JPH0249455B2 - - Google Patents
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- JPH0249455B2 JPH0249455B2 JP57014220A JP1422082A JPH0249455B2 JP H0249455 B2 JPH0249455 B2 JP H0249455B2 JP 57014220 A JP57014220 A JP 57014220A JP 1422082 A JP1422082 A JP 1422082A JP H0249455 B2 JPH0249455 B2 JP H0249455B2
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- JP
- Japan
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- particles
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- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 56
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 210000000601 blood cell Anatomy 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000003921 particle size analysis Methods 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/1031—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects
- G01N15/12—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects by observing changes in resistance or impedance across apertures when traversed by individual particles, e.g. by using the Coulter principle
- G01N15/131—Details
- G01N15/132—Circuits
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、液体に浮懸する血球などの粒子を電
気的あるいは光学的な手段により検出し、粒子の
大きさに比例した電気パルスを発生させ、パルス
の大きさに応じた粒度を測定する粒子分析装置に
関するものである。
気的あるいは光学的な手段により検出し、粒子の
大きさに比例した電気パルスを発生させ、パルス
の大きさに応じた粒度を測定する粒子分析装置に
関するものである。
従来のこの種の粒度分析装置は、多数の閾回
路、すなわちコンパレータを必要としていた。た
とえば100の区分を弁別する場合には100個のコン
パレータを必要とした。したがつてスペースを多
く必要とし、またコンパレータはアナログ信号を
パルス信号に変換するための重要な回路であり、
入力信号がほぼ一定の通常のデイジタル回路用の
電子部品よりも使用条件が苛酷であり、まれに入
力信号が規格以上のレベルとなることもある。し
たがつてそれぞれの入力のレベル検知範囲は狭い
範囲であるにも拘らず、入力信号の範囲は非常に
大きい範囲を必要とし、さらにそれらの条件を満
たす同一性能のコンパレータを多数使用するとい
つた二重の欠点を有していた。このため故障や点
検の必要性は、コンパレータ回路に集中すること
が多かつた。
路、すなわちコンパレータを必要としていた。た
とえば100の区分を弁別する場合には100個のコン
パレータを必要とした。したがつてスペースを多
く必要とし、またコンパレータはアナログ信号を
パルス信号に変換するための重要な回路であり、
入力信号がほぼ一定の通常のデイジタル回路用の
電子部品よりも使用条件が苛酷であり、まれに入
力信号が規格以上のレベルとなることもある。し
たがつてそれぞれの入力のレベル検知範囲は狭い
範囲であるにも拘らず、入力信号の範囲は非常に
大きい範囲を必要とし、さらにそれらの条件を満
たす同一性能のコンパレータを多数使用するとい
つた二重の欠点を有していた。このため故障や点
検の必要性は、コンパレータ回路に集中すること
が多かつた。
また一般の粒度分析装置においては、回路内の
処理手続を簡単にするために、従来の累積型の粒
度分布を求めずに、入力信号波形のピーク値をい
きなり検知し、それを符号化するなどの処理を行
なつているが、このために相当な処理時間を必要
とし、さらに１つの粒子信号を処理している間
は、次の粒子信号の入力を拒否するなどすべての
粒子信号についての分析が行なわれているという
保障がない欠点を有していた。また累積型の粒度
分布曲線を求めることにより、粒子検出系の異
状、たとえば検出領域を２個以上の粒子が連続し
て通過する同時通過現象が頻繁に起こり、低いレ
ベル程粒子数が少なくなり、累積型の粒度分布曲
線においては、これらの異状が一目瞭然であるに
も拘らず、通常の粒度分布曲線におけるマイナス
の粒子数は存在せず、検知が困難であつた。
処理手続を簡単にするために、従来の累積型の粒
度分布を求めずに、入力信号波形のピーク値をい
きなり検知し、それを符号化するなどの処理を行
なつているが、このために相当な処理時間を必要
とし、さらに１つの粒子信号を処理している間
は、次の粒子信号の入力を拒否するなどすべての
粒子信号についての分析が行なわれているという
保障がない欠点を有していた。また累積型の粒度
分布曲線を求めることにより、粒子検出系の異
状、たとえば検出領域を２個以上の粒子が連続し
て通過する同時通過現象が頻繁に起こり、低いレ
ベル程粒子数が少なくなり、累積型の粒度分布曲
線においては、これらの異状が一目瞭然であるに
も拘らず、通常の粒度分布曲線におけるマイナス
の粒子数は存在せず、検知が困難であつた。
本発明は上記の欠点を解消するためになされた
もので、コンパレータ（比較回路）の使用個数を
減らすとともに、累積型の粒度分布が得られる粒
子分析装置を提供せんとするものである。
もので、コンパレータ（比較回路）の使用個数を
減らすとともに、累積型の粒度分布が得られる粒
子分析装置を提供せんとするものである。
以下、本発明の構成を図面に基づいて説明す
る。第１図は本発明の装置の一実施態様を示す構
成説明図、第２図は動作の説明図である。本発明
の粒子分析装置は、粒子が浮懸する液を微細孔に
通過させ粒子と液との電気的差異または光学的差
異に基づいて粒子を検出し粒子の大きさに応じた
高さの電気信号を発生する粒子検出装置１と、こ
の粒子検出装置１に接続された大まかな区分を設
定する第１コンパレータ群２1，２2…２ｎおよび
前記区分を細分化させる第２コンパレータ群３1，
３2…３ｍと、第１コンパレータ群２と第２コン
パレータ群３との間に接続された基準電圧発生回
路群５1，５2…５ｎと、第１コンパレータ群２お
よび第２コンパレータ群３に接続された切換回路
６と、第１コンパレータ群２、第２コンパレータ
群３および切換回路６に接続されたピーク位置検
出兼トリガ信号発生回路４と、切換回路６に接続
された分周回路群７と、この分周回路群７に接続
された演算回路８と、この演算回路８に接続され
たメモリ９、表示装置１０および印字装置１１と
からなり、大まかな比較電圧で範囲を設定し、さ
らに各範囲内を同一のコンパレータ群により細分
化させて出力を同時に群単位で切り換えるように
構成されている。このように大まかな区分を設定
する第１コンパレータ群２と、前記区分を細分化
させる別の第２コンパレータ群３の２種のコンパ
レータ群からなり、第２コンパレータ群３は第１
コンパレータ群２のいずれの区分でも繰り返して
使用することにより、コンパレータの個数を減ら
すことができる。
る。第１図は本発明の装置の一実施態様を示す構
成説明図、第２図は動作の説明図である。本発明
の粒子分析装置は、粒子が浮懸する液を微細孔に
通過させ粒子と液との電気的差異または光学的差
異に基づいて粒子を検出し粒子の大きさに応じた
高さの電気信号を発生する粒子検出装置１と、こ
の粒子検出装置１に接続された大まかな区分を設
定する第１コンパレータ群２1，２2…２ｎおよび
前記区分を細分化させる第２コンパレータ群３1，
３2…３ｍと、第１コンパレータ群２と第２コン
パレータ群３との間に接続された基準電圧発生回
路群５1，５2…５ｎと、第１コンパレータ群２お
よび第２コンパレータ群３に接続された切換回路
６と、第１コンパレータ群２、第２コンパレータ
群３および切換回路６に接続されたピーク位置検
出兼トリガ信号発生回路４と、切換回路６に接続
された分周回路群７と、この分周回路群７に接続
された演算回路８と、この演算回路８に接続され
たメモリ９、表示装置１０および印字装置１１と
からなり、大まかな比較電圧で範囲を設定し、さ
らに各範囲内を同一のコンパレータ群により細分
化させて出力を同時に群単位で切り換えるように
構成されている。このように大まかな区分を設定
する第１コンパレータ群２と、前記区分を細分化
させる別の第２コンパレータ群３の２種のコンパ
レータ群からなり、第２コンパレータ群３は第１
コンパレータ群２のいずれの区分でも繰り返して
使用することにより、コンパレータの個数を減ら
すことができる。
粒子検出装置１は、血球などの粒子を粒子と粒
子浮懸液との光学的あるいは電気的な差異に基づ
いて検出し、粒子の大きさに応じた粒子信号パル
スを発生する。この粒子信号は第１コンパレータ
群２、第２コンパレータ群３および信号のピーク
位置を検出し測定のリセツトをかけるなどのトリ
ガ信号を発生させるピーク位置検出兼トリガ信号
発生回路４に同時に送られる。第１コンパレータ
群２の比較電圧（閾電圧レベル）は固定されてお
り、分析する粒子の信号がすべて当てはまる、い
わゆるダイナミツクレンジを等分化、あるいは必
要に応じて曲線的に分化させても良いが、所定の
大まかなレベル差を持つように設定される。たと
えば電圧Ｖを抵抗R1，R2…Rnで差を生じさせ
る。これらの分圧抵抗R1，R2…Rnによつて定ま
る比較電圧が第１コンパレータ群２1，２2…２ｎ
に与えられる。一方、第２コンパレータ群３1，
３2…３ｍには上記比較電圧のそれぞれの区間の
電圧を細分化させて与えられる。すなわち第２コ
ンパレータ群３1，３2…３ｍには、前記抵抗R1，
R2…Rnで発生する隣接する区間の電位差を抵抗
r1，r2…rmの両端に与えることにより、各区間の
電位差がr1，r2…rmにより細分化されて与えられ
る。たとえば第２図に示すように、粒子信号Ａが
粒子検出装置１から出力し、第１コンパレータ群
２および第２コンパレータ群３に加えられ、同時
にピーク位置検出兼トリガ信号発生回路４に加え
られる。信号Ａが上昇するにつれて、まず第１コ
ンパレータ群の２ｎのコンパレータがオンとな
り、基準電圧発生回路群の５ｎの回路が抵抗r1〜
rmに電圧を与え、第２コンパレータ群の各コン
パレータ３1〜３ｍに与える比較電圧を生ずる。
信号Ａの電圧上昇に伴い、第２コンパレータ群の
３ｍのコンパレータから３1のコンパレータまで
次々とオンし、第１コンパレータ群の２n-1のコ
ンパレータがオンすると、抵抗r1〜rmに与えら
れる電圧は、今度は基準電圧発生回路群のうち５
n-1の回路に切り換えられるために、第２コンパ
レータ群の各コンパレータ３1〜３ｍに与えられ
る比較電圧は次のレベルの区間の電圧となる。電
圧が上昇して第２コンパレータ群のうち２ｎのコ
ンパレータから２ｐのコンパレータまでオンする
と、基準電圧発生回路群のうち５ｐの回路によつ
て与えられる比較電圧が抵抗r1〜rmで細分化さ
れ、３ｍのコンパレータをオン、３m-1のコンパ
レータをオンさせた後、信号Ａは下り始めるの
で、もはやこれ以上の電圧上昇はなくなる。同時
にピーク位置検出兼トリガ信号発生回路４が、た
とえば信号Ｂのような微分信号によつてピーク位
置Tpを検知してトリガ信号Ｃを発生する。切換
回路６は、たとえば分周回路群７に100個のレベ
ルの回路を設け、前記ｎとｍをそれぞれ10にした
場合、コンパレータ２10のときのコンパレータ３
１〜３10の行先、コンパレータ２9のときのコンパ
レータ３1〜３10の行先をコンパレータ２10からコ
ンパレータ２1まで順次切換を行ない、分周回路
群の各回路K1〜K100のそれぞれに10個ずつ切り
換わるようにする。第１コンパレータ群２を構成
するコンパレータの数は、５個でも10個でもかま
わないが、第２コンパレータ群３は10個とか20個
とかのまとまつた数の方が良い。さらに第１コン
パレータ群２を構成するコンパレータは、入力信
号と比較電圧との差が大きくなることがあり、入
力の耐電圧の大きいものを選定する必要がある。
一方、第２コンパレータ群３については、比較電
圧は入力信号に応じて順次切換が行なわれるの
で、追従して上昇し入力端子間の電圧差の耐電圧
はそれ程注意を要しない。むしろ精密なコンパレ
ートを行なえるような素子を用いることが望まし
い。
子浮懸液との光学的あるいは電気的な差異に基づ
いて検出し、粒子の大きさに応じた粒子信号パル
スを発生する。この粒子信号は第１コンパレータ
群２、第２コンパレータ群３および信号のピーク
位置を検出し測定のリセツトをかけるなどのトリ
ガ信号を発生させるピーク位置検出兼トリガ信号
発生回路４に同時に送られる。第１コンパレータ
群２の比較電圧（閾電圧レベル）は固定されてお
り、分析する粒子の信号がすべて当てはまる、い
わゆるダイナミツクレンジを等分化、あるいは必
要に応じて曲線的に分化させても良いが、所定の
大まかなレベル差を持つように設定される。たと
えば電圧Ｖを抵抗R1，R2…Rnで差を生じさせ
る。これらの分圧抵抗R1，R2…Rnによつて定ま
る比較電圧が第１コンパレータ群２1，２2…２ｎ
に与えられる。一方、第２コンパレータ群３1，
３2…３ｍには上記比較電圧のそれぞれの区間の
電圧を細分化させて与えられる。すなわち第２コ
ンパレータ群３1，３2…３ｍには、前記抵抗R1，
R2…Rnで発生する隣接する区間の電位差を抵抗
r1，r2…rmの両端に与えることにより、各区間の
電位差がr1，r2…rmにより細分化されて与えられ
る。たとえば第２図に示すように、粒子信号Ａが
粒子検出装置１から出力し、第１コンパレータ群
２および第２コンパレータ群３に加えられ、同時
にピーク位置検出兼トリガ信号発生回路４に加え
られる。信号Ａが上昇するにつれて、まず第１コ
ンパレータ群の２ｎのコンパレータがオンとな
り、基準電圧発生回路群の５ｎの回路が抵抗r1〜
rmに電圧を与え、第２コンパレータ群の各コン
パレータ３1〜３ｍに与える比較電圧を生ずる。
信号Ａの電圧上昇に伴い、第２コンパレータ群の
３ｍのコンパレータから３1のコンパレータまで
次々とオンし、第１コンパレータ群の２n-1のコ
ンパレータがオンすると、抵抗r1〜rmに与えら
れる電圧は、今度は基準電圧発生回路群のうち５
n-1の回路に切り換えられるために、第２コンパ
レータ群の各コンパレータ３1〜３ｍに与えられ
る比較電圧は次のレベルの区間の電圧となる。電
圧が上昇して第２コンパレータ群のうち２ｎのコ
ンパレータから２ｐのコンパレータまでオンする
と、基準電圧発生回路群のうち５ｐの回路によつ
て与えられる比較電圧が抵抗r1〜rmで細分化さ
れ、３ｍのコンパレータをオン、３m-1のコンパ
レータをオンさせた後、信号Ａは下り始めるの
で、もはやこれ以上の電圧上昇はなくなる。同時
にピーク位置検出兼トリガ信号発生回路４が、た
とえば信号Ｂのような微分信号によつてピーク位
置Tpを検知してトリガ信号Ｃを発生する。切換
回路６は、たとえば分周回路群７に100個のレベ
ルの回路を設け、前記ｎとｍをそれぞれ10にした
場合、コンパレータ２10のときのコンパレータ３
１〜３10の行先、コンパレータ２9のときのコンパ
レータ３1〜３10の行先をコンパレータ２10からコ
ンパレータ２1まで順次切換を行ない、分周回路
群の各回路K1〜K100のそれぞれに10個ずつ切り
換わるようにする。第１コンパレータ群２を構成
するコンパレータの数は、５個でも10個でもかま
わないが、第２コンパレータ群３は10個とか20個
とかのまとまつた数の方が良い。さらに第１コン
パレータ群２を構成するコンパレータは、入力信
号と比較電圧との差が大きくなることがあり、入
力の耐電圧の大きいものを選定する必要がある。
一方、第２コンパレータ群３については、比較電
圧は入力信号に応じて順次切換が行なわれるの
で、追従して上昇し入力端子間の電圧差の耐電圧
はそれ程注意を要しない。むしろ精密なコンパレ
ートを行なえるような素子を用いることが望まし
い。
リセツト用のトリガ信号Ｃによつて、ピーク位
置Tpにおいて切換回路６を初期の状態にもどし、
次の粒子信号の入力に備える。なお微分信号Ｂが
マイナス状態においては、切換は行なわれず、信
号Ｂが零に復帰してから、再び上述したように比
較動作が行なわれる。分周回路群７は粒子信号が
連続して入力し、たとえ平均のパルス間隔が0.1
ｍ秒間隔であつても、数μ秒程度の近接した粒子
信号が現われ、次の演算回路８での処理が間に合
わないおそれがあるので、粒子信号間隔を平均化
させる。とくに同時通過と称する２個以上の近接
した粒子信号に対し有効である。したがつて演算
回路８で処理している間は入力を禁止するなどの
禁止回路は不要である。演算回路８では、分周回
路群７の出力をメモリ９に書き込む動作を行な
う。つまりメモリ９の所定の粒度の番地にすでに
ｌ個が記憶されていて、分周回路群７の該当する
粒度のものが現われると、ｌを読み出しｌ＋１と
して再び同番地にｌ＋１を書き込む。すべての測
定が行なわれると、今度は各番地を次々と読み出
し、各番地の粒子数を連続して表示あるいは印字
することにより、累積の粒度分布曲線が得られ
る。さらに隣り合つた番地の粒子数の差を求める
と、通常の粒度分布曲線が得られる。
置Tpにおいて切換回路６を初期の状態にもどし、
次の粒子信号の入力に備える。なお微分信号Ｂが
マイナス状態においては、切換は行なわれず、信
号Ｂが零に復帰してから、再び上述したように比
較動作が行なわれる。分周回路群７は粒子信号が
連続して入力し、たとえ平均のパルス間隔が0.1
ｍ秒間隔であつても、数μ秒程度の近接した粒子
信号が現われ、次の演算回路８での処理が間に合
わないおそれがあるので、粒子信号間隔を平均化
させる。とくに同時通過と称する２個以上の近接
した粒子信号に対し有効である。したがつて演算
回路８で処理している間は入力を禁止するなどの
禁止回路は不要である。演算回路８では、分周回
路群７の出力をメモリ９に書き込む動作を行な
う。つまりメモリ９の所定の粒度の番地にすでに
ｌ個が記憶されていて、分周回路群７の該当する
粒度のものが現われると、ｌを読み出しｌ＋１と
して再び同番地にｌ＋１を書き込む。すべての測
定が行なわれると、今度は各番地を次々と読み出
し、各番地の粒子数を連続して表示あるいは印字
することにより、累積の粒度分布曲線が得られ
る。さらに隣り合つた番地の粒子数の差を求める
と、通常の粒度分布曲線が得られる。
以上説明したように、本発明の粒子分析装置
は、コンパレータを単にレベルの数だけ並べるの
ではなく、入力信号の大きさに追従させ順次切り
換えていくために、コンパレータの数を大幅に減
少させることができ、また比較電圧を入力信号に
追従させていくために、入力端子間の耐電圧の小
さいものを使用することが可能であり、緻密で高
精度の粒度分析ができ、さらに入力信号を禁止す
る回路は設けておらず、すべての粒子信号に対し
かつ連続して入力する粒子信号に対しても分析可
能であり、信頼性の高い測定を行なうことがで
き、また前述のように累積型の粒度分布曲線を基
本にしているために、分析結果から測定ミスなど
の監視を行なうことができ実用上効果が大きいな
どの利点を有している。
は、コンパレータを単にレベルの数だけ並べるの
ではなく、入力信号の大きさに追従させ順次切り
換えていくために、コンパレータの数を大幅に減
少させることができ、また比較電圧を入力信号に
追従させていくために、入力端子間の耐電圧の小
さいものを使用することが可能であり、緻密で高
精度の粒度分析ができ、さらに入力信号を禁止す
る回路は設けておらず、すべての粒子信号に対し
かつ連続して入力する粒子信号に対しても分析可
能であり、信頼性の高い測定を行なうことがで
き、また前述のように累積型の粒度分布曲線を基
本にしているために、分析結果から測定ミスなど
の監視を行なうことができ実用上効果が大きいな
どの利点を有している。
第１図は本発明の粒子分析装置の一実施態様を
示す構成説明図、第２図は動作の説明図である。 １……粒子検出装置、２……第１コンパレータ
群、３……第２コンパレータ群、４……ピーク位
置検出兼トリガ信号発生回路、５……基準電圧発
生回路群、６……切換回路、７……分周回路群、
８……演算回路、９……メモリ、１０……表示装
置、１１……印字装置。
示す構成説明図、第２図は動作の説明図である。 １……粒子検出装置、２……第１コンパレータ
群、３……第２コンパレータ群、４……ピーク位
置検出兼トリガ信号発生回路、５……基準電圧発
生回路群、６……切換回路、７……分周回路群、
８……演算回路、９……メモリ、１０……表示装
置、１１……印字装置。
Claims (1)
- １ 粒子が浮懸する液を微細孔に通過させ粒子と
液との電気的差異または光学的差異に基づいて粒
子を検出し粒子の大きさに応じた高さの電気信号
を発生する粒子検出装置と、この粒子検出装置に
接続された大まかな区分を設定する第１コンパレ
ータ群および前記区分を細分化させる第２コンパ
レータ群と、第１コンパレータ群と第２コンパレ
ータ群との間に接続された基準電圧発生回路群
と、第１コンパレータ群および第２コンパレータ
群に接続された切換回路と、第１コンパレータ
群、第２コンパレータ群および切換回路に接続さ
れたピーク位置検出兼トリガ信号発生回路と、切
換回路に接続された分周回路群と、この分周回路
群に接続された演算回路と、この演算回路に接続
されたメモリ、表示装置および印字装置とからな
り、大まかな比較電圧で範囲を設定し、さらに各
範囲内を同一のコンパレータ群により細分化させ
て出力を同時に群単位で切り換えるようにしてな
ることを特徴とする粒子分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57014220A JPS58131538A (ja) | 1982-01-30 | 1982-01-30 | 粒子分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57014220A JPS58131538A (ja) | 1982-01-30 | 1982-01-30 | 粒子分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58131538A JPS58131538A (ja) | 1983-08-05 |
| JPH0249455B2 true JPH0249455B2 (ja) | 1990-10-30 |
Family
ID=11854988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57014220A Granted JPS58131538A (ja) | 1982-01-30 | 1982-01-30 | 粒子分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58131538A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5870190A (en) * | 1997-11-25 | 1999-02-09 | Venturedyne, Ltd. | Particle sensor and related method offering improved particle discrimination |
-
1982
- 1982-01-30 JP JP57014220A patent/JPS58131538A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58131538A (ja) | 1983-08-05 |
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