JPH0248980B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0248980B2 JPH0248980B2 JP57040779A JP4077982A JPH0248980B2 JP H0248980 B2 JPH0248980 B2 JP H0248980B2 JP 57040779 A JP57040779 A JP 57040779A JP 4077982 A JP4077982 A JP 4077982A JP H0248980 B2 JPH0248980 B2 JP H0248980B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- head
- burnishing
- recording medium
- protrusions
- magnetic disk
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の対象
本発明は磁気記録媒体の検査方法に関し、特に
磁気デイスク媒体表面の平滑性検査方法に関す
る。
磁気デイスク媒体表面の平滑性検査方法に関す
る。
従来技術
磁気デイスク装置では、磁気ヘツドが、磁気デ
イスク媒体の回転による空気流により媒体表面か
ら微小なすきまを保つて浮上量する。この場合、
磁気デイスク媒体表面に媒体自体の突起物あるい
は外部から付着した塵埃等の異物が存在すると、
磁気ヘツドが損傷したり、磁気ヘツド表面に異物
が付着物したりする。また、磁気ヘツドの浮動の
安定性が損なわれるため、クラツシユの原因にも
なる。
イスク媒体の回転による空気流により媒体表面か
ら微小なすきまを保つて浮上量する。この場合、
磁気デイスク媒体表面に媒体自体の突起物あるい
は外部から付着した塵埃等の異物が存在すると、
磁気ヘツドが損傷したり、磁気ヘツド表面に異物
が付着物したりする。また、磁気ヘツドの浮動の
安定性が損なわれるため、クラツシユの原因にも
なる。
このため磁気デイスクの製造工程には、バニツ
シング用ヘツドを用いて媒体表面の突出物をでき
る限り除去する工程と、浮上保証スペーシングで
磁気ヘツドが媒体表面に衝突しないことを確認す
るフローテイングチエツク工程が必要となる。然
るに従来の製造方法によれば、バニツシング用ヘ
ツドとフローテイングチエツク用ヘツドとを夫々
キヤリツジ・駆動モータから成る別々の走査機構
に取付け、先ずバニツシング用ヘツドを用いてデ
イスク媒体表面の突起物等を除去し、次いでチエ
ツク用ヘツドによる検査を行なつていた。この場
合、バニツシングとチエツクは磁気デイスク媒体
全域に渡り交互に繰返して行なわれ、チエツク中
に磁気ヘツドと磁気デイスク媒体との衝突が発生
すると、衝突発生箇所以外の媒体表面に対しても
再度バニツシンを行なうようにしていた。このた
め磁気デイスク１枚当りのフローテイングチエツ
クに長時間を要し、また、バニツシングしてから
チエツク迄の間にテスター内の塵埃等がデイスク
媒体の表面に付着し易いため、これらが媒体突起
の正確なチエツクの妨げとなる等の問題があつ
た。
シング用ヘツドを用いて媒体表面の突出物をでき
る限り除去する工程と、浮上保証スペーシングで
磁気ヘツドが媒体表面に衝突しないことを確認す
るフローテイングチエツク工程が必要となる。然
るに従来の製造方法によれば、バニツシング用ヘ
ツドとフローテイングチエツク用ヘツドとを夫々
キヤリツジ・駆動モータから成る別々の走査機構
に取付け、先ずバニツシング用ヘツドを用いてデ
イスク媒体表面の突起物等を除去し、次いでチエ
ツク用ヘツドによる検査を行なつていた。この場
合、バニツシングとチエツクは磁気デイスク媒体
全域に渡り交互に繰返して行なわれ、チエツク中
に磁気ヘツドと磁気デイスク媒体との衝突が発生
すると、衝突発生箇所以外の媒体表面に対しても
再度バニツシンを行なうようにしていた。このた
め磁気デイスク１枚当りのフローテイングチエツ
クに長時間を要し、また、バニツシングしてから
チエツク迄の間にテスター内の塵埃等がデイスク
媒体の表面に付着し易いため、これらが媒体突起
の正確なチエツクの妨げとなる等の問題があつ
た。
発明の目的
本発明の目的は上述した従来の問題点を解決
し、バニツシングとチエツクを効率よく短時間で
行なえるようにした記録媒体検査方法を提供する
ことにある。
し、バニツシングとチエツクを効率よく短時間で
行なえるようにした記録媒体検査方法を提供する
ことにある。
発明の総括的説明
上記目的を達成するため、本発明ではバニツシ
ング用のヘツドと検査用ヘツドとを同一の走査機
構に取りつけ、該走査機構を動作させることによ
つて記録媒体表面の突起物除去とその検査とを同
時に行なうようにしたことを特徴とする。
ング用のヘツドと検査用ヘツドとを同一の走査機
構に取りつけ、該走査機構を動作させることによ
つて記録媒体表面の突起物除去とその検査とを同
時に行なうようにしたことを特徴とする。
発明の実施例
以下、本発明の一実施例を図面により説明す
る。第１図において、１はヘツド走査用のガイド
アームであり、バニツシング用ヘツド２とチエツ
ク用ヘツド３が取り付けられる。取付位置は２つ
のヘツドの流出部が磁気デイスクの同一半径位置
になるように設定する。ヘツドコアのスライダー
幅は、バニツシング領域がチエツク領域よりも狭
くならないように、バニツシング用ヘツドコア２
のスライダ幅をチエツク用ヘツド３のスライダー
幅以上とする。また、チエツク用ヘツド３は浮上
保証スペーシングに、バニツシング用ヘツド２は
チエツク用ヘツドのスペーシング以下に、バネ荷
重等の調整により設定する。バニツシング用ヘツ
ドとチエツク用ヘツドの取付はどちらが磁気デイ
スク媒体の回転の前方でもよい。
る。第１図において、１はヘツド走査用のガイド
アームであり、バニツシング用ヘツド２とチエツ
ク用ヘツド３が取り付けられる。取付位置は２つ
のヘツドの流出部が磁気デイスクの同一半径位置
になるように設定する。ヘツドコアのスライダー
幅は、バニツシング領域がチエツク領域よりも狭
くならないように、バニツシング用ヘツドコア２
のスライダ幅をチエツク用ヘツド３のスライダー
幅以上とする。また、チエツク用ヘツド３は浮上
保証スペーシングに、バニツシング用ヘツド２は
チエツク用ヘツドのスペーシング以下に、バネ荷
重等の調整により設定する。バニツシング用ヘツ
ドとチエツク用ヘツドの取付はどちらが磁気デイ
スク媒体の回転の前方でもよい。
第２図、第３図は本発明のフローテイングチエ
ツク方法の一実施例である。ガイドアーム１に
は、磁気デイスク媒体４の回転の順に、バニツシ
ング用ヘツド２，２′とチエツク用ヘツド３，
３′が取付けられ、駆動モータ６によりキヤリツ
ジ５を介して、磁気デイスク媒体４の半径方向に
移動する。第１図で示したように２つのヘツドは
流出端が磁気デイスクの同一半径になるように設
定され、本図では磁気デイスク媒体の中心線から
それぞれｄ＝d′離れ、半径Ｒ上に位置する。
ツク方法の一実施例である。ガイドアーム１に
は、磁気デイスク媒体４の回転の順に、バニツシ
ング用ヘツド２，２′とチエツク用ヘツド３，
３′が取付けられ、駆動モータ６によりキヤリツ
ジ５を介して、磁気デイスク媒体４の半径方向に
移動する。第１図で示したように２つのヘツドは
流出端が磁気デイスクの同一半径になるように設
定され、本図では磁気デイスク媒体の中心線から
それぞれｄ＝d′離れ、半径Ｒ上に位置する。
フローテイングチエツクはまず、バニツシング
用ヘツド２，２′とチエツク用ヘツド３，３′が同
時に磁気デイスク媒体４にロードし、磁気デイス
ク媒体４上を同時に走査する。磁気デイスク媒体
４は内周もしくは外周から順に、トラツク毎にバ
ニツシング用ヘツド２によりバニツシングされた
直後にチエツク用ヘツド３により、突出物の有無
をチエツクされる。本図では磁気デイスク媒体の
半径Ｒの位置をバニツシング、チエツク中であ
る。
用ヘツド２，２′とチエツク用ヘツド３，３′が同
時に磁気デイスク媒体４にロードし、磁気デイス
ク媒体４上を同時に走査する。磁気デイスク媒体
４は内周もしくは外周から順に、トラツク毎にバ
ニツシング用ヘツド２によりバニツシングされた
直後にチエツク用ヘツド３により、突出物の有無
をチエツクされる。本図では磁気デイスク媒体の
半径Ｒの位置をバニツシング、チエツク中であ
る。
このときチエツク用ヘツド３，３′が突出物を
検知した場合、ヘツドは検知したトラツクの前後
を高速で指定回数往復し、追バニツシングをした
のち再チエツクする。本図の場合、半径Ｒの位置
の前後をＡ＝A′の振幅で３往復シークしている。
検知した場合、ヘツドは検知したトラツクの前後
を高速で指定回数往復し、追バニツシングをした
のち再チエツクする。本図の場合、半径Ｒの位置
の前後をＡ＝A′の振幅で３往復シークしている。
このようにして磁気デイスク媒体の全域をチエ
ツク後、バニツシング用ヘツド２，２′とチエツ
ク用ヘツド３，３′を同時にアンロードし、フロ
ーテイングテストは終了する。
ツク後、バニツシング用ヘツド２，２′とチエツ
ク用ヘツド３，３′を同時にアンロードし、フロ
ーテイングテストは終了する。
本実施例によれば、チエツクにより検知された
磁気デイスク媒体の突出物がある部分を、一式の
ヘツド走査機構いよつて重点的にバニツシングで
きるという効果がある。
磁気デイスク媒体の突出物がある部分を、一式の
ヘツド走査機構いよつて重点的にバニツシングで
きるという効果がある。
本実施例に於いては１つのガイドアーム１にバ
ニツシング用ヘツド２とチエツク用ヘツド３を取
付けた例を示しているが、別々のガイドアームに
バニツシング用ヘツド２とチエツク用ヘツド３を
それぞれ取付け１つのキヤリツジ５に両方のヘツ
ドを取付けることにより、全く同一の効果を得ら
れる。
ニツシング用ヘツド２とチエツク用ヘツド３を取
付けた例を示しているが、別々のガイドアームに
バニツシング用ヘツド２とチエツク用ヘツド３を
それぞれ取付け１つのキヤリツジ５に両方のヘツ
ドを取付けることにより、全く同一の効果を得ら
れる。
発明の効果
以上の説明から明らかな如く、本発明によれ
ば、キヤリツジ・駆動モータから成る一式の走査
機構により、バニツシング用ヘツドとチエツク用
ヘツドを走査できるので、バニツシング用ヘツド
の走査機構およびバニツシング用ヘツドとチエツ
ク用ヘツド間の複雑なシーケンス制御とすること
なしに簡単に、磁気デイスク媒体の同一位置をバ
ニツシングしながらチエツクできる。
ば、キヤリツジ・駆動モータから成る一式の走査
機構により、バニツシング用ヘツドとチエツク用
ヘツドを走査できるので、バニツシング用ヘツド
の走査機構およびバニツシング用ヘツドとチエツ
ク用ヘツド間の複雑なシーケンス制御とすること
なしに簡単に、磁気デイスク媒体の同一位置をバ
ニツシングしながらチエツクできる。
また同一ガイドアームにバニツシング用ヘツド
とチエツクヘツドが近接して取付けてあり、バニ
ツシング直後にチエツクすることができるので、
周囲の塵埃等が磁気デイスク媒体に付着して、突
出物となりチエツクの妨げとなる確率が小さくな
るという効果がある。
とチエツクヘツドが近接して取付けてあり、バニ
ツシング直後にチエツクすることができるので、
周囲の塵埃等が磁気デイスク媒体に付着して、突
出物となりチエツクの妨げとなる確率が小さくな
るという効果がある。
第１図はバニツシング、チエツク兼用ヘツドの
平面図、第２図、第３図はそれぞれ記録媒体と走
査機構との関係を示す平面図および側面図であ
る。 １……ガイドアーム、２，２′……バニツシン
グ用ヘツド、３，３′……チエツク用ヘツド、４
……磁気デイスク媒体、５……キヤリツジ、６…
…駆動モータ。
平面図、第２図、第３図はそれぞれ記録媒体と走
査機構との関係を示す平面図および側面図であ
る。 １……ガイドアーム、２，２′……バニツシン
グ用ヘツド、３，３′……チエツク用ヘツド、４
……磁気デイスク媒体、５……キヤリツジ、６…
…駆動モータ。
Claims (1)
- １ バニツシングヘツドにより媒体表面の突起物
や付着物等の突出物を除去し、次いで検査ヘツド
により所定高さ以上の突出物があるかどうかをチ
エツクする記録媒体の検査方法において、バニツ
シングヘツドと該バニツシングヘツドよりも幅が
狭くかつバニツシングヘツドよりも記録媒体から
の浮上量が大きい検査ヘツドとを前記記録媒体の
同一トラツクに位置するように保持し、これらの
ヘツドを前記記録媒体の異なるトラツク位置に移
動させる走査機構を用意し、前記記録媒体を回転
せしめ、前記走査機構により前記バニツシングヘ
ツドと検査ヘツドを前記記録媒体の半径方向に移
動せしめることにより、突出物のバニツシングと
所定高さ以上の突出物の有無のチエツクを行い、
前記検査ヘツドにより所定高さ以上の突出物が検
出されたとき前記バニツシングヘツドおよび検査
ヘツドを当該トラツクの前後数トラツクを所定回
数往復移動せしめて追いバニツシユを行つた後、
所定高さ以上の突出物の有無を検査することを特
徴とする記録媒体の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4077982A JPS58159241A (ja) | 1982-03-17 | 1982-03-17 | 記録媒体の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4077982A JPS58159241A (ja) | 1982-03-17 | 1982-03-17 | 記録媒体の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58159241A JPS58159241A (ja) | 1983-09-21 |
| JPH0248980B2 true JPH0248980B2 (ja) | 1990-10-26 |
Family
ID=12590107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4077982A Granted JPS58159241A (ja) | 1982-03-17 | 1982-03-17 | 記録媒体の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58159241A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61271622A (ja) * | 1985-05-28 | 1986-12-01 | Hitachi Ltd | パニツシユ加工用残渣除去機構 |
| JPH067478Y2 (ja) * | 1988-06-06 | 1994-02-23 | セイコー精機株式会社 | ディスク検査装置のディスククランプ構造 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58113869A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-06 | Fujitsu Ltd | 磁気記録媒体の検査装置 |
-
1982
- 1982-03-17 JP JP4077982A patent/JPS58159241A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58159241A (ja) | 1983-09-21 |
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