JPH0264938A - 光記憶体 - Google Patents
光記憶体Info
- Publication number
- JPH0264938A JPH0264938A JP63216779A JP21677988A JPH0264938A JP H0264938 A JPH0264938 A JP H0264938A JP 63216779 A JP63216779 A JP 63216779A JP 21677988 A JP21677988 A JP 21677988A JP H0264938 A JPH0264938 A JP H0264938A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- reflecting film
- transparent substrate
- corrosion resistance
- reflective film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は音響機器などに用いられる光記憶体に関する。
従来、光記憶体の一つであるコンパクトディスク(以下
、CDと記す)の反射膜として、アルミニウムが使用さ
れている。しかし、近年、CDにコンピュータデータを
記録したCD−ROMが普及し、従来にも増して、高温
・高湿下での保存性の高いものが望まれている。
、CDと記す)の反射膜として、アルミニウムが使用さ
れている。しかし、近年、CDにコンピュータデータを
記録したCD−ROMが普及し、従来にも増して、高温
・高湿下での保存性の高いものが望まれている。
上述した従来の光記憶体は、かかる過酷な環境下におい
て、蒸着された金属反射膜が腐食し、信号読み取りの指
標とされるエラーレートが増加し、上記のニーズに適応
できないという問題があった。
て、蒸着された金属反射膜が腐食し、信号読み取りの指
標とされるエラーレートが増加し、上記のニーズに適応
できないという問題があった。
本発明は、光記憶体の耐腐食性、特に反射膜の耐腐食性
を強化し、信頼性を向上させた光記憶体を提供すること
にある。
を強化し、信頼性を向上させた光記憶体を提供すること
にある。
本発明の光記憶体は、透明基板と、前記透明基板上に被
覆した窒化ジルコニウムからなる反射膜と、前記反射膜
上に被覆した保護膜とを備えて構成される。
覆した窒化ジルコニウムからなる反射膜と、前記反射膜
上に被覆した保護膜とを備えて構成される。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示す光記憶体の部分断面図
である。
である。
第1図に示すように、強化ガラス、石英ガラス、ポリカ
ーボネート樹脂等からなる透明基板1の上に窒化ジルコ
ニウムを高周波マグネトロンスパッタ法、イオンブレー
ティング法、クラスターイオンビーム法、プラズマCV
D法等により50〜500nmの膜厚で被覆して反射膜
2を形成し、反射膜2の上に保護膜3として樹脂膜を被
覆する。
ーボネート樹脂等からなる透明基板1の上に窒化ジルコ
ニウムを高周波マグネトロンスパッタ法、イオンブレー
ティング法、クラスターイオンビーム法、プラズマCV
D法等により50〜500nmの膜厚で被覆して反射膜
2を形成し、反射膜2の上に保護膜3として樹脂膜を被
覆する。
ここで、耐腐食性を試験するために、第1表に示すよう
な透明基板1の上に窒化ジルコニウムからなる反射膜2
と保護膜3を順次被覆して設けた6個の試料を準備した
。
な透明基板1の上に窒化ジルコニウムからなる反射膜2
と保護膜3を順次被覆して設けた6個の試料を準備した
。
第1表
ラム膜を使用した従来品について初期のエラーレートを
測定した結果、透明基板1の材質や反射膜2の膜厚の違
いにもかかわらずすべての試料について5×101の値
を得た。
測定した結果、透明基板1の材質や反射膜2の膜厚の違
いにもかかわらずすべての試料について5×101の値
を得た。
次に、これら試料I〜■及び従来品に対して温度80℃
、相対湿度90%の雰囲気中の耐腐食性試験を1力月間
実施した後、信号の良否の指標となるエラーレートを測
定した結果を第2表に示す、第2表に示すように、従来
品では測定不能となったのに対して本発明の試料I〜■
では多少の劣化がみられるものの充分実用できるものが
実現できた。
、相対湿度90%の雰囲気中の耐腐食性試験を1力月間
実施した後、信号の良否の指標となるエラーレートを測
定した結果を第2表に示す、第2表に示すように、従来
品では測定不能となったのに対して本発明の試料I〜■
では多少の劣化がみられるものの充分実用できるものが
実現できた。
第2表
第1図は本発明の一実施例を示す光記憶体の部分断面図
である。
である。
1・・・透明基板、2・・・反射膜、3・・・保護膜。
Claims (1)
- 透明基板と、前記透明基板上に被覆した窒化ジルコニウ
ムからなる反射膜と、前記反射膜上に被覆した保護膜と
を備えたことを特徴とする光記憶体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63216779A JPH0264938A (ja) | 1988-08-30 | 1988-08-30 | 光記憶体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63216779A JPH0264938A (ja) | 1988-08-30 | 1988-08-30 | 光記憶体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0264938A true JPH0264938A (ja) | 1990-03-05 |
Family
ID=16693758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63216779A Pending JPH0264938A (ja) | 1988-08-30 | 1988-08-30 | 光記憶体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0264938A (ja) |
-
1988
- 1988-08-30 JP JP63216779A patent/JPH0264938A/ja active Pending
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