JPH0252232B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体集積回路に実現されるパルス波
形発生回路、特に動作確認の時間（以下これをテ
ストモードと呼び、テストモード以外を通常モー
ドと呼ぶ）の短いパルス波形発生回路に関するも
のである。

従来のアラーム機構付電子時計は動作確認の時
間を低減するため第１図に示す如くパルス発振器
（図示せず）から得られる第４図のａ点に示すよ
うな連続パルスを端子１に受け、これを第１の分
周回路２及び切換回路４に送つている。第１の分
周回路２は、これを第４図のｂ点の波形として表
わすような所定の周期の連続パルスに変換し、切
換回路４に送つている。あらかじめ設定される所
定時刻に第４図のｅ点の波形として表わすような
所定のレベルの信号は端子５に加えられて切換回
路４に伝達される。切換回路４は端子５に所定レ
ベルの信号を受信しないかぎり第４図のｃ点の通
常モード波形として表わすような所定の周期の連
続パルスを第２の分周回路６に送るように構成さ
れている。

第２の分周回路６はこれを第４図のｄ点の波形
として表わすような所定の周期の連続パルスに変
換し、端子３に送つている。一方、第２の分周回
路６は第５図のｆ点の波形として表わすような所
定のレベルの信号をアラーム制御回路８に送つて
いる。第５図のｇ点の波形として表わすような所
定のレベルの信号を端子７に受け、これをアラー
ム制御回路８に送つている。第５図のｇ点の波形
として表わすような所定のレベル信号が高レベル
から低レベルになると、第５図のｉ点の波形とし
て表わすような所定のレベルの信号がアラーム発
生回路１０に伝達され、第５図のｊ点の波形とし
て表わすような所定のレベルの信号５０が端子９
に送られ、その後アラーム音として音声に変換さ
れる。この信号により、電子時計のアラーム機構
が達成される。このアラーム機構の動作を確認す
るときには（テストモード）端子５に所定のレベ
ルの信号を受信すると切換回路４は第４図のｃ点
のテストモード波形５１として表わすような所定
の周期の連続パルスを第２の分周回路６に送る。
以下、これらの信号は、前述の動作を繰り返し、
第４図のｄ点のテストモード波形５２及びｊ点の
テストモード波形５５のような周期が短縮された
信号に変換される。この短縮された信号の波形５
５を測定することにより、動作確認の時間を低減
させることができる。

このような回路を半導体集積回路に形成した場
合、半導体チツプ上に測定用端子５を余分に設け
ねばならず、また容器にも測定用端子を余分に設
けねばならない欠点がある。このため、半導体の
チツプ面積が増加し、歩留りを低下せしめるばか
りでなく容器を大きくせねばならず、製造コスト
の増加を招くことになる。

また動作確認時には、端子１に加わる信号は分
周回路２を通らないために、分周回路２の動作確
認ができないという欠点がある。

動作確認の時間を低減するための回路構成とし
て、第２図の如き回路も提案されている。

すなわち、第６図のａ点の波形として表わすよ
うな連続パルスを端子１１で受け、これを第１の
分周回路１２及び切換回路１４に送る。第１の分
周回路１２はこれを第６図のｂ点の波形として表
わすような所定の周期の連続パルスに変換し、切
換回路１４に送る。あらかじめ設定される所定時
刻に第６図のｅ点のテストモード波形として表わ
すような所定のレベルの信号５３はテストスピー
ドアツプ回路２２から送られ、切換回路１４に伝
達される。切換回路１４は第６図のｅ点のテスト
モード波形５３として表わすような所定のレベル
の信号を受信しないかぎり第６図のｃ点の通常モ
ード波形として表わすような所定の周期の連続パ
ルスを第２の分周回路１６に送るように構成され
ている。

第２の分周回路１６はこれを第６図のｄ点の波
形として表わすような所定の周期の連続パルスに
変換し端子１３に送る。一方、第２の分周回路１
６は第７図のｆ点の波形として表わすような所定
のレベルの信号をアラーム制御回路１８に送る。
第７図のｇ点の波形として表わすような所定のレ
ベルの信号を端子１５に受け、これをアラーム制
御回路に送つている。第７図のｇ点の波形として
表わすような所定のレベルの信号が高レベルから
低レベルになると、第７図のｉ点の波形として表
わすような所定のレベルの信号がアラーム発生回
路２０に伝達され、第７図のｊ点の波形として表
わすような所定のレベルの信号が端子１７に送ら
れ、アラーム音声に変換される。このようなアラ
ーム機構の動作を確認する時には端子１７に第７
図のｊ点の波形として表わすように強制的な高レ
ベルの信号をテストスピードアツプ回路２２に端
子１７から印加する。第７図のｇ点の波形として
表わすような所定のレベルの信号を端子１５に受
け、端子１７の電位が強制的高レベルにある時端
子１５に受ける信号が高レベルから低レベルに遷
移すると第７図のｈ点の波形として表われる所定
のレベルの信号をテストスピードアツプ回路２２
に送る。この信号により、テストスピードアツプ
回路２２は第７図のｅ点の波形として表われる所
定のレベルの信号を切換回路１４に送る。

切換回路１４は第６図のｅ点の波形として表わ
すような所定のレベルの信号を受けることにより
第６図のｃ点の波形として表わすような所定の周
期の連続パルスを第２の分周回路１６に送る。以
下、これらの信号は前述の動作を繰り返し、第６
図のｄ点のテストモード波形５２及び第７図のｊ
点のテストモード波形５５に示すように、周期が
短縮された信号に変換される。この短縮された信
号をブラウン管等で測定することにより、動作確
認の時間を短縮させることができる。

しかしながら、かかる回路構成においても、動
作確認の時間を短縮させるため、第１の分周回路
１２を側路させるため、第１の分周回路１２の機
能を確認することができない。あえて第１の分周
回路１２の機能を確認する為には、通常モードに
切換えてその出力を観測する必要があり、分周回
路１２の確認時間が長くなる欠点がある。

従つて、本発明の目的は端子数を通常動作に必
要な数以上に増加することなく動作確認を完全に
行ない且つ、動作確認に要する時間を短縮させる
ことにある。

本発明によれば、制御端子に印加される制御信
号に応じて第１の出力端子にあらかじめ設定され
るパルス波形を生じるパルス発生回路と、基準信
号を分周する第１の分周回路と、該第１の分周回
路の出力を分周する第２の分周回路と、該第２の
分周回路の出力を取り出す第２の出力端子とを含
み、定常動作状態時には前記基準信号は前記第１
および第２の分周回路で分周されて前記第２の出
力端子から出力され、動作確認時には前記第１の
出力端子に定常状態とは異なる動作確認信号を加
えることにより、前記基準信号が前記第１の分周
回路を介した後前記第２の分周回路を介すること
なく前記第２の出力端子から出力信号として取り
出され、さらにその後前記動作確認信号を取り除
いた後所定時間は、前記基準信号が前記第１の分
周回路を介することなく前記第２の分周回路を介
して前記第２の出力端子から出力信号として取り
出されることを特徴とするパルス波形発生回路が
得られる。

次に図面を参照して、本発明の一実施例をより
詳細に説明する。

第３図は半導体集積回路に実現するアラーム機
構付電子時計のブロツクダイアグラムである。第
８図のａ点の波形として表わすような連続パルス
を端子１９で受け、これを第１の分周回路２２及
び第１の切換回路２４に送る。第１の分周回路２
２はこれを第８図のｂ点の波形として表わすよう
な所定の周期の連続パルスに変換して、第１の切
換回路２４に送る。アラーム音を発生させるべ
き、あらかじめ設定される所定時刻に第８図のｋ
点の波形及びｌ点の波形として表わすような所定
のレベル信号はテストスピードアツプ回路３４か
ら送られ、第１の切換回路２４及び第２の切換回
路２８に伝達される。

第１の切換回路２４及び第２の切換回路２８は
第９図のｋ点の波形及びｌ点の波形として表わす
ような所定のレベルの信号を受信しないかぎり、
第４図のｃ点の通常モード波形として表わすよう
な所定の周期の連続パルスを第２の分周回路２６
及び第２の切換回路２８に送り、第２の分周回路
２６は第４図のｄ点の通常モード波形として表わ
すような所定の周期の連続パルスに変換し、第２
の切換回路２８に送り、第８図のｅ点の通常モー
ド波形として表わすような所定のレベルの信号を
端子２１に伝達する。

一方、第２の分周回路２６は第９図のｆ点の通
常モード波形として表わすような所定のレベルの
信号をアラーム制御回路３０に送る。第９図のｇ
点の波形として表わすような所定のレベルの信号
を端子２３に受け、これをアラーム制御回路３０
に送る。第９図のｇ点のテストモード時の波形と
して表わすような所定のレベルの信号が高レベル
から低レベルになると第９図のｉ点の波形として
表わすような所定のレベルの信号がアラーム発生
回路３２に伝達され、第９図のｊ点の波形５０と
して表わすような所定のレベルの信号が端子２５
に送られてアラーム音に変換される。このように
電子時計のアラーム機構が達成される。このアラ
ーム機構の動作を確認するには端子２５に第９図
のｊ点の波形として表わすように強制的な高レベ
ルの信号をテストスピードアツプ回路３４に印加
する。第９図のｇ点の波形として表わすような所
定のレベルの信号（高レベルから低レベルに遷移
する）を端子２３に受けると、第９図のｈ点の波
形として表わすような所定のレベルの信号をテス
トスピードアツプ回路３４に送る。この信号によ
りテストスピードアツプ回路３４は第９図のｋ点
の波形として表わすような所定のレベルの信号を
第２の切換回路２８に送る。第２の切換回路２８
は第４図のｋ点の波形として表わすような所定の
レベルの信号を受けることにより、第８図のｅ点
の波形として表わすような所定の周期の連続パル
スを端子２１に送る。以下、これらの信号は前述
の動作を繰り返し、第８図のｅ点の通常モード波
形として表わすような周期が短縮された信号に変
換される。

次に、この短縮された信号の測定が終了した後
端子２５に加えた強制的な高レベルの信号を取り
去ると、テストスピードアツプ回路３４は第９図
のｌ点の波形として表わすような所定のレベルの
信号を第１の切換回路２４に送り、同時に第２の
切換回路２８に送出した第９図のｋ点の波形とし
て表わすような制御信号を断つ。第１の切換回路
２４は、第９図のｌ点の波形として表わすような
所定のレベルの信号を受けることにより、第８図
のｃ点の波形として表わすような所定の周期を短
縮した連続パルスを第２の分周回路２６に送る。
以上説明したように、第８図のｅ点の波形及び第
９図のｊ点の波形として表わすように周期が短縮
された信号に変換される。

この短縮された信号をブラウン管等で測定する
ことにより、動作確認の時間を短縮させることが
でき、且つ動作確認を完全に実施することにな
る。

このように、本発明によれば動作確認のための
測定端子を必要としなくても、分周回路の動作確
認を分割して行なうため、回路全体の動作確認を
短時間に行なうことが可能になる。従つて、チツ
プ面積を増大せしめることがなく、このために歩
留りを低下したり、コストを高くしたりすること
がない。

また、容器も端子の増加がないのでその分だけ
安価な容器を用いることができるる また、動作確認が容易で短時間で行なえ、量産
性を向上せしめることができる。

このように低コストで、量産性の高いアラーム
機構付電子時計を得ることができる。

上記に本発明をアラーム機構付電子時計につい
て説明したが、本発明は上記に限定されることな
く、１つの制御信号に応じて所定形状のパルスを
生じるパルス波形発生回路には同様に適用できる
ものである。

【図面の簡単な説明】

第１図、第２図はそれぞれ従来例を示すブロツ
クダイアグラムである。第３図は、本発明の一実
施例を示すブロツクダイアグラムである。第４
図、第５図は第１図の動作を示す波形図である。
第６図、第７図は第２図の動作を示す波形図であ
る。第８図、第９図は第３図の動作を示す波形図
である。 １，３，７，９，１１，１３，１５，１７，１
９，２１，２３，２５…端子、２，６，１２，１
６，２２，２６…分周回路、４，１４，２４，２
８…切換回路、８，１８，３０…アラーム制御回
路、１０，２０，３２…アラーム発生回路、２
２，３４…テストスピードアツプ回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 制御端子に印加される制御信号に応じて第１
   の出力端子にあらかじめ設定されるパルス波形を
   生じるパルス発生回路と、基準信号を分周する第
   １の分周回路と、該第１の分周回路の出力を分周
   する第２の分周回路と、該第２の分周回路の出力
   を取り出す第２の出力端子とを含み、定常動作状
   態時には前記基準信号は前記第１および第２の分
   周回路で分周されて前記第２の出力端子から出力
   され、動作確認時には前記第１の出力端子に定常
   状態とは異なる動作確認信号を加えることによ
   り、前記基準信号が前記第１の分周回路を介した
   後前記第２の分周回路を介することなく前記第２
   の出力端子から出力信号として取り出され、さら
   にその後前記動作確認信号を取り除いた後所定時
   間は、前記基準信号が前記第１の分周回路を介す
   ることなく前記第２の分周回路を介して前記第２
   の出力端子から出力信号として取り出されること
   を特徴とするパルス波形発生回路。