JPH0244200Y2 - - Google Patents
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- JPH0244200Y2 JPH0244200Y2 JP8467584U JP8467584U JPH0244200Y2 JP H0244200 Y2 JPH0244200 Y2 JP H0244200Y2 JP 8467584 U JP8467584 U JP 8467584U JP 8467584 U JP8467584 U JP 8467584U JP H0244200 Y2 JPH0244200 Y2 JP H0244200Y2
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- electrodes
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 claims description 3
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 6
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本考案は、赤外分光計を使用し、試料の配向の
度合を測定する際に用いて好適な赤外測定用試料
セルに関する。
度合を測定する際に用いて好適な赤外測定用試料
セルに関する。
［従来技術］
分子のなかには電場の印加によつて配向するも
のがあり、赤外分光計によつてその配向の度合を
測定することが行われている。第２図には、従来
の配向測定用の試料セルを示しており、図中１，
２は赤外透過結晶である。該結晶１，２の夫々の
内側表面には、例えば、導電性物質であり、赤外
光を透過するインジウムオキサイド（In2O3）が
蒸着され、電極３，４が形成されている。該電極
３，４は電源５に接続されており、該電極３，４
とスペーサ６，７に囲まれた空間に被測定試料８
が封入されている。このような構成において、該
電源５から適宜な電圧を該電極３，４に印加し、
図中矢印Ａの方向から赤外光を照射し、該試料セ
ルを透過した赤外光を検出すれば、該試料８の配
向に関する情報が得られる。
のがあり、赤外分光計によつてその配向の度合を
測定することが行われている。第２図には、従来
の配向測定用の試料セルを示しており、図中１，
２は赤外透過結晶である。該結晶１，２の夫々の
内側表面には、例えば、導電性物質であり、赤外
光を透過するインジウムオキサイド（In2O3）が
蒸着され、電極３，４が形成されている。該電極
３，４は電源５に接続されており、該電極３，４
とスペーサ６，７に囲まれた空間に被測定試料８
が封入されている。このような構成において、該
電源５から適宜な電圧を該電極３，４に印加し、
図中矢印Ａの方向から赤外光を照射し、該試料セ
ルを透過した赤外光を検出すれば、該試料８の配
向に関する情報が得られる。
［考案が解決しようとする問題点］
ところで、電場による配向の方向は試料分子の
双極子モーメントによつて異なり、平板状電極に
垂直な方向に配向するものと、平板状電極に平行
な方向に配向するものとが存在する。このうち、
電極に平行な方向に配向する分子の測定を行うに
は、図中Ｂ方向からも赤外光の照射を行うことが
望ましいが、この方向から赤外光を照射すると、
光が該スペーサ６，７によつて著しく吸収された
り、更に、透過した赤外光もスペーサの情報を多
く含んだものとなり、実際上、該Ｂ方向、すなわ
ち、電極表面に平行な方向からの赤外光の照射に
よる配向測定は困難である。
双極子モーメントによつて異なり、平板状電極に
垂直な方向に配向するものと、平板状電極に平行
な方向に配向するものとが存在する。このうち、
電極に平行な方向に配向する分子の測定を行うに
は、図中Ｂ方向からも赤外光の照射を行うことが
望ましいが、この方向から赤外光を照射すると、
光が該スペーサ６，７によつて著しく吸収された
り、更に、透過した赤外光もスペーサの情報を多
く含んだものとなり、実際上、該Ｂ方向、すなわ
ち、電極表面に平行な方向からの赤外光の照射に
よる配向測定は困難である。
従つて、本考案の目的は、電極表面に平行な方
向からの赤外光の照射が可能な試料セルを提供す
ることである。
向からの赤外光の照射が可能な試料セルを提供す
ることである。
［問題点を解決するための手段］
本考案に基づく赤外測定用試料セルは、第１の
赤外透過結晶と、該結晶表面に溝部分を除いて蒸
着された電極部材と、該電極材料表面に配置され
た第２の赤外透過結晶と、該電極部材に接続され
た電源とを備えたことを特徴としている。
赤外透過結晶と、該結晶表面に溝部分を除いて蒸
着された電極部材と、該電極材料表面に配置され
た第２の赤外透過結晶と、該電極部材に接続され
た電源とを備えたことを特徴としている。
［実施例］
以下、本考案の実施例を添附図面に基づいて詳
述する。
述する。
第２図は、本考案に基づく試料セルの断面を示
している。１０は赤外透過結晶であり、該結晶表
面には直線状の溝１１の部分を残してインジウム
オキサイドが蒸着され、インジウムオキサイド電
極１２，１３が形成される。尚、この蒸着物質と
しては、導電性の物質であれば、インジウムオキ
サイド以外のものを用いることができる。該溝１
１の幅は、測定目的，試料分子の種類に応じて任
意に設定されるが、強い配向の状態の試料の測定
を行う場合には、該幅は狭くされる。又、該蒸着
膜の厚さも測定目的，試料分子の種類に応じて制
御されるが、該厚さは、通常、数μｍ〜30μｍの
範囲に制御される。該電極材料の蒸着の後、該溝
部分１１には、被測定試料が入れられ、その後、
該電極１２，１３の上部には赤外透過結晶１４が
配置される。該結晶１４は、該溝部分に入れられ
た試料が漏れないように、該電極１２，１３に密
着して取付けられる。尚、漏れやすい試料の測定
の場合には、該溝１１の両端部に、図示していな
いがスペーサが配置され、結晶１０，１４，電極
１２，１３スペーサによつて囲まれた溝空間に試
料が封入されることになる。又、該電極１２，１
３は電源１５に接続されている。
している。１０は赤外透過結晶であり、該結晶表
面には直線状の溝１１の部分を残してインジウム
オキサイドが蒸着され、インジウムオキサイド電
極１２，１３が形成される。尚、この蒸着物質と
しては、導電性の物質であれば、インジウムオキ
サイド以外のものを用いることができる。該溝１
１の幅は、測定目的，試料分子の種類に応じて任
意に設定されるが、強い配向の状態の試料の測定
を行う場合には、該幅は狭くされる。又、該蒸着
膜の厚さも測定目的，試料分子の種類に応じて制
御されるが、該厚さは、通常、数μｍ〜30μｍの
範囲に制御される。該電極材料の蒸着の後、該溝
部分１１には、被測定試料が入れられ、その後、
該電極１２，１３の上部には赤外透過結晶１４が
配置される。該結晶１４は、該溝部分に入れられ
た試料が漏れないように、該電極１２，１３に密
着して取付けられる。尚、漏れやすい試料の測定
の場合には、該溝１１の両端部に、図示していな
いがスペーサが配置され、結晶１０，１４，電極
１２，１３スペーサによつて囲まれた溝空間に試
料が封入されることになる。又、該電極１２，１
３は電源１５に接続されている。
上述のようにして作成された試料セルにおい
て、該電極１２，１３に電源１５から所望電圧を
印加して試料分子を配向させ、赤外光を図中矢印
Ｂ方向から照射し、該試料セルを透過した赤外光
を検出すれば、該試料の配向に関する情報を得る
ことができる。ここで、該赤外光の照射方向は、
該電極の表面と平行な方向であり、この結果、電
極表面に平行な方向に配向する試料分子の測定を
効果的に行うことができる。
て、該電極１２，１３に電源１５から所望電圧を
印加して試料分子を配向させ、赤外光を図中矢印
Ｂ方向から照射し、該試料セルを透過した赤外光
を検出すれば、該試料の配向に関する情報を得る
ことができる。ここで、該赤外光の照射方向は、
該電極の表面と平行な方向であり、この結果、電
極表面に平行な方向に配向する試料分子の測定を
効果的に行うことができる。
［効果］
以上詳述した如く、本考案においては、蒸着に
よつて形成された電極部材を挟んで赤外透過結晶
を配置し、該電極部材に溝を設けてその溝部分に
試料を入れるようにしたので、電極表面と平行な
方向に赤外光を照射しても、該赤外光ガスペーサ
等によつて著しく吸収されたり、試料セルを透過
した赤外光が試料以外の部材からの余分な情報を
含む恐れはなくなり、試料分子の配向測定を正確
に行うことができる。
よつて形成された電極部材を挟んで赤外透過結晶
を配置し、該電極部材に溝を設けてその溝部分に
試料を入れるようにしたので、電極表面と平行な
方向に赤外光を照射しても、該赤外光ガスペーサ
等によつて著しく吸収されたり、試料セルを透過
した赤外光が試料以外の部材からの余分な情報を
含む恐れはなくなり、試料分子の配向測定を正確
に行うことができる。
第１図は本考案の一実施例を示す図、第２図は
従来の試料セルを示す図である。 １０，１４……赤外透過結晶、１１……溝、１
２，１３……電極、１５……電源。
従来の試料セルを示す図である。 １０，１４……赤外透過結晶、１１……溝、１
２，１３……電極、１５……電源。
Claims (1)
- 第１の赤外透過結晶と、該結晶表面に溝部分を
除いて蒸着された電極部材と、該電極材料表面に
配置される第２の赤外透過結晶と、該電極部材に
接続された電源とを備えた赤外測定用試料セル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984084675U JPS6149U (ja) | 1984-06-07 | 1984-06-07 | 赤外測定用試料セル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984084675U JPS6149U (ja) | 1984-06-07 | 1984-06-07 | 赤外測定用試料セル |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6149U JPS6149U (ja) | 1986-01-06 |
| JPH0244200Y2 true JPH0244200Y2 (ja) | 1990-11-22 |
Family
ID=30634381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1984084675U Granted JPS6149U (ja) | 1984-06-07 | 1984-06-07 | 赤外測定用試料セル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6149U (ja) |
-
1984
- 1984-06-07 JP JP1984084675U patent/JPS6149U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6149U (ja) | 1986-01-06 |
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