JPS60357A - Ａｅ測定装置 - Google Patents
Ａｅ測定装置Info
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- JPS60357A JPS60357A JP58108135A JP10813583A JPS60357A JP S60357 A JPS60357 A JP S60357A JP 58108135 A JP58108135 A JP 58108135A JP 10813583 A JP10813583 A JP 10813583A JP S60357 A JPS60357 A JP S60357A
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- Japan
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- noise
- detecting
- detection
- output
- gate circuit
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 44
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 241000257465 Echinoidea Species 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 210000003323 beak Anatomy 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
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- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/14—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object using acoustic emission techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/26—Scanned objects
- G01N2291/269—Various geometry objects
- G01N2291/2696—Wheels, Gears, Bearings
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
ＡＥ （Ａｃｏｕｓｔｉｃ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ ）は材
料の破壊によって発生する一種の音響で、このＡＥの発
生を検出して材料の破壊の検知や試験をすることが行な
われている。
料の破壊によって発生する一種の音響で、このＡＥの発
生を検出して材料の破壊の検知や試験をすることが行な
われている。
従来一般に行なわれているＡＥ検出を利用覆る材料検査
装置においては、被測定物と△］三伝播関係にある位置
にΔＦ検出センサ（八［変換子）を取付け、そのＡＥ検
出センサで被測定物からのＡＥを検出し、かつこれを電
気信号に変換して出力している。
装置においては、被測定物と△］三伝播関係にある位置
にΔＦ検出センサ（八［変換子）を取付け、そのＡＥ検
出センサで被測定物からのＡＥを検出し、かつこれを電
気信号に変換して出力している。
しかるにこの様なＡ［測定においては、八Ｅの測定中、
八Ｅの性質に類似した環境雑音であるノイズが測定系外
から侵入して測定されるため、杓ようとする八［情報が
ノイズに埋６１′シてしま−うことがしばしばあり、特
に工場などの電気的若しくは機械的ノイズの多い場所に
おＣ）る△［測定では、その傾向が顕著であって、必要
て゛正確な△］三測測定困りにである。
八Ｅの性質に類似した環境雑音であるノイズが測定系外
から侵入して測定されるため、杓ようとする八［情報が
ノイズに埋６１′シてしま−うことがしばしばあり、特
に工場などの電気的若しくは機械的ノイズの多い場所に
おＣ）る△［測定では、その傾向が顕著であって、必要
て゛正確な△］三測測定困りにである。
そこでこのノイズを除去する技術として、従来はＡ［信
号とノイズとを周波数によって弁別りるフィルタ法、信
号の発生位置によってΔｌＥ信号とノイズとを弁別する
位置標定法、あるいは（、？号の時間差や形状によって
ＡＥ信号とノイズとを弁別する空間フィルタ法等が開発
されているが、ノイズだけを弁別して除去づることが困
難であったり、弁別のための装置が複雑であったり、あ
るいは特別の構造をもつ被測定対象物に対してのみ有効
であったりして、必ずしも満足すべきものを得るに至っ
ていない。
号とノイズとを周波数によって弁別りるフィルタ法、信
号の発生位置によってΔｌＥ信号とノイズとを弁別する
位置標定法、あるいは（、？号の時間差や形状によって
ＡＥ信号とノイズとを弁別する空間フィルタ法等が開発
されているが、ノイズだけを弁別して除去づることが困
難であったり、弁別のための装置が複雑であったり、あ
るいは特別の構造をもつ被測定対象物に対してのみ有効
であったりして、必ずしも満足すべきものを得るに至っ
ていない。
この発明は上記のごとき事情に鑑みてなされたものであ
って、ノイズを確実に除去することができ、構造が簡単
で実施が容易であり、特に正確なＡＥ測測定可能にする
ＡＥ測定装置を提供することを目的とするものである。
って、ノイズを確実に除去することができ、構造が簡単
で実施が容易であり、特に正確なＡＥ測測定可能にする
ＡＥ測定装置を提供することを目的とするものである。
この目的に対応して、この発明のＡＥ測定装置は、特性
の等しいＡＥ検出系を２系統備え、前記２系統のＡＥ検
出系のうちの一方のＡＥ検出系のＡＥ検出センリ−を被
測定物からＡＥが伝播する位置に配設し、他方のＡＥ検
出系のＡＥ検出センサを前記一方のＡＥ検出系のＡＥ検
出センザの近傍であって前記被測定物からＡＥが伝播し
ない位置に配設し、前記他方のＡＥ検出系でノイズが検
出された時だけ前記一方のへＥ検出系の出力を停止づる
ように構成したことを特徴としている。
の等しいＡＥ検出系を２系統備え、前記２系統のＡＥ検
出系のうちの一方のＡＥ検出系のＡＥ検出センリ−を被
測定物からＡＥが伝播する位置に配設し、他方のＡＥ検
出系のＡＥ検出センサを前記一方のＡＥ検出系のＡＥ検
出センザの近傍であって前記被測定物からＡＥが伝播し
ない位置に配設し、前記他方のＡＥ検出系でノイズが検
出された時だけ前記一方のへＥ検出系の出力を停止づる
ように構成したことを特徴としている。
以下この発明の詳細を、転がり軸受の異常検出のための
ＡＥ測定装置に適用した実施例について説明覆る。
ＡＥ測定装置に適用した実施例について説明覆る。
第１図におい−Ｕ、１はＡＥ測定装置であり、試し
験軸受３で発生し軸受箱２を通して伝播春巷〔りるＡＥ
を測定しようと覆るものである。
を測定しようと覆るものである。
ＡＥ測定装置１はΔＥ検出部４、ノイズ除去装置５、出
力装置６を備えている。
力装置６を備えている。
ＡＥ検出部４はＡＥ検出センサ９ （ＡＥ変換子）、前
置増幅器７、フィルタ主増幅器８、及び弁別器１１を備
えている。
置増幅器７、フィルタ主増幅器８、及び弁別器１１を備
えている。
ノイズ除去装置５はノイズ検出部１２、ゲート回路１３
とを備えている。
とを備えている。
ノイズ検出部１２はへＥ検出しン４ノ１０（ΔＦ−変換
子）、前置増幅器１４、フィルタ主増幅器１５、及び弁
別器１６を備えている。
子）、前置増幅器１４、フィルタ主増幅器１５、及び弁
別器１６を備えている。
ＡＥ検出センサ９とＡＥ検出センサー ０はほぼ同じ特
性のものとする。前置増幅器７と前同増幅器１４はそれ
ぞれＡＥ検出セン＋１９．１０の出力を増幅するもので
、はぼ同じ特性のものと１′る。
性のものとする。前置増幅器７と前同増幅器１４はそれ
ぞれＡＥ検出セン＋１９．１０の出力を増幅するもので
、はぼ同じ特性のものと１′る。
フィルタ主増幅器８とフィルタ主増幅器１５とはそれぞ
れ前置増幅器７．１４の出力をフィルタリングしたのち
増幅づるもので、はぼ同じ特性のものとする。また、弁
別器１１と弁別器１Ｇとはそれぞれフィルタ主増幅器ε
３．１５の出力からΔＦをしきい値によって弁別するも
ので、はぼ同じ特性のものどづる。かつ、ＡＥ検出部４
とノイズ検出部１２とは全体としてほぼ同じ特性のＡ［
検出系となるＪ：うに４ｆ１１成づ−る。
れ前置増幅器７．１４の出力をフィルタリングしたのち
増幅づるもので、はぼ同じ特性のものとする。また、弁
別器１１と弁別器１Ｇとはそれぞれフィルタ主増幅器ε
３．１５の出力からΔＦをしきい値によって弁別するも
ので、はぼ同じ特性のものどづる。かつ、ＡＥ検出部４
とノイズ検出部１２とは全体としてほぼ同じ特性のＡ［
検出系となるＪ：うに４ｆ１１成づ−る。
ＡＥ検出部４のＡＥ検出センサ９は軸受箱２に取付りて
試験軸受３からのＡＥを検出できるにうに配設する。し
かいノイズ検出部１２のΔ［検出レン１す１０はΔＥ検
出レしサ９の近傍であって試験軸受３からＡＥが伝播し
ない位置に配設する。
試験軸受３からのＡＥを検出できるにうに配設する。し
かいノイズ検出部１２のΔ［検出レン１す１０はΔＥ検
出レしサ９の近傍であって試験軸受３からＡＥが伝播し
ない位置に配設する。
ＡＥ検出部４はゲート回路１３を介して出力装［ｉＩ６
に接続する。出力装＠６は例えばカウンタ１８、記録計
２１、波形記憶装置２２、オシロスコープ２３等で構成
する。ＡＥ検出部４の弁別器１１はゲート回路１３を介
してカウンタ１８に接続し、また、フィルタ主増幅器８
Ｉよゲート回路１３を介し【波形記憶装置２２に接続す
る。そしてグー１〜回路′１３が閉成し°（いる時には
弁別器１１、〕Ｃルタ主増幅器８はそれぞれカウンタ１
ε３、波形記憶装置２２に出力りるが、グー１−回路１
３が開成している詩はその様な出力Ｉよ遮断される。
に接続する。出力装＠６は例えばカウンタ１８、記録計
２１、波形記憶装置２２、オシロスコープ２３等で構成
する。ＡＥ検出部４の弁別器１１はゲート回路１３を介
してカウンタ１８に接続し、また、フィルタ主増幅器８
Ｉよゲート回路１３を介し【波形記憶装置２２に接続す
る。そしてグー１〜回路′１３が閉成し°（いる時には
弁別器１１、〕Ｃルタ主増幅器８はそれぞれカウンタ１
ε３、波形記憶装置２２に出力りるが、グー１−回路１
３が開成している詩はその様な出力Ｉよ遮断される。
グー１〜回路１３の開閉はノイズ検出部１２の弁別器１
ＧにＪ、って制御され、ノイズ検出部１２がノイズを検
出した時（よグー１〜回路１３を開成さける。
ＧにＪ、って制御され、ノイズ検出部１２がノイズを検
出した時（よグー１〜回路１３を開成さける。
ゲート回路１３は第２図に示ジようにｊ７す１−Ｉグゲ
ート２４、ゲート・時間設定回路２５、遅延回路２６、
パルスゲ−１−２７から４１１１成されしおり、グー１
〜時間並びに遅延時間を必要に応じて適宜選１１くする
ことがでさるようにりる。そのグー１−回路１３の動作
タイミングは第３図に示１通りである。
ート２４、ゲート・時間設定回路２５、遅延回路２６、
パルスゲ−１−２７から４１１１成されしおり、グー１
〜時間並びに遅延時間を必要に応じて適宜選１１くする
ことがでさるようにりる。そのグー１−回路１３の動作
タイミングは第３図に示１通りである。
次にこのＪ：うに構成された八【三測定装置Ｎの作用を
試験測定結果について説明する。
試験測定結果について説明する。
第４図は試験装置として、出力装置÷４にカウンタ１８
ａ 、１８ｂ 、１８ｃ １記録計２１８１２１ｂ、２
１ｃを図示のごとく接続して備えたものを使用した。
ａ 、１８ｂ 、１８ｃ １記録計２１８１２１ｂ、２
１ｃを図示のごとく接続して備えたものを使用した。
ＡＥアナログ信号についてみると、ノイズ除去装置が作
動していないときは第５図ａで示ずように、ノイズ検出
部の出力（ロ）に含まれるノイズがノイズ除去装置通過
後のＡＥＥ出部の出力（イ）にも含まれている。しかる
にノイズ除去装置が作動しているときは、第５図すて示
すように、前と同じノイズ検出部の出力（ロ）に対して
、ノイズ除去装置通過後のＡＥＥ出部の出力（イ）はノ
イズ部分がカッ１−され、ＡＥだけとなっている。
動していないときは第５図ａで示ずように、ノイズ検出
部の出力（ロ）に含まれるノイズがノイズ除去装置通過
後のＡＥＥ出部の出力（イ）にも含まれている。しかる
にノイズ除去装置が作動しているときは、第５図すて示
すように、前と同じノイズ検出部の出力（ロ）に対して
、ノイズ除去装置通過後のＡＥＥ出部の出力（イ）はノ
イズ部分がカッ１−され、ＡＥだけとなっている。
次に、ＡＥパルス信号についてみると、第６図はノイズ
除去装置が作動している場合のＡＥパルス信号の情況を
示している。この第６図で記録計２１０の出力（ロ）が
示すように、ノイズ除去装置ではノイズを検出している
にもかかわらず、ノイズ除去装置通過後のＡＥＥ出部か
らの記録計２１８の出力（イ）にはノイズ部分がｊｙラ
ットれ、ＡＥだけとなっている。
除去装置が作動している場合のＡＥパルス信号の情況を
示している。この第６図で記録計２１０の出力（ロ）が
示すように、ノイズ除去装置ではノイズを検出している
にもかかわらず、ノイズ除去装置通過後のＡＥＥ出部か
らの記録計２１８の出力（イ）にはノイズ部分がｊｙラ
ットれ、ＡＥだけとなっている。
以上の説明から明らかな通り、この発明にＪ：れば、ノ
イズを確実に除去することができ、構造が簡単で実施が
容易であり、特に正確なＡＥ測測定可能にするＡＥＥ定
装置を得ることができる。
イズを確実に除去することができ、構造が簡単で実施が
容易であり、特に正確なＡＥ測測定可能にするＡＥＥ定
装置を得ることができる。
第１図はこの発明の一実施例に係わるＡＥＥ定装置の構
成を示すブロック図、第２図はグー１〜回路を示すブロ
ック図、第３図はＡＥ測定装買の動作タイミングを示す
タイミング図、第４図は試験に使用したＡＥＥ定装置の
構成を承りブロック図、７５５図はＡＥのアナログ出力
を示づグラノ、及び第６図はＡＥのパルス出力を示タグ
ラフである。 １・・・ＡＥ測定装＠ ４・・・ＡＥＥ出部 ５・・・
ノイズ除去装置 ９．１０・・・ＡＥ検検出シン１ノ１
２・・ノイズ検出部 １３・・・ゲート回路７．１４・
・・前置増幅器 ８，１５・・・フィルタ主増幅器 １
１．１６・・・弁別器 ４１Ｆ ｉＩ！ｉＱ 耶、、、Ｆ： 第 Ｙ 嘴 旧 マ 長
成を示すブロック図、第２図はグー１〜回路を示すブロ
ック図、第３図はＡＥ測定装買の動作タイミングを示す
タイミング図、第４図は試験に使用したＡＥＥ定装置の
構成を承りブロック図、７５５図はＡＥのアナログ出力
を示づグラノ、及び第６図はＡＥのパルス出力を示タグ
ラフである。 １・・・ＡＥ測定装＠ ４・・・ＡＥＥ出部 ５・・・
ノイズ除去装置 ９．１０・・・ＡＥ検検出シン１ノ１
２・・ノイズ検出部 １３・・・ゲート回路７．１４・
・・前置増幅器 ８，１５・・・フィルタ主増幅器 １
１．１６・・・弁別器 ４１Ｆ ｉＩ！ｉＱ 耶、、、Ｆ： 第 Ｙ 嘴 旧 マ 長
Claims (1)
- 特性の等しいＡＥ検出系を２系統備え、前記２系統のへ
Ｅ検出系のうちの一方のＡＥ検出系のＡＥ検出センサを
被測定物からΔＦが伝播Ｊ−る位置に配設し、他方のＡ
Ｅ検出系のＡＥ検出センサを前記一方のＡＥ検出系のＡ
Ｅ検出センリの近傍であって前記被測定物からＡＥが伝
播しない位置に配設し、前記他方のＡＥ検出系でノイズ
が検出された時だけ前記一方のＡＥ検出系の出力を停止
するように構成したことを特徴とするＡＥ測定装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108135A JPS60357A (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | Ａｅ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108135A JPS60357A (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | Ａｅ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60357A true JPS60357A (ja) | 1985-01-05 |
| JPH0254504B2 JPH0254504B2 (ja) | 1990-11-21 |
Family
ID=14476815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58108135A Granted JPS60357A (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | Ａｅ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60357A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51114980A (en) * | 1975-04-02 | 1976-10-09 | Babcock Hitachi Kk | Noise removal circuit of ae measurement system |
-
1983
- 1983-06-16 JP JP58108135A patent/JPS60357A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51114980A (en) * | 1975-04-02 | 1976-10-09 | Babcock Hitachi Kk | Noise removal circuit of ae measurement system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0254504B2 (ja) | 1990-11-21 |
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