JPH0244207A - ワーク自動計測方法 - Google Patents
ワーク自動計測方法Info
- Publication number
- JPH0244207A JPH0244207A JP19353488A JP19353488A JPH0244207A JP H0244207 A JPH0244207 A JP H0244207A JP 19353488 A JP19353488 A JP 19353488A JP 19353488 A JP19353488 A JP 19353488A JP H0244207 A JPH0244207 A JP H0244207A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- touch sensor
- error
- point
- characteristic data
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はワーク自動計測方法に関し、より詳しくは、自
由曲面を備えたワークの面直誤差の測定方法に関する。
由曲面を備えたワークの面直誤差の測定方法に関する。
（従来技術及びその問題点）
ワークの面直誤差測定に、いわゆるタッチセンサが用い
られる。このタッチセンサについて第１２図を参照して
説明すると、タッチセンサ１はそのプローブ１ａの基端
が多点支持構造（図示例では三点支持）とされて、各支
点に近接スイッチＩｂが設けられ、この近接スイッチＩ
ｂがプローブ１ａの揺動あるいは上匠動によりオフ（あ
るいはオン）する構成とされている。そして、タッチセ
ンサ１はプローブ１ａをその延び方向に付勢するスプリ
ング１ｃを有し、このスプリングＩｃによってプローブ
１ａの自由な遊動を防止する構成とされている。このた
めタッチセンサ１は第１３図（イ）、（ロ）に示すよう
に、被測定物（ワーク）Ｗと当接するその接触角θによ
って、オフ（あるいはオン）するタイミングが変化する
という特性を備えている。つまり、ワークＷとタッチセ
ンサｌとの接触角θが異なることにより、近接スイッチ
１ｂをオフ（あるいはオン）するときのプローブＩａの
振れ量（以下、タッチセンサ誤差という）が異なるもの
となっている。したがって実質的に無数に存在する接触
角θ毎にこのタッチセンサ誤差を求めておくことは実際
上不可能であり、このため特開昭６１−１０７０２号公
報に見られるように、ワークと同一形状の基準モデルを
用意し、ワークの測定点を予め基準モデルで測定して各
測定点におけるタッチセンサ誤差を求めておき、このタ
ッチセンサ誤差でワークの測定結果を補正することが提
案されている。
られる。このタッチセンサについて第１２図を参照して
説明すると、タッチセンサ１はそのプローブ１ａの基端
が多点支持構造（図示例では三点支持）とされて、各支
点に近接スイッチＩｂが設けられ、この近接スイッチＩ
ｂがプローブ１ａの揺動あるいは上匠動によりオフ（あ
るいはオン）する構成とされている。そして、タッチセ
ンサ１はプローブ１ａをその延び方向に付勢するスプリ
ング１ｃを有し、このスプリングＩｃによってプローブ
１ａの自由な遊動を防止する構成とされている。このた
めタッチセンサ１は第１３図（イ）、（ロ）に示すよう
に、被測定物（ワーク）Ｗと当接するその接触角θによ
って、オフ（あるいはオン）するタイミングが変化する
という特性を備えている。つまり、ワークＷとタッチセ
ンサｌとの接触角θが異なることにより、近接スイッチ
１ｂをオフ（あるいはオン）するときのプローブＩａの
振れ量（以下、タッチセンサ誤差という）が異なるもの
となっている。したがって実質的に無数に存在する接触
角θ毎にこのタッチセンサ誤差を求めておくことは実際
上不可能であり、このため特開昭６１−１０７０２号公
報に見られるように、ワークと同一形状の基準モデルを
用意し、ワークの測定点を予め基準モデルで測定して各
測定点におけるタッチセンサ誤差を求めておき、このタ
ッチセンサ誤差でワークの測定結果を補正することが提
案されている。
しかしながら、このような手を去を採るときには、各種
ワークの面直誤差測定に対し、ワークの種類毎に基準モ
デルを用意する必要がある。っまり−の基準モデルで求
めたタッチセンサ誤差は、他種のワークに適用すること
ができず汎用性がないという欠点がある。
ワークの面直誤差測定に対し、ワークの種類毎に基準モ
デルを用意する必要がある。っまり−の基準モデルで求
めたタッチセンサ誤差は、他種のワークに適用すること
ができず汎用性がないという欠点がある。
そこで、本発明の目的は、いかなるワークの自由曲面に
対しても、少ないタッチセンサ誤差データに基づいて面
直誤差測定がなし得るようにしたワーク自動計測方法を
提供することにある。
対しても、少ないタッチセンサ誤差データに基づいて面
直誤差測定がなし得るようにしたワーク自動計測方法を
提供することにある。
（問題点を解決するための手段、作用）本発明は、タッ
チセンサとワークとの接触角Ｏによってそのタッチセン
サ誤差が異なるものの、これらタッチセンサ誤差は再現
性があり、また接触角θとタッチセンサ誤差との間には
一定の規則性がある点に着目してなされたものである。
チセンサとワークとの接触角Ｏによってそのタッチセン
サ誤差が異なるものの、これらタッチセンサ誤差は再現
性があり、また接触角θとタッチセンサ誤差との間には
一定の規則性がある点に着目してなされたものである。
第２図は、三点支持構造のタッチセンサを用いて、その
Ｘ−Ｙ平面でのタッチセンサ誤差の試験結果を示すもの
である。この例によれば１２０度間隔でタッチセンサ誤
差のビークＰｉ ： ｉ＝ｌ、２．３が現われ、タッチ
センサ誤差の分布は略三角形状を呈示している。この略
三角形状はタッチセンサの三点支持構造と符合するもの
であり、したがってタッチセンサ誤差はタッチセンサの
構造に起因すると推定し得る。
Ｘ−Ｙ平面でのタッチセンサ誤差の試験結果を示すもの
である。この例によれば１２０度間隔でタッチセンサ誤
差のビークＰｉ ： ｉ＝ｌ、２．３が現われ、タッチ
センサ誤差の分布は略三角形状を呈示している。この略
三角形状はタッチセンサの三点支持構造と符合するもの
であり、したがってタッチセンサ誤差はタッチセンサの
構造に起因すると推定し得る。
そこで１本発明は第１図に示すように、球面マスターブ
ロック１０を用いて」二記タッチセンサ誤差のビークＰ
１が現われる点を見付け、この点を基に等角度間隔（例
えば３０度ピッチ）でＣ１Ｃ２，Ｃｘ ・・・という
ように（第６図参照）各点Ｃ１に対してその面直方向か
らタッチセンサｌを当接させて得られるタッチセンサ誤
差をタッチセンサ特性データとして用いることを第１の
特徴とする。そして第２の特徴としては、自由曲面を備
えたワークＷの面直誤差測定において、各測定点でのタ
ッチセンサ誤差は、当該測定点の面直方向、すなわちワ
ークＷとタッチセンサｌとの接触角Ｏに最も近い上記タ
ッチセンサ特性データから補間により求めるようにした
ものである。
ロック１０を用いて」二記タッチセンサ誤差のビークＰ
１が現われる点を見付け、この点を基に等角度間隔（例
えば３０度ピッチ）でＣ１Ｃ２，Ｃｘ ・・・という
ように（第６図参照）各点Ｃ１に対してその面直方向か
らタッチセンサｌを当接させて得られるタッチセンサ誤
差をタッチセンサ特性データとして用いることを第１の
特徴とする。そして第２の特徴としては、自由曲面を備
えたワークＷの面直誤差測定において、各測定点でのタ
ッチセンサ誤差は、当該測定点の面直方向、すなわちワ
ークＷとタッチセンサｌとの接触角Ｏに最も近い上記タ
ッチセンサ特性データから補間により求めるようにした
ものである。
より具体的には、タッチセンサを球面マスターブロック
に対して面直方向から当接させて得られるタッチセンサ
誤差のうち、最大誤差が現われる点を基にして、等角度
間隔離れた各点のタッチセンサ誤差をタッチセンサ特性
データとして保存し、 ワークの各測定点の面直誤差を測定するときに、前記タ
ッチセンサが各測定点に当接する接触角に隣接するタッ
チセンサ特性データから当該測定点におけるタッチセン
サ誤差を求め、該タッチセンサ誤差で各測定点の面直誤
差測定値を補正する、ような構成としである。
に対して面直方向から当接させて得られるタッチセンサ
誤差のうち、最大誤差が現われる点を基にして、等角度
間隔離れた各点のタッチセンサ誤差をタッチセンサ特性
データとして保存し、 ワークの各測定点の面直誤差を測定するときに、前記タ
ッチセンサが各測定点に当接する接触角に隣接するタッ
チセンサ特性データから当該測定点におけるタッチセン
サ誤差を求め、該タッチセンサ誤差で各測定点の面直誤
差測定値を補正する、ような構成としである。
このような手法を採ることにより、上記タッチセンサ特
性データは、ワークの種類に係ることなく、あらゆる自
由曲面を備えたワークの面直誤差”測定に用いることが
できる。また各測定点のタッチセンサ誤差をタッチセン
サ特性データに基づいて求めるようにしであるため、タ
ッチセンサ特性データの保存屑は極めて限定的な数で足
りる。
性データは、ワークの種類に係ることなく、あらゆる自
由曲面を備えたワークの面直誤差”測定に用いることが
できる。また各測定点のタッチセンサ誤差をタッチセン
サ特性データに基づいて求めるようにしであるため、タ
ッチセンサ特性データの保存屑は極めて限定的な数で足
りる。
（実施例）
以下、本発明の実施例を添付した図面に基づいて説明す
る。
る。
第３図は、システム構成を示すものであり、本実施例で
はＮＣ工作機械＋００を面直誤差測定機械として流用す
るようにされている。すなわち、ワークＷをＮＣ工作機
械１００によって加工した後、ＮＣ工作機％１００の主
軸１００ａにタッチセンサ１が装着されてワークＷの面
直誤差測定に供される。
はＮＣ工作機械＋００を面直誤差測定機械として流用す
るようにされている。すなわち、ワークＷをＮＣ工作機
械１００によって加工した後、ＮＣ工作機％１００の主
軸１００ａにタッチセンサ１が装着されてワークＷの面
直誤差測定に供される。
ところで、ＮＣ工作機械＋００は、加工速度向上の観点
から、主軸］ ００ａを急激に加減速する構成とされて
いる。また、ＮＣ工作機械１００は振動源の多い工作現
場に設置されるという実情がある。このため、ＮＣ工作
機械１００に装着するタッチセンサ１は、第１２図に示
すスプリングＩＣを強めなものにする必要がある。した
がって、Ｎ Ｃ玉作磯城＋ ００用のタッチセンサ１に
は、測定機用タッチセンサに比較すると高い測定圧が必
要である。このため、ＮＣ工作機械１００による面直誤
差測定では、タッチセンサｌのプローブ１ａに撓みが発
生し、タッチセンサ誤差が大きいという問題がある。ま
た、第１１図に示すように、１−りＷの表面に大きな高
低差Ｇがある場合には、長さＳＪ′法Ｉ−の大きいプロ
ーブ１ａ（同図（ロ））を用いる必要があり、無視でき
ないり・・ｌヂセンサ誤差が生じるという問題があるた
め、ＮＣＣ佳作機械＋００よる面直Ｘ；差測定にあって
はタッチセンサ誤差の補正が必須のものとなる。
から、主軸］ ００ａを急激に加減速する構成とされて
いる。また、ＮＣ工作機械１００は振動源の多い工作現
場に設置されるという実情がある。このため、ＮＣ工作
機械１００に装着するタッチセンサ１は、第１２図に示
すスプリングＩＣを強めなものにする必要がある。した
がって、Ｎ Ｃ玉作磯城＋ ００用のタッチセンサ１に
は、測定機用タッチセンサに比較すると高い測定圧が必
要である。このため、ＮＣ工作機械１００による面直誤
差測定では、タッチセンサｌのプローブ１ａに撓みが発
生し、タッチセンサ誤差が大きいという問題がある。ま
た、第１１図に示すように、１−りＷの表面に大きな高
低差Ｇがある場合には、長さＳＪ′法Ｉ−の大きいプロ
ーブ１ａ（同図（ロ））を用いる必要があり、無視でき
ないり・・ｌヂセンサ誤差が生じるという問題があるた
め、ＮＣＣ佳作機械＋００よる面直Ｘ；差測定にあって
はタッチセンサ誤差の補正が必須のものとなる。
［−Ｊ２第３図に戻ってシステム構成を説明すると、Ｎ
Ｃ機械用制御ユニット１０１は、大型コンピュータ１０
２に接続されて２必要な数値計算等はこの大型コンピュ
ータ１０２によって処理され、各種データはデータベー
ス１０３に保存されるようになっている。ＮＣ機械用制
御ユニット１０１は、また、マイクロコンピュータ１０
４を介してＣＲＴＩ ０５、データファイル１０６、ブ
ロック−１０７、プリンター１０８等に接続され、各種
情報が表示されるようになっている。
Ｃ機械用制御ユニット１０１は、大型コンピュータ１０
２に接続されて２必要な数値計算等はこの大型コンピュ
ータ１０２によって処理され、各種データはデータベー
ス１０３に保存されるようになっている。ＮＣ機械用制
御ユニット１０１は、また、マイクロコンピュータ１０
４を介してＣＲＴＩ ０５、データファイル１０６、ブ
ロック−１０７、プリンター１０８等に接続され、各種
情報が表示されるようになっている。
ＮＣ工作機械１００による面直誤差測定は、第４図に示
す手順で行なわれる。尚、同図中、符号Ｓはステップを
小ず。
す手順で行なわれる。尚、同図中、符号Ｓはステップを
小ず。
Ｓ２において１球面マスターブロック測定による補正デ
ータの格納とは、ＮＣ工作機械１００にタッチセンサ１
を装着し、該タッチセンサ１を球面マスクブロックの表
面にその１ｍ直方向から当接させて得られるタッチセン
サ誤差のうち、最大１τ；差を示す当接点を基準に３０
度間隔離れた各点のタッチセンサ誤差を上記データベー
ス１０３に保存する処理をいう。ここに、１−記タッ千
センサ１．ｒ１差は下記の式で求められる（第５図参照
）。
ータの格納とは、ＮＣ工作機械１００にタッチセンサ１
を装着し、該タッチセンサ１を球面マスクブロックの表
面にその１ｍ直方向から当接させて得られるタッチセン
サ誤差のうち、最大１τ；差を示す当接点を基準に３０
度間隔離れた各点のタッチセンサ誤差を上記データベー
ス１０３に保存する処理をいう。ここに、１−記タッ千
センサ１．ｒ１差は下記の式で求められる（第５図参照
）。
タッチセンサ誤差＝−（（マスタブロックの計測甲−径
）−（マスタブロック゛ト径Ｒ）−（プローブ半径「）
） そして、上記各当接点Ｃは、第６図に示すように、Ｘ−
Ｙ平面への投影ベクトルとＸ軸とのなす１Ｑ度ａと、各
Ｊ＋−’接点りとマスターブロック１０の中心Ｏとを結
ぶ線分とｘ −ｙ ′ｖ−而とのなす角度βと、で特定
されて、そのデータ化（タッチセンサ特性データ）がな
される（第７図参照）。
）−（マスタブロック゛ト径Ｒ）−（プローブ半径「）
） そして、上記各当接点Ｃは、第６図に示すように、Ｘ−
Ｙ平面への投影ベクトルとＸ軸とのなす１Ｑ度ａと、各
Ｊ＋−’接点りとマスターブロック１０の中心Ｏとを結
ぶ線分とｘ −ｙ ′ｖ−而とのなす角度βと、で特定
されて、そのデータ化（タッチセンサ特性データ）がな
される（第７図参照）。
Ｓ３では、大型コンピュータ＋０２からＮＣ磯誠用制御
ユニット＋０１へ、これから面直誤差を測定しようとす
るワークＷに関するデータが転送され、次の８４におい
て、Ｘ−Ｙ−Ｚ軸からなる測定座標系が設定される。そ
して、Ｓ５へ進み、ワークＷに対するプローブｌａのア
プローチ点ＡＩ （第８図参照）を求めた後、タッチセ
ンサ１の位置決めがなされる（Ｓ６）。
ユニット＋０１へ、これから面直誤差を測定しようとす
るワークＷに関するデータが転送され、次の８４におい
て、Ｘ−Ｙ−Ｚ軸からなる測定座標系が設定される。そ
して、Ｓ５へ進み、ワークＷに対するプローブｌａのア
プローチ点ＡＩ （第８図参照）を求めた後、タッチセ
ンサ１の位置決めがなされる（Ｓ６）。
次の８７においては、アプローチ点Ａ、から測定方向、
つまり面直方向に所定量離れたオーバストローク点Ｂ１
が求められ、Ｓ８において上記オーバストローク点Ｂ
Ｉに向けてプローブｌａ（タッチセンサ１）の移動が開
始される。そして、タッチセンサｌからオフ信号が発せ
られたときの測定値が読み込まれ（Ｓ９）、他方法の８
１０において、上記測定方向く面直方向）に基づきその
隣接するタッチセンサ特性データが求められて、このタ
ッチセンサ特性データから当該測定方向におけるタッチ
センサ、；ｒ；差が算出される（Ｓ１１）。
つまり面直方向に所定量離れたオーバストローク点Ｂ１
が求められ、Ｓ８において上記オーバストローク点Ｂ
Ｉに向けてプローブｌａ（タッチセンサ１）の移動が開
始される。そして、タッチセンサｌからオフ信号が発せ
られたときの測定値が読み込まれ（Ｓ９）、他方法の８
１０において、上記測定方向く面直方向）に基づきその
隣接するタッチセンサ特性データが求められて、このタ
ッチセンサ特性データから当該測定方向におけるタッチ
センサ、；ｒ；差が算出される（Ｓ１１）。
ここに、隣接するタッチセンサ特性データの呼び出しは
、以下のようにして行なわれる。
、以下のようにして行なわれる。
タッチセンサ１の測定方向は、そのベクトルが（＋、、
Ｊ、Ｋ）とすると、前記ａ、Ｂは、下記の式により求ま
る。
Ｊ、Ｋ）とすると、前記ａ、Ｂは、下記の式により求ま
る。
ｌ ≦ Ｉ 、 Ｊ、に≦ １
そして、当該測定方向におけるタッチセンサ誤差は、第
９図に示すように、隣接する４つのタッチセンサ特性デ
ータｈから例えば以下の式に基づいて求められ、その適
正化がなされる。
９図に示すように、隣接する４つのタッチセンサ特性デ
ータｈから例えば以下の式に基づいて求められ、その適
正化がなされる。
タッチセンサ誤差Ｈ
したがって、測定点の面直誤差は、基本的には、基準値
と測定値との差分からタッチセンサ誤差を引くことによ
り求められることとなる（Ｓ１２）。これを第１０図を
参照して表せば、面直正規ベクトルを冒（ｉ、ｊ、ｋ）
とすると、面直誤差ＰＲは以下の式で表わされる。
と測定値との差分からタッチセンサ誤差を引くことによ
り求められることとなる（Ｓ１２）。これを第１０図を
参照して表せば、面直正規ベクトルを冒（ｉ、ｊ、ｋ）
とすると、面直誤差ＰＲは以下の式で表わされる。
ＰＲ＝ＰＰ″−Ｐ’ Ｒ
＝ （ｘ’ −ｘ） ・ｉ＋（ｙ’ ｙ） ・Ｊ
＋ （ｚ’ −ｚ） ・ｋ−ｒ ここに、「ニブローブの半径（Ｐ’ Ｒ）（ｘ’ 、
ｙ′、ｚ’ ）：測定座標値Ｐ′（ｘ 、ｙ 、ｚ
）：基準座標値Ｐ以上、本実施例ではＮＣ工作機Ｍ
１００を流用してワークＷの面直誤差を求めるようにし
であるため、測定機によるのに比べて、加工直後に誤差
測定をなし得る利点がある。
＋ （ｚ’ −ｚ） ・ｋ−ｒ ここに、「ニブローブの半径（Ｐ’ Ｒ）（ｘ’ 、
ｙ′、ｚ’ ）：測定座標値Ｐ′（ｘ 、ｙ 、ｚ
）：基準座標値Ｐ以上、本実施例ではＮＣ工作機Ｍ
１００を流用してワークＷの面直誤差を求めるようにし
であるため、測定機によるのに比べて、加工直後に誤差
測定をなし得る利点がある。
以上、本発明の一実施例を説明したが、本発明はＮＣ工
作機械に限定されず、測定機によって面直誤差を測定す
る場合に対しても適用できる。
作機械に限定されず、測定機によって面直誤差を測定す
る場合に対しても適用できる。
（発明の効果）
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、少な
いデータ数であらゆる自由曲面を備えたワークの面直誤
差測定を行なうことができる。
いデータ数であらゆる自由曲面を備えたワークの面直誤
差測定を行なうことができる。
第１図は球面マスクブロックを用いてタッチセンサ１誤
差をデータ化する工程図、 第２図はタッチセンサ誤差の分布図。 第３図はＮＣ工作機械を流用したワークの面直誤差を計
測するシステム構成図、 第４図は面直誤差測定方法の一例を示すフローチャート
、 第５図、第６図は球面マスターブロックによるタッチセ
ンサ誤差測定の説明図、 第７図はタッチセンサ特性データ保存を表わす図、 第８図はワークの面直誤差測定の各アプローチ点等を示
す説明図、 第９図は面直誤差測定点におけるタッチセンサ誤差の補
間法を示す説明図、 第１０図は面直誤差測定における補正を現わす説明図、 第１】図乃至第１３図はタッチセンサの問題点を示す図
である。 第５図 第６図 １：タッチセンサ ｌａ：タッチセンサブローブ Ｈ：タッチセンサ誤差 ｈ：タッチセンサ誤差特性デ １００：ＮＣ工作機械 り 第７図
差をデータ化する工程図、 第２図はタッチセンサ誤差の分布図。 第３図はＮＣ工作機械を流用したワークの面直誤差を計
測するシステム構成図、 第４図は面直誤差測定方法の一例を示すフローチャート
、 第５図、第６図は球面マスターブロックによるタッチセ
ンサ誤差測定の説明図、 第７図はタッチセンサ特性データ保存を表わす図、 第８図はワークの面直誤差測定の各アプローチ点等を示
す説明図、 第９図は面直誤差測定点におけるタッチセンサ誤差の補
間法を示す説明図、 第１０図は面直誤差測定における補正を現わす説明図、 第１】図乃至第１３図はタッチセンサの問題点を示す図
である。 第５図 第６図 １：タッチセンサ ｌａ：タッチセンサブローブ Ｈ：タッチセンサ誤差 ｈ：タッチセンサ誤差特性デ １００：ＮＣ工作機械 り 第７図
Claims (1)
- （１）タッチセンサを球面マスターブロックに対して面
直方向から当接させて得られるタッチセンサ誤差のうち
、最大誤差が現われる点を基にして、等角度間隔離れた
各点のタッチセンサ誤差をタッチセンサ特性データとし
て保存し、 ワークの各測定点の面直誤差を測定するときに、前記タ
ッチセンサが各測定点に当接する接触角に隣接するタッ
チセンサ特性データから当該測定点におけるタッチセン
サ誤差を求め、 該タッチセンサ誤差で各測定点の面直誤差測定値を補正
する、 ことを特徴とするワーク自動計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19353488A JPH0244207A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | ワーク自動計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19353488A JPH0244207A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | ワーク自動計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0244207A true JPH0244207A (ja) | 1990-02-14 |
Family
ID=16309677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19353488A Pending JPH0244207A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | ワーク自動計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0244207A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008268118A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Makino Milling Mach Co Ltd | 形状測定方法及び装置 |
-
1988
- 1988-08-04 JP JP19353488A patent/JPH0244207A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008268118A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Makino Milling Mach Co Ltd | 形状測定方法及び装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5501096A (en) | Calibration method for determining and compensating differences of measuring forces in different coordinate directions in a multi-coordinate scanning system | |
| US4819195A (en) | Method for calibrating a coordinate measuring machine and the like and system therefor | |
| EP1579168B1 (en) | Workpiece inspection method and apparatus | |
| US7254506B2 (en) | Method of calibrating a scanning system | |
| EP1446636B2 (en) | Dynamic artefact comparison | |
| US20080184579A1 (en) | Measuring methods for use on machine tools | |
| JPH11123635A (ja) | ワークの形状寸法測定方法及び装置 | |
| US4575802A (en) | Robot/workpiece orientation | |
| US7526873B2 (en) | Use of surface measurement probes | |
| JPH1190787A (ja) | 工作機械におけるワークの形状寸法測定方法及び装置 | |
| EP0279926B1 (en) | Method for determining position within the measuring volume of a coordinate measuring machine and the like and system therefor | |
| JPH0565886B2 (ja) | ||
| JP2002267438A (ja) | 自由曲面形状測定方法 | |
| JPH03287343A (ja) | 機械座標系補正装置 | |
| JP6933603B2 (ja) | 工作機械の計測能力評価方法及びプログラム | |
| JPH0244207A (ja) | ワーク自動計測方法 | |
| JPH0410568B2 (ja) | ||
| US5373220A (en) | Numerical control device for driving non-orthogonal mechanical axes | |
| JP3171509B2 (ja) | ロボットへの教示方法 | |
| JP4545501B2 (ja) | 工具芯出し方法および工具測定方法 | |
| Dassanayake et al. | Simultaneous five-axis motion for identifying geometric deviations through simulation in machining centers with a double pivot head | |
| CN114777606B (zh) | 基于数字孪生技术的三坐标测量系统应用方法 | |
| JPH0780752A (ja) | 数値制御方法および数値制御システム | |
| JPH07204991A (ja) | 変位検出形測定ヘッドを用いた測定システム | |
| JPH0783653A (ja) | 形状測定方法および形状測定システム |