JPH0243825B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0243825B2 JPH0243825B2 JP60132526A JP13252685A JPH0243825B2 JP H0243825 B2 JPH0243825 B2 JP H0243825B2 JP 60132526 A JP60132526 A JP 60132526A JP 13252685 A JP13252685 A JP 13252685A JP H0243825 B2 JPH0243825 B2 JP H0243825B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnet
- split
- divided
- magnetic field
- magnets
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
マグネトロンスパツタ装置において、
ターゲツト2に磁界を及ぼすマグネツト4aが
複数の分割マグネツト8で構成され、該マグネツ
ト4aを取付けるマグネツト取付板5aに該分割
マグネツト8を取付ける分割マグネツト取付部を
複数設け、該複数設けられた分割マグネツト取付
部に選択的に該複数の分割マグネツト8を取付け
ることにより該マグネツト取付板5a上における
該複数の分割マグネツト8の配設位置が可変にさ
れていることにより、 磁界の分布を調整可能にして、スパツタ膜の膜
厚分布を調整可能にしたものである。
複数の分割マグネツト8で構成され、該マグネツ
ト4aを取付けるマグネツト取付板5aに該分割
マグネツト8を取付ける分割マグネツト取付部を
複数設け、該複数設けられた分割マグネツト取付
部に選択的に該複数の分割マグネツト8を取付け
ることにより該マグネツト取付板5a上における
該複数の分割マグネツト8の配設位置が可変にさ
れていることにより、 磁界の分布を調整可能にして、スパツタ膜の膜
厚分布を調整可能にしたものである。
本発明は、マグネトロンスパツタ装置に係り、
特に、ターゲツトに及ぼす磁界を形成するマグネ
ツトの構成に関す。
特に、ターゲツトに及ぼす磁界を形成するマグネ
ツトの構成に関す。
マグネトロンスパツタ装置は、例えば半導体装
置製造のウエーハプロセスにおける電極や配線な
どを形成するための金属膜被着などに使用されて
いる。
置製造のウエーハプロセスにおける電極や配線な
どを形成するための金属膜被着などに使用されて
いる。
この場合の被着面にはコンタクトホールなる窪
みがあるため、被着膜(スパツタ膜)は、ウエー
ハの全面に渡り均一であると共にコンタクトホー
ル部におけるステツプカバレージの良いことが重
要である。
みがあるため、被着膜(スパツタ膜)は、ウエー
ハの全面に渡り均一であると共にコンタクトホー
ル部におけるステツプカバレージの良いことが重
要である。
第4図は従来のマグネトロンスパツタ装置例の
要部構成を示す側断面図aとそのマグネツト部分
の正面図bである。
要部構成を示す側断面図aとそのマグネツト部分
の正面図bである。
第4図aにおいて、1は真空チヤンバ、2はス
パツタする金属のターゲツト、3は真空チヤンバ
1から絶縁されターゲツト2を保持するバツキン
グプレート、4はバツキングプレート3の背後に
配設されたマグネツト、5はマグネツト4を固定
するマグネツト取付板、6はスパツタ膜を被着す
るウエーハ、である。
パツタする金属のターゲツト、3は真空チヤンバ
1から絶縁されターゲツト2を保持するバツキン
グプレート、4はバツキングプレート3の背後に
配設されたマグネツト、5はマグネツト4を固定
するマグネツト取付板、6はスパツタ膜を被着す
るウエーハ、である。
マグネツト4は、第4図bに示す如く、ターゲ
ツト2側にNおよびS極面を向けるようなリング
状マグネツト7aと柱状マグネツト7bからな
り、回転するマグネツト取付板5に偏心して固定
されてターゲツト2の前面に磁界を及ぼしてい
る。
ツト2側にNおよびS極面を向けるようなリング
状マグネツト7aと柱状マグネツト7bからな
り、回転するマグネツト取付板5に偏心して固定
されてターゲツト2の前面に磁界を及ぼしてい
る。
スパツタは、ウエーハ6の被着面6aをターゲ
ツト2に対向させ真空チヤンバ1内を減圧アルゴ
ン雰囲気にしターゲツト2を陰極にした放電によ
つて行う。
ツト2に対向させ真空チヤンバ1内を減圧アルゴ
ン雰囲気にしターゲツト2を陰極にした放電によ
つて行う。
即ち、マグネトロンスパツタ装置においては、
マグネツト4の磁界によりターゲツト2近傍にお
けるアルゴンイオンの密度が高くなるため、被着
面6aに高速でスパツタが形成される。
マグネツト4の磁界によりターゲツト2近傍にお
けるアルゴンイオンの密度が高くなるため、被着
面6aに高速でスパツタが形成される。
このため、マグネツト4の磁界分布がスパツタ
膜の膜厚分布を支配する要因になつている。
膜の膜厚分布を支配する要因になつている。
一方この膜厚分布は、被着面6aの全面に渡り
均一であることが望まれ、然も被着面6aにコン
タクトホールがある場合にはそこのステツプカバ
レージの確保をも望まれている。
均一であることが望まれ、然も被着面6aにコン
タクトホールがある場合にはそこのステツプカバ
レージの確保をも望まれている。
然るに上記二つの要望に適する磁界分布は一般
に一致しないので、磁界分布を定めるマグネツト
4の諸元は、両要望の兼ね合いを見て最適と判断
される状態に設定されている。
に一致しないので、磁界分布を定めるマグネツト
4の諸元は、両要望の兼ね合いを見て最適と判断
される状態に設定されている。
しかしながら上記マグネトロンスパツタ装置
は、マグネツト4の形成する磁界分布が一形態に
固定されており、スパツタする金属の相違やパワ
ーの変更などにより発生する膜厚分布ないしステ
ツプカバレージの変化に対処することが困難で、
十分に望ましいスパツタ膜が得られない場合があ
り、製造品質を低下させる問題がある。
は、マグネツト4の形成する磁界分布が一形態に
固定されており、スパツタする金属の相違やパワ
ーの変更などにより発生する膜厚分布ないしステ
ツプカバレージの変化に対処することが困難で、
十分に望ましいスパツタ膜が得られない場合があ
り、製造品質を低下させる問題がある。
第1図は本発明によるマグネトロンスパツタ装
置実施例の要部構成を示す側断面図aとそのマグ
ネツト部分の正面図b、第2図はその実施例にお
ける分割マグネツトの配置位置を変えた例を示す
マグネツト部分の正面図である。
置実施例の要部構成を示す側断面図aとそのマグ
ネツト部分の正面図b、第2図はその実施例にお
ける分割マグネツトの配置位置を変えた例を示す
マグネツト部分の正面図である。
上記問題点は、ターゲツト2に磁界を及ぼすマ
グネツト4aが複数の分割マグネツト8で構成さ
れ、該マグネツト4aを取付けるマグネツト取付
板5aに該分割マグネツト8を取付ける分割マグ
ネツト取付部を複数設け、該複数設けられた分割
マグネツト取付部に選択的に該複数の分割マグネ
ツト8を取付けることにより該マグネツト取付板
5a上における該複数の分割マグネツト8の配設
位置が可変にされていることを特徴とする本発明
のマグネトロンスパツタ装置によつて解決され
る。
グネツト4aが複数の分割マグネツト8で構成さ
れ、該マグネツト4aを取付けるマグネツト取付
板5aに該分割マグネツト8を取付ける分割マグ
ネツト取付部を複数設け、該複数設けられた分割
マグネツト取付部に選択的に該複数の分割マグネ
ツト8を取付けることにより該マグネツト取付板
5a上における該複数の分割マグネツト8の配設
位置が可変にされていることを特徴とする本発明
のマグネトロンスパツタ装置によつて解決され
る。
本マグネトロンスパツタ装置は、分割マグネツ
ト取付部に選択的に分割マグネツト8を取付ける
ことにより分割マグネツト8の配設位置を変更可
能なようになつているので、マグネツト4aの磁
界分布の調整が可能である。
ト取付部に選択的に分割マグネツト8を取付ける
ことにより分割マグネツト8の配設位置を変更可
能なようになつているので、マグネツト4aの磁
界分布の調整が可能である。
従つて、先に述べたスパツタする金属の相違や
パワーの変更などの際に発生する膜厚分布ないし
ステツプカバレージの変化に対して上記磁界分布
の調整を行うことにより、それぞれの場合に所望
のスパツタ膜を得ることが出来て、従来より製造
品質を向上させることが可能になる。
パワーの変更などの際に発生する膜厚分布ないし
ステツプカバレージの変化に対して上記磁界分布
の調整を行うことにより、それぞれの場合に所望
のスパツタ膜を得ることが出来て、従来より製造
品質を向上させることが可能になる。
以下第1図a,b、第2図および分割マグネツ
ト8の例を示す第3図a,bを用い実施例につい
て説明する。
ト8の例を示す第3図a,bを用い実施例につい
て説明する。
第1図は第4図に対応する図であり、第1図に
示すマグネトロンスパツタ装置は、第4図に従来
例のマグネツト4を4aに変更しそれに伴いマグ
ネツト取付板5を5aに変更したもので、その他
は従来のままである。
示すマグネトロンスパツタ装置は、第4図に従来
例のマグネツト4を4aに変更しそれに伴いマグ
ネツト取付板5を5aに変更したもので、その他
は従来のままである。
マグネツト4aは、マグネツト取付板5aに取
付けられた複数の分割マグネツト8で構成され、
分割マグネツト8は、第1図bと第2図の比較で
示される如く配設位置が変えられるようになつて
いる。
付けられた複数の分割マグネツト8で構成され、
分割マグネツト8は、第1図bと第2図の比較で
示される如く配設位置が変えられるようになつて
いる。
そして、個々の分割マグネツト8は、第3図a
またはb図示の構造をなしている。
またはb図示の構造をなしている。
即ち、第3図aに示す分割マグネツト8は、二
つのマグネツト素子8aの一方がN極面を他方が
S極面を上に向けるように磁性体例えば鉄のヨー
ク8bに固定されてなり、ヨーク8bがマグネツ
ト取付板5aにねじ止めされる。
つのマグネツト素子8aの一方がN極面を他方が
S極面を上に向けるように磁性体例えば鉄のヨー
ク8bに固定されてなり、ヨーク8bがマグネツ
ト取付板5aにねじ止めされる。
また、第3図bに示す分割マグネツト8は、一
つのマグネツト素子8cがNおよびS極面を左右
に向けるように非磁性体例えば黄銅の台ブロツク
8dに固定されてなり、台ブロツク8dがマグネ
ツト取付板5aにねじ止めされる。
つのマグネツト素子8cがNおよびS極面を左右
に向けるように非磁性体例えば黄銅の台ブロツク
8dに固定されてなり、台ブロツク8dがマグネ
ツト取付板5aにねじ止めされる。
ここでマグネツト素子8a,8cには例えばサ
マリウムコバルト系などの強力な磁石材料が使用
されて、マグネツト4aを構成した際に十分な磁
界強度が確保出来るようになつている。
マリウムコバルト系などの強力な磁石材料が使用
されて、マグネツト4aを構成した際に十分な磁
界強度が確保出来るようになつている。
そしてマグネツト取付板5aには、分割マグネ
ツト8を取付けるための分割マグネツト取付部と
して図示されないねじ止め用孔が予め多数設けら
れてあり、分割マグネツト8の取付け位置は、そ
の孔の選択により変更することが出来るようにな
つている。
ツト8を取付けるための分割マグネツト取付部と
して図示されないねじ止め用孔が予め多数設けら
れてあり、分割マグネツト8の取付け位置は、そ
の孔の選択により変更することが出来るようにな
つている。
従つて、ターゲツト2に及ぶマグネツト4aの
磁界分布は、分割マグネツト8の取付け位置の変
更により調整することが出来る。
磁界分布は、分割マグネツト8の取付け位置の変
更により調整することが出来る。
以上説明したように、本発明の構成によれば、
マグネトロンスパツタ装置において、スパツタ膜
の膜厚分布を支配するマグネツトの磁界分布の調
整が可能になり、スパツタする金属の相違やパワ
ーの変更があつても所望のスパツタ膜を得ること
が出来て、製造品質の向上を可能にさせる効果が
ある。
マグネトロンスパツタ装置において、スパツタ膜
の膜厚分布を支配するマグネツトの磁界分布の調
整が可能になり、スパツタする金属の相違やパワ
ーの変更があつても所望のスパツタ膜を得ること
が出来て、製造品質の向上を可能にさせる効果が
ある。
第1図は本発明によるマグネトロンスパツタ装
置実施例の要部構成を示す側断面図aとそのマグ
ネツト部分の正面図b、第2図はその実施例にお
ける分割マグネツトの配置位置を変えた例を示す
マグネツト部分の正面図、第3図はそのマグネツ
トを構成する分割マグネツトの例を示す斜視図
a,b、第4図は従来のマグネトロンスパツタ装
置例の要部構成を示す側断面図aとそのマグネツ
ト部分の正面図b、である。 図において、1は真空チヤンバ、2はターゲツ
ト、3はバツキングプレート、4,4aはマグネ
ツト、5,5aはマグネツト取付板、6はウエー
ハ、6aは被着面、7aはリング状マグネツト、
7bは柱状マグネツト、8は分割マグネツト、8
a,8cはマグネツト素子、8bはヨーク、8d
は台ブロツク、である。
置実施例の要部構成を示す側断面図aとそのマグ
ネツト部分の正面図b、第2図はその実施例にお
ける分割マグネツトの配置位置を変えた例を示す
マグネツト部分の正面図、第3図はそのマグネツ
トを構成する分割マグネツトの例を示す斜視図
a,b、第4図は従来のマグネトロンスパツタ装
置例の要部構成を示す側断面図aとそのマグネツ
ト部分の正面図b、である。 図において、1は真空チヤンバ、2はターゲツ
ト、3はバツキングプレート、4,4aはマグネ
ツト、5,5aはマグネツト取付板、6はウエー
ハ、6aは被着面、7aはリング状マグネツト、
7bは柱状マグネツト、8は分割マグネツト、8
a,8cはマグネツト素子、8bはヨーク、8d
は台ブロツク、である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ターゲツト2に磁界を及ぼすマグネツト4a
が複数の分割マグネツト8で構成され、 該マグネツト4aを取付けるマグネツト取付板
5aに該分割マグネツト8を取付ける分割マグネ
ツト取付部を複数設け、 該複数設けられた分割マグネツト取付部に選択
的に該複数の分割マグネツト8を取付けることに
より該マグネツト取付板5a上における該複数の
分割マグネツト8の配設位置が可変にされている
ことを特徴とするマグネトロンスパツタ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13252685A JPS61291972A (ja) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | マグネトロンスパツタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13252685A JPS61291972A (ja) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | マグネトロンスパツタ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61291972A JPS61291972A (ja) | 1986-12-22 |
| JPH0243825B2 true JPH0243825B2 (ja) | 1990-10-01 |
Family
ID=15083357
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13252685A Granted JPS61291972A (ja) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | マグネトロンスパツタ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61291972A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4680353B2 (ja) * | 1999-07-06 | 2011-05-11 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | スパッタリング装置および成膜方法 |
| JP4680352B2 (ja) * | 1999-07-06 | 2011-05-11 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | スパッタリング装置および成膜方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0718006B2 (ja) * | 1983-11-30 | 1995-03-01 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | スパッタ装置 |
-
1985
- 1985-06-18 JP JP13252685A patent/JPS61291972A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61291972A (ja) | 1986-12-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |