JPH0254504B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0254504B2 JPH0254504B2 JP58108135A JP10813583A JPH0254504B2 JP H0254504 B2 JPH0254504 B2 JP H0254504B2 JP 58108135 A JP58108135 A JP 58108135A JP 10813583 A JP10813583 A JP 10813583A JP H0254504 B2 JPH0254504 B2 JP H0254504B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection
- noise
- detection sensor
- output
- gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/14—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object using acoustic emission techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/26—Scanned objects
- G01N2291/269—Various geometry objects
- G01N2291/2696—Wheels, Gears, Bearings
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
AE（Acoustic Emission）は材料の破壊によつ
て発生する一種の音響で、このAEの発生を検出
して材料の破壊の検知や試験をすることが行なわ
れている。
て発生する一種の音響で、このAEの発生を検出
して材料の破壊の検知や試験をすることが行なわ
れている。
従来一般に行なわれているAE検出を利用する
材料検査装置においては、被測定物とAE伝播関
係にある位置にAE検出センサ（AE変換子）を取
付け、そのAE検出センサで被測定物からのAEを
検出し、かつこれを電気信号に変換して出力して
いる。
材料検査装置においては、被測定物とAE伝播関
係にある位置にAE検出センサ（AE変換子）を取
付け、そのAE検出センサで被測定物からのAEを
検出し、かつこれを電気信号に変換して出力して
いる。
しかるにこの様なAE測定においては、AEの測
定中、AEの性質に類似した環境雑音であるノイ
ズが測定系外から侵入して測定されるため、得よ
うとするAE情報がノイズに埋もれてしまうこと
がしばしばあり、特に工場などの電気的若しくは
機械的ノイズの多い場所におけるAE測定では、
その傾向が顕著であつて、必要で正確なAE測定
が困難である。
定中、AEの性質に類似した環境雑音であるノイ
ズが測定系外から侵入して測定されるため、得よ
うとするAE情報がノイズに埋もれてしまうこと
がしばしばあり、特に工場などの電気的若しくは
機械的ノイズの多い場所におけるAE測定では、
その傾向が顕著であつて、必要で正確なAE測定
が困難である。
そこでこのノイズを除去する技術として、従来
はAE信号とノイズとを周波数によつて弁別する
フイルタ法、信号の発生位置によつてAE信号と
ノイズとを弁別する位置標定法、あるいは信号の
時間差や形状によつてAE信号とノイズとを弁別
する空間フイルタ法等が開発されているが、ノイ
ズだけを弁別して除去することが困難であつた
り、弁別のための装置が複雑であつたり、あるい
は特別の構造をもつ被測定対象物に対してのみ有
効であつたりして、必ずしも満足すべきものを得
るに至つていない。
はAE信号とノイズとを周波数によつて弁別する
フイルタ法、信号の発生位置によつてAE信号と
ノイズとを弁別する位置標定法、あるいは信号の
時間差や形状によつてAE信号とノイズとを弁別
する空間フイルタ法等が開発されているが、ノイ
ズだけを弁別して除去することが困難であつた
り、弁別のための装置が複雑であつたり、あるい
は特別の構造をもつ被測定対象物に対してのみ有
効であつたりして、必ずしも満足すべきものを得
るに至つていない。
この発明は上記のごとき事情に鑑みてなされた
ものであつて、ノイズを確実に除去することがで
き、構造が簡単で実施が容易であり、特に正確な
AE測定を可能にするAE測定装置を提供すること
を目的とするものである。
ものであつて、ノイズを確実に除去することがで
き、構造が簡単で実施が容易であり、特に正確な
AE測定を可能にするAE測定装置を提供すること
を目的とするものである。
この目的に対応して、この発明のAE測定装置
は、特性の等しいAE検出系を２系統備え、前記
２系統のAE検出系のうちの一方のAE検出系の
AE検出センサを被測定物からAEが伝播する位置
に配設し、他方のAE検出系のAE検出センサを前
記一方のAE検出系のAE検出センサの近傍であつ
て前記被測定物からAEが伝播しない位置であつ
てかつ前記一方のAE検出センサと同じノイズ環
境内の固体上に固定して配設し、前記一方のAE
検出系は遅延回路及びパルスゲートを通して出力
装置に出力し、前記パルスゲートは前記他方の
AE検出系の出力を入力して前記パルスゲートを
開閉し、前記遅延回路の遅延時間及び前記パルス
ゲートのゲート時間を可変にし、前記他方のAE
検出系でノイズが検出された時だけ前記一方の
AE検出系の出力を停止するように構成したこと
を特徴としている。
は、特性の等しいAE検出系を２系統備え、前記
２系統のAE検出系のうちの一方のAE検出系の
AE検出センサを被測定物からAEが伝播する位置
に配設し、他方のAE検出系のAE検出センサを前
記一方のAE検出系のAE検出センサの近傍であつ
て前記被測定物からAEが伝播しない位置であつ
てかつ前記一方のAE検出センサと同じノイズ環
境内の固体上に固定して配設し、前記一方のAE
検出系は遅延回路及びパルスゲートを通して出力
装置に出力し、前記パルスゲートは前記他方の
AE検出系の出力を入力して前記パルスゲートを
開閉し、前記遅延回路の遅延時間及び前記パルス
ゲートのゲート時間を可変にし、前記他方のAE
検出系でノイズが検出された時だけ前記一方の
AE検出系の出力を停止するように構成したこと
を特徴としている。
以下この発明の詳細を、転がり軸受の異常検出
のためのAE測定装置に適用した実施例について
説明する。
のためのAE測定装置に適用した実施例について
説明する。
第１図において、１はAE測定装置であり、試
験軸受３で発生し軸受箱２を通して伝播してくる
AEを測定しようとするものである。
験軸受３で発生し軸受箱２を通して伝播してくる
AEを測定しようとするものである。
AE測定装置１はAE検出部４、ノイズ除去装置
５、出力装置６を備えている。
５、出力装置６を備えている。
AE検出部４はAE検出センサ９（AE変換子）、
前置増幅器７、フイルタ主増幅器８、及び弁別器
１１を備えている。
前置増幅器７、フイルタ主増幅器８、及び弁別器
１１を備えている。
ノイズ除去装置５はノイズ検出部１２、ゲート
回路１３とを備えている。
回路１３とを備えている。
ノイズ検出部１２はAE検出センサ１０（AE変
換子）、前置増幅器１４、フイルタ主増幅器１５、
及び弁別器１６を備えている。
換子）、前置増幅器１４、フイルタ主増幅器１５、
及び弁別器１６を備えている。
AE検出センサ９とAE検出センサ１０はほぼ同
じ特性のものとする。前置増幅器７と前置増幅器
１４はそれぞれAE検出センサ９，１０の出力を
増幅するもので、ほぼ同じ特性のものとする。フ
イルタ主増幅器８とフイルタ主増幅器１５とはそ
れぞれ前置増幅器７，１４の出力をフイルタリン
グしたのち増幅するもので、ほぼ同じ特性のもの
とする。また、弁別器１１と弁別器１６とはそれ
ぞれフイルタ主増幅器８，１５の出力からAEを
しきい値によつて弁別するもので、ほぼ同じ特性
のものとする。かつ、AE検出部４とノイズ検出
部１２とは全体としてほぼ同じ特性のAE検出系
となるように構成する。
じ特性のものとする。前置増幅器７と前置増幅器
１４はそれぞれAE検出センサ９，１０の出力を
増幅するもので、ほぼ同じ特性のものとする。フ
イルタ主増幅器８とフイルタ主増幅器１５とはそ
れぞれ前置増幅器７，１４の出力をフイルタリン
グしたのち増幅するもので、ほぼ同じ特性のもの
とする。また、弁別器１１と弁別器１６とはそれ
ぞれフイルタ主増幅器８，１５の出力からAEを
しきい値によつて弁別するもので、ほぼ同じ特性
のものとする。かつ、AE検出部４とノイズ検出
部１２とは全体としてほぼ同じ特性のAE検出系
となるように構成する。
AE検出部４のAE検出センサ９は軸受箱２に取
付けて試験軸受３からのAEを検出できるように
配設する。しかし、ノイズ検出部１２のAE検出
センサ１０はAE検出センサ９の近傍であつて試
験軸受３からAEが伝播しない位置に配設する。
付けて試験軸受３からのAEを検出できるように
配設する。しかし、ノイズ検出部１２のAE検出
センサ１０はAE検出センサ９の近傍であつて試
験軸受３からAEが伝播しない位置に配設する。
AE検出部４はゲート回路１３を介して出力装
置６に接続する。出力装置６は例えばカウンタ１
８、記録計２１、波形記憶装置２２、オシロスコ
ープ２３等で構成する。AE検出部４の弁別器１
１はゲート回路１３を介してカウンタ１８に接続
し、また、フイルタ主増幅器８はゲート回路１３
を介して波形記憶装置２２に接続する。そしてゲ
ート回路１３が閉成している時には弁別器１１、
フイルタ主増幅器８はそれぞれカウンタ１８、波
形記憶装置２２に出力するが、ゲート回路１３が
開成している時はその様な出力は遮断される。
置６に接続する。出力装置６は例えばカウンタ１
８、記録計２１、波形記憶装置２２、オシロスコ
ープ２３等で構成する。AE検出部４の弁別器１
１はゲート回路１３を介してカウンタ１８に接続
し、また、フイルタ主増幅器８はゲート回路１３
を介して波形記憶装置２２に接続する。そしてゲ
ート回路１３が閉成している時には弁別器１１、
フイルタ主増幅器８はそれぞれカウンタ１８、波
形記憶装置２２に出力するが、ゲート回路１３が
開成している時はその様な出力は遮断される。
ゲート回路１３の開閉はノイズ検出部１２の弁
別器１６によつて制御され、ノイズ検出部１２が
ノイズを検出した時はゲート回路１３を開成させ
る。
別器１６によつて制御され、ノイズ検出部１２が
ノイズを検出した時はゲート回路１３を開成させ
る。
ゲート回路１３は第２図に示すようにアナログ
ゲート２４、ゲート時間設定回路２５、遅延回路
２６、パルスゲート２７から構成されており、ゲ
ート時間並びに遅延時間を必要に応じて適宜選択
することができるようにする。そのゲート回路１
３の動作タイミングは第３図に示す通りである。
ゲート２４、ゲート時間設定回路２５、遅延回路
２６、パルスゲート２７から構成されており、ゲ
ート時間並びに遅延時間を必要に応じて適宜選択
することができるようにする。そのゲート回路１
３の動作タイミングは第３図に示す通りである。
次にこのように構成されたAE測定装置の作用
を試験測定結果について説明する。
を試験測定結果について説明する。
第４図は試験装置として、出力装置６にカウン
タ１８ａ，１８ｂ，１８ｃ、記録計２１ａ，２１
ｂ，２１ｃを図示のごとく接続して備えたものを
使用した。
タ１８ａ，１８ｂ，１８ｃ、記録計２１ａ，２１
ｂ，２１ｃを図示のごとく接続して備えたものを
使用した。
AEアナログ信号についてみると、ノイズ除去
装置が作動していないときは第５図ａで示すよう
に、ノイズ検出部の出力ロに含まれるノイズがノ
イズ除去装置通過後のAE検出部の出力イにも含
まれている。しかるにノイズ除去装置が作動して
いるときは、第５図ｂで示すように、前と同じノ
イズ検出部の出力ロに対して、ノイズ除去装置通
過後のAE検出部の出力イはノイズ部分がカツト
され、AEだけとなつている。
装置が作動していないときは第５図ａで示すよう
に、ノイズ検出部の出力ロに含まれるノイズがノ
イズ除去装置通過後のAE検出部の出力イにも含
まれている。しかるにノイズ除去装置が作動して
いるときは、第５図ｂで示すように、前と同じノ
イズ検出部の出力ロに対して、ノイズ除去装置通
過後のAE検出部の出力イはノイズ部分がカツト
され、AEだけとなつている。
次に、AEパルス信号についてみると、第６図
はノイズ除去装置が作動している場合のAEパル
ス信号の情況を示している。この第６図で計録計
２１ｃの出力ロが示すように、ノイズ除去装置で
はノイズを検出しているにもかかわらず、ノイズ
除去装置通過後のAE検出部からの記録計２１ａ
の出力イにはノイズ部分がカツトされ、AEだけ
となつている。
はノイズ除去装置が作動している場合のAEパル
ス信号の情況を示している。この第６図で計録計
２１ｃの出力ロが示すように、ノイズ除去装置で
はノイズを検出しているにもかかわらず、ノイズ
除去装置通過後のAE検出部からの記録計２１ａ
の出力イにはノイズ部分がカツトされ、AEだけ
となつている。
以上の説明から明らかな通り、この発明によれ
ば、ノイズを確実に除去することができ、構造が
簡単で実施が容易であり、特に正確なAE測定を
可能にするAE測定装置を得ることができる。
ば、ノイズを確実に除去することができ、構造が
簡単で実施が容易であり、特に正確なAE測定を
可能にするAE測定装置を得ることができる。
第１図はこの発明の一実施例に係わるAE測定
装置の構成を示すブロツク図、第２図はゲート回
路を示すブロツク図、第３図はAE測定装置の動
作タイミングを示すタイミング図、第４図は試験
に使用したAE測定装置の構成を示すブロツク図、
第５図はAEのアナログ出力を示すグラフ、及び
第６図はAEのパルス出力を示すグラフである。 １…AE測定装置、４…AE検出部、５…ノイズ
除去装置、９，１０…AE検出センサ、１２…ノ
イズ検出部、１３…ゲート回路、７，１４…前置
増幅器、８，１５…フイルタ主増幅器、１１，１
６…弁別器。
装置の構成を示すブロツク図、第２図はゲート回
路を示すブロツク図、第３図はAE測定装置の動
作タイミングを示すタイミング図、第４図は試験
に使用したAE測定装置の構成を示すブロツク図、
第５図はAEのアナログ出力を示すグラフ、及び
第６図はAEのパルス出力を示すグラフである。 １…AE測定装置、４…AE検出部、５…ノイズ
除去装置、９，１０…AE検出センサ、１２…ノ
イズ検出部、１３…ゲート回路、７，１４…前置
増幅器、８，１５…フイルタ主増幅器、１１，１
６…弁別器。
Claims (1)
- １ 特性の等しいAE検出系を２系統備え、前記
２系統のAE検出系のうちの一方のAE検出系の
AE検出センサを被測定物からAEが伝播する位置
に配設し、他方のAE検出系のAE検出センサを前
記一方のAE検出系のAE検出センサの近傍であつ
て前記被測定物からAEが伝播しない位置であつ
てかつ前記一方のAE検出センサと同じノイズ環
境内の固体上に固定して配設し、前記一方のAE
検出系は遅延回路及びパルスゲートを通して出力
装置に出力し、前記パルスゲートは前記他方の
AE検出系の出力を入力して前記パルスゲートを
開閉し、前記遅延回路の遅延時間及び前記パルス
ゲートのゲート時間を可変にし、前記他方のAE
検出系でノイズが検出された時だけ前記一方の
AE検出系の出力を停止するように構成したこと
を特徴とするAE測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108135A JPS60357A (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | Ａｅ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108135A JPS60357A (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | Ａｅ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60357A JPS60357A (ja) | 1985-01-05 |
| JPH0254504B2 true JPH0254504B2 (ja) | 1990-11-21 |
Family
ID=14476815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58108135A Granted JPS60357A (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | Ａｅ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60357A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51114980A (en) * | 1975-04-02 | 1976-10-09 | Babcock Hitachi Kk | Noise removal circuit of ae measurement system |
-
1983
- 1983-06-16 JP JP58108135A patent/JPS60357A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60357A (ja) | 1985-01-05 |
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