JPH0241919Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案はローダより充填マガジン内のICを測
定部に供給し、測定部で電気的特性をチエツク
し、チエツクを受けたICを特性別に分類してア
ンローダの空マガジン内に収納し、かつローダで
発生した空マガジンをアンローダへ移送するよう
にしたICハンドラに係り、特にアンローダへ移
送する空マガジン内の残留ICを検出する検出機
構に関する。

〔従来の技術〕

ローダで発生した空マガジンを自動的にアンロ
ーダへ移送する場合、移送する空マガジン内に
ICが残留していないことが前提となる。さもな
ければ、特性未チエツクのICがアンローダへ送
られ、特性チエツク済みのIC内に混入すること
になるからである。

チエツク済みIC内に未チエツクICが混入する
のを回避するためには、空マガジン内にICが残
留しているか否かを検出し、残留している場合は
当該残留ICを取り除く必要がある。

従来機構は、例えば第６図示のように空マガジ
ン移送路８の上方に反射式の残留IC検出器７を
設置し、移送中のマガジン１内にIC６が残留し
ているか否かを検出していた。

〔考案が解決しようとする問題点〕

しかし上記従来例にあつては、マガジン１がア
ルミニウム製の場合は、反り、曲がりなどほとん
どないが、プラスチツク製の場合は反り、曲がり
が大きく、第６図のように平面状の移送面９を滑
落させた場合マガジン１の底面の高さが次第に変
化して反射位置が変わり、誤判定の原因となつて
いた。

本考案は、かかる従来例の欠点に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、たとえマガ
ジンに反りや曲がりがあつたとしても誤判定を生
ずることのない空マガジン内の残留IC検出機構
を提供するにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本考案機構は、上記の問題点を解決し、上記の
目的を達成するため、第１図〜第３図示のように
空マガジン１をローダ２からアンローダ１３に移
送する移送工程において、空マガジン移送路８の
下方に２個の従動ローラ４を平行に配設し、空マ
ガジン１を両従動ローラ４とで挟持して移送する
ための駆動ローラ５を両従動ローラ４の上方に空
マガジン移送路８を隔てて配置し、駆動ローラ５
の近傍で空マガジン移送路８の上方に残留IC検
出器７を設けてなる構成としたものである。

〔作用〕

ローダ２よりアンローダ１３へ移送する途中の
空マガジン１は、空マガジン移送路８の途中で２
つの従動ローラ４と駆動ローラ５とで挟持されア
ンローダ１３側へ移送される。そして駆動ローラ
４の近傍に設けられた検出器７により空マガジン
１の内部を全長に亘つて検査し、内部に残留IC
があるかないかを検出する。

このとき、空マガジン１は２個の従動ローラ４
と駆動ローラ５とで挟持されているので、たとえ
空マガジン１が反つていたり曲がつていたとして
も空マガジン１はその反りや曲げに合わせあるい
は反りや曲げを矯正して移送されるため、空マガ
ジン１に対する検出器７の焦点位置はほぼ一定に
なり、残留ICの検出もれがなく残留ICの検出を
確実にできる。

〔実施例〕

まず、本考案機構を適用したICハンドラの概
要を説明する。

第３図は本考案機構を適用したICハンドラを
示す正面図、第４図はその動作説明図である。

第３，第４図において２はIC６を充填した多
数本のマガジン１６を積載したローダ、１７は
IC供給装置、１８は傾動アーム、１０は測定部、
１１はテストヘツド、１２は制御部、１３はアン
ローダ、１４は空マガジン移送装置、Ａは本考案
残留IC検出機構で、１５は各ブロツクを載置す
る架台である。

ローダ２の多数本の充填マガジン１６は、ロー
ダ２の側方に設置されたIC供給装置１７に１本
ずつ供給され、この供給された充填マガジン１６
はIC供給装置１７の傾動アーム１８にキヤツチ
されて一定角度に傾動され、供給シユート１９に
接続される。供給シユート１９との接続が完了す
ると、充填マガジン１６内のIC６は供給シユー
ト１９に供給され、次いで個別化されて１個ずつ
測定部１０に送り込まれる。測定されたIC６は
その電気的特性別に分けられて、アンローダ１３
に用意された空マガジン１に分類収納されること
になる。

このようにしてIC６は順次その電気的特性を
チエツクされ、傾動アーム１８に支持されている
マガジン１６内のIC６が次第に少なくなり、遂
にはマガジン１６内のIC６が無くなるのである
が、これを直ちに検知して傾動アーム１８を逆作
動させて水平状態にする。するとIC充填マガジ
ン１６を載置したローダアーム２０（第４図参
照）がIC供給装置１７側に移動して来て空マガ
ジン１を外に突き出すと同時にIC充填マガジン
１６を傾動アーム１８にセツトする。IC充填マ
ガジン１６のセツトが終了すると傾動アーム１８
は再び傾動して供給シユート１９にマガジン１６
を接続する。

一方、突き出された空マガジン１は空マガジン
移送装置１４のエレベータ２１に載置されて降下
し、次いで空マガジン移送路８に移されて本考案
残留IC検出機構Ａの直前迄移送される。空マガ
ジン１の内部はこの検出装置Ａにより全長に亘つ
て検査され、内部に残留IC６がある場合はこれ
を検出してオペレータに知らせ、残留IC６を取
り除くことになる。

残留１Ｃが取り除かれた空マガジン１や残留
ICが検出されなかつた空マガジン１はアンロー
ダ１３に移送され、所定位置に保持されてチエツ
ク済みICを収納するべく待機する。

一方、測定部１０にて特性チエツクされたIC
６は順次その特性別に仕分けられてアンローダ１
３に送り込まれ、アンローダ１３で待機している
空マガジン１に収納される。

このようにしてアンローダ１３の空マガジン１
には次第にIC６が充填されて行き、満杯になる
とアンローダ１３の充填マガジン貯蔵部３１へ移
送され、順次積載される。充填マガジン貯蔵部３
１が充填マガジン１６で満杯になるとこれをオペ
レータに知らせ、次工程で移送するように命令す
る。

以下、本考案機構の一実施例について詳述す
る。

第１図は本考案機構の一実施例を示す正面図、
第２図ａ，ｂはその動作説明用断面図である。

まず、その構成を説明する。

本考案機構Ａは第３、第４図示のように空マガ
ジン移送装置１４のエレベータ降下位置に続く空
マガジン移送路８に設けられ、次のような構成に
なつている。

即ち、第１図示のように空マガジン移送路８の
下方に２個の従動ローラ４を配設してあり、両従
動ローラ４の上方に駆動ローラ５を配設してあ
る。両従動ローラ４は駆動ローラ５の回転を伝達
する従動輪３０を有し、当該従動ローラ４の外周
（従動輪３０の外周も含む）にはゴム２２を取着
してあり、空マガジン１の搬送並びに駆動ローラ
５との接触を確実ならしめている。駆動ローラ５
はたとえば糸巻車のような形状を有するもので、
従動輪３０に対接される外輪２３間にマガジン１
が嵌まり込んで横ずれなく搬送されるようになつ
ているものである。

駆動ローラ５は可動板２４に回転自在に枢支さ
れており、可動板２４は回動軸２５を介してベー
ス２６に回動自在に枢支されている。２７は可動
板２４を回動させるための駆動シリンダである。

可動板２４には減速機付き駆動モータ２８を取
着してあり、ベルト２９を介して駆動ローラ５を
回転できるようになつている。駆動ローラ５の直
後（勿論これに限られず、直前であつても良い）
に反射式の残留IC検出器７を配置してある。

次にその作用を説明する。

前述のようにIC供給装置１７で発生した空マ
ガジン１はエレベータ２１に載置されて降下し、
次いで空マガジン移送路８に移され本考案残留
IC検出機構Ａの直前迄移送される。この時、駆
動シリンダ２７は可動板２４を回動軸２５を中心
に第１図において反時計方向に回動し、駆動ロー
ラ５を引き上げて両従動ローラ４との間を離間さ
せる方向に働いている（第２図ａ参照）。空マガ
ジン１が残留IC検出機構Ａ迄移送されて来ると、
駆動シリンダ２７が逆方向に作動して駆動ローラ
５を押し下げ、両従動ローラ４と駆動ローラ５と
で空マガジン１を挟持するようになる。この時、
駆動ローラ５の一方の外輪２３と従動ローラ４の
従動輪３０とが接触し、従動ローラ４が回転させ
られることになる（第２図ｂ参照）。

このようにして、空マガジン１は回転している
駆動ローラ５と両従動ローラ４とに挟持されてア
ンローダ１３側へ移送され、駆動ローラ５の直後
に設けた反射式の検出器７により空マガジン１の
内部が全長にわたつて検査されることになる。若
し、空マガジン１内に残留IC６があれば検出器
７が反射光を検知してオペレータにこれを知ら
せ、残留IC６を取り除くように命令する。

ところで、空マガジン１は２個の従動ローラ４
と駆動ローラ５とで支持されているため、たとえ
空マガジン１が反つていたり、曲がつていたとし
ても空マガジン１はその反りや曲がりに合わせて
送られるため（第５図参照）、あるいは反りや曲
がりを矯正して搬送されるため空マガジン１に対
する検出器７の焦点位置はほとんど変わらないも
のである。即ち、第１図示のように両従動ローラ
４の上方に空マガジン移送路８を隔てて配置し、
言い換えれば、駆動ローラ５の中心より垂線Ｈを
下ろし、その垂線Ｈの長さから駆動ローラ５の半
径ｒを引いた長さと空マガジン１の高さｈとをほ
ぼ等しくとつてあるので、空マガジン１の反り、
曲がりを矯正したり、空マガジン１の反り、曲が
りに合わせて空マガジン１を搬送できるものであ
り、空マガジン１に対する検出器７の焦点位置は
ほとんど一定になるものである。

このようにして空マガジン１の全長にわたつて
残留IC６がないことを確認したのち空マガジン
１はアンローダ１３に移送され、アンローダ１３
の所定の位置に保持されてチエツク済みICを収
納するべく待機することになる。

〔考案の効果〕

上述のように本考案によれば、マガジンに反り
や曲がりがあつたとしてもマガジンをその反りや
曲がりに合わせて搬送したり、反りや曲がりを矯
正して搬送することができ、マガジンに対する検
出器の焦点位置をほぼ一定とすることができるの
で、残留ICの検出もれを確実に防止することが
でき、残留ICの検出を確実にできるという利点
がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案機構の一実施例を示す正面図、
第２図ａ，ｂはその動作説明用断面図、第３図は
本考案機構を適用したICハンドラを示す正面図、
第４図はその動作説明図、第５図は本考案機構の
残留IC検出状態を説明するための概略断面図、
第６図は従来の残留IC検出状態を説明するため
の概略断面図である。 Ａ……本考案残留IC検出機構、１……空マガ
ジン、２……ローダ、４……従動ローラ、５……
駆動ローラ、６……IC、７……残留IC検出器、
８……空マガジン移送路、１３……アンローダ、
１４……空マガジン移送装置。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 空マガジン１をローダ２からアンローダ１３に
   移送する移送工程において、空マガジン移送路８
   の下方に２個の従動ローラ４を平行に配設し、空
   マガジン１を両従動ローラ４とで挟持して移送す
   るための駆動ローラ５を両従動ローラ４の上方に
   空マガジン移送路８を隔てて配置し、駆動ローラ
   ５の近傍で空マガジン移送路８の上方に残留IC
   検出器７を設けてなる空マガジン内の残留IC検
   出機構。