JPH0249148A - 壜の胴部検査方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は壜の胴部の欠陥を検出する檀の胴部検査方法及
び装置に関する。

［従来の技術］ 酒類、清涼飲料、食品等を充填するガラス場は製置装置
により作られた新しい壜でも回収して再使用する回収場
でも、欠陥が存在するか否かを検査する必要がある。壜
の検査は壜の各部、壜胴、壜底、口部、ねじ口部を検査
することになる。このうち壜の胴部の欠陥には異物よご
れなど食品衛生上の問題となるものと、ビリ（ｃｈｅｃ
ｋｓ）　、クラック（ｃｒａｃｋｓ）　、（！Ａ　（ｓ
ｃｒａｃｈｅｓ）　、小泡（ｓｅｅｄｓ　）、大泡（ｂ
ｌｉｓｔｅｒｓ）等の破損事故につながるおそれのある
欠陥があるなめ、これら欠陥壜を正確に検出して排除す
る必要かある。このため透明又は半透明の壜の透過映像
をみて、その濃淡から欠陥を検出する方法が提案されて
いる。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、単に壜の胴部の透過映像の濃淡をみるだ
けでは、異物の付着や汚れ等の遮光性欠陥に比べて小泡
（ｓｅｅｄｓ）　、大泡（ｂｌｉｓｔｅｒｓ）　、ずじ
（ｓｔｒｅａｋｓ　）　、Ｌわ（ｒｕｌｐｌｅｓ　）等
の屈折性欠陥を検出することが困難であるという問題が
あった。

本発明の目的は、壜の胴部における遮光性欠陥とともに
屈折性欠陥をも精度よく検出することができる壜の胴部
検査方法及び装置を提供することである。

［課題を解決するための手段コ 上記目的は、縞模様を形成するようにその胴部を照明し
、前記壜の胴部の透過映像を光電変換し、光電変換され
た透過映像を前記縞模様の縞方向に対して斜め方向に走
査し、この走査線上の近接する少なくとも３点の明るさ
を比軸し、前記少なくとも３点の内側に位置する注目点
の明るさが両側の周辺点の明るさに対して所定値以上異
なる場合に前記注目点を欠陥点として検出し、検出され
た欠陥点に基づいて前記壜の胴部の欠陥の有無を判定す
ることを特徴とする壜の胴部検査方法によって達成され
る。

また、上記目的は、縞模様を形成するようにその胴部を
照明する照明手段と、前記照明手段により照明された前
記壜の胴部の透過映像を光電変換する光な変換手段と、
前記光電変換手段により光電変換された透過映像を前記
縞模様を横切る方向に走査し、この走査線上の近接する
少なくとも３点の明るさを比較し、前記少なくとも３点
の内側の位置する注目点の明るさが両側の周辺点の明る
さに対して所定値以上異なる場合に前記注目点を欠陥点
とする欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段により検出さ
れた欠陥点に基づいて前記壜の胴部の欠陥の有無を判定
する判定手段とを備えたことを特徴とする壜の胴部検査
装置によって達成される。

［作用コ 本発明による壜の胴部検査方法及び装置は、縞模様を照
明するようにして、壜の胴部の透過映像の所定の走査線
上の近接する少なくとも３点の明るさを比較し、内側に
位置する注目点の明るさが両側の周辺点の明るさに対し
て所定値以上異なる場合に注目点を欠陥点として検出し
、この欠陥点に基づいて壜の胴部の欠陥の有無を判定す
る。

［実施例］ 本発明の第１の実施例による壜の胴部検査装置を第１図
に示す。本実施例では検査される場１２は回転台１４上
で回転させられる。壜１２は光源１０により照明される
。光源１０の前面には、照明を拡散させる拡散板１０ａ
と拡散光を斜方向の縞模様にする第２図に示すような斜
スリット板１０ｂが設けられている。壜１２には斜スリ
ット板１０ｂを透過した斜方向の縞模様の光が当たる。

壜１２の透過映像は二次元光電変換装！１６に入射され
、場１２の回転中に所定数の画像が光電変換される。壜
１２の透過映像は第３図に示すように壜１２の端の部分
で少し歪んだ縞模様の像になる。

壜１２に遮光性欠陥Ｆａがあると、第４図（ａ）に示す
ように縞模様の明部で暗い点となる。これは、遮光性欠
陥Ｆａにより光が遮られるからである。なお、遮光性欠
陥Ｆａｌ）’縞模様の暗部に位置しているときには遮光
性欠陥Ｆｂ＃Ｊ暗い点として現れるため、縞模様の暗部
と区別できない。しかし、場１２の回転に伴い遮光性欠
陥Ｆｂも回転して必ず縞模様の明部に位置することにな
る。したかって、縞模様の暗部で検出できなかった遮光
性欠陥Ｆｂも、縞模様の明部に位置するときに検出しう
る。

壜１２に屈折性欠陥Ｆｂがあると、縞模様の明部では第
４図（ｂ）に示すように暗い点となり、縞模様の暗部で
は第４図（Ｃ）に示すように明るい点となる。これは、
屈折性欠陥Ｆｂにより縞模様が歪められるからである。

なお、屈折性欠陥Ｆｂの面積が大きいと第４図（ｂ）に
示すように真中が反転する場合がある。

壜１２に「すじ」や「しわ」のような細長い屈折性欠陥
Ｆｃがあると、第４図（ｄ）に示すように、縞模様の明
部では暗いすしとして、暗部では明るいすしとして現れ
る。

Ａ／Ｄ変換器１８は二次元光電変換装置１６からのアナ
ログ映像信号を所定ビット数のディジタル映像信号に変
換する。このディジタル映像信号は検査領域検査ゲート
設定回路２０とモニタ表示用ＲＡＭ回路２２と欠陥検出
回路２４に出力される。

検査領域検査ゲート設定回路２０は、第５図に示すよう
な透過映像から後述する欠陥検出回路２４で欠陥を検出
する検査領域を定めるための回路である。壜１２の画像
の上下端のエツジから検査領域と５つの検査ゲート１．
２．３．４．５に定める。検査領域検査ゲート設定回路
２０からは検査ゲート信号がモニタ表示用ＲＡＭ回路２
２、欠陥検出回路２４、マスク処理回路２６、判定回路
２８に出力される。なお、場１２の像の外縁がはっきり
しない場合には、検査領域検査ゲート設定回路２０によ
り、検査領域、及び検査ゲート１．２．３．４．５を予
め定めておいてもよい。

欠陥検出回路２４は、Ａ／Ｄ変換回路１８からのディジ
タル映像信号に基づいて、縞模様の縦方向に対して斜方
向、例えば場１２の縦方向、すなわち、回転軸方向の走
査線上の複数の点の明るさを比較することにより欠陥の
検出を行う。

本実施例の欠陥検出方式では、注目点Ａと注目点Ａから
所定距ＨＭれな周辺点Ｂ、Ｃの明るさを比較して注目点
Ａが欠陥点であるか否かを検出する。各点Ａ、Ｂ、Ｃの
明るさをＱ＾、ＱＢ　、　ＱＣとして、次式が共に成立
すれば欠陥ありとする。

ＱＡ−ＱＢＩ≧（定数Ａ） ＱＡ−ＱＣＩ≧（定数式） 定数Ａは壜の種類等に基づいて予め決めておく。

すなわち、この欠陥検出方式では、注目点への明るさが
周辺点Ｂに比べても周辺点Ｃに比べても一定値以上明る
さが異なる（明るい又は暗い）場合に欠陥とする。この
欠陥検出方式によれば縞模様の縁を誤って欠陥と検出す
ることなく、遮光性欠陥Ｆａ及び透光性欠陥Ｆｂを確実
に欠陥点として検出できる。

第６図に示すように３点Ａ１、Ｂ１、Ｃ１が縞模様の暗
部内にある場合、これら点ＡＩ　、Ｂ１、Ｃ１の明るさ
をＱＡ１、ＱＢｌ、ＱＣｌとすると、ＱＡｌ−ＱＢ１＝
Ｏ ＱＡ１−ＱＣ１＝０ となり、当然のことながら点Ａ１は欠陥点として検出さ
れない。また、３点Ａ２　、Ｂ２　、Ｃ２が縞模様の暗
部と明部にまたがっている場合、これら点Ａ２　、Ｂ２
　、Ｃ２の明るさをＱＡ２、ＱＢ２、ＱＣ２とすると、 Ｑ　Ａ２−　Ｑ　Ｂ２＞　Ａ となるが、 ＱＡ２−ＱＣ２＝０ となり、点Ａ２は欠陥点として検出されない。さらに、
３点Ａ３、Ｂ３、Ｃ３が縞模様の明部と暗部にまたがっ
ている場合も、これら点Ａ３　、Ｂ３、Ｃ３の明るさを
ＱＡ３、ＱＢ３、ＱＣ３とすると、Ｑ　Ａ３−　Ｑ　Ｃ
３＞　Ａ となるが、 Ｑ　Ａ３−　Ｑ　Ｂ３＝　０ となり、点Ａ３は欠陥点として検出されない。

しかしながら、第６図に示すように例えば縞模様の明部
中に欠陥があり暗くなっていて、そこに注目点Ａ４が位
置する場合、３点Ａ４　、Ｂ４　、Ｃ４の明るさをＱＡ
４、ＱＢ４、ＱＣ４とすると、ＱＡ４−ＱＢ４＜　−Ａ となり、しかも、 ＱＡ４−ＱＣ４＜−Ａ となり、点Ａ４が欠陥点として検出される。

欠陥検出回路２４の具体例を第７図に示す、シフトレジ
スタ５１．５２には、ディジタル映像信号が順次入力さ
れて出力される。３点間の距離をどの位にするかは、シ
フ１へレジスタ５１．５２のシフト幅により定まる。こ
のシフト幅はシフト幅設定部５３により定められる。こ
の具体例では２つのシフトレジスタ５１．５２のシフト
幅は同じシフト幅に設定される。

演算回路５５はシフトレジスタ５１の出力映像信号ＱＡ
と入力映像信号ＱＢの差の絶対値を演算する。演算され
た絶対値は比較回路５６により感度設定部５４に設定さ
れた感度（定数Ａ）と比較され、差の絶対値が定数Ａよ
り大きい場合に検出信号を出力する。

演算回路５７はシフトレジスタ５２の出力映像信号ＱＣ
と入力映像信号Ｑ＾の差の絶対値を演算する。演算され
た絶対値は比較回路５８により感度設定部５４に設定さ
れた感度（定数Ａ）と比較され、差の絶対値が定数Ａよ
り大きい場合に検出信号を出力する。比較回路５６の出
力信号と比較回路５８の出力信号はＡＮＤゲート５９に
入力され、両出力信号が共に欠陥を示す信号である場合
にＡ　Ｎ　Ｄゲート５９は欠陥検出信号を出力する。

欠陥検出回路２４による欠陥検出の具体例を第８図乃至
第１０図に示す。

第８図は、遮光性欠陥Ｆａにより縞＋！Ａ様の明部で暗
い点が現れた場合である。同図（ａ）に示す走査線ＳＬ
に沿った映像信号の明るさは同図ｆｂ）のようになる。

これに上述の方式により欠陥検出を行うと同図（Ｃ）の
ようになり、遮光性欠陥Ｆａが正しく検出できる。

第９図は、透光性欠陥Ｆｂにより縞模様の明部で中心か
明るい暗い領域が現れた場合である。同図（ａ）に示す
走査線ＳＬに治った映像信号の明るさは同図（ｂ）のよ
うになる。これに上述の方式により欠陥検出を行うと同
図（Ｃ）のようになり、透光性欠陥Ｆｂが正しく検出で
きる。

第１０図は、透光性欠陥Ｆｂにより縞模様の暗部で明る
い点が現れた場合である。同図（ａ）に示す走査線ＳＬ
に沿った映像信号の明るさは同図（ｂ）のようになる。

これに上述の方式により欠陥検出を行うと同図ｆｃ）の
ようになり、透光性欠陥Ｆｂが正しく検出できる。

欠陥検出回路２４から出力される欠陥検出信号はマスク
処理回路２６によりマスク処理される。

欠陥検出回路２４で欠陥の検出ミスを防止するため感度
を上げると、欠陥でない部分をも欠陥点であると誤って
検出してしまうことがある。マスク処理はかかる欠陥検
出信号を除くために行なう処理である。マスク処理には
種々の方式があるが、本実施例では連続マスク処理と集
合マスク処理を組合わせて行っている。

実際の欠陥箇所ではその大きさに応じた欠陥検出信号が
連続して現れるのに対し、その池の欠陥でない部分では
欠陥検出信号が離散的に現れる。

そこで連続マスク処理では孤立した欠陥検出信号やある
設定値以下しか連続しない欠陥検出信号は、実際には欠
陥ではないとして削除する。

集合マスク処理は、小泡（ｓｅｅｄｓ）　、大泡（ｂｌ
ｉｓｔｅｒｓ）　、すじ（ｓｔｒｅａｋｓ　）　、Ｌわ
（ｒｕｍｐｌｅｓ　）等の欠陥を検出するため感度を上
げた場合に生ずるノイズを除去するために行われる。集
合マスク処理は、注目画素を中心として例えば矩形の処
理領域を設定し、処理領域中の欠陥画素の数を加算し、
欠陥画素総数が所定の設定値を越えたか否かにより集合
マスク処理信号を出力する。したがって、欠陥画素が集
中している所だけに集合マスク信号が生成され、８敗的
に現われるノイズは除去されることになる。

なお、マスク処理回路２６において、連続マスク処理又
は集合マスク処理を単独で行うようにしてもよい。

判定回路２８は、マスク処理回路２６によりマスク処理
された欠陥検出信号に基づいて欠陥の有無を判定する０
例えば、欠陥検出信号の総数が所定の設定値を越えた場
合に欠陥場であると判定する。この判定信号は壜１２の
搬送系（図示せず）に送出され、搬送系はその判定結果
に応じて、例えば欠陥壜を排除するようにする。

基準信号発生回路３０は場位置検出器３２がらの壜位置
信号に基づいて、検査期間信号を生成して出力する。検
査期間信号は検査期間を指示するための信号で、判定回
路２８に出力される０判定回路２８は検査期間信号がハ
イレベルの期間中に入力する欠陥検出信号だけを有効と
して、壜１２が欠陥場であるか否かを判断する。なお、
この検査期間信号を検査領域検査ゲート設定回路２０、
欠陥検出回路２４又はマスク処理回路２６に出力し、検
査期間信号がハイレベルの期間中に入力する信号だけを
有効とするようにしてもよい。

モニタ表示用ＲＡＭ回路２２は内蔵するフレームメモリ
に場１２のデジタル映像信号を記憶してモニタ３６に表
示する。モニタ表示用ＲＡＭ回路２２にはマスク処理回
路２６から欠陥検出信号と判定回路２８からの判定結果
信号と検査領域検査ゲート設定回路２０からの検査ゲー
ト信号が入力されている。欠陥検出信号に基づいて欠陥
点をモニタ表示用ＲＡＭ回路２２に書込む。また検査ゲ
ート信号に基づいてモニタ３６上に検査ゲートを表示す
る。

なお、モニタ表示用ＲＡＭ回路２２に２つのフレームを
設け、これら２つのフレームメモリを交互に用いて、今
回光電変換したディジタル映像信号と前回光電変換した
ディジタル映像信号とを記憶するようにしてもよい。

このように本実施例によれば斜スリット板による縞模様
の照明を場に照射して検査しているので、遮光性欠陥の
みならず屈折性欠陥も感度よく検出することができる。

本発明の第２の実施例による壜の胴部検査装置の欠陥検
出方式を第１１図を用いて説明する。

本実施例の欠陥検出方式は、色むら等により透過映像の
明るさが不均一の場合に有効である。

第１の実施例と同じ点は、３点として、注目点Ａと、注
目点Ａから所定圧Ｍｕれな周辺点Ｂ、Ｃとを選択し、こ
れらの点Ａ、Ｂ、Ｃの明るさを比較して注目点Ａが欠陥
点であるか否かを検出する点である。

第１の実施例と異なる点は、第１の実施例では各点Ａ、
Ｂ、Ｃの明るさＱＡ　、ＱＢ　、　ＱＣノ差の絶対値の
みにより欠陥が否が判断しているのに対し、本実施例で
は注目点Ａが周辺点Ｂ、Ｃに対して暗いか明るいかの情
報も用いている点である。

本実施例では、注目点Ａの明るさＱＡが周辺点Ｂ、Ｃの
明るさＱＢ、ＱＣに比較して共に明るいか暗いかの場合
のみ欠陥点とする。注目点Ａの明るさＱＡが周辺点Ｂに
対しては明るいが、周辺点Ｃに対しては暗い場合、差の
絶対値が共に定数Ａ以上あっても欠陥点とはしない。

すなわち、次式が成立する場合 ＱＡ−ＱＢ≧（定数Ａ） ＱＡ−ＱＣ≧（定数Ａ） 及び、次式が成立する場合に注目点Ａを欠陥とする。

ＱＡ　−ＱＢ　＜−（定数Ａ） ＱＡ　−ＱＣ＜−（定数Ａ） 次式が成立する場合 ＱＡ−ＱＢ≧（定数Ａ） ＱＡ　−ＱＣ＜−（定数Ａ） 及び、次式が成立する場合は注目点Ａを欠陥としない。

ＱＡ−ＱＢ　＜−（定数Ａ） ＱＡ−ＱＣ≧（定数Ａ） このようにすれば、第１１図に示すように明るさか不均
一である場合にも欠陥点を正しく判断できる。すなわち
、注目点Ａ２の明るさＱＡに対して周辺点Ｂ２、Ｃ２の
明るさＱＢ　、ＱＣの差の絶対値が定数Ａを越えても、
注目点Ａが周辺点Ｂに対しては明るいが、周辺点Ｃに対
しては暗いので、注目点Ａ２は欠陥点ではないと正しく
判断される。

本実施例の欠陥検出回路２４の具体例を第１２図に示す
。第７図と同一の構成要素には同一の符号を付し説明を
省略する。

シフトレジスタ５１の出力映像信号ＱＡと入力映像信号
ＱＢは比較部６１により比較され、差の絶対値が感度設
定回路５４の設定値Ｓより大きいか否か及び出力映像信
号ＱＡが入力映像信号ＱＢより明るいか否かが検出され
る。出力映像信号ＱＡが入力映像信号ＱＢより設定ｇＭ
Ｓ以上明るければ、出力信号Ｇカ月ルベルとなり、出力
映像信号Ｑ＾が入力映像信号ＱＢより設定値Ｓ以上暗け
れば、出力信号ＧがＬレベルとなる。

比較部６１の詳細を第１３図に示す。演算回路１０１は
映像信号ＱＡ　、ＱＢの差の絶対値を演算する。この演
算結果は比較回路１０２により入力された設定値Ｓを比
較される。また、比較回路１０３は映＠信号ＱＡ　、Ｑ
Ｂを比較し、どちらが明るいかを判定する。ＡＮＤゲー
ト１０４には比較回路１０２の出力信号と比較回路１０
３の出力信号の論理積をとり信号Ｇとして出力する。出
力信号ＧがＨレベルになるのは、比較回路１０２により
差の絶対値が設定値Ｓより大きく、かつ映像信号ＱＡが
ＱＢに比べて明るい場合である。ＡＮＤゲート１０５に
は比較回路１０２の出力信号と比較回路１０３の出力信
号の反転信号の論理積をとり信号りとして出力する。出
力信号りがＨレベルになるのは、比較回路１０２により
差の絶対値が設定値Ｓより大きく、かつ映像信号ＱＡが
ＱＢに比べて暗い場合である。

本発明の第３の実施例による壜の胴部検査装置の欠陥検
出方式を第１４図を用いて説明する。

上記第１及び第２の実施例では注目点Ａに対して１点ず
つの周辺点Ｂ、Ｃにより欠陥か否か判定していたが、本
実施例では第１４図に示すように注目点Ａに対し、一方
の側に２点の周辺点Ｉ３．Ｄを配し、他方の側に２点の
周辺点Ｃ，Ｅを配している６ 本実施例の欠陥検出方式は基本的な考え方は第１の実施
例の欠陥検出方式と同じである。注目点Ａと周辺点Ｂ、
Ｄとを比較し、注目点Ａと周辺点Ｃ，Ｅとを比較する。

注目点Ａの明るさが周辺点Ｂ又はＤのいずれかの明るさ
に比べて一定値以上異なり、かつ、注目点Ａの明るさが
周辺点Ｃ又はＥのいずれかの明るさに比べて一定値以上
異なる場合に、注目点Ａを欠陥とする。

すなわち、各点Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｅの明るさをＱＡ　、
ＱＢ　、ＱＣ、ＱＤ　、ＱＥとして、次式が共に成立す
れば欠陥あつとする。

ＱＡ−（ＱＢ又はＱＯ）１≧（定数Ａ）ＱＡ　−（ＱＣ
又はＱＥ）ｌ≧（定数Ａ）本実施例の欠陥検出方式によ
れば、欠陥の大きさがたまたま注目点とある周辺点との
距離に一致したために欠陥として検出されなくとも、他
の周辺点により欠陥を検出することか可能となる。

本実施例の欠陥検出回路２４の具体例を第１５図に示す
。

映像信号は４つのシフトレジスタ７１〜７４に順次入力
される。各シフトレジスタ７１．７２．７３．７４には
、それ、ぞれ演算回路７５．７６．７７．７８と比較回
路７９．８０．８１．８２が設けられ、注目点Ａと各周
辺点Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｅの明るさの差の絶対値か感度設定回
路５４の設定値より大きいか否かが判断される。比較回
路７９と８０の出力はＯＲゲート８３により論理和がと
られ、比較回路８１と８２の出力はＯＲゲート８４によ
り論理和かとられ、これらＯＲゲート８３．８４の出力
はＡＮＤゲート８５により論理積がとられる。

本実施例の欠陥検出方式の基本的な考え方を第２の実施
例の欠陥検出方式と同じにしてもよい。

すなわち、注目点Ａの明るさＱＡが周辺点Ｂ（又はＤ）
、Ｃ（又はＥ）の明るさＱＢ　　（又はＱＤ）、ＱＣ（
又はＱＥ）に比較して共に明るいか暗いかの場合のみ欠
陥点とする。注目点Ａの明るさＱＡが周辺点Ｂ（又はＤ
）に対しては明るいが、周辺点Ｃ（又はＥ）に対しては
暗い場合、差の絶対値が共に定数Ａ以上あっても欠陥点
とはしない。

すなわち、次式が成立する場合 ＱＡ　−（ＱＢ又はＱＤ）≧（定数Ａ）ＱＡ−（ＱＣ又
はＱＥ）≧（定数Ａ） 及び、次式が成立する場合に注目点Ａを欠陥とする。

ＱＡ−（ＱＢ又はＱＤ）＜−（定数Ａ）ＱＡ−（ＱＣ又
はＱＥ）＜−（定数Ａ）このようにすることにより、第
１１図に示すように明るさが不均一である場合にも欠陥
点を正しく判断することができる。

この欠陥検出方式による欠陥検出回路２４の具体例を第
１６図に示す。

各シフミーレジスタ７１．７２．７３．７４には、それ
ぞれ第１３図の比較部８６．８７．８８．８９が設けら
れ、注目点Ａが各周辺点Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｅに比べて感度設
定回１ｓ５４の設定値以上明るいか暗いかが判断される
。比較部８６〜８つの出力信号ＧはＡＮＤゲート９１〜
９４により論理積がとられる。ＡＮＤゲート９１では比
較部８７と８９の出力信号Ｇの論理積がとられ、Ａ　Ｎ
　Ｄゲート９２では比較部８７と８８の出力信号Ｇの論
理積かとられ、ＡＮＤゲート９３では比較部８６と８９
の出力信号Ｇの論理積がとられ、ＡＮＤゲート９４では
比較部８６と８８の出力信号Ｇの論理積がとられる。比
較部８６〜８９の出力信号りはＡＮＤゲート９５〜９８
により論理積がとられる。

ＡＮＤゲート９５では比較部８７と８９の出力信号りの
論理積がとられ、ＡＮＤゲート９６では比較部８７と８
８の出力信号りの論理積がとられ、ＡＮＤゲート９７で
は比較部８６と８９の出力信号りの論理積がとられ、Ａ
ＮＤゲート９８では比較部８６と８８の出力信号りの論
理積がとられる。

ＡＮＤゲート９１〜９４と９５〜９８の出力はＯＲゲー
ト９９により論理和がとられ、欠陥検出信号として出力
される。

本発明の第４の実施例による壜の胴部検査装置の欠陥検
出方式を第１４図を用いて説明する。

上記第１及び第２の実施例では注目点Ａに対して１点ず
つの周辺点Ｂ、Ｃにより欠陥か否か判定していたが、本
実施例では第１７図に示すように注目点Ａに対し両側に
それぞれ多数（実施例では８個）の周辺点８１〜Ｂ８及
び周辺点Ｃ１〜Ｃ８を配している６本実施例は、上記第
１及び第２の実施例において１点である周辺点Ｂ、Ｃを
８個ずつの周辺点８１〜Ｂ８．０１〜Ｃ８に広がりをも
たせたものである。

なお、周辺点Ｂ８から周辺点Ｃ８の距離は縞模様のスト
ライプの幅より短いことが望ましい。

本実施例の欠陥検出方式の基本的な考え方は第１の実施
例の欠陥検出方式と同じである。注目点Ａの明るさＱＡ
と周辺点８１〜Ｂ８の明るさＱＢ１〜ＱＢ８とをそれぞ
れ比較し、注目点Ａの明るさＱ八と周辺点０１〜Ｃ８の
明るさＱＣＩ〜ＱＣ８とをそれぞれ比較する。注目点Ａ
の明るさＱＡが周辺点８１〜Ｂ８のいずれかの明るさＱ
Ｂ１〜ＱＢ８に比べて一定値以上異なり、かつ、注目点
Ａの明るさＱＡが周辺点Ｃ１〜Ｃ８のいずれかの明るさ
ＱＣＩ〜ＱＣ８に比べて一定値以上異なる場合に、注目
点Ａを欠陥とする。

本実施例の欠陥検出回路２４の具体例を第１８図に示す
。

映像信号は７つのＤフリップフロップ１０１〜１０７、
シフトレジスタ５１．５２．７つのＤフリラグフロップ
１１１〜１１フに順次入力される。

演算回路１２１は注目点Ａの明るさＱＡと各周辺点８１
〜Ｂ８のそれぞれの明るさＱＢ１〜ＱＢ８の差の絶対値
を演算する。比較回路１２２は、？ｉ！Ｊ算回路１２１
による各差の絶対値がそれぞれ感度設定回路５４の設定
値より大きいか否か判断する。演算回路１２４は注目点
Ａの明るさＱＡと各周辺点０１〜Ｃ８のそれぞれの明る
さＱＣＩ〜ＱＣ８の差の絶対値を演算する。比較回路１
２３は、演算回路１２４による各差の絶対値がそれぞれ
感度設定回路５４の設定値より大きいか否か判断する。

比較回路１２２と１２３の出力はＡＮＤゲート５９によ
り論理積がとられる。

本実施例の欠陥検出方式の基本的な考え方を第２の実施
例の欠陥検出方式と同じにしてもよい。

すなわち、注目点Ａの明るさＱＡが周辺点８１〜Ｂ８の
明るさＱＢ１〜ＱＢ８、周辺点０１〜Ｃ８の明るさＱＣ
１〜ＱＣ８に比較して共に明るいか暗いかの場合のみ欠
陥点とする。注目点Ａが周辺点８１〜Ｂ８に対しては明
るいが、周辺点Ｃ１〜Ｃ８に対しては暗い場合、差の絶
対値が共に定数Ａ以上あっても欠陥点とはしない。

このようにすることにより、第１１図に示すように明る
さが不均一である場合にも欠陥点を正しく判断すること
ができる。

この欠陥検出方式による欠陥検出回路２４の具体例を第
１９図に示す。

各シフトレジスタ５１．５２には、それぞれ比較部１３
１．１３２が設けられ、注目点Ａが各周辺点Ｂ１〜Ｂ８
．０１〜Ｃ８に比べて感度設定回路５４の設定値以上間
るいか暗いかが判断される。

比較部１３１．１３２の出力信号ＧはＯＲゲート１３３
．１３４で論理和がとられた後、ＡＮＤゲート６３によ
り論理積がとられる。比較部１３１．１３２の出力信号
りはＯＲゲート１３５．１３６で論理和がとられた後、
ＡＮＤゲート６４により論理積がとられる。ＡＮＤゲー
ト６３．６４の力はＯＲゲート６５により論理和がとら
れ、欠陥検出信号として出力される。

本発明は上記実施例に限らず種々の変形が可能である。

本発明では注目点に対する周辺点は２点以上幾つでもよ
い。また、注目点と周辺点との距離、及び周辺点間の距
離は任意に設定してもよい。さらに、注目点の両側に同
数の周辺点がある必要はなく、異なる数の周辺点を配置
してもよい。

また、上記実施例では固定位置で回転する壜１２を検査
したが、回転しながら連続して移動する壜１２に対して
も振動レンズや振動ミラーを設けることにより検査が可
能である。

さらに、上記実施例で２点の明るさの相違を検出するの
に差を演算したが、演算回路で割算を行って比を求め、
その比を所定の設定値と比較してもよい。

また、上記実施例では直線状の縞模様であったが、直線
ではなく曲線状の縞模様でも良い。

さらに、上記実施例では縞模様が壜の回転軸に対して斜
めであったが、回転軸に対して垂直であってもよい。こ
の場合は、明暗をずらした２つの縞模様によりひとつの
場を２回検査する。

また、上記実施例では拡散板と斜スリットを別部材とし
たが、拡散板に斜め縞模様を一体的に形成したものでも
よい。

さらに、壜は透明又は半透明のカラス壜でもプラスチッ
ク壜でもよく、さらにガラス容器の側面やガラス板の検
査にも本発明を適用することができる。

［発明の効果コ 以上の通り、本発明によれば壜の胴部の遮光性欠陥だけ
でなく屈折性欠陥をＩＪ精度よく検出することがかでき
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例による壜の胴部検査装置
のブロック図、 第２図は第１の実施例による壜の胴部検査装置で用いら
れる斜スリット板を示す図、 第３図は第１の実施例による壜の胴部検査装置の透過影
像の全体を示す図、 第４図は第１の実施例による壜の胴部検査装置の欠陥部
分の透過映像を示す図、 第５図は第１の実施例による壜の胴部検査装置における
検査領域と検査ゲートを示す図、第６図は第１の実施例
による壜の胴部検査装置における欠陥検出方式の説明図
、 第７図は第６図に示す欠陥検出方式を実現する欠陥検出
回路の具体例を示すブロック図、第８図乃至第１０図は
、それぞれ第６図に示す欠陥検出方式の検出例の説明図
、 第１１図は本発明の第２の実施例による壜の胴部検査装
置の欠陥検出方式の説明図、 第１２図、第１３図は第２の実施例による壜の胴部検査
装置の欠陥検出回路の具体例を示すブロック図、 第１４図は本発明の第３の実施例による壜の胴部検査装
置の欠陥検出方式の説明図、 第１５図、第１６図は第３の実施例による壜の胴部検査
装置の欠陥検出回路の具体例を示すブロック図、 第１７図は本発明の第４の実施例による壜の胴部検査装
置の欠陥検出方式の説明図、 第１８図、第１９図は第４の実施例による壜の胴部検査
装置の欠陥検出回路の具体例を示すブロック図である。 １０・・・拡散光源、１０ａ・・・拡散板、１０ｂ・・
・斜スリット板、１２・・・壜、１４・・・回転台、１
６・・・二次元光電変換装置、工８・・・Ａ／Ｄ変換回
路、２０１．６検査領域検査ゲ一ト設定回路、２２・・
・モニタ表示用ＲＡＭ回路、２４・・・欠陥検出回路、
２６・・・マスク処理回路、２８・・・判定回路、３０
・・・基準信号発生回路、３２・・・場位置検出器、３
６・・・モニタ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、縞模様を形成するようにその胴部を照明し、 前記壜の胴部の透過映像を光電変換も、 光電変換された透過映像を前記縞模様の縞方向に対して
   斜め方向に走査し、 この走査線上の近接する少なくとも３点の明るさを比較
   し、 前記少なくとも３点の内側に位置する注目点の明るさが
   両側の周辺点の明るさに対して所定値以上異なる場合に
   前記注目点を欠陥点として検出し、検出された欠陥点に
   基づいて前記壜の胴部の欠陥の有無を判定する ことを特徴とする壜の胴部検査方法。 ２、請求項１記載の方法において、 前記縞模様は壜の回転軸に対して斜め方向であることを
   特徴とする壜の胴部検査方法。 ３、請求項１又は２記載の方法において、 前記注目点の明るさが前記周辺点の明るさに対して所定
   値以上異なり、かつ前記注目点が前期周辺点に対して共
   に明るいか暗いかである場合に前記注目点を欠陥点とす
   ることを特徴とする壜の胴部検査方法。 ４、請求項１乃至３のいずれかに記載の方法において、 前記周辺点が前記注目点の両側にそれぞれ複数点ずつ設
   けられ、 前記注目点が前記複数の周辺点のいずれかに対して欠陥
   点であれば前記注目点を欠陥点とすることを特徴とする
   壜の胴部検査方法。 ５、縞模様を形成するようにその胴部を照明する照明手
   段と、 前記照明手段により照明された前記壜の胴部の透過映像
   を光電変換する光電変換手段と、 前記光電変換手段により光電変換された透過映像を前記
   縞模様を横切る方向に走査し、この走査線上の近接する
   少なくとも３点の明るさを比較し、前記少なくとも３点
   の内側の位置する注目点の明るさが両側の周辺点の明る
   さに対して所定値以上異なる場合に前記注目点を欠陥点
   とする欠陥検出手段と、 前記欠陥検出手段により検出された欠陥点に基づいて前
   記壜の胴部の欠陥の有無を判定する判定手段と を備えたことを特徴とする壜の胴部検査装置。 ６、請求項５記載の装置において、 前記照明手段により形成される縞模様は壜の回転軸に対
   して斜め方向であることを特徴とする壜の胴部検査装置
   。 ７、請求項５又は６記載の装置において、 前記欠陥検出手段は、前記注目点の明るさが前記周辺点
   の明るさに対して所定値以上異なり、かつ前記注目点が
   前期周辺点に対して共に明るいか暗いかである場合に前
   記注目点を欠陥点とすることを特徴とする壜の胴部検査
   装置。 ８、請求項５乃至７のいずれかに記載の装置において、 前記周辺点が前記注目点の両側にそれぞれ複数点ずつ設
   けられ、 前記欠陥検出手段は、前記注目点が前記複数の周辺点の
   いずれかに対して欠陥点であれば前記注目点を欠陥点と
   することを特徴とする壜の胴部検査装置。