JPH0250455A - 半導体ウェハの搬送装置 - Google Patents
半導体ウェハの搬送装置Info
- Publication number
- JPH0250455A JPH0250455A JP63201261A JP20126188A JPH0250455A JP H0250455 A JPH0250455 A JP H0250455A JP 63201261 A JP63201261 A JP 63201261A JP 20126188 A JP20126188 A JP 20126188A JP H0250455 A JPH0250455 A JP H0250455A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- carrier
- suction chuck
- sensor
- chuck
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 abstract description 48
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体ウェハの搬送装置に関する。
従来、この種のウェハ搬送装置は、キャリアを載せた台
が上下に動いて位置決めを行った後、ウェハ間に真空吸
着チャックを入れ、ウェハを真空吸着によってキャリア
外へ搬出する機構を備えるのが通常である。
が上下に動いて位置決めを行った後、ウェハ間に真空吸
着チャックを入れ、ウェハを真空吸着によってキャリア
外へ搬出する機構を備えるのが通常である。
しかし、上述した従来のウェハ搬送装置では、真空吸着
チャックをウェハ間に入れる際、ウェハがキャリア内の
スロット間にまたがって入っていたり、或いはキャリア
のガタ等によりウェハが正しい位置にない場合には、チ
ャックとウェハとが相互に干渉して真空吸着チャックに
過負荷がかかり搬送不良を招くことがあり、最悪の場合
にはウェハが割れ製品不良をおこすばかりでなく、搬送
装置そのものの復旧のために多くの工数を必要とするよ
うな事態が生じる。
チャックをウェハ間に入れる際、ウェハがキャリア内の
スロット間にまたがって入っていたり、或いはキャリア
のガタ等によりウェハが正しい位置にない場合には、チ
ャックとウェハとが相互に干渉して真空吸着チャックに
過負荷がかかり搬送不良を招くことがあり、最悪の場合
にはウェハが割れ製品不良をおこすばかりでなく、搬送
装置そのものの復旧のために多くの工数を必要とするよ
うな事態が生じる。
本発明の目的は、上記の情況に鑑み、真空吸着チャック
機能をもつウェハの搬出機構にウェハとの相互干渉によ
る過負荷が生じることなき半導体ウェハの搬送装置を提
供することである。
機能をもつウェハの搬出機構にウェハとの相互干渉によ
る過負荷が生じることなき半導体ウェハの搬送装置を提
供することである。
本発明によれば、半導体ウェハの搬送装置は、。
キャリア内に半導体ウェハを収納または搬出するウェハ
吸着チャックと、前記吸着チャックの先端部に設けられ
吸着チャックと半導体ウェハとの相互干渉を検知するセ
ンサと、前記センサの検知信号により吸着チャックの動
作を制御する搬送機構制御手段とを含んで構成される。
吸着チャックと、前記吸着チャックの先端部に設けられ
吸着チャックと半導体ウェハとの相互干渉を検知するセ
ンサと、前記センサの検知信号により吸着チャックの動
作を制御する搬送機構制御手段とを含んで構成される。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す半導体ウェハ搬送装置
の断面図である0本実施例によれば、キャリア1に収納
されたウェハ2の出し入れは、モータ3の回転をボール
・ネジ4を介してキャリア・テーブル5へ伝達して上下
の位置決めをした後、基体6上のウェハ吸着チャック7
をaからbの方向へスライドさせることによって行われ
る。このウェハ吸着チャック7の先端には超音波または
反射型の光センサ等を用いたウェハ・センサ8が設けら
れ、ウェハ・チャック7とウェハ2と間に生じる干渉を
検知して搬送装置の運転が自動制御される。
の断面図である0本実施例によれば、キャリア1に収納
されたウェハ2の出し入れは、モータ3の回転をボール
・ネジ4を介してキャリア・テーブル5へ伝達して上下
の位置決めをした後、基体6上のウェハ吸着チャック7
をaからbの方向へスライドさせることによって行われ
る。このウェハ吸着チャック7の先端には超音波または
反射型の光センサ等を用いたウェハ・センサ8が設けら
れ、ウェハ・チャック7とウェハ2と間に生じる干渉を
検知して搬送装置の運転が自動制御される。
第2図は本発明の他の実施例を示す半導体ウェハ搬送装
置の斜視図である。本実施例によれば、ウェハ吸着チャ
ック7がaの方向へスライドし、ウェハ2をとりに行く
際、ウェハ吸着チャック7とウェハ2とに干渉が生じた
場合には、ウェハ吸着7にはbの方向へ向う力が加わり
ウェハ吸着チャック7をbの方向へ動かすようにしたも
のである。この動きは過負荷センサ10で検知されてエ
ラー信号が出される。どの程度の負荷でセンサが検知す
るかは吸着チャック7の端部に取付けられたスプリング
9で調整される。
置の斜視図である。本実施例によれば、ウェハ吸着チャ
ック7がaの方向へスライドし、ウェハ2をとりに行く
際、ウェハ吸着チャック7とウェハ2とに干渉が生じた
場合には、ウェハ吸着7にはbの方向へ向う力が加わり
ウェハ吸着チャック7をbの方向へ動かすようにしたも
のである。この動きは過負荷センサ10で検知されてエ
ラー信号が出される。どの程度の負荷でセンサが検知す
るかは吸着チャック7の端部に取付けられたスプリング
9で調整される。
以上説明したように、本発明によれば、半導体ウェハと
真空チャックの干渉を検知する機構成いは過負荷検知機
構が取り入れられ未然に搬出機構の動作不良の発生が防
止されるので、ウェハ収納および搬出動作をきわめてス
ムーズ化することができる。
真空チャックの干渉を検知する機構成いは過負荷検知機
構が取り入れられ未然に搬出機構の動作不良の発生が防
止されるので、ウェハ収納および搬出動作をきわめてス
ムーズ化することができる。
第1図は本発明の一実施例を示すウェハ搬送装置の断面
図、第2図は本発明の他の実施例を示すウェハ搬送装置
の斜視図である。 1・・・キャリア、2・・・半導体ウェハ、3・・・モ
ータ、4・・・ボール・ネジ、5・・・キャリア・テー
ブル、6・・・基体、7・・・ウェハ吸着チャック、8
・・・ウェハ・センサ、9・・・スプリング、10・・
・過負荷センサ。
図、第2図は本発明の他の実施例を示すウェハ搬送装置
の斜視図である。 1・・・キャリア、2・・・半導体ウェハ、3・・・モ
ータ、4・・・ボール・ネジ、5・・・キャリア・テー
ブル、6・・・基体、7・・・ウェハ吸着チャック、8
・・・ウェハ・センサ、9・・・スプリング、10・・
・過負荷センサ。
Claims (1)
- キャリア内に半導体ウェハを収納または搬出するウェ
ハ吸着チャックと、前記吸着チャックの先端部に設けら
れ吸着チャックと半導体ウェハとの相互干渉を検知する
センサと、前記センサの検知信号により吸着チャックの
動作を制御する搬送機構制御手段とを含むことを特徴と
する半導体ウェハの搬送装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63201261A JPH0250455A (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | 半導体ウェハの搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63201261A JPH0250455A (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | 半導体ウェハの搬送装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0250455A true JPH0250455A (ja) | 1990-02-20 |
Family
ID=16438014
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63201261A Pending JPH0250455A (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | 半導体ウェハの搬送装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0250455A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100269412B1 (ko) * | 1993-02-16 | 2000-10-16 | 마쓰바 구니유키 | 이재장치 |
| CN103646904A (zh) * | 2013-11-08 | 2014-03-19 | 上海华力微电子有限公司 | 一种机械手臂 |
| CN105983978A (zh) * | 2015-01-09 | 2016-10-05 | 力晶科技股份有限公司 | 机械手臂的检测装置与检测方法 |
| US9685362B2 (en) | 2014-02-19 | 2017-06-20 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for centering substrates on a chuck |
-
1988
- 1988-08-12 JP JP63201261A patent/JPH0250455A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100269412B1 (ko) * | 1993-02-16 | 2000-10-16 | 마쓰바 구니유키 | 이재장치 |
| CN103646904A (zh) * | 2013-11-08 | 2014-03-19 | 上海华力微电子有限公司 | 一种机械手臂 |
| US9685362B2 (en) | 2014-02-19 | 2017-06-20 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for centering substrates on a chuck |
| US9997385B2 (en) | 2014-02-19 | 2018-06-12 | International Business Machines Corporation | Centering substrates on a chuck |
| US10224225B2 (en) | 2014-02-19 | 2019-03-05 | International Business Machines Corporation | Centering substrates on a chuck |
| CN105983978A (zh) * | 2015-01-09 | 2016-10-05 | 力晶科技股份有限公司 | 机械手臂的检测装置与检测方法 |
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