マイクロ波エネルギー量を、入
力電力の電圧を一定に維持したまま、電気的に簡
単に、かつ、精密に調整することができる。
発信器からの発信マイクロ波エネルギー量を、入
力電力の電圧を一定に維持したまま、電気的に簡
単に、かつ、精密に調整することができる。
発信マイクロ波エネルギー量の調整を定電圧で
行うので、受信マイクロ波エネルギー量におい
て、高次周波数波の混入割合が変化することによ
る変動が少なく、測定結果に誤差を生じることが
ない。
行うので、受信マイクロ波エネルギー量におい
て、高次周波数波の混入割合が変化することによ
る変動が少なく、測定結果に誤差を生じることが
ない。
第1図は電源部の回路図、第2図は水分測定装
置の概略図、第3図は説明のためのグラフであ
る。 1……発信器、2……受信器、3……伝播路、
4……試料載置台、5……試料、6……ガンダイ
オード、7……発振部、8……電源部、9……検
出ダイオード、10……受信部、11……検出値
処理部、12……ロードセル、13……定電圧電
源回路、14……パルス発生回路、15……パル
ス間隔調整回路、16……スイツチング回路、1
7……単安定マルチバイブレータ、18……時定
数部分、19……パルス間隔調整用ボリユーム。
置の概略図、第3図は説明のためのグラフであ
る。 1……発信器、2……受信器、3……伝播路、
4……試料載置台、5……試料、6……ガンダイ
オード、7……発振部、8……電源部、9……検
出ダイオード、10……受信部、11……検出値
処理部、12……ロードセル、13……定電圧電
源回路、14……パルス発生回路、15……パル
ス間隔調整回路、16……スイツチング回路、1
7……単安定マルチバイブレータ、18……時定
数部分、19……パルス間隔調整用ボリユーム。
Claims (1)
- 1 マイクロ波の伝播路に試料を配置して該試料
によるマイクロ波の減衰量を検出し、試料が保有
する水分を測定する方法であつて、マイクロ波発
信器に対する入力電圧を矩形波とし、そのデユー
テイ比(1サイクルタイムに占めるON時間の割
合)を変更することにより発信マイクロ波エネル
ギー量を調整することを特徴とした水分測定方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19055088A JPH0240543A (ja) | 1988-08-01 | 1988-08-01 | マイクロ波による水分測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19055088A JPH0240543A (ja) | 1988-08-01 | 1988-08-01 | マイクロ波による水分測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0240543A JPH0240543A (ja) | 1990-02-09 |
| JPH0583860B2 true JPH0583860B2 (ja) | 1993-11-29 |
Family
ID=16259944
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19055088A Granted JPH0240543A (ja) | 1988-08-01 | 1988-08-01 | マイクロ波による水分測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0240543A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CZ305802B6 (cs) * | 2011-07-26 | 2016-03-23 | Vysoké Učení Technické V Brně | Aparatura pro měření vlhkostních parametrů pórovité hmoty |
| JP7706153B2 (ja) * | 2021-12-17 | 2025-07-11 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 水分量測定装置及び水分量測定方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5917775A (ja) * | 1982-07-20 | 1984-01-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 撮像装置 |
-
1988
- 1988-08-01 JP JP19055088A patent/JPH0240543A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0240543A (ja) | 1990-02-09 |
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