JPH0249574Y2 - - Google Patents
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- JPH0249574Y2 JPH0249574Y2 JP1983182077U JP18207783U JPH0249574Y2 JP H0249574 Y2 JPH0249574 Y2 JP H0249574Y2 JP 1983182077 U JP1983182077 U JP 1983182077U JP 18207783 U JP18207783 U JP 18207783U JP H0249574 Y2 JPH0249574 Y2 JP H0249574Y2
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- JP
- Japan
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- power supply
- test
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- power
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2817—Environmental-, stress-, or burn-in tests
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、電子部品の寿命試験など長時間連
続通電して試験をする通電負荷試験装置の給電装
置に関する。
続通電して試験をする通電負荷試験装置の給電装
置に関する。
上記通電負荷試験装置として、上下多段状に設
けた無端状回転棚に電子部品を載せ、回転棚ご
と、例えば高温雰囲気中で移動させつつ電子部品
に通電して寿命試験を行う場合には、試験済み電
子部品を未試験電子部品と逐次交換していくが、
交換を迅速に行うため、通常は電子部品とその載
置棚との間は接触形端子を介して通電が行われ
る。上記交換は回転棚の特定移動位置において行
われ、その他の移動位置にある電子部品は通電が
継続される。この場合、交換さるべき電子部品を
通電状態のまま回転棚に載脱荷すると、前記接触
形端子が突入電流や電流遮断時の火花放電により
損耗していくから、電子部品交換時には当該電子
部品への給電を停止する必要がある。
けた無端状回転棚に電子部品を載せ、回転棚ご
と、例えば高温雰囲気中で移動させつつ電子部品
に通電して寿命試験を行う場合には、試験済み電
子部品を未試験電子部品と逐次交換していくが、
交換を迅速に行うため、通常は電子部品とその載
置棚との間は接触形端子を介して通電が行われ
る。上記交換は回転棚の特定移動位置において行
われ、その他の移動位置にある電子部品は通電が
継続される。この場合、交換さるべき電子部品を
通電状態のまま回転棚に載脱荷すると、前記接触
形端子が突入電流や電流遮断時の火花放電により
損耗していくから、電子部品交換時には当該電子
部品への給電を停止する必要がある。
本案はかかる要求を満足する通電負荷試験装置
の給電装置を提供することを目的とし、その要旨
は、回転棚の被試験部品を交換すべき移載位置に
おいては、給電トロリーをその他の位置の給電ト
ロリーから絶縁しておき、被試験部品の移載装置
が作動を開始したときは前記絶縁された給電トロ
リーを自動的に開路する給電装置の構成にある。
の給電装置を提供することを目的とし、その要旨
は、回転棚の被試験部品を交換すべき移載位置に
おいては、給電トロリーをその他の位置の給電ト
ロリーから絶縁しておき、被試験部品の移載装置
が作動を開始したときは前記絶縁された給電トロ
リーを自動的に開路する給電装置の構成にある。
以下本案の実施例について説明する。
第１図は本案を適用した通電負荷試験装置の一
部を切欠した斜視図であつて、被試験品である電
子部品を高温下において長期間に亘り負荷試験を
行う高温槽１内に水平無端状の上部案内レール２
を、また高温槽外に下部案内レール３を互に同心
に配設し、これらの案内レール２，３上を転動す
る車輪４（第４図）を有する堅型の棚枠５を多列
に配置して、各棚枠５を互に連動連結し、前記高
温槽１から下方に突出する棚枠５ａの下端下面に
固定した垂直駆動ピン６を駆動スプロケツト７及
び従動スプロケツトに噛合させて各棚枠５を水平
無端状に連動回転させる。
部を切欠した斜視図であつて、被試験品である電
子部品を高温下において長期間に亘り負荷試験を
行う高温槽１内に水平無端状の上部案内レール２
を、また高温槽外に下部案内レール３を互に同心
に配設し、これらの案内レール２，３上を転動す
る車輪４（第４図）を有する堅型の棚枠５を多列
に配置して、各棚枠５を互に連動連結し、前記高
温槽１から下方に突出する棚枠５ａの下端下面に
固定した垂直駆動ピン６を駆動スプロケツト７及
び従動スプロケツトに噛合させて各棚枠５を水平
無端状に連動回転させる。
各棚枠５に、多数の電子部品を挿入したマガジ
ンラツク８を載置するフオーク状の棚９を上下多
段状に設け、各棚９にマガジンラツク８に挿入し
た多数の電子部品に直流給電をする給電用接触子
１０を設けるとともに、各棚９の背面に通気窓１
１を設ける。
ンラツク８を載置するフオーク状の棚９を上下多
段状に設け、各棚９にマガジンラツク８に挿入し
た多数の電子部品に直流給電をする給電用接触子
１０を設けるとともに、各棚９の背面に通気窓１
１を設ける。
高温槽１及び案内レール２，３は床面上に立設
した複数の支柱１２及び１３によつて支持され、
高温槽１の底板外側下面に、三相交流電源に接続
された交流給電レール１４が棚枠５の水平移動経
路に沿つて取付けられ、夫々の棚枠５の高温槽１
外に位置する部分５ａに、前記給電レール１４に
摺接する集電トロリー１５を有する整流器１６を
搭載し、該整流器１６より当該棚９に設けた給電
用接触子１０にケーブル１７によつて直流電流を
供給する。
した複数の支柱１２及び１３によつて支持され、
高温槽１の底板外側下面に、三相交流電源に接続
された交流給電レール１４が棚枠５の水平移動経
路に沿つて取付けられ、夫々の棚枠５の高温槽１
外に位置する部分５ａに、前記給電レール１４に
摺接する集電トロリー１５を有する整流器１６を
搭載し、該整流器１６より当該棚９に設けた給電
用接触子１０にケーブル１７によつて直流電流を
供給する。
高温槽１は内部温度の均一化と恒温化をはかる
ため、棚枠５の下部移動通路以外は密閉されてお
り、棚９へのマガジンラツク８の移載及び負荷試
験終了後のマガジンラツク８の取出しは高温槽１
の移載位置（第１図では駆動スプロケツト７が位
置する側の高温槽端面部分）に設けた取出口にお
いて行われる。この取出口には常時は閉鎖してい
る開閉扉（図示せず）が設けられている。
ため、棚枠５の下部移動通路以外は密閉されてお
り、棚９へのマガジンラツク８の移載及び負荷試
験終了後のマガジンラツク８の取出しは高温槽１
の移載位置（第１図では駆動スプロケツト７が位
置する側の高温槽端面部分）に設けた取出口にお
いて行われる。この取出口には常時は閉鎖してい
る開閉扉（図示せず）が設けられている。
マガジンラツク８の高温槽１内への供給及び該
槽外への取出しは、例えば第１図に示すマガジン
ラツク移載手段によつて行われる。すなわち、電
子部品を挿入したマガジンラツク８をコンベヤ１
８上の待機位置ａに停止させておき、空の棚９が
前記移載位置にある移載室１９の前に到着する
と、その検知信号により棚９が停止するととも
に、待機位置ａにあるマガジンラツク８が移載室
１９の開閉扉位置ｂに搬送され、また開閉扉が開
く。このとき、移載室１９内に設置した移載リフ
タ２０は最下位に待機しているので、マガジンラ
ツク８は該移載リフタ２０上に送入され、開閉扉
は閉じる。
槽外への取出しは、例えば第１図に示すマガジン
ラツク移載手段によつて行われる。すなわち、電
子部品を挿入したマガジンラツク８をコンベヤ１
８上の待機位置ａに停止させておき、空の棚９が
前記移載位置にある移載室１９の前に到着する
と、その検知信号により棚９が停止するととも
に、待機位置ａにあるマガジンラツク８が移載室
１９の開閉扉位置ｂに搬送され、また開閉扉が開
く。このとき、移載室１９内に設置した移載リフ
タ２０は最下位に待機しているので、マガジンラ
ツク８は該移載リフタ２０上に送入され、開閉扉
は閉じる。
マガジンラツク８を搭載した移載リフタ２０は
上昇して空の棚９にマガジンラツク８を移載し、
再び下降して最下位置に待機する。上記動作によ
り空の棚９に順次マガジンラツク８を移載する。
上昇して空の棚９にマガジンラツク８を移載し、
再び下降して最下位置に待機する。上記動作によ
り空の棚９に順次マガジンラツク８を移載する。
棚９に移載されたマガジンラツクは前記のよう
に給電用接触子１０に接触して内部の電子部品に
通電可能となり、高温槽１内を循環移動しながら
電気部品の通電負荷試験が行われる。
に給電用接触子１０に接触して内部の電子部品に
通電可能となり、高温槽１内を循環移動しながら
電気部品の通電負荷試験が行われる。
負荷試験を完了した電子部品が挿入されている
マガジンラツク８が移載室１９の前に到着する
と、前述したマガジンラツク供給移載動作と逆の
順序でマガジンラツク８が高温室１外に取出され
る。
マガジンラツク８が移載室１９の前に到着する
と、前述したマガジンラツク供給移載動作と逆の
順序でマガジンラツク８が高温室１外に取出され
る。
マガジンラツク８を棚９に載脱する際におけ
る、給電用接触子１０の火花放電などによる損耗
を防ぐため、本案においては、第５図のように交
流給電レール１４のうち前記移載位置に対応する
部分２１の少くとも２相を他の給電レール部分２
２から絶縁し、両部分２１，２２間に電磁接触器
２３の接点を介挿し、前記部分２２を電磁接触器
２４の接点を介して交流電源に接続する。接触器
２４は負荷試験開始とともに作動して給電レール
１４に給電し、接触器２３は前記開閉扉の開閉信
号又はマガジンラツク８が開閉扉位置ｂに到着し
た信号によつて作動し、マガジンラツク８の移載
中は給電レール部分２１に通電しないように制御
をする。そのため、例えば前記開閉扉が閉じてい
るときに閉じるリミツトスイツチにより接触器２
３を付勢するなど周知の適宜制御回路を用いるも
のとする。
る、給電用接触子１０の火花放電などによる損耗
を防ぐため、本案においては、第５図のように交
流給電レール１４のうち前記移載位置に対応する
部分２１の少くとも２相を他の給電レール部分２
２から絶縁し、両部分２１，２２間に電磁接触器
２３の接点を介挿し、前記部分２２を電磁接触器
２４の接点を介して交流電源に接続する。接触器
２４は負荷試験開始とともに作動して給電レール
１４に給電し、接触器２３は前記開閉扉の開閉信
号又はマガジンラツク８が開閉扉位置ｂに到着し
た信号によつて作動し、マガジンラツク８の移載
中は給電レール部分２１に通電しないように制御
をする。そのため、例えば前記開閉扉が閉じてい
るときに閉じるリミツトスイツチにより接触器２
３を付勢するなど周知の適宜制御回路を用いるも
のとする。
本案は上記構成を有し、通電負荷試験装置のマ
ガジンラツク移載位置にあるマガジンラツクは交
流給電が断たれた状態で載脱荷されるので、該載
脱荷に伴う給電用接触子の火花放電等による損耗
がなく、しかも移載位置以外のマガジンラツク内
の被試験品には通電を継続して負荷試験を続行す
ることができる効果がある。
ガジンラツク移載位置にあるマガジンラツクは交
流給電が断たれた状態で載脱荷されるので、該載
脱荷に伴う給電用接触子の火花放電等による損耗
がなく、しかも移載位置以外のマガジンラツク内
の被試験品には通電を継続して負荷試験を続行す
ることができる効果がある。
図面は本案の一実施例を示し、第１図は通電負
荷試験装置の一部を切欠した全体斜視図、第２図
は棚群の立面図、第３図は第２図の−線断面
図、第４図は棚枠の高温槽外下方の要部拡大側面
図、第５図は給電レールの平面図及び給電制御回
路図である。 １……負荷試験用高温槽、５……棚枠、９……
被試験品載置用棚、１０……給電用接触子、１４
……交流給電レール、１５……集電トロリー、１
６……整流器、２１……給電レール部分、２３…
…開閉装置。
荷試験装置の一部を切欠した全体斜視図、第２図
は棚群の立面図、第３図は第２図の−線断面
図、第４図は棚枠の高温槽外下方の要部拡大側面
図、第５図は給電レールの平面図及び給電制御回
路図である。 １……負荷試験用高温槽、５……棚枠、９……
被試験品載置用棚、１０……給電用接触子、１４
……交流給電レール、１５……集電トロリー、１
６……整流器、２１……給電レール部分、２３…
…開閉装置。
Claims (1)
- 負荷試験用高温槽内を無端状に連結して水平循
環移動する多数の棚枠の各々に上下多段状に被試
験品載置用棚及び該被試験品に対する給電用接触
子を設け、前記負荷試験用高温槽外において各棚
枠に交流給電レールに摺接する集電トロリー並び
に給電用接触子に直流給電をする整流器を設け、
交流給電レールのうち棚に被試験品を載脱荷する
移載位置に相当する給電レール部分には被試験品
の載脱荷時に自動開路する開閉装置を介して給電
する通電負荷試験装置の給電装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1983182077U JPS6090684U (ja) | 1983-11-28 | 1983-11-28 | 通電負荷試験装置の給電装置 |
| US06/645,364 US4692694A (en) | 1983-11-28 | 1984-08-29 | Load testing apparatus for electronic components |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1983182077U JPS6090684U (ja) | 1983-11-28 | 1983-11-28 | 通電負荷試験装置の給電装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6090684U JPS6090684U (ja) | 1985-06-21 |
| JPH0249574Y2 true JPH0249574Y2 (ja) | 1990-12-27 |
Family
ID=16111944
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1983182077U Granted JPS6090684U (ja) | 1983-11-28 | 1983-11-28 | 通電負荷試験装置の給電装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4692694A (ja) |
| JP (1) | JPS6090684U (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4855672A (en) * | 1987-05-18 | 1989-08-08 | Shreeve Robert W | Method and process for testing the reliability of integrated circuit (IC) chips and novel IC circuitry for accomplishing same |
| US5003156A (en) * | 1989-03-14 | 1991-03-26 | Time Temperature, Inc. | Dual configuration connector port for burn-in systems |
| US5436569A (en) * | 1990-10-01 | 1995-07-25 | Despatch Industries, Inc. | Electronic component testing oven |
| US5191282A (en) * | 1991-10-23 | 1993-03-02 | Venturedyne, Ltd. | Unitized test system with bi-directional transport feature |
| GB9220415D0 (en) * | 1992-09-28 | 1992-11-11 | Plessey Telecomm | Electrical test arrangement and apparatus |
| US5528161A (en) * | 1994-09-15 | 1996-06-18 | Venturedyne Limited | Through-port load carrier and related test apparatus |
| US6005404A (en) * | 1997-04-30 | 1999-12-21 | Rpi, Inc. | Environmental test apparatus with partition-isolated thermal chamber |
| KR100234205B1 (ko) | 1997-07-18 | 1999-12-15 | 윤종용 | 컨베이어 시스템의 전원 공급장치 |
| US7038441B2 (en) * | 2002-10-02 | 2006-05-02 | Suss Microtec Testsystems Gmbh | Test apparatus with loading device |
| DE102007047772B4 (de) * | 2007-10-05 | 2011-07-21 | Multitest elektronische Systeme GmbH, 83026 | Temperierkammer zum Temperieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere IC's |
| CN107367398A (zh) * | 2017-08-04 | 2017-11-21 | 苏州德源机电有限公司 | 一种电梯门机的门锁门刀组件耐久测试机 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2540843A (en) * | 1946-10-29 | 1951-02-06 | Western Electric Co | Apparatus for making electrical connections to articles in transit |
| US2773731A (en) * | 1952-11-12 | 1956-12-11 | Columbia Broadcasting Syst Inc | Aging conveyor |
| US3236577A (en) * | 1963-07-22 | 1966-02-22 | Sperry Rand Corp | Article carrying conveyor driven equipment |
| US3772481A (en) * | 1972-07-21 | 1973-11-13 | J Saponaro | Conveyorized electrical contact systems |
| CH582404A5 (ja) * | 1974-09-02 | 1976-11-30 | Sulzer Ag | |
| US4145620A (en) * | 1977-10-05 | 1979-03-20 | Serel Corporation | Modular dynamic burn-in apparatus |
| US4351108A (en) * | 1980-07-07 | 1982-09-28 | Reliability, Inc. | Packaging system for semiconductor burn-in |
| JP3760194B2 (ja) * | 1996-06-13 | 2006-03-29 | ヤンマー建機株式会社 | 走行車輌の操向操作機構 |
-
1983
- 1983-11-28 JP JP1983182077U patent/JPS6090684U/ja active Granted
-
1984
- 1984-08-29 US US06/645,364 patent/US4692694A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4692694A (en) | 1987-09-08 |
| JPS6090684U (ja) | 1985-06-21 |
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