JPH0247773A - 図形処理方法 - Google Patents

図形処理方法

Info

Publication number
JPH0247773A
JPH0247773A JP63198203A JP19820388A JPH0247773A JP H0247773 A JPH0247773 A JP H0247773A JP 63198203 A JP63198203 A JP 63198203A JP 19820388 A JP19820388 A JP 19820388A JP H0247773 A JPH0247773 A JP H0247773A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cell
data
cells
graphic data
integrated circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63198203A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihisa Oka
岡 晶久
Yoshiyuki Takagi
高木 善之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP63198203A priority Critical patent/JPH0247773A/ja
Publication of JPH0247773A publication Critical patent/JPH0247773A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は集積回路の図形データのデータ検証時の図形処
理方法に関するものである。
従来の技術 従来、くり返しセルを有する集積回路の図形データに対
する幾河学的ルールチエツクや電気的ルールチエツクや
接続照合などのデータ検証処理は集積回路の全図形デー
タに対しておこなわれていた。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記のようなデータ検証処理を集積回路
の全図形データに対しておこなうという方法を、最近の
非常に高集積化された集積回路の図形データに対して適
用すると、データ検証処理時に必要なメモリ容量が非常
に膨大となり、最悪の場合にはメモリ容量不足によりデ
ータ検証処理が中断してしまうという問題点があった。
また、仮にメモリ容量が十分にあり、データ検証処理が
可能であるとしても、そのデータ検証処理時間が非常に
膨大なものとなってしまうという問題点があった。
本発明はこのような問題点を解消し、高集積化された集
積回路全体の図形データのデータ検証処理におけるメモ
リ使用量の軽減とその処理時間の短縮を可能とすること
を目的とする。
課題を解決するための手段 本発明は、集積回路の図形データ中の、くり返し使用さ
れているセルについて1個のセルを残して他のセルを除
去してデータ圧縮をおこなった図形データに対してデー
タ検証処理をおこなうことを特徴とする図形処理方法で
ある。
作用 本発明の図形処理方法は集積回路の図形データ中の、く
り返し使用されているセルについて1個のセルを残して
他のセルを除去してデータ圧縮をおこなった図形データ
に対してデータ検証処理をおこなうことにより、データ
検証処理時に必要となるメモリ容量を減少することとそ
のデータ検証処理時間を短縮することができる。
実施例 第1図(a)と第1図(b)と第1図(C)に本発明の
一実施例を示す。
第1図(a)と第1図(b)と第1図(C)のlOはセ
ルA。
12はセルB、14はセルC216はセルD、18はセ
ルE、20はセルF、22はセルG、24はセルH12
6はセルI、30はセルb、32はセルd、34はセル
e、36はセルf、38はセルhである。
第1図(a)に示すように、集積回路の全図形データが
1個のセルA10.セルC14,セルG22゜セル12
6と、複数個(り返し並べられたセルB12、セルD1
6.セルE18.セルF20.セルH24により構成さ
れている。この集積回路の全図形データの幾何学的ルー
ルチエツクをおこなう際に、複数個(り返し並べられた
セルB12゜セルD16.セルE18.セルF20.セ
ルH24の各セルについて、1個のセルのみを残して他
を除去する。しかるのちに除去した部分のデータ圧縮を
おこない第1図(b)に示すような図形データを構成し
、この図形データに対して幾何学的ルールチエツクをお
こなう。
上記のようにすべての種類のセルについて1セルだけ残
して再度構成した図形データに対して幾何学的ルールチ
エツクをおこなったのでは同一種類のセル間での幾何学
的ルールチエツクが不十分な場合がある。このような場
合は第1図(C)に示すように、2つのセルb30でセ
ルB12を、2つ、のセルd32でセルD14を、4つ
のセルe34でセルE18を、2つのセルf36でセル
F20を、2つのセルh38でセルH24を構成すれば
各同一種類のセル間での幾何学的ルールチエツクを完全
におこなうことができる。
以上のような本実施例の図形処理方法をおこなうと、複
数個くり返し並べられたセルについては1個のみとなる
ため、それだけ幾何学的ルールチエツクの際のデータ量
を軽減することができる。従って、この集積回路に対す
る幾何学的ルールチエツクにおいて必要となるメモリ容
量をかなり減少することと、その処理時間を短縮するこ
とができる。
発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、集積回路の図形デ
ータ中の、(り返し使用されているセルについて1個の
セルを残して他のセルを除去してデータ圧縮をおこなっ
た図形データに対してデータ検証処理をおこなうことに
より、データ検証処理時に必要となるメモリ容量を減少
することとそのデータ検証処理時間を短縮することがで
き、その実用的効果は極めて大きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の図形処理方法を説明するた
めの集積回路図形データのレイアウト図である。 10・・・・・・セルA、12・・・・・・セルB、1
4・・・・・・セルC116・・・・・・セルD、18
・旧・・セルE、20・・・・・・セルF、12・・・
・・・セルG、24・・・・・・セルH126・・・・
・・セルI、30・・・・・・セルb、32・・・・・
・セルd、34・・・・・・セルe、36・・・・・・
セルf、38・・・・・・セルh0

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 集積回路の図形データ中の、くり返し使用されているセ
    ルについて、1個のセルを残して他のセルを除去してデ
    ータ圧縮をおこなった図形データに対してデータ検証処
    理をおこなうことを特徴とする図形処理方法。
JP63198203A 1988-08-09 1988-08-09 図形処理方法 Pending JPH0247773A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63198203A JPH0247773A (ja) 1988-08-09 1988-08-09 図形処理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63198203A JPH0247773A (ja) 1988-08-09 1988-08-09 図形処理方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0247773A true JPH0247773A (ja) 1990-02-16

Family

ID=16387198

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63198203A Pending JPH0247773A (ja) 1988-08-09 1988-08-09 図形処理方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0247773A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3750674T2 (de) Halbleiterintegrierte Schaltung mit Prüffunktion.
DE69615187T2 (de) Parallele prüfung eines cpu-cachespeichers sowie befehlseinheit
DE60128014T2 (de) Intelligenter Prüfadapter
DE1538604B2 (de) Verfahren zum realisieren einer elektrischen integrierten schaltung
US4639915A (en) High speed redundancy processor
JPH0247773A (ja) 図形処理方法
DE10342312A1 (de) Halbleiterwafertestsystem
JPS63129466A (ja) 回路接続検査装置
JPS63291434A (ja) 半導体集積回路の配線方法
JPH06204437A (ja) フロアプランナ及びフロアプラン方法
JPH01260581A (ja) 図形処理方法
JP2656840B2 (ja) チャネル配線装置
JPH02235356A (ja) 半導体装置
JP2792327B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPH0362245A (ja) 半導体集積回路
JP2851078B2 (ja) 半導体集積回路の製造方法
JPH04172564A (ja) レイアウトパターン検証方法
JP2786017B2 (ja) 半導体集積回路の製造方法
DE19603327A1 (de) Entwurfsverfahren für integrierte Halbleiterschaltungen
JP2536640B2 (ja) 配線処理方式
JPS63260147A (ja) パタ−ン検証方法
JPS63187647A (ja) マスタ−スライス方式の半導体集積回路
JP2995906B2 (ja) プリント配線板配置処理装置
JPH034372A (ja) Lsi機能セルのレイアウト装置
JPH0645417A (ja) ウェーハプローバ