JPH0243151B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0243151B2 JPH0243151B2 JP1218170A JP21817089A JPH0243151B2 JP H0243151 B2 JPH0243151 B2 JP H0243151B2 JP 1218170 A JP1218170 A JP 1218170A JP 21817089 A JP21817089 A JP 21817089A JP H0243151 B2 JPH0243151 B2 JP H0243151B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capacitor
- charging
- measurement
- determination
- capacitors
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 58
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000012850 discrimination method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 4
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
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Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電解コンデンサの製造工程においてエ
ージング処理されたものの中から漏れ電流特性の
正常なものを選別する方法に関する。
ージング処理されたものの中から漏れ電流特性の
正常なものを選別する方法に関する。
従来、アルミニウム電極箔を回巻きして組み立
てられたコンデンサの特性を安定させるために高
温加熱とともに通電するいわゆるエージング処理
が行われている。しかし、このような処理は多数
のコンデンサを同時に処理するものであるため、
全てのコンデンサが必ずしも同一の条件及び同一
のエージング達成度で処理されず、エージング不
十分のコンデンサが発生することがある。
てられたコンデンサの特性を安定させるために高
温加熱とともに通電するいわゆるエージング処理
が行われている。しかし、このような処理は多数
のコンデンサを同時に処理するものであるため、
全てのコンデンサが必ずしも同一の条件及び同一
のエージング達成度で処理されず、エージング不
十分のコンデンサが発生することがある。
しかるに、従来、エージング不十分のコンデン
サを識別する手段を提供されていなかつたため、
通常の漏れ電流特性の測定手段（一定時間通電・
充電後直ちに漏れ電流を測定する）によつては、
そのようなコンデンサを選別することができなか
つた。エージング不十分のコンデンサは後に経時
変化して漏れ電流を著しく増大する傾向があるた
め、コンデンサ使用上極めて不都合である。
サを識別する手段を提供されていなかつたため、
通常の漏れ電流特性の測定手段（一定時間通電・
充電後直ちに漏れ電流を測定する）によつては、
そのようなコンデンサを選別することができなか
つた。エージング不十分のコンデンサは後に経時
変化して漏れ電流を著しく増大する傾向があるた
め、コンデンサ使用上極めて不都合である。
本発明はこの点を改良するもので、不安定な漏
れ電流特性を有するコンデンサを短時間で効率よ
く、しかも正確に選別できるコンデンサの選別方
法を提供することを目的とする。
れ電流特性を有するコンデンサを短時間で効率よ
く、しかも正確に選別できるコンデンサの選別方
法を提供することを目的とする。
本発明は、コンデンサを順次搬送するステツプ
と、この搬送されるコンデンサを順次充電するス
テツプとを備えたコンデンサ選別方法において、
充電電圧の異なる段階でコンデンサの漏れ電流を
測定するステツプと、このそれぞれの測定結果及
び測定結果の差に基づいてそれぞれコンデンサの
良否を判別するステツプと、この複数回の判別の
結果によりコンデンサの良否を判別するステツプ
とを備えたことを特徴とする。
と、この搬送されるコンデンサを順次充電するス
テツプとを備えたコンデンサ選別方法において、
充電電圧の異なる段階でコンデンサの漏れ電流を
測定するステツプと、このそれぞれの測定結果及
び測定結果の差に基づいてそれぞれコンデンサの
良否を判別するステツプと、この複数回の判別の
結果によりコンデンサの良否を判別するステツプ
とを備えたことを特徴とする。
したがつて、同一のコンデンサを異なる判別条
件の下に複数回判別し、この結果によりコンデン
サの良否を判別することができる。このため、判
別結果の信頼度を著しく向上することができる。
件の下に複数回判別し、この結果によりコンデン
サの良否を判別することができる。このため、判
別結果の信頼度を著しく向上することができる。
本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は本発明一実施例のコンデンサ搬送機構
１を示す概略図である。
１を示す概略図である。
第１図において、コンデンサＣはその両端に導
出されたリード線L1，L2を介して一対の帯状部
材T1，T2に電気的に絶縁状態で保持され、該部
材T1，T2とともに矢印Ｓ方向に単位時間毎に間
欠的に移送される。部材T1，T2に沿つて多数の
板バネ状の電極E1，E2が配設され、コンデンサ
のリード線L1，L2に接触できる。
出されたリード線L1，L2を介して一対の帯状部
材T1，T2に電気的に絶縁状態で保持され、該部
材T1，T2とともに矢印Ｓ方向に単位時間毎に間
欠的に移送される。部材T1，T2に沿つて多数の
板バネ状の電極E1，E2が配設され、コンデンサ
のリード線L1，L2に接触できる。
第２図は本発明一実施例のコンデンサ選別機構
の要部ブロツク図を示す。
の要部ブロツク図を示す。
前記搬送機構１上に取り付けられたコンデンサ
Ｃには電極１〜ｎによつて充電電流が供給され、
移送されて電極n0に達すると測定が行われる。コ
ンデンサの漏れ電流i1は電流−電圧変換器１０に
より電圧に変換された上、デジタル電圧計１１で
測定され記憶器１２に記憶される。同時に、測定
電圧は比較器１３に導入され、予め設定された数
値よりも大きいときは不良品として記憶器１４に
記憶される。
Ｃには電極１〜ｎによつて充電電流が供給され、
移送されて電極n0に達すると測定が行われる。コ
ンデンサの漏れ電流i1は電流−電圧変換器１０に
より電圧に変換された上、デジタル電圧計１１で
測定され記憶器１２に記憶される。同時に、測定
電圧は比較器１３に導入され、予め設定された数
値よりも大きいときは不良品として記憶器１４に
記憶される。
コンデンサＣはn1以降の電極により引き続き充
電が行われ、搬送機構１の下流において電極nx
により再び測定が行われる。この場合も測定電流
i2は電流−電圧変換器２０により電圧に変換され
た上、デジタル電圧計２１で測定され、測定電圧
は比較器２２及び減算器２３に入力される。比較
器２２は測定電圧が予め設定された数値よりも大
きいときは不良品を示す信号を発生する。減算器
２３は記憶器１２における最初の測定電圧値V1
から電圧計２１からの２回目の測定電圧値V2を
減算して、その差を比較器２４に入力し、差が予
め設定した値より大きいときは不良を示す信号が
比較器２４から出力される。比較器２２，２４及
び記憶器１４の出力はオア回路１５に接続されて
おり、それらのいずれかにコンデンサ不良の判別
出力がある場合にオア回路１５から不良信号が出
力される。
電が行われ、搬送機構１の下流において電極nx
により再び測定が行われる。この場合も測定電流
i2は電流−電圧変換器２０により電圧に変換され
た上、デジタル電圧計２１で測定され、測定電圧
は比較器２２及び減算器２３に入力される。比較
器２２は測定電圧が予め設定された数値よりも大
きいときは不良品を示す信号を発生する。減算器
２３は記憶器１２における最初の測定電圧値V1
から電圧計２１からの２回目の測定電圧値V2を
減算して、その差を比較器２４に入力し、差が予
め設定した値より大きいときは不良を示す信号が
比較器２４から出力される。比較器２２，２４及
び記憶器１４の出力はオア回路１５に接続されて
おり、それらのいずれかにコンデンサ不良の判別
出力がある場合にオア回路１５から不良信号が出
力される。
以上説明した様に本発明によれば、コンデンサ
を順次搬送するステツプと、この搬送されるコン
デンサを順次充電するステツプとを備えたコンデ
ンサ選別方法にいて、充電電圧の異なる段階でコ
ンデンサの漏れ電流を測定するステツプと、この
それぞれの測定結果及び測定結果の差に基づいて
それぞれコンデンサの良否を判別するステツプ
と、この複数回の判別の結果によりコンデンサの
良否を判別するステツプとを備えたことを特徴と
する。
を順次搬送するステツプと、この搬送されるコン
デンサを順次充電するステツプとを備えたコンデ
ンサ選別方法にいて、充電電圧の異なる段階でコ
ンデンサの漏れ電流を測定するステツプと、この
それぞれの測定結果及び測定結果の差に基づいて
それぞれコンデンサの良否を判別するステツプ
と、この複数回の判別の結果によりコンデンサの
良否を判別するステツプとを備えたことを特徴と
する。
したがつて、同一のコンデンサを異なる条件の
下で複数回判別し、この結果によりコンデンサの
良否を判別することができ、このため判別の結果
の信頼度を著しく向上することができる効果を有
する。
下で複数回判別し、この結果によりコンデンサの
良否を判別することができ、このため判別の結果
の信頼度を著しく向上することができる効果を有
する。
第１図は本発明一実施例の搬送機構の該略図。
第２図は本発明一実施例のコンデンサ選別機構の
要部ブロツク構成図。 １……コンデンサ搬送機構、２……コンデンサ
選別機構、１０，２０……電流−電圧変換器、１
１，２１……デジタル電圧計、１２，１４……記
憶器、１３，２２，２４……比較器、１５……オ
ア回路、２３……減算器。
第２図は本発明一実施例のコンデンサ選別機構の
要部ブロツク構成図。 １……コンデンサ搬送機構、２……コンデンサ
選別機構、１０，２０……電流−電圧変換器、１
１，２１……デジタル電圧計、１２，１４……記
憶器、１３，２２，２４……比較器、１５……オ
ア回路、２３……減算器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数個のコンデンサの各々を順次移送するコ
ンデンサ搬送ステツプと、 前記搬送される各々のコンデンサを複数の充電
段階で順次充電するコンデンサ充電ステツプと、 を備えたコンデンサの判別方法において、 前記コンデンサ充電ステツプの充電段階の内の
所定の第１の充電段階で各コンデンサの漏れ電流
を測定する第１の測定ステツプと、 前記第１の測定ステツプの測定結果に基づいて
各コンデンサの良否を判別して判別結果を記憶す
る第１の判別ステツプと、 前記第１の測定ステツプの測定結果を記憶する
記憶ステツプと、 前記コンデンサ充電ステツプの充電段階の内の
前記第１の充電段階の下流に設定された所定の第
２の充電段階で各コンデンサの漏れ電流を測定す
る第２の測定ステツプと、 前記第２の測定ステツプの測定結果に基づいて
前記第１の判別ステツプで良否が判別された前記
コンデンサの良否を更に判別する第２の判別ステ
ツプと、 前記第２の測定ステツプの測定結果と、この第
２の測定ステツプの結果を得たコンデンサの前記
記憶ステツプで記憶された前記第１の測定ステツ
プの測定結果との差に基づいて前記第１及び第２
のコンデンサの判別ステツプで良否を判別された
前記コンデンサの良否を更に判別する第３の判別
ステツプと、 前記第１の、第２の及び第３の判別ステツプの
結果に基づいてコンデンサの良否を判別するステ
ツプと、 を備えたことを特徴とする漏れ電流特性不良コン
デンサの選別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1218170A JPH02124479A (ja) | 1989-08-24 | 1989-08-24 | 漏れ電流特性不良コンデンサの選別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1218170A JPH02124479A (ja) | 1989-08-24 | 1989-08-24 | 漏れ電流特性不良コンデンサの選別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02124479A JPH02124479A (ja) | 1990-05-11 |
| JPH0243151B2 true JPH0243151B2 (ja) | 1990-09-27 |
Family
ID=16715724
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1218170A Granted JPH02124479A (ja) | 1989-08-24 | 1989-08-24 | 漏れ電流特性不良コンデンサの選別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02124479A (ja) |
-
1989
- 1989-08-24 JP JP1218170A patent/JPH02124479A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02124479A (ja) | 1990-05-11 |
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