JPH0335616B2 - - Google Patents
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- JPH0335616B2 JPH0335616B2 JP57014221A JP1422182A JPH0335616B2 JP H0335616 B2 JPH0335616 B2 JP H0335616B2 JP 57014221 A JP57014221 A JP 57014221A JP 1422182 A JP1422182 A JP 1422182A JP H0335616 B2 JPH0335616 B2 JP H0335616B2
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- particles
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- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 73
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 25
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 12
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 210000000601 blood cell Anatomy 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000003921 particle size analysis Methods 0.000 description 2
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 2
- 241000256247 Spodoptera exigua Species 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/1031—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects
- G01N15/12—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects by observing changes in resistance or impedance across apertures when traversed by individual particles, e.g. by using the Coulter principle
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- Pathology (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、液体に浮懸する血球などの粒子を電
気的あるいは光学的な手段により検出し、粒子の
大きさに比例した電気パルスを発生させ、パルス
の大きさに応じ粒度を測定する粒子分析装置に関
するものである。
気的あるいは光学的な手段により検出し、粒子の
大きさに比例した電気パルスを発生させ、パルス
の大きさに応じ粒度を測定する粒子分析装置に関
するものである。
従来のこの種の粒度分析装置は、多数の閾回
路、すなわちコンパレータを必要としていた。た
とえば100の区分を弁別する場合には、100個のコ
ンパレータを必要とした。
路、すなわちコンパレータを必要としていた。た
とえば100の区分を弁別する場合には、100個のコ
ンパレータを必要とした。
したがつてスペースを多く必要とし、またコン
パレータはアナログ信号をパルス信号に変換する
ための重要な回路であり、入力信号がほぼ一定の
通常のデイジタル回路用の電子部品よりも使用条
件が苛酷であり、まれに入力信号が規格以上のレ
ベルとなることもある。したがつてそれぞれの入
力のレベル検知範囲は狭い範囲であるにも拘ら
ず、入力信号の範囲は非常に大きい範囲を必要と
し、さらにそれらの条件を満たす同一性能のコン
パレータを多数使用するといつた二重の欠点を有
していた。このため故障や点検の必要性は、コン
パレータ回路に集中することが多かつた。
パレータはアナログ信号をパルス信号に変換する
ための重要な回路であり、入力信号がほぼ一定の
通常のデイジタル回路用の電子部品よりも使用条
件が苛酷であり、まれに入力信号が規格以上のレ
ベルとなることもある。したがつてそれぞれの入
力のレベル検知範囲は狭い範囲であるにも拘ら
ず、入力信号の範囲は非常に大きい範囲を必要と
し、さらにそれらの条件を満たす同一性能のコン
パレータを多数使用するといつた二重の欠点を有
していた。このため故障や点検の必要性は、コン
パレータ回路に集中することが多かつた。
また一般の粒度分析装置においては、回路内の
処理手続を簡単にするために、従来の累積型の粒
度分布を求めずに、入力信号波形のピーク値をい
きなり検知し、それを符号化するなどの処理を行
つているが、このために相当の処理時間を必要と
し、さらに１つの粒子信号を処理している間は、
次の粒子信号の入力を拒否するなどすべての粒子
信号についての分析が行われているという保障が
ない欠点を有していた。また累積型の粒度分布曲
線を求めることにより、粒子検出系の異状、たと
えば検出領域を２個以上の粒子が連続して通過す
る同時通過現象が頻繁に起こり、低いレベル程粒
子数が少なくなり、累積型の粒度分布曲線におい
ては、これらの異常が一目瞭然であるにも拘ら
ず、通常の粒度分布曲線におけるマイナスの粒子
数は存在せず、検知が困難であつた。
処理手続を簡単にするために、従来の累積型の粒
度分布を求めずに、入力信号波形のピーク値をい
きなり検知し、それを符号化するなどの処理を行
つているが、このために相当の処理時間を必要と
し、さらに１つの粒子信号を処理している間は、
次の粒子信号の入力を拒否するなどすべての粒子
信号についての分析が行われているという保障が
ない欠点を有していた。また累積型の粒度分布曲
線を求めることにより、粒子検出系の異状、たと
えば検出領域を２個以上の粒子が連続して通過す
る同時通過現象が頻繁に起こり、低いレベル程粒
子数が少なくなり、累積型の粒度分布曲線におい
ては、これらの異常が一目瞭然であるにも拘ら
ず、通常の粒度分布曲線におけるマイナスの粒子
数は存在せず、検知が困難であつた。
本発明は上記の欠点を解消するためになされた
もので、コンパレータ（比較回路）の使用個数を
減らすとともに、累積型の粒度分布が得られる粒
子分析装置を提供することを目的とすることを目
的とするものである。
もので、コンパレータ（比較回路）の使用個数を
減らすとともに、累積型の粒度分布が得られる粒
子分析装置を提供することを目的とすることを目
的とするものである。
上記の目的を達成するために、本発明の粒子分
析装置は、第１図および第２図に示すように、粒
子が浮懸する液を微細孔に通過させ粒子と液との
電気的差異または光学的差異に基づいて粒子を検
出し粒子の大きさに応じた高さの電気信号を発生
する粒子検出装置１と、 この粒子検出装置１に接続された第１コンパレ
ータ群２および第２コンパレータ群３と、 第１コンパレータ群２および第２コンパレータ
群３に接続された切換回路７およびトリガ回路１
０と、 粒子検出装置１に接続されたピーク位置検出兼
トリガ信号発生回路４と、 第１コンパレータ群２、ピーク位置検出兼トリ
ガ信号発生回路４および切換回路７に接続された
第１比較電圧発生装置回路５と、 第２コンパレータ群３、ピーク位置検出兼トリ
ガ信号発生回路４および切換回路７に接続された
第２比較電圧発生回路６と、 切換回路７に接続された分周の回路群８と、 この分周回路８群に接続された演算回路９と、 この演算回路９に接続されたメモリ１１、表示
装置１２および印字装置１３とを包含し、 第１コンパレータ群２と第２コンパレータ群３
とを交互に比較電圧を上昇させて出力を同時に群
単位で切り換えるようにしてなることにを特徴と
している。
析装置は、第１図および第２図に示すように、粒
子が浮懸する液を微細孔に通過させ粒子と液との
電気的差異または光学的差異に基づいて粒子を検
出し粒子の大きさに応じた高さの電気信号を発生
する粒子検出装置１と、 この粒子検出装置１に接続された第１コンパレ
ータ群２および第２コンパレータ群３と、 第１コンパレータ群２および第２コンパレータ
群３に接続された切換回路７およびトリガ回路１
０と、 粒子検出装置１に接続されたピーク位置検出兼
トリガ信号発生回路４と、 第１コンパレータ群２、ピーク位置検出兼トリ
ガ信号発生回路４および切換回路７に接続された
第１比較電圧発生装置回路５と、 第２コンパレータ群３、ピーク位置検出兼トリ
ガ信号発生回路４および切換回路７に接続された
第２比較電圧発生回路６と、 切換回路７に接続された分周の回路群８と、 この分周回路８群に接続された演算回路９と、 この演算回路９に接続されたメモリ１１、表示
装置１２および印字装置１３とを包含し、 第１コンパレータ群２と第２コンパレータ群３
とを交互に比較電圧を上昇させて出力を同時に群
単位で切り換えるようにしてなることにを特徴と
している。
粒子検出装置１は、血球などの粒子を粒子と粒
子浮懸液との光学的あるいは電気的な差異に基づ
いて、検出の大きさに応じた粒子信号パルスを発
生する。この粒子信号は第１コンパレータ群２、
第２コンパレータ群３および信号のピーク位置を
検出し測定のリセツトをかけるなどのトリガ信号
を発生させるピーク位置検出兼トリガ信号発生回
路４に同時に送られる。
子浮懸液との光学的あるいは電気的な差異に基づ
いて、検出の大きさに応じた粒子信号パルスを発
生する。この粒子信号は第１コンパレータ群２、
第２コンパレータ群３および信号のピーク位置を
検出し測定のリセツトをかけるなどのトリガ信号
を発生させるピーク位置検出兼トリガ信号発生回
路４に同時に送られる。
比較電圧発生回路５，６はそれぞれ隣接かつ連
続する電圧を発生し、交互に電圧を上げていく。
それは第１コンパレータ群の２1のコンパレータ
に与えられている電圧が初期状態の最低電圧とす
ると、フリツプフロツプとワンシヨツトマルチバ
イブレータなどからなるトリガ回路１０により、
第２比較電圧発生回路６にトリガ信号（第２図の
シフトパルスP2）を送り、第１コンパレータ群
２の電圧に連続する次のレベルの電圧を第２比較
電圧発生回路に発生し、第２コンパレータ群３の
比較電圧を発生する。第１コンパレータ群の２1
のコンパレータから２5のコンパレータが次々と
オンし、第２コンパレータ群の３1のコンパレー
タがオンすると、今度はトリガ回路１０により、
フリツプフロツプが逆転し、ワンシヨツトマルチ
バイブレータによる第１比較電圧発生回路５をト
リガし（第２図のシフトパルスP1）、第２比較電
圧発生回路６の電圧に連続する次の上位レベルの
電圧を第１比較電圧発生回路に発生させ、コンパ
レータ２1〜２5に電圧を与える。
続する電圧を発生し、交互に電圧を上げていく。
それは第１コンパレータ群の２1のコンパレータ
に与えられている電圧が初期状態の最低電圧とす
ると、フリツプフロツプとワンシヨツトマルチバ
イブレータなどからなるトリガ回路１０により、
第２比較電圧発生回路６にトリガ信号（第２図の
シフトパルスP2）を送り、第１コンパレータ群
２の電圧に連続する次のレベルの電圧を第２比較
電圧発生回路に発生し、第２コンパレータ群３の
比較電圧を発生する。第１コンパレータ群の２1
のコンパレータから２5のコンパレータが次々と
オンし、第２コンパレータ群の３1のコンパレー
タがオンすると、今度はトリガ回路１０により、
フリツプフロツプが逆転し、ワンシヨツトマルチ
バイブレータによる第１比較電圧発生回路５をト
リガし（第２図のシフトパルスP1）、第２比較電
圧発生回路６の電圧に連続する次の上位レベルの
電圧を第１比較電圧発生回路に発生させ、コンパ
レータ２1〜２5に電圧を与える。
以上のように交互に比較電圧を繰り返し上昇さ
せ追従させる。
せ追従させる。
一方、切換回路７にはトリガ回路１０から切換
のためのトリガ信号を送り、次の分周回路群８の
出力が所定の箇所に来るように切換が行われる。
分周回路群８は粒子信号が連続して入力し、たと
え平均のパルス間隔が0.1ｍ秒間隔であつても、
数μ秒程度の近接した粒子信号が現われ、次の演
算回路９での処理が間に合わないおそれがあるの
で、粒子信号間隔を平均化させる。
のためのトリガ信号を送り、次の分周回路群８の
出力が所定の箇所に来るように切換が行われる。
分周回路群８は粒子信号が連続して入力し、たと
え平均のパルス間隔が0.1ｍ秒間隔であつても、
数μ秒程度の近接した粒子信号が現われ、次の演
算回路９での処理が間に合わないおそれがあるの
で、粒子信号間隔を平均化させる。
演算回路９では、分周回路群８の出力をメモリ
１１に書き込む動作を行う。つまりメモリ１１の
所定の番地にすでにｌ個が記憶されていて、分周
回路群８の該当する粒度のものが現われると、ｌ
を読み出しｌ＋１として再び同番地にｌ＋１を書
き込む。すべての測定が行われると、今度は各番
地を次々と読み出し、各番地の粒子数を連続して
表示あるいは印字することにより、累積の粒度分
布曲線が得られる。さらに隣り合つた番地の粒子
数の差を求めると、通常の粒度分布曲線が得られ
る。
１１に書き込む動作を行う。つまりメモリ１１の
所定の番地にすでにｌ個が記憶されていて、分周
回路群８の該当する粒度のものが現われると、ｌ
を読み出しｌ＋１として再び同番地にｌ＋１を書
き込む。すべての測定が行われると、今度は各番
地を次々と読み出し、各番地の粒子数を連続して
表示あるいは印字することにより、累積の粒度分
布曲線が得られる。さらに隣り合つた番地の粒子
数の差を求めると、通常の粒度分布曲線が得られ
る。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。第１図は本発明の装置の一実施例を示す構成
説明図、第２図は動作の説明図である。
る。第１図は本発明の装置の一実施例を示す構成
説明図、第２図は動作の説明図である。
本発明の粒子分析装置は、粒子が浮懸する液を
微細孔に通過させ粒子と液との電気的差異または
光学的差異に基づいて粒子を検出し粒子の大きさ
に応じた高さの電気信号を発生する粒子検出装置
１と、この粒子検出装置１に接続された第１コン
パレータ群２1〜２5および第２コンパレータ群３
１〜３5と、第１コンパレータ群２および第２コン
パレータ群３に接続された切換回路７およびトリ
ガ回路１０と、粒子検出装置１に接続されたピー
ク位置検出兼トリガ信号発生回路４と、第１コン
バレータ群２、ピーク位置検出兼トリガ信号発生
回路４および切換回路７に接続された第１比較電
圧発生回路５と、第２コンバレータ群３、ピーク
位置検出兼トリガ信号発生回路４および切換回路
７に接続された第２比較電圧発生回路６と、切換
回路７に接続された分周回路群８と、この分周回
路群８に接続された演算回路９と、この演算回路
９に接続されたメモリ１１、表示装置１２および
印字装置１３とからなり、第１コンパレータ群２
と第２コンパレータ群３を交互に比較電圧を上昇
させて出力を同時に群単位で切り換えるように構
成されている。このように交互に比較電圧を上昇
させて同時に群単位で出力を切り換えることによ
り、コンパレータの個数を減らすことができる。
微細孔に通過させ粒子と液との電気的差異または
光学的差異に基づいて粒子を検出し粒子の大きさ
に応じた高さの電気信号を発生する粒子検出装置
１と、この粒子検出装置１に接続された第１コン
パレータ群２1〜２5および第２コンパレータ群３
１〜３5と、第１コンパレータ群２および第２コン
パレータ群３に接続された切換回路７およびトリ
ガ回路１０と、粒子検出装置１に接続されたピー
ク位置検出兼トリガ信号発生回路４と、第１コン
バレータ群２、ピーク位置検出兼トリガ信号発生
回路４および切換回路７に接続された第１比較電
圧発生回路５と、第２コンバレータ群３、ピーク
位置検出兼トリガ信号発生回路４および切換回路
７に接続された第２比較電圧発生回路６と、切換
回路７に接続された分周回路群８と、この分周回
路群８に接続された演算回路９と、この演算回路
９に接続されたメモリ１１、表示装置１２および
印字装置１３とからなり、第１コンパレータ群２
と第２コンパレータ群３を交互に比較電圧を上昇
させて出力を同時に群単位で切り換えるように構
成されている。このように交互に比較電圧を上昇
させて同時に群単位で出力を切り換えることによ
り、コンパレータの個数を減らすことができる。
粒子検出装置１は、血球などの粒子を粒子と粒
子浮懸液との光学的あるいは電気的な差異に基づ
いて検出し、粒子の大きさに応じた粒子信号パル
スを発生する。この粒子信号は第１コンパレータ
群２、第２コンパレータ群３および信号のピーク
位置を検出し測定のリセツトをかけるなどのトリ
ガ信号を発生させるピーク位置検出兼トリガ信号
発生回路４に同時に送られる。
子浮懸液との光学的あるいは電気的な差異に基づ
いて検出し、粒子の大きさに応じた粒子信号パル
スを発生する。この粒子信号は第１コンパレータ
群２、第２コンパレータ群３および信号のピーク
位置を検出し測定のリセツトをかけるなどのトリ
ガ信号を発生させるピーク位置検出兼トリガ信号
発生回路４に同時に送られる。
比較電圧発生回路５，６はそれぞれ隣接かつ連
続する電圧を発生し、尺取虫のように交互に電圧
を上げていく。それは第１コンパレータ群の２1
のコンパレータに与えられている電圧が初期状態
の最低電圧とすると、フリツプフロツプ１４とワ
ンシヨツトマルチバイブレータ１５などからなる
トリガ回路１０により、第２比較電圧発生回路６
にトリガ信号（第２図のシフトパルスP2）を送
り、第１コンパレータ群２の電圧に連続する次の
レベルの電圧を第２比較電圧発生回路に発生し、
第２コンパレータ群３の比較電圧を発生する。第
１コンパレータ群の２1のコンパレータから２5の
コンパレータが次々とオンし、第２コンパレータ
群の３1のコンパレータがオンすると、今度はト
リガ回路１０により、フリツプフロツプ１４が逆
転し、ワンシヨツトマルチバイブレータ１５によ
り第１比較電圧発生回路５をトリガし（第２図の
シフトパルスP1）、第２比較電圧発生回路６の電
圧に連続する次の上位レベルの電圧を第１比較電
圧発生回路に発生させ、コンパレータ２1〜２5に
電圧を与える。
続する電圧を発生し、尺取虫のように交互に電圧
を上げていく。それは第１コンパレータ群の２1
のコンパレータに与えられている電圧が初期状態
の最低電圧とすると、フリツプフロツプ１４とワ
ンシヨツトマルチバイブレータ１５などからなる
トリガ回路１０により、第２比較電圧発生回路６
にトリガ信号（第２図のシフトパルスP2）を送
り、第１コンパレータ群２の電圧に連続する次の
レベルの電圧を第２比較電圧発生回路に発生し、
第２コンパレータ群３の比較電圧を発生する。第
１コンパレータ群の２1のコンパレータから２5の
コンパレータが次々とオンし、第２コンパレータ
群の３1のコンパレータがオンすると、今度はト
リガ回路１０により、フリツプフロツプ１４が逆
転し、ワンシヨツトマルチバイブレータ１５によ
り第１比較電圧発生回路５をトリガし（第２図の
シフトパルスP1）、第２比較電圧発生回路６の電
圧に連続する次の上位レベルの電圧を第１比較電
圧発生回路に発生させ、コンパレータ２1〜２5に
電圧を与える。
以上のように交互に比較電圧を繰り返し上昇さ
せ追従させる。
せ追従させる。
一方、切換回路７にはトリガ回路１０から切換
のためのトリガ信号を送り、次の分周回路群８の
出力が所定の箇所に来るように切換が行われる。
分周回路群８は粒子信号が連続して入力し、たと
え平均パルス間隔が0.1ｍ秒間隔であつても、数
μ秒程度の近接した粒子信号が現われ、次の演算
回路９での処理が間に合わないおそれがあるの
で、粒子信号間隔を平均化させる。
のためのトリガ信号を送り、次の分周回路群８の
出力が所定の箇所に来るように切換が行われる。
分周回路群８は粒子信号が連続して入力し、たと
え平均パルス間隔が0.1ｍ秒間隔であつても、数
μ秒程度の近接した粒子信号が現われ、次の演算
回路９での処理が間に合わないおそれがあるの
で、粒子信号間隔を平均化させる。
とくに同時通過と称する２個以上の近接した粒
子信号に対して有効である。したがつて演算回路
９で処理している間は入力を禁止するなどの禁止
回路は不要である。
子信号に対して有効である。したがつて演算回路
９で処理している間は入力を禁止するなどの禁止
回路は不要である。
演算回路９では、分周回路群８の出力をメモリ
１１に書き込む動作を行う。つまりメモリ１１の
所定の粒度の番地にすでにｌ個が記憶されてい
て、分周回路群８の該当する粒度のものが現われ
ると、ｌを読み出しｌ＋１として再び同番地にｌ
＋１を書き込む。すべての測定が行われると、今
度は各番地を次々と読み出し、各番地の粒子数を
連続して表示あるいは印字することにより、累積
の粒度分布曲線が得られる。さらに隣り合つた番
地の粒子数の差を求めると、通常の粒度分布曲線
が得られる。
１１に書き込む動作を行う。つまりメモリ１１の
所定の粒度の番地にすでにｌ個が記憶されてい
て、分周回路群８の該当する粒度のものが現われ
ると、ｌを読み出しｌ＋１として再び同番地にｌ
＋１を書き込む。すべての測定が行われると、今
度は各番地を次々と読み出し、各番地の粒子数を
連続して表示あるいは印字することにより、累積
の粒度分布曲線が得られる。さらに隣り合つた番
地の粒子数の差を求めると、通常の粒度分布曲線
が得られる。
なお図面においては、第１コンパレータ群およ
び第２コンパレータ群が一例として５個ずつのコ
ンパレータを内蔵する場合について示している
が、５個に限らず10個ずつなどでも良い。
び第２コンパレータ群が一例として５個ずつのコ
ンパレータを内蔵する場合について示している
が、５個に限らず10個ずつなどでも良い。
以上説明したように、本発明の粒子分析装置
は、コンパレータを単にレベルの数だけ並べるの
ではなく、入力信号の大きさに追従させ順次切り
換えていくために、コンパレータの数を大幅に減
少させることができ、また比較電圧を入力信号に
追従させていくために、入力端子間の耐電圧の小
さいものを利用することが第１コンパレータ群お
よび第２コンパレータ群ともに可能であり、緻密
で高精度の粒度分析ができ、さらに入力信号を禁
止する回路は設けておらず、すべての粒子信号に
対しかつ連続して入力する粒子信号に対しても分
析可能であり、信頼性の高い測定を行うことがで
き、また前述のように累積型の粒度分析曲線を基
本にしているために、分析結果から測定ミスなど
の監視を行うことができ、実用上効果が大きいな
どの利点を有している。
は、コンパレータを単にレベルの数だけ並べるの
ではなく、入力信号の大きさに追従させ順次切り
換えていくために、コンパレータの数を大幅に減
少させることができ、また比較電圧を入力信号に
追従させていくために、入力端子間の耐電圧の小
さいものを利用することが第１コンパレータ群お
よび第２コンパレータ群ともに可能であり、緻密
で高精度の粒度分析ができ、さらに入力信号を禁
止する回路は設けておらず、すべての粒子信号に
対しかつ連続して入力する粒子信号に対しても分
析可能であり、信頼性の高い測定を行うことがで
き、また前述のように累積型の粒度分析曲線を基
本にしているために、分析結果から測定ミスなど
の監視を行うことができ、実用上効果が大きいな
どの利点を有している。
第１図は本発明の粒子分析装置の一実施例を示
す構成説明図、第２図は動作の説明図である。 １……粒子検出装置、２……第１コンパレータ
群、３……第２コンパレータ群、４……ピーク位
置検出兼トリガ信号発生回路、５……第１比較電
圧発生回路、６……第２比較電圧発生回路、７…
…切換回路、８……分周回路群、９……演算回
路、１０……トリガ回路、１１……メモリ、１２
……表示装置、１３……印字装置、１４……フリ
ツプフロツプ、１５……ワンシヨツトマルチバイ
ブレータ。
す構成説明図、第２図は動作の説明図である。 １……粒子検出装置、２……第１コンパレータ
群、３……第２コンパレータ群、４……ピーク位
置検出兼トリガ信号発生回路、５……第１比較電
圧発生回路、６……第２比較電圧発生回路、７…
…切換回路、８……分周回路群、９……演算回
路、１０……トリガ回路、１１……メモリ、１２
……表示装置、１３……印字装置、１４……フリ
ツプフロツプ、１５……ワンシヨツトマルチバイ
ブレータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 粒子が浮懸する液を微細孔に通過させ粒子と
液との電気的差異または光学的差異に基づいて粒
子を検出し粒子の大きさに応じた高さの電気信号
を発生する粒子検出装置１と、 この粒子検出装置１に接続された第１コンパレ
ータ群２および第２コンパレータ群３と、 第１コンパレータ群２および第２コンパレータ
群３に接続された切換回路７およびトリガ回路１
０と、 粒子検出装置１に接続されたピーク位置検出兼
トリガ信号発生回路４と、 第１コンパレータ群２、ピーク位置検出兼トリ
ガ信号発生回路４および切換回路７に接続された
第１比較電圧発生回路５と、 第２コンパレータ群３、ピーク位置検出兼トリ
ガ信号発生回路４および切換回路７に接続された
第２比較電圧発生回路６と、 切換回路７に接続された分周回路群８と、 この分周回路群８に接続された演算回路９と、 この演算回路９に接続されたメモリ１１、表示
装置１２および印字装置１３とを包含し、 第１コンパレータ群２と第２コンパレータ群３
とを交互に比較電圧を上昇させて出力を同時に群
単位で切り換えるようにしてなることを特徴とす
る粒子分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57014221A JPS58131539A (ja) | 1982-01-30 | 1982-01-30 | 粒子分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57014221A JPS58131539A (ja) | 1982-01-30 | 1982-01-30 | 粒子分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58131539A JPS58131539A (ja) | 1983-08-05 |
| JPH0335616B2 true JPH0335616B2 (ja) | 1991-05-28 |
Family
ID=11855013
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57014221A Granted JPS58131539A (ja) | 1982-01-30 | 1982-01-30 | 粒子分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58131539A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105758782A (zh) * | 2014-12-19 | 2016-07-13 | 江苏卓微生物科技有限公司 | 一种便携式快速微粒检测装置及其工作方法 |
-
1982
- 1982-01-30 JP JP57014221A patent/JPS58131539A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58131539A (ja) | 1983-08-05 |
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