JPH0249293A - 半導体メモリ装置 - Google Patents
半導体メモリ装置Info
- Publication number
- JPH0249293A JPH0249293A JP63200670A JP20067088A JPH0249293A JP H0249293 A JPH0249293 A JP H0249293A JP 63200670 A JP63200670 A JP 63200670A JP 20067088 A JP20067088 A JP 20067088A JP H0249293 A JPH0249293 A JP H0249293A
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- JP
- Japan
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- circuit
- output
- lines
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- circuits
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 13
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体メモリ装置に関1.、特に分割されたメ
モリセル群及びセンスアンプ部をもつ半導体メモリ装置
に関する。
モリセル群及びセンスアンプ部をもつ半導体メモリ装置
に関する。
第2図は従来の半導体メモリ装置を示すブロック図であ
る。以下の説明では特に規定されないが、上位2本の列
アドレスによりメモリセル群及びそれに連結するセンス
アンプ部を4分割する場合を例に取って説明する。
る。以下の説明では特に規定されないが、上位2本の列
アドレスによりメモリセル群及びそれに連結するセンス
アンプ部を4分割する場合を例に取って説明する。
同図において、1a〜1dはメモリセル群及びそれに連
結するセンスアンプ部、2a〜2dは上位2本の列アド
レスにより定まるブロック選択線、3a〜3dはブロッ
ク選択線2a〜2dに制御されるセンスアンプ出力選択
回路、4は出力回路、5a〜5dは読み出しバス線、6
は選択回路出力線である。
結するセンスアンプ部、2a〜2dは上位2本の列アド
レスにより定まるブロック選択線、3a〜3dはブロッ
ク選択線2a〜2dに制御されるセンスアンプ出力選択
回路、4は出力回路、5a〜5dは読み出しバス線、6
は選択回路出力線である。
次に上記構成による半導体メモリ装置の動作について説
明する。尚、以下の説明ではメモリセル群la内のメモ
リセルを選択する場合を例に取る。
明する。尚、以下の説明ではメモリセル群la内のメモ
リセルを選択する場合を例に取る。
読み出し時行アドレス及び前記上位2本の列アドレスを
除いた列アドレスによりメモリセル群la内の1つのメ
モリセルが選択される。このメモリセルの保持情報がセ
ンスアンプにより増幅されて読み出しバス線5aに伝達
される。更にブロック選択線2aにより、センスアンプ
出力選択回路3a〜3dのうちセンスアンプ出力選択回
路3aのみが活性化し、読み出しバス線5aの情報が選
択回路出力線6に伝達され、最終的に出力回路4により
読み出し動作が完了する。
除いた列アドレスによりメモリセル群la内の1つのメ
モリセルが選択される。このメモリセルの保持情報がセ
ンスアンプにより増幅されて読み出しバス線5aに伝達
される。更にブロック選択線2aにより、センスアンプ
出力選択回路3a〜3dのうちセンスアンプ出力選択回
路3aのみが活性化し、読み出しバス線5aの情報が選
択回路出力線6に伝達され、最終的に出力回路4により
読み出し動作が完了する。
上述した従来の半導体メモリ装置では、選択回路出力線
6がセンスアンプ出力選択回路3a〜3bの全ての出力
に直接接続される為、配線長が長くなり、寄生負荷容量
が大きい。
6がセンスアンプ出力選択回路3a〜3bの全ての出力
に直接接続される為、配線長が長くなり、寄生負荷容量
が大きい。
したがってこの大きな負荷容量を駆動する為に伝達時間
が遅れたり、またその充放電電流による消費電流が大き
いという欠点があった。
が遅れたり、またその充放電電流による消費電流が大き
いという欠点があった。
本発明の目的は、これらの欠点を改良するために選択回
路出力線6の寄生負荷容量を大幅に減すことにある。
路出力線6の寄生負荷容量を大幅に減すことにある。
本発明の半導体メモリ装置は、センスアンプ部の出力線
を列アドレスにより選択する第1の選択回路群の他に、
第1の選択回路群の出力線を最上位列アドレスにより選
択して出力回路に伝達スる第2の選択回路を有する。
を列アドレスにより選択する第1の選択回路群の他に、
第1の選択回路群の出力線を最上位列アドレスにより選
択して出力回路に伝達スる第2の選択回路を有する。
以下発明の詳細な内容を第1図を参照して説明する。同
図において1a〜1dはメモリセル群及びそれに連結す
るセンスアンプ部、2a〜2dは上位2本の列アドレス
により定まるブロック選択線、3a〜3dはブロック選
択線2a〜2dに制御されるセンスアンプ出力選択回路
、4は出力回路、5a〜5dは読み出しバス線、6a、
6bは選択回路出力線、7a、7bは最上位列アドレス
による切断回路選択線、8a、8bは切断回路選択線7
a、7bにより制御される出力線切断回路である。
図において1a〜1dはメモリセル群及びそれに連結す
るセンスアンプ部、2a〜2dは上位2本の列アドレス
により定まるブロック選択線、3a〜3dはブロック選
択線2a〜2dに制御されるセンスアンプ出力選択回路
、4は出力回路、5a〜5dは読み出しバス線、6a、
6bは選択回路出力線、7a、7bは最上位列アドレス
による切断回路選択線、8a、8bは切断回路選択線7
a、7bにより制御される出力線切断回路である。
本発明と従来技術との相違点は、選択回路出力線を中央
部分で出力線切断回路8a、8bにより左右2分割し、
出力回路4に接続した点である。
部分で出力線切断回路8a、8bにより左右2分割し、
出力回路4に接続した点である。
即ち、本発明に於いてもメモリセル群1aの読み出し情
報は、選択回路出力線6aに伝達され、更に、出力線切
断回路8aを切断回路選択線7aにより導通状態とすれ
ば、出力回路4に伝えられ、従来例同様の読み出し動作
を行うことは明らかである。
報は、選択回路出力線6aに伝達され、更に、出力線切
断回路8aを切断回路選択線7aにより導通状態とすれ
ば、出力回路4に伝えられ、従来例同様の読み出し動作
を行うことは明らかである。
以上説明したように本発明は、出力線切断回路8a、8
bを追加するという簡単な構成により、選択回路出力線
を2分割し、負荷容量を半減することができる。
bを追加するという簡単な構成により、選択回路出力線
を2分割し、負荷容量を半減することができる。
即ち、高速な読み出し及び低消費電力化できる効果があ
る。
る。
ンプ出力選択回路、4は出力回路、5a〜5dは読み出
しバス線、6及び6a、6bは選択回路出力線、7a〜
7bは最上位列アドレスによる切断回路選択線、8a、
8bは切断回路選択線7a。
しバス線、6及び6a、6bは選択回路出力線、7a〜
7bは最上位列アドレスによる切断回路選択線、8a、
8bは切断回路選択線7a。
7bに制御される出力線切断回路。
代理人 弁理士 内 原 晋
第1図は本発明の半導体メモリ装置のブロック図、第2
図は従来例の半導体メモリ装置のブロック図である。 1a〜1dはメモリセル群及びそれに連結するセンスア
ンプ部、2a〜2dは上位2本の列アドレスにより定ま
るブロック選択線、3a〜3dはブロック選択線2a〜
2dに制御されるセンスア葬 ! 閏 、亭 図
図は従来例の半導体メモリ装置のブロック図である。 1a〜1dはメモリセル群及びそれに連結するセンスア
ンプ部、2a〜2dは上位2本の列アドレスにより定ま
るブロック選択線、3a〜3dはブロック選択線2a〜
2dに制御されるセンスア葬 ! 閏 、亭 図
Claims (1)
- 列アドレスによって、複数に分割されたメモリセル群及
びセンスアンプ部を有する半導体メモリ装置において、
該センスアンプ部の出力線を、該列アドレスにより選択
する第1の選択回路群の他に、該第1の選択回路群の出
力線を最上位列アドレスにより選択して出力回路に伝達
する第2の選択回路を有することを特徴とした半導体メ
モリ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63200670A JPH0249293A (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 半導体メモリ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63200670A JPH0249293A (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 半導体メモリ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0249293A true JPH0249293A (ja) | 1990-02-19 |
Family
ID=16428283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63200670A Pending JPH0249293A (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 半導体メモリ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0249293A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04177697A (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-24 | Nec Corp | 半導体メモリ |
| KR100305645B1 (ko) * | 1997-06-28 | 2001-11-30 | 박종섭 | 반도체메모리소자의데이타패스장치 |
| JP2017054563A (ja) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 凸版印刷株式会社 | 半導体記憶装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57117178A (en) * | 1981-01-08 | 1982-07-21 | Nec Corp | Memory circuit |
-
1988
- 1988-08-10 JP JP63200670A patent/JPH0249293A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57117178A (en) * | 1981-01-08 | 1982-07-21 | Nec Corp | Memory circuit |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04177697A (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-24 | Nec Corp | 半導体メモリ |
| KR100305645B1 (ko) * | 1997-06-28 | 2001-11-30 | 박종섭 | 반도체메모리소자의데이타패스장치 |
| JP2017054563A (ja) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 凸版印刷株式会社 | 半導体記憶装置 |
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