JPH0240760B2 - - Google Patents

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JPH0240760B2
JPH0240760B2 JP61207477A JP20747786A JPH0240760B2 JP H0240760 B2 JPH0240760 B2 JP H0240760B2 JP 61207477 A JP61207477 A JP 61207477A JP 20747786 A JP20747786 A JP 20747786A JP H0240760 B2 JPH0240760 B2 JP H0240760B2
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JP
Japan
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etching
carbon electrodes
aluminum foil
current
electrolytic
Prior art date
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JP61207477A
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English (en)
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JPS6364320A (ja
Inventor
Atsushi Koike
Toshio Higuchi
Takashi Tsucha
Hiroshi Hotsuta
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Elna Co Ltd
Original Assignee
Elna Co Ltd
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  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野] 本発明は電解コンデンサ用アルミニウム箔を連
続的にエツチングするためのエツチング装置に関
するものである。 [従来の技術] 一般に、電解コンデンサ用アルミニウム箔は静
電容量を増大させるために適当な電解液中でその
表面をエツチングにより増大している。 このエツチング方法は電解コンデンサの用途に
より中高圧用(中高電圧用)と低圧用(低電圧
用)とに大別される。特に、低圧用電解コンデン
サにおける低圧用エツチング箔では、エツチング
により形成される凹凸は微細なものほど良いため
に、エツチング箔をエツチング後に速かに電解液
中から引上げないと、微細な凹凸が電解液中で溶
解し、粗面化率が低下してしまうものである。 そこで、エツチング箔をエツチング後に速かに
電解液中から引上げるように構成したエツチング
装置として、特公昭42−21410号「電解蓄電器用
アルミニウム箔のエツチング方法」がすでにあ
る。第4図に示すように、このエツチング装置1
は適当な電解液2を満した電解槽3内に一対のカ
ーボン電極4,5を相対向させて縦設し、給電ロ
ーラ6,7を電解槽3外に配設し、また電解槽3
内には中間ローラ8,9を配設し、給電ローラ
6,7とカーボン電極4,5との間に電源10を
接続し、アルミニウム箔11を第1の給電ローラ
6側から導入し、第1の中間ローラ8および第2
の中間ローラ9を介し、カーボン電極4,5間を
通過させ、第2の給電ローラ7側から導出するよ
うにしたものである。このエツチング装置1にお
けるアルミニウム箔11のエツチングは、カーボ
ン電極4,5の下端間に進入した時点からエツチ
ングが開始し、その上端に向けて移行する間にエ
ツチングが進行し、電解液2から引上げられると
終了することになる。エツチング用の電源として
は交流電源、直流電源のほか、パルス電源あるい
はこれらの組合せ電源などがある。また、カーボ
ン電極4,5には余分な電流が流れないようにそ
の背面、底面あるいは側面などに電流を遮断する
ための絶縁板12が設けられることもある。 [発明が解決しようとする問題点] 次に、アルミニウム箔を電解エツチングする際
に、第5図に示すように一定電圧を印加すると、
第6図に示すような時間に対する電流の変化が見
られることはよく知られている。これは、アルミ
ニウム箔の表面に自然酸化により形成された酸化
皮膜がエツチングの開始時に界面抵抗を高くし、
電流の流れを抑制する働きをするためによるもの
である。しかし、エツチングが進行し、酸化皮膜
が破壊されるに伴つて電流は上昇し、所定の電流
に収束する。 すなわち、エツチングの開始時点では電流密度
は所定の電流密度より低く、この電流霧度の低い
ことにより電流のアルミニウム箔への集中化が起
こり、均一なエツチングの進行を妨げ、ひいては
エツチング箔の粗面化率の低下を招いているもの
である。 そこで、一般的には一定電圧を印加するのでは
なく、一定電流が流れるように定電流制御を行な
つている。しかし、第4図に示したエツチング装
置1を使用してエツチングする場合は、エツチン
グの開始時点Xでは所定の電流密度でアルミニウ
ム箔11がエツチングされず、前述した一定電圧
を印加した場合と同様な現象が生じているもので
ある。つまり、定電流コントロール電源10によ
り一定電流を流した場合、カーボン電極4,5全
体では一定電流になる。しかし、アルミニウム箔
11がカーボン電極4,5の下端から上端に向け
て移動している場合、カーボン電極4,5間の電
解液2面付近Zおよびカーボン電極4,5の中間
付近Yに位置するアルミニウム箔11はエツチン
グが充分に進行しており、酸化皮膜は殆ど存在せ
ず、界面抵抗は低く、電流は流れ易くなつてい
る。これに対し、カーボン電極4,5の下端間付
近Xに位置するアルミニウム箔11はカーボン電
極4,5間に突入した直後であり、高い界面抵抗
があり、電流は流れ難くなつている。このことに
より、第7図に示すようにカーボン電極4,5間
に位置するアルミニウム箔11にあつてはその長
さ方向に電流密度が不均一となつている。第7図
に示した電流密度曲線と第6図に示した電流曲線
とは非常に類似している。このことから判るよう
に、エツチングの開始時点Xは所定の電流密度よ
り著しく低くなつており、電流密度の低いことに
より電流の集中化が起こり、均一なエツチングの
進行を妨げているものである。また、カーボン電
極4,5の下端間では図示の破線にて示すように
エツチング電流の漏れ(LC)が生じており、こ
の漏れ電流(LC)はエツチングに際して当該箇
所における電流密度の一層の低下を招き、好まし
くないものである。したがつて、従来は目的とす
る高粗面化率を有する電解コンデンサ用アルミニ
ウム電極箔を得ることができないものであつた。 [問題点を解決するための手段] しかるに、本発明は上述したエツチングの開始
時点の電流密度を所定値まで引上げること、およ
び電流の漏れを抑制することにより高粗面化率を
有する電解コンデンサ用アルミニウム箔を得るこ
とが可能なエツチング装置を提供するものであ
り、具体的には相対向する一対のカーボン電極の
それぞれの下端の相対向する位置に突出部を形成
すると共に、漏れ電流遮断用絶縁体を設け、両絶
縁体の先端が互いに接触し合ことなく、互いに先
端間隔が0.5mm〜3.0mmになるような位置に配置し
たものである。 [実施例] 以下、本発明に係るエツチング装置1Aを第1
図乃至第3図にもとづいて説明する。 説明に先立つて、第4図に示した従来例と同一
の箇所については同一符号を付す。そして、本発
明においては特に改良した箇所についてのみ説明
を加えるものとする。 第1図に示すように、一対のカーボン電極4,
5の下端にエツチングの開始時点の電流密度を所
定値まで引上げるために、それぞれ相対向する突
出部41,51を形成する。この突出部41,5
1はカーボン電極4,5と一体または別体構造と
して形成される。突出部41,51の形状は、第
1図に示すように三角形状、第2図に示すように
矩形状、第3図に示すように台形状など、種々の
形状を例示することができる。 両カーボン電極4,5間の距離aと両突出部4
1,51間の距離bはエツチング条件によつて異
なるが、例えば厚さが100μmのアルミニウム箔
11を電流密度400mA/cm2でもつてエツチング
するような場合、距離aとしては50mm、距離bと
しては15mmを例示することができる。 また、第1図に示すように一対のカーボン電極
4,5の下端にカーボン電極4,5間以外への電
流の漏れを防止するために、それぞれ漏れ電流遮
断用絶縁体13,14を配置する、この漏れ電流
遮断用絶縁体13,14は両先端が互いに接触し
ない位置関係、例えば互いに先端間隔cが1.0mm
になるように配置される。漏れ電流遮断用絶縁体
13,14として電解槽3内に満された電解液2
と反応しない材料、例えば樹脂材あるいはゴム材
などからなり、可撓性を有することが好ましい。 このように配置された漏れ電流遮断用絶縁体1
3,14の先端は互いに接触し合つている状態に
あるので、アルミニウム箔11と漏れ電流遮断用
絶縁体13,14の間隙から電解液2がカーボン
電極4,5間に自然対流し、カーボン電極4,5
間の電解液2の循環が良くなり、電解槽3内の電
解液2温度の不均一、Al3+濃度の不均一を無く
すことができる。また、漏れ電流遮断用絶縁体1
3,14とアルミニウム箔11が接触しないの
で、アルミニウム箔11にキズを発生しない。さ
らに、互いの先端間隔cが0.5〜3.0mmであればア
ルミニウム箔11のエツチングに際してカーボン
電極4,5の下端からの電流漏れを生じない。 次に、具体的なエツチングとその効果について
述べる。電解液2の組成を、HClが0.5M、AlCl3
が0.5M、H2SO4が0.05M、H3PO4が0.5Mとし、
液温60℃で、かつ電流密度が400mA/cm2で、純
度が99.99%のアルミニウム箔11をエツチング
する。次に、エツチングしたアルミニウム箔11
をアジビン酸アルミニウム系水溶液にて50Vの電
圧を印加して化成する。このようにして製造され
た化成箔(実施例)と従来例について静電容量と
折曲強度との対比を第1表に示す。
【表】 実施例1は第3図に示したカーボン電極4,5
および漏れ電流遮断用絶縁体13,14を使用し
たものである。参考例は第3図に示したカーボン
電極4,5は使用するが、漏れ電流遮断用絶縁体
13,14は使用しないものである。 なお、従来例は第4図に示した従来のエツチン
グ装置により上述したエツチング条件および化成
条件により得たものである。 第1表から判るように、本発明によつて製造さ
れたエツチング箔は従来例および参考例より静電
容量が大きく、また折曲強度が大きいものを得る
ことができるものである。 [効果] 以上に述べたように、本発明においてはエツチ
ング装置の相対向する一対のカーボン電極のそれ
ぞれの下端の相対向する位置に突出部を形成する
と共に漏れ電流遮断用絶縁体を配置したので、従
来のようにアルミニウム箔のエツチング開始時点
におけるアルミニウム箔の不均一な溶解を防止す
ることができるものである。このため、高粗面化
率を有するエツチング箔を提供することができる
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るエツチング装置を示す
図、第2図および第3図はカーボン電極の他の形
状を示す図、第4図は従来のエツチング装置を示
す図、第5図は印加電圧特性を示す図、第6図は
電流特性を示す図、第7図は第4図に示したエツ
チング装置でのアルミニウム箔とカーボン電極間
の長さ方向における電流密度の関係を示す図であ
る。 図中、1,1A……エツチング装置、2……電
解液、3……電解槽、4,5……カーボン電極、
6,7,8,9……ローラ、10……電源、11
……アルミニウム箔、12……絶縁板、13,1
4……漏れ電流遮断用絶縁体、41,51……突
出部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 電解液を満した電解槽内に一対のカーボン電
    極を縦設し、両カーボン電極の下端の間隙からア
    ルミニウム箱を導入してエツチングを開始し、ア
    ルミニウム箔の電解液からの引上げに伴つてエツ
    チングを終了するようにした連続エツチング装置
    において、両カーボン電極の下端の相対向する位
    置に突出部を形成すると共に、漏れ電流遮断用絶
    縁体を同漏れ電流遮断用絶縁体の先端が互いに接
    触し合うことなく、互いに先端間隔が0.5mm〜3.0
    mmになるような関係に配置したことを特徴とする
    エツチング装置。
JP61207477A 1986-09-04 1986-09-04 エツチング装置 Granted JPS6364320A (ja)

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JP61207477A JPS6364320A (ja) 1986-09-04 1986-09-04 エツチング装置

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JP61207477A JPS6364320A (ja) 1986-09-04 1986-09-04 エツチング装置

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JP2600686B2 (ja) * 1987-07-01 1997-04-16 松下電器産業株式会社 エッチング装置
JPS648299A (en) * 1987-07-01 1989-01-12 Matsushita Electric Industrial Co Ltd Device for etching aluminum foil for electrolytic capacitor
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CN108251889B (zh) * 2017-12-29 2019-08-09 广西贺州市桂东电子科技有限责任公司 一种铝箔电解加电电极装置

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