JPH01260581A - 図形処理方法 - Google Patents

図形処理方法

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JPH01260581A
JPH01260581A JP63089820A JP8982088A JPH01260581A JP H01260581 A JPH01260581 A JP H01260581A JP 63089820 A JP63089820 A JP 63089820A JP 8982088 A JP8982088 A JP 8982088A JP H01260581 A JPH01260581 A JP H01260581A
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Japan
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integrated circuit
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Akihisa Oka
岡 晶久
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は集積回路の図形データのデータ検証時の図形処
理方法に関するものである。
従来の技術 従来、複数の回路ブロックとブロック間配線により構成
される集積回路の図形データに対する幾何学的ルールチ
エツクや電気的ルールチエツクなどのデータ検証処理は
、各ブロックのすべての図形データとブロック間配線図
形データとを合わせた集積回路の全図形データに対して
おこなわれていた。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記のようなデータ検証処理を集積回路
の全図形データに対しておこなうという方法を、最近の
非常に高集積化された集積回路の図形データに対して適
用すると、データ検証処理時に必要なメモリ容量が非常
に膨大となり、最悪の場合にはメモリ容量不足によりデ
ータ検証処理が中断してしまうという問題点があった。
また、この問題点を改善するために、各ブロックの図形
データとブロック間配線図形データのそれぞれに対して
データ検証処理をおこなうという方法があるが、この方
法では各ブロックとブロック間配線の境界部分のデータ
検証ができないという問題点があった。
本発明はこのような問題点を解消し、高集積化された集
積回路全体の図形データのデータ検証処理におけるメモ
リ使用量の軽減と各ブロックとブDツク間配線の境界部
分のデータ検証を可能上することを目的とする。
課題を解決するための手段 本発明は複数の回路のブロックとブロック間配線により
構成される集積回路の図形データの少なくとも1個のブ
ロックを、ブロック外周近傍の図形データのみて置換し
、この置換された図形データを含む集積回路の図形デー
タに対してデータ検証処理をおこなうことを特徴とする
図形処理方法である。
作用 本発明の図形処理方法は複数の回路のブ1コックとブロ
ック間配線により構成される集積回路の図形データの少
なくとも1個のブロックを、ブロック外周近傍の図形デ
ータのみで置換し、この置換された図形データを含む集
積回路の図形データに対してデータ検証処理をおこなう
ことにより、データ検証処理時のデータ量を減少するこ
ととなり、データ検証処理時に必要となるメモリ容量を
減少することと各ブ1コックとブロック間配線の境界部
分のデータ検証をおこな・うことができる。
実施例 第1図(a)と第1図(b)に本発明の−・実施例を示
す。第1図(a)の10は検証ずへき集積回路の全図形
データ、]2は回路ブロックA、14は回路ブ1’Jツ
クB、16は回路ブI]ツクC118は回路ブロックD
、20は回路ブロックE、22は回路ブロックFである
。第1図(b)の32は回路ブロックA 1.2のブロ
ック外周より一定幅内側の外周近傍の領域内の図形デー
タのみのブロックA’、34は回路ブロックB ]、 
4のブロック外周より一定幅内側の外周近傍の領域内の
図形データのみのブロック+3’、36は回路ブロック
C1,6のブロック外周より一定幅内側の外周近傍の領
域内の図形データのみのブロックC’、38は回路フ゛
LJツク1)18のブロック外周より一定幅内側の外周
近傍の領域内の図形データのみのブ「]ツクl’)’、
40は回路ブロックE20のブロック外周より一定幅内
側の外周近傍の領域内の図形データのみのブロックE’
、42は回路ブロックF22のブD ツク外周より−・
定幅内側の外周近傍の領域内の図形データのみのブロッ
クF てあり、30は集積回路の全図形データ10にお
いて、ブロックA 12をブロックA′32て、ブロッ
クB 」−4をブロックB′34で、ブロックC16を
ブロックC′36て、ブロックD−18をブロックD′
38て、ブロックE20をブロックE’40で、ブロッ
クF22をブロックF′42てそれぞれ置換した置換後
の集積回路の図形データである。
第1図(a)の集積回路の全図形データ10に対して幾
何学的ルールチエツクをおこなう際に、まず、回路プロ
ツクA124回路ブロックB14゜回路フ゛ロックC1
65回路フ゛ロックD182回路ブロックE20.回路
ブロックF22の各回路ブロックそれぞれに対し幾何学
的チエツクをおこなう。しかるのちに、第1図(b)に
示す置換後の集積回路の図形データ30に対して幾何学
的ルールチエツクをおこなう。
以上のような本実施例の図形処理方法をおこなうと、集
積回路の全図形データ10に対して幾何学的ルールチエ
ツクをおこなう際の最大のデータ量は、回路プロツクA
122回路ブロックB14゜回路ブロックC165回路
ブロックD182回路ブロックE202回路ブロックF
22、置換後の集積回路の図形データ30のうちの最も
大きなもの七なる。しかしながら、この最大のデータ量
は、集積回路の全図形データ10のデータ量と比較する
と通常1相思」ニルさい。従って、この集積回路の全図
形データ10に対する幾何学的ルールチエツクにおいて
必要となるメモリ容量をかなり減少することができ、し
かも各回路ブロックとブロック間配線の境界部分のデー
タ検証もおこなうことができる。
発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、複数の回路のブロ
ックとブロック間配線により構成される集積回路の図形
データの少なくとも1個のブロックを、ブロック外周近
傍の図形データのみて置換し、この置換された図形デー
タを含む集積回路の図形データに対してデータ検証処理
をおこなうことにより、データ検証時のデータ量を減少
することとなり、データ検証処理時に必要となるメモリ
容量を大幅に減少することと各ブロックとブロック間配
線の境界部分のデータ検証をおこなうことができ、その
実用的効果は極めて大きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の図形処理方法を説明するた
めのマスクパターン図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  複数の回路のブロックと、前記ブロック間の配線によ
    り構成される集積回路の図形データの少なくとも1個の
    ブロックを、ブロック内の外周近傍の図形データのみで
    置換し、前記置換された図形データを含む前記集積回路
    の図形データに対してデータ検証処理をおこなうことを
    特徴とする図形処理方法。
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