JPH0242656A - 光記憶体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は音響機器などに用いられる光記憶体に関する。

〔従来の技術〕

従来、光記憶体の一つであるコンパクトディスク（以下
、ＣＤと記す）の反射膜として、アルミニウムが使用さ
れている。しかし、近年、ＣＤにコンピュータデータを
記録したＣＤ−ＲＯＭが普及し、従来にも増して、高温
・高湿下での保存性の高いものが望まれている。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の光記憶体は、かかる過酷な環境下におい
て、蒸着された金属反射膜が腐食し、信号読み取りの指
標とされるエラーレートが増加し、上記のニーズに適応
できないという問題があった。

本発明は、光記憶体の耐腐食性、特に反射膜の耐腐食性
を強化し、信頼性を向上させた光記憶体を提供すること
にある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の光記憶体は、透明基板と、前記透明基板上に被
覆した窒化ハフニウムからなる反射膜と、前記反射膜上
に被覆した保護膜とを備えて構成される。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。

第１図は本発明の一実施例を示す光記憶体の部分断面図
である。

第１図に示すように、強化ガラス、石英ガラス、ポリカ
ーボネート樹脂等からなる透明基板１の１に窒化ハフニ
ウムを高周波マグネトロンスパッタ法、イオンブレーテ
ィング法、クラスターイオンビーム法、プラズマＣＶＤ
法等により５０〜５００ｎｍの膜厚で被覆して反射膜２
を形成し、又対膜２の上に保護膜３として樹脂膜を被覆
する、 ここで耐腐食性を試験するために、第１表に示すような
透明基板１の上に窒化ハフニウムからなる反射膜２と保
護膜３を順次被覆して設けた６個の試料工・〜■を準備
しな。

次に、これらの試料Ｉ〜■及び反射膜にアルミニウム膜
を使用した従来品について初期のエラーレートを測定し
た結果、透明基板１の材質や反射膜２の膜厚の違いにも
かかわらずすべての試料について５Ｘ１０−’の値を得
た。

第１−表 次に、これらの試料■〜■及び従来品に対して温度８０
℃、相対湿度９０％の雰囲気中の耐腐食性試験を１ケ月
間実施した後、信号の良否の指標となるエラーレートを
測定した結果を第２表に示す。第２表に示すように、従
来品では測定不能となったのに対して本発明の試料■〜
・■では多少の劣化がみられるものの充分実用できるも
のが実現できた。

第２表 せて信頼性を向上させることができるという効果を有す
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す光記憶体の部分断面図
である。 １・・・透明基板、２・・・反射膜、３・・・保護膜。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 透明基板と、前記透明基板上に被覆した窒化ハフニウム
   からなる反射膜と、前記反射膜上に被覆した保護膜とを
   備えたことを特徴とする光記憶体。