JPH02500047A - 電磁構成部品例えば電磁弁等の応動電圧を自動検出するための方法および装置 - Google Patents

電磁構成部品例えば電磁弁等の応動電圧を自動検出するための方法および装置

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JPH02500047A JP62505318A JP50531887A JPH02500047A JP H02500047 A JPH02500047 A JP H02500047A JP 62505318 A JP62505318 A JP 62505318A JP 50531887 A JP50531887 A JP 50531887A JP H02500047 A JPH02500047 A JP H02500047A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 電磁構成部品例えば電磁弁等の応動電圧を自動検出するための方法および装置 従来の技術 本発明は例えば電磁弁等の電磁wt成部品の応動電圧の自動検出方法及び装置に 関する。燃料噴射装置・アンチスキッドシステム等の中に設けられてhる例えば 電磁弁等の電磁構成部品の機能を例えば自動車においては頻繁に検査しなければ ならな^。このために用いられる公知の方法及び装置(西独特肝出願公開第23 52493号公報・西独特肝出願公開第2251472号公報)においては、電 磁弁のコイルの中で磁石可動子が動くとインダクタンスが変化する事実が利用さ れてbる。インダクタンスが変化すると、電磁弁のコイルを流れる電流の強さが 磁石可動子の移動中に降下することになる。この電流の強さの変化は微分素子に より検出され、電磁弁の機能検査に用いられる。微分素子により電流の強さの所 定の降下が検出されることは、磁石可動子が動いたことを意味する。さもなけれ ば故障が発生したことを意味する。しかし公知の方法及び装置にお論では機能検 査は、電磁弁の磁石可動子が動Aたかどうかを検出するだけIC制限されてAる 。
発明の効果 上記従来技術に対して、請求の範囲第1項に記載の特徴部分に記載の特徴を有す る本発明に依る方法と、請求の範囲第11項に記載の前記方法を実施する装置は 、例えば電磁弁でるる電磁構成部品の動作特性を正確にめることがでさる利点金 有する。このために電磁構成部品の応動電圧の最小値が自動的に検出さ九る。
この検出は、上昇する電圧を電磁構成部品に印加し、電磁構成部品が応動した時 点における検量電圧をそのまま保持して表示〜することにより行われる。検量電 圧をそのま筐沫愕して表示することは、電磁構成部品が応動した時に電磁構成部 品を流れる電流が変化する際のその変化値全検出し、その変化値を用匹て検査電 圧の瞬時値を固定して表示することにより行われる。
このようにして、電磁構成部品が応動したかどうか、即ち電磁弁が吸引したかど うかのみでなく、応動した時の最小電圧値も検出される。このようにして、固定 されて^る電磁弁のみでなく、接近が困雌な電磁弁も検査することができる。
本発明に欧る方法及び装置は、電磁構成部品の構成を解体〜することなく、応動 電圧を簡単かつ正確にめることを可能にする。操作員による誤りは起こらない。
その他の請求の範囲には本発明の有利な実施例が記載されている。
図面の簡単な説明 次に本発明を実施例IC基づAて図全用^て詳しく説明する。第1図は本発明に 依る装置の動作を原理的に示したブロック回路図、第2図は第1図の本発明に負 る装置の1つの実施例を示したブロック回路図、第6図はM1図の装置の別の1 つの実施例である。
実施例 第1図には、本発明の装置及び方法を明らかにするためのブロック回路図である 。
この図においてはのこぎり阪発生器2である電源により検光電圧が発生され、こ の検査電圧は増幅器4により、償金すべき電磁構成部品、即ちこの図におhては 操作装置即ちコイル61C適する電圧に増幅される。
この電圧は、アースに接現されてhるコイル6に印加される。コイル6に印加さ れている検量電圧は指示装置8により指示することができる。指示装置8へ導く 線の途中にスイッチ装置10が設けられて論る。
検査対象のコイル6へ流れる電流は測定抵抗12を流れる。その雫の電圧降下は 、演算増幅器141を有する微分装置14により測定される。その際に測定抵抗 12.の一端は第1の微分コンデンサ142及び第1の抵抗143を介して演算 増幅器141の反転大人側と接続されている。測定抵抗12の他端は第2の微分 コンデンサ144及び第2の抵抗145を介して演算増幅器141の非反転入力 側と接続され、演算増幅器141は第3の抵抗146を介して負帰還結合さ几て いる。演算増幅器141の非反転入力側は第40抵抗141を介してアースIC 接続されてhる。微分装置14又は演算増幅器141の出力側はスイッチ装置1 0と接続されている。
第1図に示さnている回路の動作は次の通りである。
検査すべ@電磁構成部品、例えば噴射弁のコイル6には、この5Pを解体するこ となくとも、のこぎり波発生器2iCJ−ジ発生され、増幅器417Cよジ増幅 された電圧が印加される。その際に検査電圧の最小値は例えば零であり、何れに してもこの値は、検査する電磁構成部品の予測最小応動電圧より小さくなければ ならない。
最大検査電圧は例えば、検査対象の最大動作電圧に対応する。コイル6ひいては 測定抵抗12を流れる電流により測定抵抗12に電圧降下が発生し、この電圧降 下は微分装置141Cより測定さ几る。上昇する電圧により、障害の無い電磁弁 釦・こQIAては遂には鉄心又は磁石可動子が動く、この動きによりコイル6の インダクタンスが変化し、加えこのコイル6の中に電圧が誘起される。このよう にして、コイル6及び測定抵抗12を流れる電流が減少する。その結果、微分装 置14で行われる電流又は電圧の時間微分の値はその正負符号を短時間にわたり 変える。この正負符号の変化はスイッチ装置1Qi(より検出される。
本回路の第1の実施例にお論ては指示装置8ばこれまで連続的に、コイル61C 印加される検査電圧?指示したのに対して、この時点におAては、微分装ft1 4からスイッチ装置10に制御信号が供給さ昨、その結果スイッチ装RI Of lブレーク接点として動作し、従ってスイッチ装置10はコイル6と指示装置8 との接続全中断する。このようにして指示装R8は、最後に指示した、コイル6 に印加されていする検査電圧の値を再び指示する、何故ならば、スイッチ装置1 0が指示全電圧の値全指示することはできないからである。指示装R8は、指示 装置8への接続が遮断される前の検量電圧の最悦の瞬時値が指示さ几た′iま残 り、指示値が零:ζ戻ることが無いよう1c構反されている。
本回路の第2の実施例においては、検査対象に印加される検査電圧を、この検査 対象が応動する場合のみ指示装R8が指示するように、電磁弁の応動による電流 変動?評価することにより、スイッチ装置10全制御することがでさるようにす ることが可能である。スイッチ装置10は、検査対象が応動する瞬間に一瞬の間 、指示装置8への接続を形成するようIC構成さ几て力る。しかし検査電圧が更 に上昇・しても、この上昇は表示されなめ。従って操作員は指示装置8から指示 値を読取ることができなAが、検査電圧は、検査対象が応動することなしに更に 上昇する。このようにして誤って読取る可能性は少なくなる。
本号法(ましかし、電磁構成部品を検査する操作員が、指示装置81C対するこ れら2つのffflJ御方法のいずれでも任意に選択することができるように実 施することも可能である。
第2図は、第1図1C示されてbる装置の1つの実施例を示し、同一部分は同− 瞥号により示されている。
万形波即ちクロック信号発生器20はカウンタ22を制御し、カウンタ22の出 力信号ζ・ま−万ではデジタル/アナログ変換器24(以下、D/A変換器と呼 称する〕に、他方では、メモリとして用すられるレジスタ261C供給される。
レジスタ26には指示装置8が接続されてbる。D / A変換器24でカラ/ り22からの信号は変換されて、この信号に対応する電圧がD/A変換器24か ら取出され、この電圧は増幅器4により、検査する電磁構成部品1(適した値に 増幅される。
この場合にも検査対象のコイル6のみが示されている。
第1図に示されているのと同様に、コイル6を流れる電流は次いで測定抵抗12 を流れ、このようにして測定抵抗121C電圧降下が発生し、この電圧降下は、 第1図に基づいて詳しく説明した微分装置14Vcより増幅され、又、この微分 装置14の出力側はレジスタ26と接続されている。
電磁構成部品の応動電圧は、第2図に示されている回路の実施例により次のよう に検出される。
測定開始時にカウンタ22及びレジスタ26はリセツトされ、従って指示装置8 は電圧値を表示せず、検査対象の中のコイル&ICは電圧力;印加されていなり 0この場合に検査電圧として、階段状電圧により近似したのこぎ9波電圧が周込 られ、こののこぎり波電圧は、カウンタ22を制御するクロック信号発生器20 により発生される。例えば2進カウンタとして構成されてbるカウンタ22の計 ・数状態は、クロック信号発生器20から供給さ几るクロック信号により高めら れる。このようにして、カウンタ22により¥5+JsされるD / A変換器 24の出力信号も段階的に高められる。
D/A変換器24とこiK後後接接続れている増幅器4とは例えば、検量対象の コイル6に印加されている電圧がクロック信号発生器22の各クロックパルスに よ#)o、i v高められるように構成されている。しかし、各クロックパルス 毎に発生する電圧上昇を段階的に又は任意1て操作員が調整することができるよ うにこの回路を樽放することも可能である。
電圧が上昇して行くと遂にはコイル6の磁石可動子1が動き出し、その結果、第 1図に基づいて前述したインダクタンスの変化が発生し、このインダクタンス変 化は微分装置14により、測定抵抗12を流れる電流の変化として又は電圧変化 として検出される。
微分装置14により電圧変化が検出されると制御信号が発生され、この制御信号 はレジスタ26に供給される。メモリとして構成されて騒るレジスタ26はカウ ンタ22の計数状態を評価し、この評価値から、電磁構成部品のコイル6に印X されてhる検査電圧をめる。この電圧は、レジスタ26と接続されている指示装 置8により指示されることが可能である。
微分装置14の制御信号がレジスタ26に供給されると、電磁構成部品が応動す る時点で印加されている検査電圧が指示装置3により指示されそのまま保持され る。
操作員が上昇中の検査電圧を指示装置8から読取ることがでさるようにこの回路 に構成することもできる。
最大検査電圧に到達した後にこの回路はリセットされる、即ち応動電圧の表示が 消去され、検査電圧は初期値に戻る。そして再びこの動作は繰返される。このよ うにして検査対象の応動特性は多数回1cわたり検査され、検査対象が応動する 際に指示される多くの値全比較することにより偶然の結果が回避される。
第3図は、第1図に示されてAる回路の別の1つの実施例であり、ここでも同一 部分は同一番号により示されてbる。
万形波即ちクロック信号発生器20は、デジタル/アナログ変換器24(以後p  / A変換器と呼称する)と接続されて込る第10カウンタ22と、指示装置 8と接続されて^る第2のカウンタ32とに計数パルスを供給する。2進カウン タとして構成されてAる第1のカウンタ22の出力信号からD / A変換器2 4と増幅器4とにより、電磁構成部品に適した検査電圧が発生される。この場合 にも、検査する構成部品のコイル6のみが図示されてbる。第1図、及び第2図 に基づいて既に説明したように、フィル6を流れる電流は測定抵抗12を流れる 。この電流により測定抵抗12で発生する電圧降下は、第1図に基づいて詳しく 説明した微分装置14により検出され評価される。微分装置14の出力信号は第 2のカウンタ321C供給される。
測定開始時に両カウンタ22及び32はリセットされ、従って指示値は零であり 、検査対象に電圧は印加されていない。電磁構成部品のコイル6のための検査電 圧?発生する方法1ケ、第2図に基づいて説明した回路の場合と同一である。第 2のカウンタ32は多段式10進カウンタとして構成され、指示装置8の数字指 示動作を制御する。
両カウンタ22及び32はどちらもクロック信号発生器20により制御されるの で、互込に同期して動作する。電磁構成部品が応動したことが微分装置14によ り前記の方法で検出されると、第2のカウンタ32は微分装置14の出力信号に より制御畜れる。例えば、クロック信号発生器20と第2のカウンタ32との間 の接続線の途中に設けられている第3図には示されていな込フリップフロップを 七ッ卜することにより第2のカウンタ32ばそれ以後のクロックパルスから切離 され、電磁弁の応動時点で印加されて−る検査電圧をそのまま保持する。この電 圧値は指示装置8により指示される。検査電圧が引続き高められても指示値は不 変である。
電磁弁が吸引した時の検査電圧のみが表示されるように、又は上昇中の検車電圧 を読取ることができるように本回路を構成することが可能である。この場合には 操作員は検査動作即ち上昇する電圧を監視することができる。
最大検査電圧に到達した後に両カウンタ22及び32はリセットされる、即ち指 示値は消去され、検査電圧は初期値に戻される。その後に前記の方法が繰返され る。
図に基づいて述べた構成部品例えばカラ/り・レジスタ・微分装置等を1つの回 路例えば自動車診断装置又は噴射ポンプ検査スタンドの中IC統合し、この方法 を自動車又は噴射ポンプの機能の検査のための計算機プログラムの一部に組込む ことが可能である。
例えば電磁継電器等の種々の電磁構成部品の検査のために本発明に依る方法及び 装置を用いることが、本発明の範囲を、逸脱することなしに可能である。
補正書の翻訳文提出書(特許法第184条の8)平成1年3月28日

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.電磁構成部品例えば電磁弁等の応動電圧の自動検出方法において、 上昇する検査電圧を前記電磁構成部品に印加し、電磁構成部品が応動する検査電 圧をそのまま保持しかつ指示し、 前記電磁構成部品が応動した際に発生する、前記電磁構成部品を流れる電流の変 化を検出し、このようにして検出した電流の変化値を、前記検査電圧の値をその まま保持しかつ指示するために用いることを特徴とする電磁構成部品の応動電圧 の自動検出方法。
  2. 2.検査電圧として、のこぎり波又は三角波状電圧を選定することを特徴とする 請求の範囲第1項に記載の電磁構成部品の応動電圧の自動検出方法。
  3. 3.上昇するのこぎり波電圧を、自由に動作する第1のカウンタがデジタル/ア ナログ変換器を制御することにより発生される階段状電圧により近似することを 特徴とする請求の範囲第1項又は第2項に記載の電磁構成部品の応動電圧の自動 検出方法。
  4. 4.第1のカウンタとして2進カウンタを用いることを特徴とする請求の範囲第 3項に記載の電磁構成部品の応動電圧の自動検出方法。
  5. 5.指示装置を制御するレジスタにも第1のカウンタの信号を供給することによ り検査電圧の瞬時値を求めることを特徴とする請求の範囲第1項ないし第4項の うちのいずれか1項に記載の電磁構成部品の応動電圧の自動検出方法。
  6. 6.第2のカウンタにより制御される指示装置により瞬時電圧を表示することを 特徴とする請求の範囲第1項ないし第4項のうちのいずれか1項に記載の電磁構 成部品の応動電圧の自動検出方法。
  7. 7.第2のカウンタとして多段式10進カウンタを用いることを特徴とする請求 の範囲第6項に記載の電磁構成部品の応動電圧の自動検出方法。
  8. 8.電磁構成部品を流れる電流の変化を少なくとも1つの微分装置により検出し 、 検査電圧の瞬時値をそのまま保持しかつ指示するための切換信号を前記微分装置 の出力信号を用いて発生することを特徴とする請求の範囲第1項ないし第7項の うちのいずれか1項に記載の電磁構成部品の応動電圧の自動検出方法。
  9. 9.電磁構成部品のコイルを流れる電流が測定抵抗に流れることにより、この測 定抵抗に発生する電圧降下を測定する微分動作する演算増幅器を微分装置として 用いることを特徴とする請求の範囲第8項に記載の電磁構成部品の応動電圧の自 動検出方法。
  10. 10.レジスタ又は第2のカウンタを制御するために用いられるパルスを、電磁 構成部品が応動する際に及び電流が変化する際に、微分装置の出力信号から切換 信号として形成し、このようにして、デジタル/アナログ変換器の出力信号と無 関係に、電磁弁が吸引する時点で印加している検査電圧の瞬時値を指示しそのま ま保持することを特徴とする請求の範囲第8項又は第9項に記載の電磁構成部品 の応動電圧の自動検出方法。
  11. 11.電磁構成部品(6)が応動する時点で前記電磁構成部品(6)に印加され ている検査電圧の値を指示装置(8)が指示しそのまま保持することを特徴とす る請求の範囲第1項ないし第10項のうちのいずれか1項に記載の方法を実施す る電磁構成部品の応動電圧の自動検出装置。
  12. 12.前記構成部品(6)が応動する時点で電磁構成部品(6)を流れる電流が 変化する際のその変化値を評価する評価装置(12,14)により指示装置(8 )が制御されることを特徴とする請求の範囲第11項に記載の電磁構成部品の応 動電圧の自動検出装置。
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