JPH0247483Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0247483Y2 JPH0247483Y2 JP1982046574U JP4657482U JPH0247483Y2 JP H0247483 Y2 JPH0247483 Y2 JP H0247483Y2 JP 1982046574 U JP1982046574 U JP 1982046574U JP 4657482 U JP4657482 U JP 4657482U JP H0247483 Y2 JPH0247483 Y2 JP H0247483Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- test chamber
- environment test
- temperature environment
- control device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Control Of Temperature (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔概要〕
電子機器の低温及び高温に対する試験室を一体
化した簡易型環境試験設備に関し、 高温環境試験室を効率的に所定の高温度に保持
する温度制御装置の提供を目的とし、 低温環境試験室と高温環境試験室とを仕切る隔
壁にユニツトクーラを設け、該ユニツトクーラの
吸熱面を前記低温環境試験室、放熱面を前記高温
環境試験室にそれぞれ露出した構成の環境試験設
備において、前記高温環境試験室にそれぞれ自動
シヤツタ付きの吸気口と排気口とを設け、該吸気
口と前記ユニツトクーラの放熱面に在る冷媒コン
デンサに付属の冷却フアンとの間を吸気ダクトに
より接続するとともに、該吸気ダクトの一部に当
該高温環境試験室内に開放された通気口を設け、
かつ前記高温環境試験室に室内温度を計測する温
度センサと、前記吸気口及び排気口の自動シヤツ
タを該温度センサの出力に応じ開閉するシヤツタ
制御装置とを設け、当該高温環境試験室内の温度
が所定温度以上の際には該シヤツタ制御装置によ
り前記両自動シヤツタを開いて室内を換気し、室
温を所定の高温度に保持するように構成する。
化した簡易型環境試験設備に関し、 高温環境試験室を効率的に所定の高温度に保持
する温度制御装置の提供を目的とし、 低温環境試験室と高温環境試験室とを仕切る隔
壁にユニツトクーラを設け、該ユニツトクーラの
吸熱面を前記低温環境試験室、放熱面を前記高温
環境試験室にそれぞれ露出した構成の環境試験設
備において、前記高温環境試験室にそれぞれ自動
シヤツタ付きの吸気口と排気口とを設け、該吸気
口と前記ユニツトクーラの放熱面に在る冷媒コン
デンサに付属の冷却フアンとの間を吸気ダクトに
より接続するとともに、該吸気ダクトの一部に当
該高温環境試験室内に開放された通気口を設け、
かつ前記高温環境試験室に室内温度を計測する温
度センサと、前記吸気口及び排気口の自動シヤツ
タを該温度センサの出力に応じ開閉するシヤツタ
制御装置とを設け、当該高温環境試験室内の温度
が所定温度以上の際には該シヤツタ制御装置によ
り前記両自動シヤツタを開いて室内を換気し、室
温を所定の高温度に保持するように構成する。
本考案は、電子機器の簡易型環境試験設備に係
り、さらに詳細には高温環境試験室の温度制御装
置に関する。
り、さらに詳細には高温環境試験室の温度制御装
置に関する。
電子機器とくに電子計算機システム等において
は、大気環境に対する機能のマージンを確保する
ために、システムを構成するユニツト装置に対し
て常用する空調温度から離れた厳しい温度状況下
で信頼性試験が行われる。例えば該信頼性試験は
通常、低温側は０℃まで高温側は40℃〜55℃の範
囲で行われるが、このような環境試験設備として
機器製造ライン向きの安価かつ手軽な試験室の提
供が望まれていた。
は、大気環境に対する機能のマージンを確保する
ために、システムを構成するユニツト装置に対し
て常用する空調温度から離れた厳しい温度状況下
で信頼性試験が行われる。例えば該信頼性試験は
通常、低温側は０℃まで高温側は40℃〜55℃の範
囲で行われるが、このような環境試験設備として
機器製造ライン向きの安価かつ手軽な試験室の提
供が望まれていた。
従来の簡易型環境試験設備としては、第３図Ａ
とＢに示す構成を採つたものが周知である。すな
わち、第３図Ａの環境試験設備は、その平面図に
示すように外壁１で囲まれた密閉空間を隔壁２で
仕切つて低温環境試験室３と高温環境試験室４と
に分け、低温環境試験室３内にはユニツトクーラ
の冷却器５、高温環境試験室４内にはヒータユニ
ツト８をそれぞれ配設している。なお、図中の
６，７はユニツトクーラの放熱面に在る冷媒コン
デンサと冷却フアンを示す。
とＢに示す構成を採つたものが周知である。すな
わち、第３図Ａの環境試験設備は、その平面図に
示すように外壁１で囲まれた密閉空間を隔壁２で
仕切つて低温環境試験室３と高温環境試験室４と
に分け、低温環境試験室３内にはユニツトクーラ
の冷却器５、高温環境試験室４内にはヒータユニ
ツト８をそれぞれ配設している。なお、図中の
６，７はユニツトクーラの放熱面に在る冷媒コン
デンサと冷却フアンを示す。
また、第３図Ｂの環境試験設備は、低温環境試
験室３と高温環境試験室４とを仕切る隔壁２にユ
ニツトクーラを取りつけ、該クーラの吸熱面（冷
却器５）を低温環境試験室３に、放熱面（冷媒コ
ンデンサ６、冷却フアン７）を高温環境試験室４
にそれぞれ露出した構成であり、ヒータユニツト
を省略しより簡易化している。
験室３と高温環境試験室４とを仕切る隔壁２にユ
ニツトクーラを取りつけ、該クーラの吸熱面（冷
却器５）を低温環境試験室３に、放熱面（冷媒コ
ンデンサ６、冷却フアン７）を高温環境試験室４
にそれぞれ露出した構成であり、ヒータユニツト
を省略しより簡易化している。
第３図Ａ、Ｂの簡易型環境試験設備は、実線矢
印のような熱交換風路を形成し所望の低温、高温
試験を可能とするが、双方とも次のような課題が
あつた。
印のような熱交換風路を形成し所望の低温、高温
試験を可能とするが、双方とも次のような課題が
あつた。
すなわち、第３図Ａの場合は、冷媒コンデンサ
６の予熱の活用が無いために動力ロスがあり、第
３図Ｂの場合は、低温環境試験室３を常温（例え
ば20℃）から０℃まで下げるに必要なエネルギー
が冷凍効率と動力損失分だけ附加されて高温環境
試験室４に熱交換されるために、該高温環境試験
室４の温度は予定より高温（例えば60℃〜80℃）
となり、高温環境試験室側の環境制御が不能であ
るとともに、冷媒コンデンサ６に対する冷却フア
ン７の風路温度の上昇が低温環境試験室側の冷凍
効率を低下せしめる、という課題があつた。
６の予熱の活用が無いために動力ロスがあり、第
３図Ｂの場合は、低温環境試験室３を常温（例え
ば20℃）から０℃まで下げるに必要なエネルギー
が冷凍効率と動力損失分だけ附加されて高温環境
試験室４に熱交換されるために、該高温環境試験
室４の温度は予定より高温（例えば60℃〜80℃）
となり、高温環境試験室側の環境制御が不能であ
るとともに、冷媒コンデンサ６に対する冷却フア
ン７の風路温度の上昇が低温環境試験室側の冷凍
効率を低下せしめる、という課題があつた。
従つて、本考案は以上の問題点に鑑み、第３図
Ｂに示す簡易型環境試験設備を対象にして、動力
効率に優れしかも所定の高温度を保持できる高温
環境試験室の温度制御装置を提供することを目的
とする。
Ｂに示す簡易型環境試験設備を対象にして、動力
効率に優れしかも所定の高温度を保持できる高温
環境試験室の温度制御装置を提供することを目的
とする。
上記目的を達成するため本考案は、第１図及び
第２図に示すように、低温環境試験室３と高温環
境試験室４とを仕切る隔壁２にユニツトクーラを
設け、該ユニツトクーラの吸熱面を前記低温環境
試験室、放熱面を前記高温環境試験室にそれぞれ
露出した構成の環境試験設備において、前記高温
環境試験室４にそれぞれ自動シヤツタ付きの吸気
口９ａと排気口１１とを設け、該吸気口と前記ユ
ニツトクーラ５の放熱面に在る冷媒コンデンサ６
に付属の冷却フアン７との間を吸気ダクト９によ
り接続するとともに、該吸気ダクトの一部に当該
高温環境試験室内に開放された通気口９ｂを設
け、かつ高温環境試験室に室内温度を計測する温
度センサ１２と、前記吸気口及び排気口の自動シ
ヤツタ１０Ａ，１０Ｂを該温度センサの出力に応
じ開閉するシヤツタ制御装置１３とを設け、当該
高温環境試験室内の温度が所定温度以上の際には
該シヤツタ制御装置により前記両自動シヤツタを
開いて室内を換気し、室温を所定の高温度に保持
するようにした構成を採用している。
第２図に示すように、低温環境試験室３と高温環
境試験室４とを仕切る隔壁２にユニツトクーラを
設け、該ユニツトクーラの吸熱面を前記低温環境
試験室、放熱面を前記高温環境試験室にそれぞれ
露出した構成の環境試験設備において、前記高温
環境試験室４にそれぞれ自動シヤツタ付きの吸気
口９ａと排気口１１とを設け、該吸気口と前記ユ
ニツトクーラ５の放熱面に在る冷媒コンデンサ６
に付属の冷却フアン７との間を吸気ダクト９によ
り接続するとともに、該吸気ダクトの一部に当該
高温環境試験室内に開放された通気口９ｂを設
け、かつ高温環境試験室に室内温度を計測する温
度センサ１２と、前記吸気口及び排気口の自動シ
ヤツタ１０Ａ，１０Ｂを該温度センサの出力に応
じ開閉するシヤツタ制御装置１３とを設け、当該
高温環境試験室内の温度が所定温度以上の際には
該シヤツタ制御装置により前記両自動シヤツタを
開いて室内を換気し、室温を所定の高温度に保持
するようにした構成を採用している。
上記構成によつて、高温環境試験室４の室温が
所定温度以上になると、温度センサ１２がそれを
検出して信号出力し、その信号に応答してシヤツ
タ制御装置１３が動作オンし該環境試験室の吸気
口９ａ及び排気口１１の自動シヤツタ１０Ａ，１
０Ｂを開く。この結果、吸気口９ａからは外気を
取り入れ、排気口１１からは内部の高温空気を排
出する。ここで外気は吸気ダクト９によつてユニ
ツトクーラの冷媒コンデンサ６に導入され、該コ
ンデンサを含めて室内を冷却するので、該冷却
と、この間における吸気ダクトの通気口９ｂを介
しての室内空気の循環、排気口を介しての室内空
気の排気との相乗的作用により、室温は短時間で
所定の温度まで低下する。そして所定温度になる
と、シヤツタ制御装置が動作オフし自動シヤツタ
を閉じる。
所定温度以上になると、温度センサ１２がそれを
検出して信号出力し、その信号に応答してシヤツ
タ制御装置１３が動作オンし該環境試験室の吸気
口９ａ及び排気口１１の自動シヤツタ１０Ａ，１
０Ｂを開く。この結果、吸気口９ａからは外気を
取り入れ、排気口１１からは内部の高温空気を排
出する。ここで外気は吸気ダクト９によつてユニ
ツトクーラの冷媒コンデンサ６に導入され、該コ
ンデンサを含めて室内を冷却するので、該冷却
と、この間における吸気ダクトの通気口９ｂを介
しての室内空気の循環、排気口を介しての室内空
気の排気との相乗的作用により、室温は短時間で
所定の温度まで低下する。そして所定温度になる
と、シヤツタ制御装置が動作オフし自動シヤツタ
を閉じる。
以上の温度制御を繰り返し、当該高温環境試験
室４を所定の高温度に保持する。
室４を所定の高温度に保持する。
以下、本考案の好ましい実施例について図面を
参照して詳細に説明する。
参照して詳細に説明する。
第１図は、本考案に係る高温環境試験室の温度
制御装置を組み込んだ簡易型環境試験設備の要部
構成を模式的に示す平面図、第２図は、第１図の
高温環境試験室をＸ−X′に沿つて断面し矢印方
向より見た構成図を示す。
制御装置を組み込んだ簡易型環境試験設備の要部
構成を模式的に示す平面図、第２図は、第１図の
高温環境試験室をＸ−X′に沿つて断面し矢印方
向より見た構成図を示す。
第１図及び第２図におて、１は外壁、２は隔
壁、３は低温環境試験室、４は高温環境試験室、
５，６及び７はユニツトクーラの冷却器、冷媒コ
ンデンサ及び冷却フアン、９は吸気ダクト、９ａ
は吸気口、９ｂは通気口、１０Ａは外気導入用自
動シヤツタ、１０Ｂは排気用自動シヤツタ、１１
は排気口、１２は温度センサ、１３はシヤツタ制
御装置、１４は制御信号線、をそれぞれ示す。
壁、３は低温環境試験室、４は高温環境試験室、
５，６及び７はユニツトクーラの冷却器、冷媒コ
ンデンサ及び冷却フアン、９は吸気ダクト、９ａ
は吸気口、９ｂは通気口、１０Ａは外気導入用自
動シヤツタ、１０Ｂは排気用自動シヤツタ、１１
は排気口、１２は温度センサ、１３はシヤツタ制
御装置、１４は制御信号線、をそれぞれ示す。
本考案の温度制御装置は、前記第３図Ｂに示す
環境試験設備の高温環境試験室４に設置するもの
であつて、その試験室の天井には吸気口９ａと排
気口１１とを所定間隔を隔てて設け、該吸気口及
び排気口の室外に自動シヤツタ１０Ａ，１０Ｂを
取りつける。また、隔壁２から突出したユニツト
クーラの冷媒コンデンサ６を冷却する冷却フアン
７の吸引側に、前記吸気口９ａと通じる吸気ダク
ト９を設ける。この吸気ダクト９の冷却フアン側
に近い基部には、室内に開放された通気口９ｂを
設け、これを介して冷却フアン７による室内空気
の循環を可能に構成している。
環境試験設備の高温環境試験室４に設置するもの
であつて、その試験室の天井には吸気口９ａと排
気口１１とを所定間隔を隔てて設け、該吸気口及
び排気口の室外に自動シヤツタ１０Ａ，１０Ｂを
取りつける。また、隔壁２から突出したユニツト
クーラの冷媒コンデンサ６を冷却する冷却フアン
７の吸引側に、前記吸気口９ａと通じる吸気ダク
ト９を設ける。この吸気ダクト９の冷却フアン側
に近い基部には、室内に開放された通気口９ｂを
設け、これを介して冷却フアン７による室内空気
の循環を可能に構成している。
さらに、試験室の側壁には室内温度を計測する
温度センサ１２を設け、それが所定の高温度（例
えば50℃）以上を検出した時にトリガ信号を出力
させる。そして、室外には該温度センサ１２の信
号出力を入力した時に動作オンして、前記外気導
入用及び排気用の自動シヤツタ１０Ａ，１０Ｂを
連動して開く構成のシヤツタ制御装置１３を設け
る。なお、１４は温度センサ１２とシヤツタ制御
装置１３とを接続する制御信号線である。
温度センサ１２を設け、それが所定の高温度（例
えば50℃）以上を検出した時にトリガ信号を出力
させる。そして、室外には該温度センサ１２の信
号出力を入力した時に動作オンして、前記外気導
入用及び排気用の自動シヤツタ１０Ａ，１０Ｂを
連動して開く構成のシヤツタ制御装置１３を設け
る。なお、１４は温度センサ１２とシヤツタ制御
装置１３とを接続する制御信号線である。
かかる構成の温度制御装置を具備した環境試験
設備においては、低温環境試験室３の排熱を高温
環境試験室４の熱源に活用するわけであつて、高
温環境試験室４の室温が所定温度（例えば50℃）
までは前記外気導入用及び排気用の自動シヤツタ
１０Ａ，１０Ｂは閉じた状態であり、室温が50℃
を越えると、温度センサ１２が該温度を検知しシ
ヤツタ制御装置１３を駆動して、外気導入用及び
排気用の自動シヤツタ１０Ａ，１０Ｂを開き、前
記〔作用〕項で述べたように室外の新鮮な空気の
導入と内部の高温空気を排気し、その結果、高温
環境試験室４を所定温度に保持する。
設備においては、低温環境試験室３の排熱を高温
環境試験室４の熱源に活用するわけであつて、高
温環境試験室４の室温が所定温度（例えば50℃）
までは前記外気導入用及び排気用の自動シヤツタ
１０Ａ，１０Ｂは閉じた状態であり、室温が50℃
を越えると、温度センサ１２が該温度を検知しシ
ヤツタ制御装置１３を駆動して、外気導入用及び
排気用の自動シヤツタ１０Ａ，１０Ｂを開き、前
記〔作用〕項で述べたように室外の新鮮な空気の
導入と内部の高温空気を排気し、その結果、高温
環境試験室４を所定温度に保持する。
なお、以上の構成において冷却フアン７の外気
導入能力が不充分である場合は、自動シヤツタ１
０Ａの室内側にフアンを付設して外気を強制導入
するようにすれば良い。
導入能力が不充分である場合は、自動シヤツタ１
０Ａの室内側にフアンを付設して外気を強制導入
するようにすれば良い。
以上説明した本考案による高温環境試験室の制
御装置によれば、簡易型環境試験設備において低
温環境試験室の冷却効率を低下することなく、高
温環境試験室の温度を効率的に所定温度に保持し
得るので、経済性に優れた温度環境試装置を手軽
に提供することができる。
御装置によれば、簡易型環境試験設備において低
温環境試験室の冷却効率を低下することなく、高
温環境試験室の温度を効率的に所定温度に保持し
得るので、経済性に優れた温度環境試装置を手軽
に提供することができる。
第１図は、本考案に係る高温環境試験室の温度
制御装置を組み込んだ簡易型環境試験設備の要部
構成を模式的に示す平面図、第２図は、第１図の
高温環境試験室をＸ−X′に沿つて断面し矢印方
向より見た構成図、第３図Ａ及びＢは、従来の簡
易型環境試験設備を模式的に示す平面図である。 図において、１は外壁、２は隔壁、３は低温環
境試験室、４は高温環境試験室、５，６及び７は
ユニツトクーラの冷却器、冷媒コンデンサ及び冷
却フアン、９は吸気ダクト、９ａは吸気口、９ｂ
は通気口、１０Ａは外気導入用自動シヤツタ、１
０Ｂは排気用自動シヤツタ、１１は排気口、１２
は温度センサ、１３はシヤツタ制御装置、１４は
制御信号線、をそれぞれ示す。
制御装置を組み込んだ簡易型環境試験設備の要部
構成を模式的に示す平面図、第２図は、第１図の
高温環境試験室をＸ−X′に沿つて断面し矢印方
向より見た構成図、第３図Ａ及びＢは、従来の簡
易型環境試験設備を模式的に示す平面図である。 図において、１は外壁、２は隔壁、３は低温環
境試験室、４は高温環境試験室、５，６及び７は
ユニツトクーラの冷却器、冷媒コンデンサ及び冷
却フアン、９は吸気ダクト、９ａは吸気口、９ｂ
は通気口、１０Ａは外気導入用自動シヤツタ、１
０Ｂは排気用自動シヤツタ、１１は排気口、１２
は温度センサ、１３はシヤツタ制御装置、１４は
制御信号線、をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 低温環境試験室３と高温環境試験室４とを仕切
る隔壁２にユニツトクーラを設け、該ユニツトク
ーラの吸熱面を前記高温環境試験室、放熱面を前
記高温環境試験室にそれぞれ露出した構成の環境
試験設備において、 前記高温環境試験室４にそれぞれ自動シヤツタ
付きの吸気口９ａと排気口１１とを設け、 該吸気口と前記ユニツトクーラの放熱面に在る
冷媒コンデンサ６に付属の冷却フアン７との間を
吸気ダクト９により接続するとともに、該吸気ダ
クトの一部に当該高温環境試験室内に開放された
通気口９ｂを設け、かつ 前記高温環境試験室に室内温度を計測する温度
センサ１２と、前記吸気口及び排気口の自動シヤ
ツタ１０Ａ，１０Ｂを該温度センサの出力に応じ
開閉するシヤツタ制御装置１３とを設け、 当該高温環境試験室内の温度が所定温度以上の
際には該シヤツタ制御装置により前記両自動シヤ
ツタを開いて室内を換気し、室温を所定の高温度
に保持するようにしたことを特徴とする高温環境
試験室の温度制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4657482U JPS58148650U (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 高温環境試験室の温度制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4657482U JPS58148650U (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 高温環境試験室の温度制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58148650U JPS58148650U (ja) | 1983-10-05 |
| JPH0247483Y2 true JPH0247483Y2 (ja) | 1990-12-13 |
Family
ID=30057563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4657482U Granted JPS58148650U (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 高温環境試験室の温度制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58148650U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4813415B2 (ja) * | 2007-04-19 | 2011-11-09 | 三菱電機株式会社 | 電子部品の温度試験装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS548379U (ja) * | 1977-06-20 | 1979-01-19 | ||
| JPS56106139A (en) * | 1980-01-28 | 1981-08-24 | Fujitsu Ltd | Environmental testing apparatus |
-
1982
- 1982-03-30 JP JP4657482U patent/JPS58148650U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58148650U (ja) | 1983-10-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1085272B1 (en) | Heating-element accommodating-box cooling apparatus and method of controlling the same | |
| CN217035772U (zh) | 一种带环境除湿功能的液冷储能电池热管理装置 | |
| CA1092381A (en) | Split heat pump outdoor fan arrangement | |
| JP2001267774A (ja) | 機器収納用筐体 | |
| CN112234803A (zh) | 变频器、制冷系统及其控制方法 | |
| CN113966142A (zh) | 一种基于热管换热器和空调的机房制冷机柜及其控制方法 | |
| JP2765365B2 (ja) | 空気調和装置 | |
| KR200491831Y1 (ko) | 마이크로 데이터센터 냉각장치와 그 실외기 및 이를 포함하는 냉각시스템 | |
| JPH10247793A (ja) | 筐体冷却装置 | |
| JPH0247483Y2 (ja) | ||
| JPH0322579B2 (ja) | ||
| JP2999710B2 (ja) | ワイドレンジ型環境試験装置 | |
| JPH05118671A (ja) | 空気調和装置の電気品箱 | |
| CN214668348U (zh) | 有效减少热损耗量的三箱式冷热冲击试验箱 | |
| JPH0733057Y2 (ja) | 空調機 | |
| KR200246356Y1 (ko) | 밀폐된 공간 냉방 장치 | |
| JPH05118672A (ja) | 空気調和装置の電気品箱 | |
| CN214668726U (zh) | 高耐用性的三箱式冷热冲击试验箱 | |
| KR102751488B1 (ko) | 오염물질로 인한 고장을 방지할 수 있는 전기차용 충전기 | |
| CN219042344U (zh) | 一种服务器机柜 | |
| CN221448981U (zh) | 一种数据中心的空调系统 | |
| JPH0317178Y2 (ja) | ||
| JPH0737358Y2 (ja) | 屋外密閉型筐体 | |
| CN223499674U (zh) | 一种风管机及空气调节系统 | |
| KR100600073B1 (ko) | 전자기기용 옥외함체의 냉방시스템 |