JPH0240976B2 - - Google Patents

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JPH0240976B2
JPH0240976B2 JP59226907A JP22690784A JPH0240976B2 JP H0240976 B2 JPH0240976 B2 JP H0240976B2 JP 59226907 A JP59226907 A JP 59226907A JP 22690784 A JP22690784 A JP 22690784A JP H0240976 B2 JPH0240976 B2 JP H0240976B2
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JP
Japan
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flaw detection
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transducers
weld seam
ultrasonic flaw
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JP59226907A
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JPS61105460A (ja
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Jun Kubota
Soji Sasaki
Masayuki Watabiki
Mitsuo Koshirae
Akitaka Fujita
Mamoru Okada
Shinichi Shimizu
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Hitachi Ltd
Tokyo Gas Co Ltd
Hitachi Industry and Control Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Engineering Co Ltd Ibaraki
Hitachi Ltd
Tokyo Gas Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/07Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
    • GPHYSICS
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    • G01N2291/26Scanned objects
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    • G01N2291/2675Seam, butt welding

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  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、板状の被検査体内に内在、あるいは
被検査体内表面、即ち、底面に開口している垂直
割れ状欠陥を精度良好にして、しかも高速に検出
するための超音波探傷方法とそのプローブに関す
るものである。
〔発明の背景〕
板材の表面に垂直な方向に進展する割れ、即ち
垂直割れと、それに類似の欠陥を垂直割れ状欠陥
と定義すると、垂直割れ状欠陥は板の表面に平行
か、あるいはそれに近い方向に進行する超音波に
対する反射率が高い傾向があり、いわゆる斜角ト
ランスジユーサや表面波あるいは板波トランスジ
ユーサなどがその欠陥の検出に用いられるように
なつている。また同じ理由で、表面に対する角度
は同じでも、欠陥の向きによつて、その欠陥面に
対し垂直に近い方向から超音波を送受信した場合
には高いレベルのエコーが受信されるが、欠陥面
と平行の方向から超音波を送受信した場合にはほ
とんどエコーが検出されないものとなつている。
即ち、垂直割れ状欠陥を検出するためには、欠陥
部位に対してはその周囲の様々な方向から超音波
探傷を行なうべく振子走査する必要があるという
ものである。しかしながら、振子走査は探傷速度
の低下を来し障害となる場合があるので、自動探
傷では例えば第1図に示す如く(斜角)トランス
ジユーサがX字形に配置された、いわゆる
TTRR方式が溶接管溶接部の探傷に用いられる
ようになつている。
ここで第1図について説明すれば、トランスジ
ユーサ1,3を超音波送信に、また、トランスジ
ユーサ2,4を超音波受信に各々用い同時に動作
させるようにしたものである。溶接シーム5にお
ける被検査部位Uに何等欠陥が存在しない場合は
受信エコーは得られないが、溶接シーム5方向に
平行な垂直割れ状欠陥7やその方向に垂直な垂直
割れ状欠陥6、あるいは無指向性欠陥が存在する
場合にはトランスジユーサ2,4によつて受信エ
コーが欠陥エコーとして検出されるものである。
TTRR方式はこのように溶接管溶接部の探傷
に有効なものとなつているが、場合によつては不
都合を生じるものとなつている。第2図aに示す
ように欠陥7が存在する被検査部位Uが溶接中心
線A―A′より離れており、しかも溶接ビード幅
が広い場合にはトランスジユーサ1〜4各々の超
音波入射点8〜11のうち、超音波入射点10,
11が溶接ビードに近くなり、これがためにトラ
ンスジユーサ3,4が溶接肉盛部に乗り上げてし
まう場合があるというものである。X字形に配置
されたトランスジユーサ1〜4はその超音波入射
点8〜11が円12の円周上に存在すべく相互の
位置関係が機械的に固定されているが、トランス
ジユーサの溶接肉盛部への乗上を防止するために
はトランスジユーサ1〜4各々の被検査部位Uま
での距離を1スキツプ距離分遠ざけて配置するこ
とが考えられる。1スキツプ距離分遠ざけて配置
する場合、トランスジユーサ1〜4はその超音波
入射点が円13の円周上に存在すべく配置される
ものである。第2図aにおいてはトランスジユー
サ3,4の新たな配置位置が点線表示によつて示
されているが、トランスジユーサ1,2も同様に
配置されるものとなつている。
第2図bは第2図aが平面を表わすものとして
その正面を示したものである。但し、トランスジ
ユーサ3,4は新たなる位置に配置されたものと
して示されている。この第2図bによりスキツプ
(反射)点について説明すれば、スキツプ点とは
被検査体上面および底面における超音波の反射位
置として定義される。トランスジユーサ3は実際
にはスキツプ点14には配置し得ないので、スキ
ツプ点10′が新たなる超音波入射点としてトラ
ンスジユーサ3が配置されるものである。他のト
ランスジユーサ1,2,4についても事情は全く
同様である。
しかしてトランスジユーサ1〜4各々の被検査
部位Uまでの距離を1スキヤツプ距離分遠ざける
ようにしてトランスジユーサ1〜4を配置する場
合は、接近限界による探傷不能部位は減少される
ことになる。しかしながら、その反面探傷感度と
その安定度の低下が著しく、探傷精度の低下は否
めないものとなる。
〔発明の目的〕
よつて本発明の目的は、探傷精度を低下させる
ことなく、しかも被検査体内に内在、あるいは被
検査体内表面、即ち、底面に開口している垂直割
れ状欠陥を高速に検出するための超音波探傷方法
とそのプローブを供するにある。
〔発明の概要〕
この目的のため本発明は、溶接シーム内底面に
おける垂直割れ状欠陥を検出すべく、溶接シーム
内被検査部位が中央に位置すべく被検査体表面上
の溶接シーム部分以外にX字形に配置される、
TTRR方式に係る4つの斜角トランスジユーサ
のうち、1つあるいは隣合つた2つを、該被検査
体表面上において1スキツプ距離分上記被検査部
位より遠ざけるように配置した状態で、被検査部
位が更新される度に被検査部位を超音波探傷する
ようにしたものである。また、本発明は、そのよ
うに配置されたトランスジユーサを機械的に結合
することによつて超音波探傷プローブを得るよう
にしたものである。更に探傷範囲を拡大すべく超
音波探傷プローブを2つ機械的に組合せ、結合す
るようになしたものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を第3図から第7図により説明す
る。
先ず本発明による超音波探傷方法について説明
する。第3図は3つあるいは4つのトランスジユ
ーサを1群としてトランスジユーサを2群溶接管
溶接部近傍に配置した状態を示したものである。
トランスジユーサ15〜18が第1の群を形成
し、残りのトランスジユーサ19〜22が第2の
群を形成しているわけであるが、第1,第2の群
はそれぞれ探傷領域,をカバーするものとな
つている。この場合第1の群におけるトランスジ
ユーサ17,18と第2の群におけるトランスジ
ユーサ21,22はその本来の位置よりも1スキ
ツプ距離分離された位置に配置されたものとなつ
ている。
第1,第2の群によつて超音波探傷を行なうに
は先ず第1の群によつて以下のように超音波探傷
が行なわれる。
即ち、先ずトランスジユーサ15による超音波
送受信動作が行なわれるようになつている。この
後はトランスジユーサ16〜18による超音波送
受信動作が順次行なわれるが、このようにして1
探触子法による超音波探傷が行なわれた後は次に
2探触子法による超音波探傷が行なわれるものと
なつている。トランスジユーサ15からの超音波
をトランスジユーサ16によつて受信するといつ
た具合に、隣合つたトランスジユーサ間で超音波
の送受信動作が順次行なわれるものである。この
2探触子法による超音波探傷が終了したならば第
2の群による超音波探傷が第1の群の場合と同様
にして行なわれるわけであり、第2の群による超
音波探傷の終了を以て1周期の探傷動作が終了す
るものである。なお、第1,第2の群におけるト
ランスジユーサの数は後述するように必ずしも4
つ要されず3つで十分である。点線表示されてい
るトランスジユーサ18,22は不要であること
を示しているが、他のものを不要にすることも可
能となつている。また、距離Xは第1,第2の群
の走査方向におけるずれを示す。更に本例では溶
接シーム5の幅が比較的大きい場合が想定されて
いることから、トランスジユーサの群は2群とさ
れているが、その幅が小さい場合には、トランス
ジユーサの溶接シーム5への乗り上げを生じさせ
ることなく探傷を行ない得ることから、1群で済
まされるものとなつている。
第4図は本発明に係る超音波探傷装置の概略構
成を示したものである。なお、第4図中ではトラ
ンスジユーサの群配置は便宜的に示されている
が、実際には第3図に示した如くに配置されたも
のとなつている。
これによると第1の群におけるトランスジユー
サ15,16,18はパルサー23〜25および
プリアンプ26〜28に、また、第2の群におけ
るトランスジユーサ19,20,22はパルサー
29〜31およびプリアンプ32〜34に図示の
如くに接続されるものとなつている。この場合ト
ランスジユーサ15,16,18〜20,22の
何れに高電圧パルスが印加されるかはコントロー
ラ48によつている。コントローラ48は超音波
送信の際トリガー回路36をトリガーするが、そ
のトリガー出力はコントローラ48による制御下
に(デ)マルチプレクサ35を介してパルサー2
3〜25、29〜31のうち高電圧パルスを発生
すべきものに与えられるようになつているもので
ある。また、トランスジユーサ15,16,18
〜20,22からの超音波の受信出力はプリアン
プ26〜28,32〜34で増幅されるが、何れ
の受信出力が選択的に取込されかもコントローラ
48によつている。マルチプレクサ37はコント
ローラ48による制御下に受信出力の何れかを選
択的に出力したうえ受信器38に取込するように
なつているものである。したがつて、コントロー
ラ48によつて目的とするトランスジユーサから
は超音波が発せられる一方、目的とするトランス
ジユーサの受信出力も取込可能となつているもの
である。
このようにトリガー回路36およびマルチプレ
クサ35,37を制御すれば各種の超音波送受信
動作を行ない得ることになるが、ここでトランス
ジユーサ22より送信された超音波をトランスジ
ユーサ19で受信する場合に例を採つて装置の動
作を説明すれば以下のようである。
即ち、コントローラ48によつては先ず超音波
発生タイミングを決定するトリガー信号がトリガ
ー回路36より発生させるようになつている。こ
の発生に先立つてマルチプレクサ35はコントロ
ーラ48による制御下にトリガー回路36の出力
をパルサー31に出力すべく制御されていること
から、トリガー信号は高電圧パルスに変換された
うえトランスジユーサ22に与えられるところと
なるものである。これによりトランスジユーサ2
2からは超音波が被検査部位50に向けて放射さ
れるが、もしもそこに何等かの欠陥が存在すれば
その欠陥によつて超音波は反射されるところとな
るものである。その欠陥の方向が溶接線方向に直
交するようであれば、その欠陥からの反射超音波
はトランスジユーサ19で受信され得、その受信
出力はプリアンプ33、マルチプレクサ37を介
し受信器38で受信、検波されるところとなるわ
けである。検波された受信出力は超音波送信時点
から一定時間経過後に一定時間のみゲートが開く
ゲート回路39でノイズ成分が除去されたうえ処
理に供されるものである。
受信出力の処理においては先ずビーム路程演算
器41でトリガー信号発生時点から反射超音波受
信時点までの時間が精密に測定され、既知の音速
を用い超音波の伝搬距離(ビーム路程)が計算さ
れるようになつている。欠陥位置計算器42では
またトランスジユーサ15,16,18〜20,
22の自動走査と位置検出を行なう走査制御装置
40からのトランスジユーサ位置情報と、選択さ
れたトランスジユーサ(この場合はトランスジユ
ーサ22,19)によつて定まる超音波の入出射
方向および入出射点と、ビーム路程演算器41か
らのビーム路程とによつて定まる欠陥の位置が計
算されるようになつている。一方、振幅検出器4
3によつては受信出力のピーク電圧が検出、保持
されるが、弁別器44ではそのピーク電圧が予め
設定されているしきい値以上であるか否かが弁別
され、しきい値以上である場合のみそのピーク値
が出力されるものとなつている。メモリ45では
弁別器44からのピーク電圧と、欠陥位置計算器
42からの欠陥位置情報とをピーク電圧がしきい
値以下である場合のみ送受信トランスジユーサ毎
に記憶するようになつている。欠陥識別回路46
ではまた1回の探傷動作毎に、得られた情報をそ
れ以前の情報、特に同じトランスジユーサの組合
せから得られる情報と、同一サイクルまたは直前
のサイクルの探傷で他のトランスジユーサの組合
せで得られる情報とを比較することによつてその
受信出力が欠陥に係るものか、または被検査体形
状に係るものかが識別されるようになつている。
欠陥に係るものである場合にはその欠陥情報にも
とづき記録表示器47には欠陥が記録表示される
ものである。なお、符号49は第1の群に対する
被検査部位である。
既述した探傷動作からも判るようにトランスジ
ユーサの群が4つのトランスジユーサよりなる場
合は、トランスジユーサ各々による送受信方向
(計4方向)以外に、2探触子法では線対称とな
る隣合つた2つのトランスジユーサの対称軸の方
向(計4方向)からの探傷と等価になるので、合
計8方向からの探傷動作が行なわれる種々の方向
性欠陥が探傷され得るものである。
本発明による超音波探傷方法は以上のようであ
るが、次に本発明による超音波探傷プローブにつ
いて説明すれば、第5図,第6図はその一例での
構成を示したものである。先ず、第5図より説明
すれば、これは第3図における第2の群または第
1の群におけるトランスジユーサを機械的に結合
するようにしたものである。トランスジユーサを
相互に固定する機械的結合手段51としては通常
のリンクおよびジンバルを用い得るが、図示のよ
うに、トランスジユーサ群の被検査部位Uの中央
から、各トランスジユーサ各々の超音波入射点ま
での距離Ya,Yb,Yc(Ya=Yb)を固定し、且
つ図示しないが各トランスジユーサの接触面が探
傷面にならうように押しつけるものが望ましいも
のとなつている。なお、この実施例では、欠陥の
種類を、底面にほぼ垂直なものに限れば、第3図
におけるトランスジユーサ21,19のように対
称な方向からの探傷は片方を省略しても検出性能
の低下が殆どないので、各トランスジユーサ群に
おける4個のトランスジユーサのうちの1個、例
えばトランスジユーサ18,22を省略し得るこ
とから、3個のトランスジユーサにより構成され
ているが、勿論4個のトランスジユーサで似て構
成されても何等不都合は生じないものとなつてい
る。この場合、距離Ycは距離Ya,Ybに比し1
スキツプ距離分長く設定されていることは勿論で
ある。また、この場合は、溶接線中心線に対し、
走査範囲が両側対称にならないが、第5図に示す
ものを2つ用いることにより対称な範囲が走査可
能となる。尤も、溶接シーム5の幅が小さい場合
には、第5図に示すもの1つによつて、溶接シー
ム5部分にトランスジユーサを乗り上げることな
く、しかも各トランスジユーサの相対的位置関係
を固定したまま、その幅相当の範囲を走査可能で
ある。その超音波探傷プローブとしてのトランス
ジユーサ全体を左右方向に移動させつつ超音波探
傷を行ない、その方向での探傷が終了すれば、前
後方向に探傷位置を更新して再び左右方向に超音
波探傷を行なう、といつた探傷動作が繰返される
ようにすればよいものである。
また、第6図に示すものは前記の距離Xを固定
するような機械的結合手段52を用い2つのトラ
ンスジユーサ群を結合したものである。
第5図に示すものを2つ用いる場合には、板厚
や溶接肉盛りの幅に対し、上記Xを調節し得るの
で、板厚や溶接肉盛りの幅の変更に容易に対処し
得る一方、第6図に示すものではその幅が固定で
ある場合に有効となつており、上記結合手段を複
数種類用意する場合は板厚などの違いにも対処可
能となる。特にこの第6図に示すものでは、溶接
シーム5の幅が比較的大きい場合に有効となつて
おり、溶接中心線に対しその左右の探傷領域それ
ぞれを、対応する超音波探傷プローブ部分で分担
探傷すれば、超音波探傷プローブ全体を左右方向
に大きく移動させることなく溶接シーム5の幅相
当の範囲が容易に探傷され得るものである。
最後に本発明に係る探傷結果の表示例を第7図
によつて説明すれば、第7図aに示すようにトラ
ンスジユーサ19より送信された超音波が欠陥5
3にて反射されたうえトランスジユーサ20で受
信される場合には、第7図bに示すようにその受
信出力のピーク値に応じた長さlの線分が走査方
向に平行にCスコープ(平面像)表示されるよう
になつている。また、第7図cに示すようにトラ
ンスジユーサ17で超音波の送信を行ない、欠陥
54からの反射超音波を受信する場合は、第7図
dに示すように走査方向からの傾きθが45゜とさ
れた状態で、同様に受信出力のピーク値に応じた
長さlの線分がCスコープで表示されるようにな
つている。トランスジユーサの走査に従つて形成
されるCスコープ像は上記線分の集合で表わされ
ることから、欠陥の方向性が明瞭に表示され得る
ものである。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明による場合は、探傷
精度を低下させることなく、しかも被検査体内に
内在、あるいは被検査体表面に開口している垂直
割れ状欠陥を高速に探傷し得るという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、トランスジユーサがX字形に配置さ
れたTTRR方式による探傷方法を説明するため
の図、第2図a,bは、その探傷方法の不具合を
説明するための図、第3図は、本発明に係るトラ
ンスジユーサの配置状態を示す図、第4図は、本
発明に係る超音波探傷装置の概略構成を示す図、
第5図,第6図は、それぞれ本発明による超音波
探傷プローブの一例での構成を示す図、第7図a
〜dは、本発明に係る探傷結果の表示例を説明す
るための図である。 5…溶接シーム、15〜22…トランスジユー
サ、51,52…機械的結合手段。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 溶接シーム内底面における垂直割れ状欠陥を
    検出するための超音波探傷方法であつて、溶接シ
    ーム内被検査部位が中央に位置すべく被検査体表
    面上の溶接シーム部分以外にX字形に配置され
    る、TTRR方式に係る4つの斜角トランスジユ
    ーサのうち、1つあるいは隣合つた2つを、該被
    検査体表面上において1スキツプ距離分上記被検
    査部位より遠ざけるように配置した状態で、被検
    査部位が更新される度に被検査部位を超音波探傷
    することを特徴とする超音波探傷方法。 2 溶接シーム内底面における垂直割れ状欠陥を
    検出するための超音波探傷プローブであつて、被
    検査体表面上の溶接シーム部分以外にX字形に配
    置される、TTRR方式に係る4つの斜角トラン
    スジユーサのうち、1つあるいは隣合つた2つ
    を、該被検査体表面上において1スキツプ距離分
    仮想交叉中心より遠ざけた状態で、該4つの斜角
    トランスジユーサを機械的に結合せしめてなる構
    成を特徴とする超音波探傷プローブ。 3 溶接シーム内底面における垂直割れ状欠陥を
    検出するための超音波探傷プローブであつて、被
    検査体表面上の溶接シーム部分以外にX字形に配
    置される、TTRR方式に係る4つの斜角トラン
    スジユーサのうち、1つあるいは隣合つた2つ
    を、該被検査体表面上において1スキツプ距離分
    仮想交叉中心より遠ざけた状態で、該4つの斜角
    トランスジユーサを機械的に結合せしめてなるも
    のを2つ、探傷領域の重複を避けるべく仮想交叉
    中心がずれた状態で機械的に結合せしめてなる構
    成を特徴とする超音波探傷プローブ。
JP59226907A 1984-10-30 1984-10-30 超音波探傷方法とそのプロ−ブ Granted JPS61105460A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5310484A (en) * 1976-07-16 1978-01-30 Nippon Steel Corp Surface wave and ultrasonic flaw detection
JPS6239323Y2 (ja) * 1980-10-24 1987-10-07

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