JPH0244609A - 誘電体磁器組成物 - Google Patents
誘電体磁器組成物Info
- Publication number
- JPH0244609A JPH0244609A JP63193068A JP19306888A JPH0244609A JP H0244609 A JPH0244609 A JP H0244609A JP 63193068 A JP63193068 A JP 63193068A JP 19306888 A JP19306888 A JP 19306888A JP H0244609 A JPH0244609 A JP H0244609A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- weight
- temperature
- insulation resistance
- zno
- composition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、容量の温度係数が一55〜+125℃の温度
範囲において±30ppm/’Cの範囲にあり、且つA
g−Pd合金を内部電極とする温度補償用磁器コンデン
サ用の誘電体磁器組成物に関するものである。
範囲において±30ppm/’Cの範囲にあり、且つA
g−Pd合金を内部電極とする温度補償用磁器コンデン
サ用の誘電体磁器組成物に関するものである。
(背景技術)
一般に、高誘電率・温度補償用磁器コンデンサ、とりわ
け市販の積層型磁器コンデンサは、薄層の誘電体の表面
に内部電極を形成したものを複数枚積層し、内部電極を
交互に外部接続用電極に並列に接続するようにして同時
一体焼成している。この種の積層型コンデンサは高誘電
率を有するように充分緻密化させるため比較的高い焼成
温度(1240℃)を必要としている。
け市販の積層型磁器コンデンサは、薄層の誘電体の表面
に内部電極を形成したものを複数枚積層し、内部電極を
交互に外部接続用電極に並列に接続するようにして同時
一体焼成している。この種の積層型コンデンサは高誘電
率を有するように充分緻密化させるため比較的高い焼成
温度(1240℃)を必要としている。
したがって、この電極に使用される金属は誘電体の焼成
温度よりも融点の高い高価な貴金属(白金やパラジウム
)を使用しなければならず、このような金属材料費はこ
の種のコンデンサのトータルコストを高くしている。
温度よりも融点の高い高価な貴金属(白金やパラジウム
)を使用しなければならず、このような金属材料費はこ
の種のコンデンサのトータルコストを高くしている。
そこで、上記誘電体と内部電極との焼成温度を低くして
内部電極として上記高価な貴金属に代え安価なAg−P
d合金、特にA−gの含有量を多くして安価な積層型磁
器コンデンサを得ることが試みられている。ところが、
一般的に誘電体の焼成温度を低くすると結晶性が低下す
るためその比誘電率が低下することが知られ、上記焼成
温度より低い温度で焼成した場合、高誘電率の磁器コン
デンサとして充分な電気的特性及び温度特性を得ること
ができない。
内部電極として上記高価な貴金属に代え安価なAg−P
d合金、特にA−gの含有量を多くして安価な積層型磁
器コンデンサを得ることが試みられている。ところが、
一般的に誘電体の焼成温度を低くすると結晶性が低下す
るためその比誘電率が低下することが知られ、上記焼成
温度より低い温度で焼成した場合、高誘電率の磁器コン
デンサとして充分な電気的特性及び温度特性を得ること
ができない。
従来技術として特開昭57−170405号公報にはN
d2Tie、、BaTiO3、Tie2、Bi2O,及
びpb3o。
d2Tie、、BaTiO3、Tie2、Bi2O,及
びpb3o。
から成る組成物の主成分に対しZnO及びSiO2を適
量添加することにより、焼成温度を1050〜1100
°Cの範囲で焼結体を得ることができ、内部電極の焼付
けを磁器の焼成と同時に行なう必要のある積層コンデン
サを製造するに当たって、内部電極として低融点で安価
なAg−Pd合金を用いることができることが記載され
ている。
量添加することにより、焼成温度を1050〜1100
°Cの範囲で焼結体を得ることができ、内部電極の焼付
けを磁器の焼成と同時に行なう必要のある積層コンデン
サを製造するに当たって、内部電極として低融点で安価
なAg−Pd合金を用いることができることが記載され
ている。
ところが、本発明者等は先に誘電体中にBi、 03を
含む系に対し、Ag−Pd合金を内部電極として用いる
と、高温焼成(1100℃以上)によりAg−PdとB
i、 O,とが直接反応し、Biを固溶するPdO固溶
体が生成し、Ag−Pd内部電極の電気抵抗の急激な増
加及び誘電体の誘電的特性、特にQ値及び絶縁抵抗等を
急激に低下させるという結果を得た。そのため、Bi、
O,を同時に接触状態で焼成する場合は1050℃以下
で焼成する必要があるという結論に達した。
含む系に対し、Ag−Pd合金を内部電極として用いる
と、高温焼成(1100℃以上)によりAg−PdとB
i、 O,とが直接反応し、Biを固溶するPdO固溶
体が生成し、Ag−Pd内部電極の電気抵抗の急激な増
加及び誘電体の誘電的特性、特にQ値及び絶縁抵抗等を
急激に低下させるという結果を得た。そのため、Bi、
O,を同時に接触状態で焼成する場合は1050℃以下
で焼成する必要があるという結論に達した。
これに対し、前述の従来技術によれば、その焼成温度は
1050〜1100℃であって前述のAg−PdとBi
2O,との反応抑制について実質的に解決されておらず
、特性上も静電容量温度係数が+30〜−300ppm
/’Cと比較的広い範囲に適用され、また絶縁抵抗が低
下したり、破壊電圧が低く、そのバラツキが大きいとい
う実用化に対して致命的欠点を有していた。
1050〜1100℃であって前述のAg−PdとBi
2O,との反応抑制について実質的に解決されておらず
、特性上も静電容量温度係数が+30〜−300ppm
/’Cと比較的広い範囲に適用され、また絶縁抵抗が低
下したり、破壊電圧が低く、そのバラツキが大きいとい
う実用化に対して致命的欠点を有していた。
そこで、本出願人は特願昭58−231180号(特開
昭60−124306号公報)に於いて、特定割合のB
aTiO3、Nd2O3、Tie、、Bi2O3、Pb
3O4組成系の主成分に対して添加物、としてSiO□
、ZnO及びB3O□を特定割合で配合すると、100
0〜1050°Cの温度での焼成が可能となり、それに
よりAg−PdとBi2O,との反応が抑制されるとと
もに、静電容量温度係数が±30ppm/’Cの範囲で
安定した温度特性を得ることができ、また絶縁抵抗が低
下したり、破壊電圧が低くそのバラツキが生じたりする
ことが少なく、Ag−Pdを内部電極とする温度補償用
磁器コンデンサ用として極めて優れた誘電体磁器組成物
を提案した。
昭60−124306号公報)に於いて、特定割合のB
aTiO3、Nd2O3、Tie、、Bi2O3、Pb
3O4組成系の主成分に対して添加物、としてSiO□
、ZnO及びB3O□を特定割合で配合すると、100
0〜1050°Cの温度での焼成が可能となり、それに
よりAg−PdとBi2O,との反応が抑制されるとと
もに、静電容量温度係数が±30ppm/’Cの範囲で
安定した温度特性を得ることができ、また絶縁抵抗が低
下したり、破壊電圧が低くそのバラツキが生じたりする
ことが少なく、Ag−Pdを内部電極とする温度補償用
磁器コンデンサ用として極めて優れた誘電体磁器組成物
を提案した。
而して、本発明者は、この優れた特性を有する誘電体磁
器組成物を実用化するに於いて新たな問題点を知見した
。即ち、斯かる誘電体磁器組成物をコンデンサに供する
場合、先ず、原料粉末を薄いシート状成形体に加工する
が、この成形工程において、組成物中の82O3は水に
可溶であるためスラリーの分散媒として水以外の分散媒
、即ちトルエン等の有機溶媒を用いる必要がある。これ
は、B2O3が水に溶解すると硼酸となってスラリーの
水素イオン濃度を低下させ、スラリーの粘性を変化させ
るため、安定な厚さのシート状成形体を得ることが出来
ない為である。
器組成物を実用化するに於いて新たな問題点を知見した
。即ち、斯かる誘電体磁器組成物をコンデンサに供する
場合、先ず、原料粉末を薄いシート状成形体に加工する
が、この成形工程において、組成物中の82O3は水に
可溶であるためスラリーの分散媒として水以外の分散媒
、即ちトルエン等の有機溶媒を用いる必要がある。これ
は、B2O3が水に溶解すると硼酸となってスラリーの
水素イオン濃度を低下させ、スラリーの粘性を変化させ
るため、安定な厚さのシート状成形体を得ることが出来
ない為である。
しかしながら、トルエン等の有機溶媒の使用は、それ自
体が起爆性であり、人体にも影響があることから、現実
的量産時には成形・乾燥工程において完全な防爆措置が
とられる必要があるため、これが製品コストの高騰を来
す大きな原因となっていた。
体が起爆性であり、人体にも影響があることから、現実
的量産時には成形・乾燥工程において完全な防爆措置が
とられる必要があるため、これが製品コストの高騰を来
す大きな原因となっていた。
本発明者は、前記優れた特性を維持しながら上記問題点
を解消し得る誘電体磁器組成物について鋭意研究した結
果、B2O3に代え2C,aO・3B。
を解消し得る誘電体磁器組成物について鋭意研究した結
果、B2O3に代え2C,aO・3B。
0□を用いることにより、分散媒として水の使用が可能
であることを知見し、ここにこれを提案せんとするもの
である。
であることを知見し、ここにこれを提案せんとするもの
である。
本発明は、B a T i O3を18.0〜27.0
重量%、Nd2O3を31.6〜36.3重量%、Ti
O2を27.6〜35.5重量%、Bi3O3を2.5
〜8.1重量%及びpb3O4を5.6〜9.0重量%
を含む組成範囲の主成分に対して、2Ca0・3B2O
3を0.15〜2.0重量%、SiO2を1゜0〜3.
0重量%及びZnOを 0.5〜3.0重量%添加して
成り、これにより1000〜1050℃で焼成可能な優
れた特性を有する誘電体磁器組成物が得られる。
重量%、Nd2O3を31.6〜36.3重量%、Ti
O2を27.6〜35.5重量%、Bi3O3を2.5
〜8.1重量%及びpb3O4を5.6〜9.0重量%
を含む組成範囲の主成分に対して、2Ca0・3B2O
3を0.15〜2.0重量%、SiO2を1゜0〜3.
0重量%及びZnOを 0.5〜3.0重量%添加して
成り、これにより1000〜1050℃で焼成可能な優
れた特性を有する誘電体磁器組成物が得られる。
本発明における1つの大きな特徴は1.添加剤の一成分
として2Ca0・3B203を選択した点にある。即ち
、2Ca0・3B、○、は水に不溶性であり、従って、
スラリーの分散媒として水が使用でき、エマルジョン有
機バインダー、水溶性分散剤、界面活性剤とともに各原
料粉末を均一に分散させ、厚さが安定した均質なグリー
ンシートを特殊な設備等を何等必要とせず、安価に作業
性良く生産できる。
として2Ca0・3B203を選択した点にある。即ち
、2Ca0・3B、○、は水に不溶性であり、従って、
スラリーの分散媒として水が使用でき、エマルジョン有
機バインダー、水溶性分散剤、界面活性剤とともに各原
料粉末を均一に分散させ、厚さが安定した均質なグリー
ンシートを特殊な設備等を何等必要とせず、安価に作業
性良く生産できる。
一方、焼成時には2Ca0・3B203はZnOと共存
下において、B2O3が単独で存在する場合と同様、1
000〜1050℃で緻密な磁器を焼結させることがで
きる。
下において、B2O3が単独で存在する場合と同様、1
000〜1050℃で緻密な磁器を焼結させることがで
きる。
第1図は、本発明の組成物中の一成分であるZnoと8
2O3との二元状態図を示すが、本図によればZnOと
の共存下で82O3が30モル%程度で液相線が960
℃程度にまで低くなり、ZnO及びB2O3を適当な組
成で用いることによって焼結促進剤フラックスとして有
効に作用することを示している。
2O3との二元状態図を示すが、本図によればZnOと
の共存下で82O3が30モル%程度で液相線が960
℃程度にまで低くなり、ZnO及びB2O3を適当な組
成で用いることによって焼結促進剤フラックスとして有
効に作用することを示している。
従って、前述の主成分に対し添加成分としてZnO及び
2Ca0・3B、○、を同時添加して焼成すると、2C
aO・3B2O3が900℃以下の低温で反応し、B2
O3が低温でより安定なZnOとの化合物を形成し、C
aOは高温において主成分であるBaTiO3と反応す
ると考えられる。
2Ca0・3B、○、を同時添加して焼成すると、2C
aO・3B2O3が900℃以下の低温で反応し、B2
O3が低温でより安定なZnOとの化合物を形成し、C
aOは高温において主成分であるBaTiO3と反応す
ると考えられる。
よって、B2O3に代えて2Ca0・3B2O3を用い
ても、焼結過程に於ける液相成分は同様に作用し、10
00〜1050℃で焼結する効果を有する。なお、Ca
OはBaTi0.と反応する性質を有するが、CaO量
が微量であるため、系全体に対しては何等影響を及ぼさ
ない。
ても、焼結過程に於ける液相成分は同様に作用し、10
00〜1050℃で焼結する効果を有する。なお、Ca
OはBaTi0.と反応する性質を有するが、CaO量
が微量であるため、系全体に対しては何等影響を及ぼさ
ない。
しかも、2Ca0・3B203の添加効果は、焼結温度
を低下させることに限られず、B2O3を単独で添加し
た場合と同様、実施例2にて示すようにコンデンサとし
て用いた場合にQ値を向上させるとともに、絶縁抵抗値
のバラツキを低減させ、破壊電圧を高くすることができ
るという多大な効果を奏するのである。
を低下させることに限られず、B2O3を単独で添加し
た場合と同様、実施例2にて示すようにコンデンサとし
て用いた場合にQ値を向上させるとともに、絶縁抵抗値
のバラツキを低減させ、破壊電圧を高くすることができ
るという多大な効果を奏するのである。
上記各組成物を上記組成範囲とした理由について説明す
る。B a T i 03が18.0重量%未満である
と、焼成温度を比較的高くしないと充分m密化した磁器
が得られず、一方27.0重量2を超えると、同様に焼
成温度が高くないと充分緻密化しない°と共に、この場
合絶縁抵抗(I R)が小さくなる。Nd2O,が31
.6重量%未満であると、焼成温度が高くないと充分緻
密化しないと共に、絶縁抵抗(I R)が小さく、また
品質係数(Q)が小さくなる傾向があり、36.3重量
%を超えると容量温度係数(ppm/”C)が(+)側
へ大きく移行するが、B aTi○、が少ないとこの傾
向は少なくなり。
る。B a T i 03が18.0重量%未満である
と、焼成温度を比較的高くしないと充分m密化した磁器
が得られず、一方27.0重量2を超えると、同様に焼
成温度が高くないと充分緻密化しない°と共に、この場
合絶縁抵抗(I R)が小さくなる。Nd2O,が31
.6重量%未満であると、焼成温度が高くないと充分緻
密化しないと共に、絶縁抵抗(I R)が小さく、また
品質係数(Q)が小さくなる傾向があり、36.3重量
%を超えると容量温度係数(ppm/”C)が(+)側
へ大きく移行するが、B aTi○、が少ないとこの傾
向は少なくなり。
一方焼成温度を高くしなければ充分緻密化しない。
T i O,が27.6重量%未満であると焼成温度を
高くしないと充分緻密化せず、35.5重量%を超える
と容量温度係数(ppm/’C)が(−)側へ大きくな
る傾向がある。Bi、Olが2.5重量%未満であると
容量温度係数(ppm/”C)が(−)側へ移行すると
共に、焼成温度を高くしないと充分緻密化せず、かつ絶
縁抵抗(I R)及び品質係数(Q値)が小さくなり、
8.1重量%を超えると容量温度係数(ppm/”C)
が(−)側へ大きく移行すると共に絶縁抵抗(I R)
が小さくなる。pb3O4が5.6重量%未満であると
容量温度係数(pρm/℃)が(−)側へ大きく移行す
ると共に焼成温度を高くしなければ充分緻密化せず、9
.0重量%を超えると容量温度係数(ρpm/”C)が
(+)側へ移行する。
高くしないと充分緻密化せず、35.5重量%を超える
と容量温度係数(ppm/’C)が(−)側へ大きくな
る傾向がある。Bi、Olが2.5重量%未満であると
容量温度係数(ppm/”C)が(−)側へ移行すると
共に、焼成温度を高くしないと充分緻密化せず、かつ絶
縁抵抗(I R)及び品質係数(Q値)が小さくなり、
8.1重量%を超えると容量温度係数(ppm/”C)
が(−)側へ大きく移行すると共に絶縁抵抗(I R)
が小さくなる。pb3O4が5.6重量%未満であると
容量温度係数(pρm/℃)が(−)側へ大きく移行す
ると共に焼成温度を高くしなければ充分緻密化せず、9
.0重量%を超えると容量温度係数(ρpm/”C)が
(+)側へ移行する。
また、添加成分たる2Ca○−38203が0.15重
量%未満では前述の添加効果が得られず、焼成温度を高
くしなければ充分緻密化せず、かつ絶縁抵抗(I R)
のバラツキの増大及び破壊電圧の増大を招く。一方2.
0重量2を超えると焼成時アルミナ等のセッターとの融
着を生じ易くなる。更に、SiO2が1.0重量%未満
又は3.0重量%を超えると焼成温度を高くしないと充
分緻密化せず、絶縁抵抗(I R)及び品質係数(Q値
)が小さくなる。
量%未満では前述の添加効果が得られず、焼成温度を高
くしなければ充分緻密化せず、かつ絶縁抵抗(I R)
のバラツキの増大及び破壊電圧の増大を招く。一方2.
0重量2を超えると焼成時アルミナ等のセッターとの融
着を生じ易くなる。更に、SiO2が1.0重量%未満
又は3.0重量%を超えると焼成温度を高くしないと充
分緻密化せず、絶縁抵抗(I R)及び品質係数(Q値
)が小さくなる。
最後にZnOが0.5重量%未満であると焼成温度が高
くないと充分緻密化せず、絶縁抵抗(I R)及び品質
係数(Q値)が小さくなり、3.0 重量%を超えると
品質係数(Q値)が小さくなると共に容量温度係数(p
pm/”C)が(+)側へ大きくなる。
くないと充分緻密化せず、絶縁抵抗(I R)及び品質
係数(Q値)が小さくなり、3.0 重量%を超えると
品質係数(Q値)が小さくなると共に容量温度係数(p
pm/”C)が(+)側へ大きくなる。
以上の如く、B a T i O,、Nd2O,、Ti
O2、Bi2O,、Pb、O,,2Ca()3B203
、SIO及びZnOが本発明の範囲外の場合は夫々品質
係数(Q値)、絶縁抵抗(I R)及び破壊電圧が低す
ぎるか、低温(toso℃以下)での焼結が不充分で本
発明の目的に合致しない。好ましくは2Ca0・3B3
O3が0.45〜1.35重量%、S i O2が1゜
0〜3.0重量%及びZnOが1.0〜2.5重量%の
範囲で前記主成分に添加するのが良い。
O2、Bi2O,、Pb、O,,2Ca()3B203
、SIO及びZnOが本発明の範囲外の場合は夫々品質
係数(Q値)、絶縁抵抗(I R)及び破壊電圧が低す
ぎるか、低温(toso℃以下)での焼結が不充分で本
発明の目的に合致しない。好ましくは2Ca0・3B3
O3が0.45〜1.35重量%、S i O2が1゜
0〜3.0重量%及びZnOが1.0〜2.5重量%の
範囲で前記主成分に添加するのが良い。
以下本発明の実施例について説明する。
(実施例1)
予め、BaC0,とTiO2の等モルから1200℃で
合成した純度99.8%以上のB a T i O3と
、純度98%以上のNd2O,と、純度99.5%以上
の二酸化チタン(アナターゼ)と、純度95%以上のB
i2O,及び純度95%以上のPb3O4を第1表の主
成分組成槽に記載した各資料の組成になるよう秤量し、
合計重量が夫々500gとなるようにした。さらに、純
度95%以上の2Ca0・3 B2O3、 S i O
2及びZnOを第1表の副成分槽に記載した各試料の組
成になるように夫々秤量して主成分に加え、内容11.
6111の磁器ポット中に嵩容積0.8Q(1,5kg
)のアルミナボール(17+nmφ)とともに入れ、更
に1分散剤、界面活性剤とともにエマルジョンアクリル
樹脂並びに分散媒としてイオン交換水を加えて、回転数
72ppmで24時間回転して得られた原料スリップを
ドクターブレード法によって肉厚25μmのグリーンシ
ートを成形した。このグリーンシー1−を25枚重ねて
ホットプレスしてグリーン成形板を作成し、約10nn
+角、厚さ0.50nnのグリーン角板に切断した。グ
リーンの角板を1000〜1100℃の温度で2時間焼
成し得られた約8m角、厚さ0.4mlの角板の上下全
面に銀電極を付与して単層の角板型コンデンサとし評価
試料とした。
合成した純度99.8%以上のB a T i O3と
、純度98%以上のNd2O,と、純度99.5%以上
の二酸化チタン(アナターゼ)と、純度95%以上のB
i2O,及び純度95%以上のPb3O4を第1表の主
成分組成槽に記載した各資料の組成になるよう秤量し、
合計重量が夫々500gとなるようにした。さらに、純
度95%以上の2Ca0・3 B2O3、 S i O
2及びZnOを第1表の副成分槽に記載した各試料の組
成になるように夫々秤量して主成分に加え、内容11.
6111の磁器ポット中に嵩容積0.8Q(1,5kg
)のアルミナボール(17+nmφ)とともに入れ、更
に1分散剤、界面活性剤とともにエマルジョンアクリル
樹脂並びに分散媒としてイオン交換水を加えて、回転数
72ppmで24時間回転して得られた原料スリップを
ドクターブレード法によって肉厚25μmのグリーンシ
ートを成形した。このグリーンシー1−を25枚重ねて
ホットプレスしてグリーン成形板を作成し、約10nn
+角、厚さ0.50nnのグリーン角板に切断した。グ
リーンの角板を1000〜1100℃の温度で2時間焼
成し得られた約8m角、厚さ0.4mlの角板の上下全
面に銀電極を付与して単層の角板型コンデンサとし評価
試料とした。
こうして得られた各試料を周波数I M Hz 、及び
入力電力レベルIVrmsにて静電容量及び品質係数(
Q値)を測定し、また直流電圧50Vを1分間印加して
絶縁抵抗(I R)を測定した後、周波数IMHzにお
いて一55℃、及び+125℃での静電容量温度係数を
測定した。また、試料のたて(L)よこ(W)の寸法を
±5μmの精度で厚さ(1)を±1μmの精度で夫々測
定し、 6r:一り一、夏二上 εOLIW (i o =8.865 X 10−’PF/n++n
)から比誘電率を計算した。
入力電力レベルIVrmsにて静電容量及び品質係数(
Q値)を測定し、また直流電圧50Vを1分間印加して
絶縁抵抗(I R)を測定した後、周波数IMHzにお
いて一55℃、及び+125℃での静電容量温度係数を
測定した。また、試料のたて(L)よこ(W)の寸法を
±5μmの精度で厚さ(1)を±1μmの精度で夫々測
定し、 6r:一り一、夏二上 εOLIW (i o =8.865 X 10−’PF/n++n
)から比誘電率を計算した。
こうして得た電気的特性の測定結果又は計算結果を各々
の試料の化学組成及び焼成温度と共に第1表に示した。
の試料の化学組成及び焼成温度と共に第1表に示した。
(以下余白)
第1表の試料番号1.2.3.7.9,11.12、1
5、16、17、21、22. 25、26及び29は
、いずれも組成物のうちどれかが本発明の組成範囲に合
致しないものであり、焼成温度が1100℃以上必要と
なり、本発明の目的に合わない。また、試料番号11.
12.21.25゜26及び29は品質係数(Q値)が
1000未満と小さ過ぎ本発明の目的に合わない。また
、試料番号7.11.15.16.17.21.22.
25及び26は絶縁抵抗(I R)が小さ過ぎ本発明の
目的に合わない。
5、16、17、21、22. 25、26及び29は
、いずれも組成物のうちどれかが本発明の組成範囲に合
致しないものであり、焼成温度が1100℃以上必要と
なり、本発明の目的に合わない。また、試料番号11.
12.21.25゜26及び29は品質係数(Q値)が
1000未満と小さ過ぎ本発明の目的に合わない。また
、試料番号7.11.15.16.17.21.22.
25及び26は絶縁抵抗(I R)が小さ過ぎ本発明の
目的に合わない。
更に、試料番°号7.9.11.12.15.16.2
1.25及び29は容量温度係数(ppm/℃)が±3
0ppm/ ℃の範囲を逸脱するものであり本発明の目
的に合わない。尚、この実施例では単板の焼成磁器に銀
電極を付与した単板型コンデンサを評価試料としている
。しかしながら実際にこれらを積層型として焼成した場
合、焼成温度が更に20℃程度低くなる。そのため容量
温度係数(ppm/℃)の特に(−)側が大きいと、こ
れが15ppm/’C程度(+)側に移行することが確
認されている。
1.25及び29は容量温度係数(ppm/℃)が±3
0ppm/ ℃の範囲を逸脱するものであり本発明の目
的に合わない。尚、この実施例では単板の焼成磁器に銀
電極を付与した単板型コンデンサを評価試料としている
。しかしながら実際にこれらを積層型として焼成した場
合、焼成温度が更に20℃程度低くなる。そのため容量
温度係数(ppm/℃)の特に(−)側が大きいと、こ
れが15ppm/’C程度(+)側に移行することが確
認されている。
一方、上記以外の各試料はいずれも1050℃以下の温
度で充分焼結しており、10’MΩ以上絶縁抵抗(I
R)を示し、また比誘電率(εr)は50以上(実質的
に最低である試料番号10の場合でもεr=67)と高
く、品質係数(Q値)も10゜00以上であり優れた電
気的特性を示し、更に静電容量温度係数(ppm/℃)
も±30ppm/’Cの範囲内で一定の温度特性を有し
ていることが理解できる。
度で充分焼結しており、10’MΩ以上絶縁抵抗(I
R)を示し、また比誘電率(εr)は50以上(実質的
に最低である試料番号10の場合でもεr=67)と高
く、品質係数(Q値)も10゜00以上であり優れた電
気的特性を示し、更に静電容量温度係数(ppm/℃)
も±30ppm/’Cの範囲内で一定の温度特性を有し
ていることが理解できる。
(実施例2)
第1表における本発明の範囲内試料番号14のものと、
2 Ca 0・3B2O3を添加しない本発明範囲外試
料番号17のものとの誘電体グリーンシート上に、Ag
70重量%とPd30重量%との合金に有機結合剤及び
その溶剤を加えて成るペーストを各々印刷した。この金
属印刷膜を付与した各グリーンシートを58枚積層し、
上下8枚ずつ印刷膜をもたないグリーンシートを加えて
ホットプレスした。
2 Ca 0・3B2O3を添加しない本発明範囲外試
料番号17のものとの誘電体グリーンシート上に、Ag
70重量%とPd30重量%との合金に有機結合剤及び
その溶剤を加えて成るペーストを各々印刷した。この金
属印刷膜を付与した各グリーンシートを58枚積層し、
上下8枚ずつ印刷膜をもたないグリーンシートを加えて
ホットプレスした。
さらに、たて5.2mmよと4mの寸法の個々のピース
に切断し、積層型磁器コンデンサのグリーンチップを各
々作成し、これら第1表に示す夫々の温度で2時間焼成
した。焼成した両チップの両端にAg−Pd合金電極を
付与して積層型磁器コンデンサを作成した。
に切断し、積層型磁器コンデンサのグリーンチップを各
々作成し、これら第1表に示す夫々の温度で2時間焼成
した。焼成した両チップの両端にAg−Pd合金電極を
付与して積層型磁器コンデンサを作成した。
こうして得た積層型磁器コンデンサの静電容量(nF)
及び品質係数(Q値)を周波数I M Hz、入力電圧
IVrmsで測定し、直流電圧50Vを1分間印加して
絶縁抵抗(I R)を測定し、さらに直流電圧を印加し
、徐々に昇圧して破壊したときの電圧(破壊電圧)を測
定した。それぞれの測定結果を第2表に示した。但し、
測定試料個数は各20個であり、静電容量(nF)及び
品質係数(Q値)は平均値を、破壊電圧は平均値x (
V)及びバラツキ指数σ/x(%)を、絶縁抵抗(I
R)については106MΩ、105及び104MΩのオ
ーダの個数を夫々示した。
及び品質係数(Q値)を周波数I M Hz、入力電圧
IVrmsで測定し、直流電圧50Vを1分間印加して
絶縁抵抗(I R)を測定し、さらに直流電圧を印加し
、徐々に昇圧して破壊したときの電圧(破壊電圧)を測
定した。それぞれの測定結果を第2表に示した。但し、
測定試料個数は各20個であり、静電容量(nF)及び
品質係数(Q値)は平均値を、破壊電圧は平均値x (
V)及びバラツキ指数σ/x(%)を、絶縁抵抗(I
R)については106MΩ、105及び104MΩのオ
ーダの個数を夫々示した。
(以下余白)
第2表に示すように2Ca0・3B、O,を含まない試
料番号17の積層型磁器コンデンサーは破Il電圧の平
均値が321 x (V)で、またそのバラツキ指数が
22.4σ/x(%)であり、絶縁抵抗(I R)につ
いて104MΩオーダが20個個中個、105MΩオー
ダが20個個中個存在していて絶縁抵抗が不充分である
。これに対し2Ca0・3B20゜を含む試料番号14
の積層型磁器コンデンサは破壊電圧の平均値が760x
(V)と前者の2倍以上と高く、またそのバラツキ指数
が9.6σ八(%)と小さく、その上絶縁抵抗(I R
)は20個中2o個とも106MΩ以上であり充分であ
る。
料番号17の積層型磁器コンデンサーは破Il電圧の平
均値が321 x (V)で、またそのバラツキ指数が
22.4σ/x(%)であり、絶縁抵抗(I R)につ
いて104MΩオーダが20個個中個、105MΩオー
ダが20個個中個存在していて絶縁抵抗が不充分である
。これに対し2Ca0・3B20゜を含む試料番号14
の積層型磁器コンデンサは破壊電圧の平均値が760x
(V)と前者の2倍以上と高く、またそのバラツキ指数
が9.6σ八(%)と小さく、その上絶縁抵抗(I R
)は20個中2o個とも106MΩ以上であり充分であ
る。
以上詳述した如く、本発明の誘電体磁器組成物は、10
00〜1050℃の低温域での焼成が可能であり、それ
によりAg−Pdを内部電極とした積層型磁器コンデン
サ用として用いた場合でも内部電極とBi2O,との反
応が低減され、誘電的特性を安定化させることができる
。また、容量の温度係数を一55℃〜125℃の温度範
囲において±30ppm/’Cの範囲にすることができ
るとともに絶縁抵抗、破壊電圧の低下やバラツキが低減
され、温度補償型積層コンデンサ用として充分に実用可
能な特性を有するものである。更に、内部電極として比
較的低融点を有するAgの含有量の多いAg−Pd合金
を使用できるので安価な積層コンデンサを得ることが出
来る。
00〜1050℃の低温域での焼成が可能であり、それ
によりAg−Pdを内部電極とした積層型磁器コンデン
サ用として用いた場合でも内部電極とBi2O,との反
応が低減され、誘電的特性を安定化させることができる
。また、容量の温度係数を一55℃〜125℃の温度範
囲において±30ppm/’Cの範囲にすることができ
るとともに絶縁抵抗、破壊電圧の低下やバラツキが低減
され、温度補償型積層コンデンサ用として充分に実用可
能な特性を有するものである。更に、内部電極として比
較的低融点を有するAgの含有量の多いAg−Pd合金
を使用できるので安価な積層コンデンサを得ることが出
来る。
上記の優れた効果は、添加成分としてB2O3を用いた
本出願人に係る前記先行出願の効果を維持するものであ
るが、本発明は、B2O3に代えて2Ca0・3B2O
3を用いることにより、焼成時のバインダーとして水の
使用が可能となり、これにより脱水・乾燥工程にフィル
タープレスを用いることが出来、量産性が飛羅的に向上
し生産コストの大幅な低減化が図られると云う特筆すべ
き利点が付加される。
本出願人に係る前記先行出願の効果を維持するものであ
るが、本発明は、B2O3に代えて2Ca0・3B2O
3を用いることにより、焼成時のバインダーとして水の
使用が可能となり、これにより脱水・乾燥工程にフィル
タープレスを用いることが出来、量産性が飛羅的に向上
し生産コストの大幅な低減化が図られると云う特筆すべ
き利点が付加される。
第1図はZnOと8203との二元状態図である。
−以上一
Claims (1)
- 1.BaTiO_3を18.0〜27.0重量%、Nd
_2O_3を31.6〜36.3重量%、TiO_2を
27.6〜35.5重量%、Bi_2O_3を2.5〜
8.1重量%及びPb_3O_4を5.6〜9.0重量
%を含む組成範囲の主成分に対して、 2CaO・3B_2O_3を0.15〜2.0重量%、
SiO_2を1.0〜3.0重量%及びZnOを0.5
〜3.0重量%添加して成ることを特徴とする誘電体磁
器組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63193068A JP2691181B2 (ja) | 1988-08-01 | 1988-08-01 | 誘電体磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63193068A JP2691181B2 (ja) | 1988-08-01 | 1988-08-01 | 誘電体磁器組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0244609A true JPH0244609A (ja) | 1990-02-14 |
| JP2691181B2 JP2691181B2 (ja) | 1997-12-17 |
Family
ID=16301673
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63193068A Expired - Fee Related JP2691181B2 (ja) | 1988-08-01 | 1988-08-01 | 誘電体磁器組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2691181B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5264403A (en) * | 1991-09-27 | 1993-11-23 | Ngk Insulators, Ltd. | Dielectric ceramic composition containing ZnO-B2 O3 -SiO2 glass |
| US5292694A (en) * | 1991-09-27 | 1994-03-08 | Ngk Insulators, Ltd. | Method of producing low temperature firing dielectric ceramic composition containing B2 O3 |
| US5479140A (en) * | 1991-09-27 | 1995-12-26 | Ngk Insulators, Ltd. | Dielectric ceramic composition containing ZnO-B2 O3 -SiO2 glass, method of preparing the same, and resonator and filter using the dielectric ceramic composition |
| WO1996008057A1 (en) * | 1994-09-07 | 1996-03-14 | Nippon Carbide Kogyo Kabushiki Kaisha | Electric filter adapter |
| US6267528B1 (en) | 1998-07-13 | 2001-07-31 | Nsk Ltd. | Coupling structure of variable length shaft |
| US6340649B1 (en) | 1999-03-16 | 2002-01-22 | Tdk Corporation | Composition of dielectric ceramics and producing method thereof |
| WO2009001690A1 (ja) * | 2007-06-27 | 2008-12-31 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 半導体セラミック粉末、及び半導体セラミック、並びに積層型半導体セラミックコンデンサ |
-
1988
- 1988-08-01 JP JP63193068A patent/JP2691181B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5264403A (en) * | 1991-09-27 | 1993-11-23 | Ngk Insulators, Ltd. | Dielectric ceramic composition containing ZnO-B2 O3 -SiO2 glass |
| US5292694A (en) * | 1991-09-27 | 1994-03-08 | Ngk Insulators, Ltd. | Method of producing low temperature firing dielectric ceramic composition containing B2 O3 |
| US5304521A (en) * | 1991-09-27 | 1994-04-19 | Ngk Insulators, Ltd. | Dielectric ceramic composition containing ZnO-B2 O3 -SiO2 glass, method of preparing the same, and resonator and filter using the dielectric ceramic composition |
| US5350721A (en) * | 1991-09-27 | 1994-09-27 | Ngk Insulators, Ltd. | Dielectric ceramic composition containing ZNO-B203-SI02 glass, method of preparing the same, and resonator and filter using the dielectric ceramic composition |
| US5458981A (en) * | 1991-09-27 | 1995-10-17 | Ngk Insulators, Ltd. | Method of producing low temperature firing dielectric ceramic composition containing B2 O3 |
| US5479140A (en) * | 1991-09-27 | 1995-12-26 | Ngk Insulators, Ltd. | Dielectric ceramic composition containing ZnO-B2 O3 -SiO2 glass, method of preparing the same, and resonator and filter using the dielectric ceramic composition |
| US5485132A (en) * | 1991-09-27 | 1996-01-16 | Ngk Insulators, Ltd. | Dielectric ceramic composition containing ZnO-B2 O3 -SiO2 glass, method of preparing the same, and resonator and filter using the dielectric ceramic composition |
| US5488019A (en) * | 1991-09-27 | 1996-01-30 | Ngk Insulators, Ltd. | Dielectric ceramic composition containing ZnO-B2 O3 -SiO2 glass, method of preparing the same, and resonator and filter using the dielectric ceramic composition |
| US5493262A (en) * | 1991-09-27 | 1996-02-20 | Ngk Insulators, Ltd. | Dielectric ceramic composition containing ZnO-B2 O3 -SiO2 glass, method of preparing the same, and resonator and filter using the dielectric ceramic composition |
| WO1996008057A1 (en) * | 1994-09-07 | 1996-03-14 | Nippon Carbide Kogyo Kabushiki Kaisha | Electric filter adapter |
| US6267528B1 (en) | 1998-07-13 | 2001-07-31 | Nsk Ltd. | Coupling structure of variable length shaft |
| US6340649B1 (en) | 1999-03-16 | 2002-01-22 | Tdk Corporation | Composition of dielectric ceramics and producing method thereof |
| WO2009001690A1 (ja) * | 2007-06-27 | 2008-12-31 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 半導体セラミック粉末、及び半導体セラミック、並びに積層型半導体セラミックコンデンサ |
| US8040658B2 (en) | 2007-06-27 | 2011-10-18 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Semiconductor ceramic powder, semiconductor ceramic, and monolithic semiconductor ceramic capacitor |
| JP5347961B2 (ja) * | 2007-06-27 | 2013-11-20 | 株式会社村田製作所 | 半導体セラミック粉末、及び半導体セラミック、並びに積層型半導体セラミックコンデンサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2691181B2 (ja) | 1997-12-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0893419B1 (en) | Dielectric ceramic composition and monolithic ceramic capacitor using same | |
| KR980011543A (ko) | 적층 세라믹 커패시터 | |
| KR101504583B1 (ko) | 적층 세라믹 콘덴서 및 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법 | |
| JPH0518201B2 (ja) | ||
| JPH0552604B2 (ja) | ||
| JPH0244609A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH0552602B2 (ja) | ||
| JPH0416884B2 (ja) | ||
| JP3305272B2 (ja) | 誘電体磁器材料 | |
| JP7723573B2 (ja) | 誘電体組成物および電子部品 | |
| JP2821768B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JP2789110B2 (ja) | 高誘電率系磁器組成物 | |
| JP3522559B2 (ja) | 誘電体磁器材料 | |
| US5439857A (en) | Dielectric ceramic composition | |
| US4704657A (en) | Multilayer ceramic capacitor and process for preparation thereof | |
| JPH04264305A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPS6234707B2 (ja) | ||
| JPS6156407A (ja) | 積層型磁器コンデンサ | |
| JPH0552603B2 (ja) | ||
| JPH0420246B2 (ja) | ||
| US20040014588A1 (en) | Npo dielectric compositions | |
| JP2002037667A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPS6227025B2 (ja) | ||
| JPH0574883B2 (ja) | ||
| JPH0536308A (ja) | 高誘電率誘電体磁器組成物 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |